介绍混合信号测试解决方案

混合信号集成电路测试与测量2009版随着科技的快速发展，混合信号集成电路在各个领域的应用越来越广泛。

为了确保这些集成电路的性能和质量，测试与测量成为了必不可少的环节。

本文将介绍2009版的混合信号集成电路测试与测量的相关内容。

混合信号集成电路是一种同时包含模拟信号和数字信号的集成电路。

它能够处理模拟信号和数字信号之间的相互转换和传输。

而测试与测量是在生产过程中对这些集成电路进行性能和质量的验证，以确保其符合设计要求。

在混合信号集成电路测试与测量中，有几个重要的参数需要考虑。

首先是信号质量指标，包括信噪比、失真度和灵敏度等。

信号质量指标的好坏直接影响到集成电路的性能和稳定性。

其次是功耗和电源噪声，这些参数对于电路的能耗和干扰程度有重要影响。

最后是时钟频率和时钟抖动，这些参数对于数字信号的传输和同步起着关键作用。

为了进行混合信号集成电路的测试与测量，需要使用一系列的测试仪器和设备。

常用的测试仪器包括示波器、信号源、频谱仪和逻辑分析仪等。

这些仪器能够对集成电路的模拟信号和数字信号进行准确的测量和分析。

混合信号集成电路测试与测量的过程可以分为几个步骤。

首先是测试计划的制定，确定测试的目标和方法。

然后是测试设备的选择和配置，根据测试需求选择合适的测试仪器和设备。

接下来是测试信号的生成和测量，使用信号源和示波器等设备对集成电路进行信号的输入和输出测量。

最后是数据的分析和判定，根据测试结果进行数据的分析和判断，确定集成电路是否符合设计要求。

在混合信号集成电路测试与测量中，还需要考虑一些常见的问题和挑战。

例如，信号的干扰和噪声问题，需要采取适当的抑制和滤波措施。

另外，测试过程中可能会出现一些故障和异常情况，需要及时排除和修复。

此外，测试数据的处理和分析也是一个关键的环节，需要使用合适的算法和方法进行数据的处理和分析。

总结起来，混合信号集成电路测试与测量是确保集成电路性能和质量的重要环节。

通过合适的测试仪器和设备，以及科学的测试方法和流程，可以有效地对混合信号集成电路进行测试和测量。

第28卷第4期增刊　2007年4月仪　器　仪　表　学　报Chinese Jour nal of Scientif ic InstrumentVol.28No.4Apr.2007　混合信号电路的测试性分析综述陈晓梅1,2,孟晓风1(1　北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院　北京　100083;2　华北电力大学电气与电子工程学院　北京　102206)摘　要:混合信号电子电路在现代电子产品中必不可少,其测试性分析成为学者研究的热点。

本文系统地阐述了混合信号电路的测试性分析方法(TTF方法,离散事件系统DES方法,单信号依赖模型方法,多信号依赖模型方法)的基本思路、研究现状、实践应用情况及其优缺点。

最后,本文展望了未来的研究热点方向。

关键词:混合信号;测试性分析;故障诊断Testability analysis of mixed2signal cir cuitChen X iao mei1,2,Meng X iaofeng1(1　Colle ge of I nst rument Science a nd O pto electronics Engineerin g,Bei jing U niv.ofAe rona utics a nd Astrona utics,Beij ing100083,Chi na;2　Colle ge of Elect rical a nd electronic engineeri ng,N orth c hina electr ic powe r uni versi ty,Bei jing102206,China)Abstract:The mixed2signal circuit i s necessary fo r m o dern electro nic product s,and t he research o n t he testabilit y of mi xed2signal circuit beco mes t he highlighted topic.In t hi s pap er,several different testability analysis met ho ds are sys2 tematically summarized and di scussed,w hich incl ude T TF method,DES met hod,si ngle dep endency met ho d,multi2 signal met ho d.The basic idea,the research stat us,t he practice and applicatio n inst ances,an d t he advant age/di sadvan2 tage of t he every met ho d are discussed.At last,t he futu re research topics are predicted.Key words:mixed2signal;t est abili ty analysis;fault diagnosis1　引 言现实世界中信号本质上多为模拟信号,因此模拟电路不可能完全被数字电路取代,混合信号电子产品必将长期存在。

利用高带宽混合信号示波器进行DDR验证和调试的技巧DDR存储器，也称双倍数据率同步动态随机存储器，常用于高级系统的设计，包括计算机、交通运送、家庭消遣系统、医疗设备和消费类产品。

