RAM+Stress+Test(RST)内存测试软件说明
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内存压力测试是一种评估计算机内存稳定性和可靠性的方法。
以下是进行内存压力测试的步骤:
1. 准备软件:选择一款适合的内存压力测试软件,例如Memtest86+。
这个软件可以在Windows、Linux 和Mac OS 等操作系统上运行。
2. 下载和安装软件:从官方网站或可信的软件仓库下载Memtest86+ 软件,并按照提示进行安装。
3. 运行软件:插入Memtest86+ 启动盘或启动设备,重启计算机。
在BIOS 启动菜单中选择从Memtest86+ 启动,然后按照屏幕上的提示进行操作。
4. 进行测试:在Memtest86+ 软件界面中,选择适合的测试选项(例如标准测试或高级测试),然后点击开始按钮开始测试。
测试过程可能需要一段时间,具体取决于计算机的性能和内存容量。
5. 分析结果:测试完成后,Memtest86+ 会显示测试结果。
检查是否有内存错误或问题,如果有,则可能需要更换有问题的内存条或进行其他修复措施。
请注意,内存压力测试只是一种评估内存稳定性的方法,不能保证完全避免内存问题。
因此,在测试通过后,仍然需要保持定期的硬件维护和备份重要数据,以确保计算机的稳定性和可靠性。
linux 内存压力测试指令-概述说明以及解释1.引言1.1 概述概述部分的内容可以从以下几个方面展开:概述部分旨在介绍本文的主题——Linux内存压力测试指令,并向读者提供对本文内容的全面了解。
首先,Linux操作系统被广泛应用于各种系统中,包括服务器、嵌入式设备和个人电脑等。
在这些应用场景中,内存是系统中至关重要的资源之一。
因此,对于Linux内存管理和性能优化的研究变得尤为重要。
本文将重点关注Linux内存压力测试指令,这些指令可以帮助我们模拟和评估不同负载下的内存性能表现。
通过对系统进行压力测试,我们可以了解系统在高负载下的内存使用情况,并识别潜在的性能问题。
在正文部分,我们将首先介绍Linux内存管理的基本概念和机制,包括内存分页、虚拟内存和页面置换等。
接着,我们将探讨内存压力测试在系统性能评估中的重要性。
通过模拟不同负载情况下的内存使用情况,我们可以有效地定位和解