DDR的广泛采纳也推进着DDR存储器自身的研发，在DDR 1和DDR 2逐渐得到普及并成熟运用于某些行业的同时，新的DDR技术也开头浮现在电子产品设计中，如DDR3(第三代DDR技术)和LPDDR(低功耗DDR技术)器件，它们能提供更高的性能。

你可能认为DDR存储器的设计十分简明，但实际上，这些存储器件中更高的数据率和更低的经常会令你感到很难有设计裕量。

此外，DDR接口是最为复杂的高速接口之一，由于每个存储器件上都有无数引脚；DDRII/III DQS、DQ等信号线不是容易的规律1和规律0，还包括高阻态；高速数据传输速率已经达到2.0和PCI-Express等串行技术的数百兆位每秒水平。

这样一来，验证DDR接口成为一项繁杂的任务。

虽然广泛用于DDR接口的高性能物理层验证，但DDR存储器技术的复杂性使常规示波器的验证和调试成为一项挑战。

它可能会限制你进一步测量的能力，如读写数据分别、指令触发、状态机解码和协议调试。

针对此，本文将重点介绍常规示波器验证过程中所遭受的挑战，以及MSO如何应对这些挑战。

验证挑战DDR存储器接口的复杂，不仅体现在它是并行接口，每一根数据信号的传输率达几百兆甚至超过1G比特每秒，而且还体现在DDR存储器控制器和DDR 芯片间大量的信号互连。

一个典型DDR器件有20个以上的信号，包括时钟、6个控制信号、12个地址信号、1个选通信号和8个数据信号。

当启动一项操作时，存储器控制器要通过输出至DDR芯片的控制信号发布指令。

传统示波器惟独4个模拟输入通道，而您可能需要同时衔接全部6个控制信号，来确定发送至 DDR接口的指令类型，更不用说无数时候设计人员需要同时观看时钟、数据选通和数据信号。

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混频器测试建议书混频器测试建议书1. 背景介绍混频器是一种用于将两个或多个信号进行混合的设备，广泛用于音频和视频领域。

为了确保混频器在使用过程中能够正常工作并提供高质量的混合效果，本测试建议书旨在对混频器进行全面的测试和评估。

2. 测试目的本次测试的目的是评估混频器在以下几个方面的性能和功能：输入信号的灵敏度和准确性输出信号的质量和稳定性控制面板的易用性和功能性耐久性和稳定性3. 测试方法为了对混频器进行全面的测试，建议使用以下测试方法：1. 输入信号测试：使用不同类型的音频和视频信号源，测试混频器对不同信号的接收和处理能力。

测量输入信号的灵敏度，包括信噪比、失真率等。

检查输入信号的准确性和稳定性。

2. 输出信号测试：使用音频和视频设备连接到混频器的输出端口，测试输出信号的质量和稳定性。

测量输出信号的频率响应、失真率等参数。

检查输出信号是否与输入信号相匹配。

3. 控制面板测试：对混频器的控制面板进行功能测试，确保各个按钮、旋钮和开关的正常工作。

测试混频器的各种调节功能，如音量控制、音调调节、混音效果等。

检查控制面板的易用性，是否提供清晰的标识和操作指导。

4. 耐久性测试：对混频器进行长时间运行测试，以评估其耐久性和稳定性。

检查混频器在长时间使用后是否出现故障或性能下降。

4. 预期结果经过以上测试，预期混频器应该满足以下标准：输入信号的接收和处理能力良好，准确度高，信号质量稳定。

输出信号的质量高，频率响应良好，失真率低。

控制面板的功能完好，易于操作，提供清晰的标识和操作指导。

经过长时间运行测试后，混频器应保持良好的性能和稳定性。

5. 与建议根据以上测试结果，对混频器的性能和功能进行综合评估，并提出以下建议：1. 如果混频器在某些方面未达到预期结果，建议对设计和制造过程进行改进，以提高其性能和功能。

2. 建议提供清晰的用户手册和操作指导，以便用户正确操作和调整混频器。

3. 建议继续对混频器进行长时间运行测试，以确保其耐久性和稳定性。

第一章绪论图１．２晶片测试结果图（ｗａｆｅｒＭａｐ）第二节论文选题目的和意义１．２．１选题意义Ｌ９３Ｓ芯片（代号ＮｅｐｔｕｎｅＬＴＥ）是Ｆｒｅｅｓｃａｌｅ公司（原Ｍｏｔｏｒｏｌａ半导体事业部）开发设计的一种专用系统芯片（ＳｏＣ），被广泛应用在各种通讯领域，特别是手机和基站中。

世界上有超过７０％的手机生产商在其产品中采用了ＮｅｐｔｕｎｅＬＴＥ芯片的解决方案。

Ｌ９３Ｓ内部集成了微处理器（ＭＣＵ）、ＤＰＳ、存储器（Ｍｅｍｏｒｙ）和ＲＦ处理功能，是一片功能非常强大的混合信号处理器。

由于Ｌ９３ｓ集成了数字、模拟和射频信号，所以测试项目复杂、测试周期长，尤其是模拟和数字信号需要不同的测试平台完成测试。

随着客户订单的不断增加，Ｌ９３ｓ的测试产能明显不足，生产出来的产品无法及时完成测试交给客户。

如果购买新的混合信号测试机来提高测试产能，每台测试机将近２００万美元，而且交货周期很长，无法马上应用到生产。

Ｔｅｒａｄｙｎｅ公司的Ｊ７５０自动测试机是一种高度集成化的数字信号测试机，是为了满足半导体生产厂商低成本数字信号测试需要而开发的。

在Ｆｒｅｅｓｃａｌｅ天津公司晶园探针测试部现安装有２０台，用于不同型号产品的晶元测试。

其中Ｌ９３Ｓ的数第二章晶元自动化测试系统第二章晶元自动化测试系统第一节测试设备介绍晶元在生产工厂（ｗａｆｅｒＦａｂｒｉｃａｔｉｏｎ）生产出来后，需要先经过探针测试（ＰｒｏｂｅＴｅｓｔ），然后再送到后段工序进行切割、焊线和封装，最后经过电测，包装出货。

探针测试目的是对每个芯片进行逐一的电性测试，来决定哪一个芯片通过测试，哪一个芯片未通过测试。

未通过测试的芯片被视为坏品，将在印墨迹工序中被点上墨点，或者在砒如ｒＭａｐ文件中记录下次品的坐标。

有墨点的芯片在后工序中不会封装，以节省不必要的后道制造成本。

２．１．１测试系统组成：探针测试系统主要分为探针机（ｗａｆｅｒＰｍｂｅｒ）、自动化测试机（ＡｕｔｏｍａｔｉｃＴｅｓｔＥｑｕｉｐｍｅｍ，ＡＴＥ）、探针卡（Ｐｒｏｂｅｃａｒｄ）等三部分。

泰克混合信号示波器在调试LVDS信号中的应用1.测试背景需求LVDS信号介绍LVDS(Low Voltage Differential Signaling) 低电压差分信号，传输速率一般在155Mbps（大约为77MHz）以上。

LVDS是一种低摆幅的差分信号技术，它使得信号能在差分PCB线对或平衡电缆上以几百Mbps的速率传输，其低电压和低电流驱动输出实现了低噪声和低功耗。

IEEE在两个标准中对LVDS信号进行了定义。

ANSI/TIA/EIA-644中，推荐最大速率为655Mbps，理论极限速率为1923Mbps。

LVDS信号电平特性LVDS物理接口使用1.2V偏置电压作为基准，提供大约400mV摆幅。

LVDS驱动器由一个驱动差分线对的电流源组成（通常电流为3.5mA），LVDS接收器具有很高的输入阻抗，因此驱动器输出的电流大部分都流过100Ω的匹配电阻，并在接收器的输入端产生大约350mV 的电压。

电流源为恒流特性，终端电阻在100-120欧姆之间，则电压摆动幅度为：3.5mA * 100 = 350mV ；3.5mA * 120 = 420mV。

LVDS信号测试的挑战：●高速差分信号；●多路LVDS信号同时分析；●对测试设备的带宽要求较高；2.测试关键环节本实验中，LVDS信号来自于ADI公司的AD转换芯片，该AD转换芯片单片支持8路同时AD变换，每路为12bit，该AD芯片直接将12bit信号进行串并转换，转化成串行LVDS信号。

如果该AD的采样时钟为10MHz，即帧时钟为10MHz，对应数据位时钟为6倍帧时钟60MHz，AD输出的LVDS信号数据率为120Mbps，数据信号带宽是60MHz。

另外，帧时钟、位时钟、数据都是LVDS差分信号，都需要差分探头测试。

如图所示，分别测得帧时钟、位时钟、数据波形，其中，数据只是测试数据，简单的01变化。

本AD芯片输出的LVDS信号直流偏置是1.2V，峰峰值为375mV，LVDS信号的峰峰值与设计中的匹配电阻有关。

msox4154a使用手册嘿，各位科技发烧友和工程师小伙伴们，你们是不是也遇到过这样的烦恼：在进行复杂电子系统设计时，想要精准捕捉和分析那些瞬息万变的信号，却总是感觉手头工具不够给力？别怕，今天我要给大家安利一款神器——MSOX4154A 高精度示波器，它绝对能让你的测试工作如虎添翼！首先，咱们得明确一点：MSOX4154A不仅仅是一款示波器，它更是一个强大的混合信号测试解决方案！ 你是否曾经为了同时监测模拟信号和数字信号而手忙脚乱？MSOX4154A告诉你，这都不是事儿！它集成了高性能示波器、逻辑分析仪、协议分析仪等多种功能于一身，让你的测试效率瞬间翻倍！一、开箱初见，惊艳不已！当你第一次打开MSOX4154A的包装箱，那种精致感和科技感扑面而来，简直让人爱不释手！ 它的外观设计简洁大方，按键布局合理，显示屏清晰亮丽，一看就知道是专业级的设备。

而且，它的便携性也是一大亮点，无论是实验室还是现场测试，都能轻松搞定！二、上手操作，轻松自如！别看MSOX4154A功能强大，其实它操作起来非常简单！ 只需按照说明书上的指引，几步就能完成初始化设置。

而且，它的用户界面设计得非常人性化，各种参数设置一目了然，即使是新手也能快速上手。

在测试过程中，你可以通过旋钮和按键快速调整时间基、垂直灵敏度等参数，还能实时查看波形细节。

更重要的是，MSOX4154A还支持触摸屏操作，让你在屏幕上直接拖拽、缩放波形，就像玩手机一样流畅！三、混合信号测试，一网打尽！说到MSOX4154A的杀手锏，那就是它的混合信号测试能力了！ 无论是模拟信号还是数字信号，它都能轻松捕捉和分析。

而且，它还支持多种通信协议，比如I2C、SPI、UART等，让你在测试过程中无需频繁切换设备，就能完成全面的信号分析。

值得一提的是，MSOX4154A还配备了强大的数据分析软件，能够自动识别和解析波形数据，生成详细的测试报告。

这样一来，你就能更加直观地了解系统的性能表现，从而进行针对性的优化和调整。

面向复杂混合信号的CPCI专用测试系统及其自动校准方法梁嘉倩;孟升卫;鲁文帅;付平【期刊名称】《中国电子科学研究院学报》【年(卷),期】2017(12)2【摘要】面向多通道复杂混合信号的快速精确自动化测试需求,设计并实现了具有在线实时自动校准功能的CPCI总线专用组合测试系统.基于标准的CPCI总线J1/J2接口和扩展的后I0接口设计了专用信号调理模块和通用数据采集模块硬件,基于FPGA设计了测量转换时序与控制逻辑,基于LabVIEW环境开发了自动测试软件.基于Matlab研究了自适应的分段拟合校准算法,实现了系统在线实时自动校准,校准后直流、交流、频率测量精度误差分别达到1‰、2％和0.1‰.测试结果表明,基于分段三次多项式拟合的自动校准方法能够快速有效降低系统非线性导致的测量误差,整套系统满足面向密集信号的快速装备测试需求.【总页数】6页(P187-192)【作者】梁嘉倩;孟升卫;鲁文帅;付平【作者单位】哈尔滨工业大学自动化测试与控制研究所,黑龙江哈尔滨 150001;哈尔滨工业大学自动化测试与控制研究所,黑龙江哈尔滨 150001;中国电子科学研究院,北京 100041;哈尔滨工业大学自动化测试与控制研究所,黑龙江哈尔滨 150001【正文语种】中文【中图分类】TP212【相关文献】1.自动测试系统校准方法研究 [J], 孙宝江;沈士团;陈星2.自动测试系统中面向信号的仪器UUT建模方法 [J], 苏孝钐;田凌3.一种基于散射参数级联的微波自动测试系统校准方法 [J], 中国电子科技集团公司第四十一研究所4.雷达数字T/R组件自动测试系统校准方法的研究 [J], 宋云;王维;朱小定;童颖飞;张英浩5.一种面向信号的自动测试系统资源分配方法设计 [J], 张文;杨京礼因版权原因，仅展示原文概要，查看原文内容请购买。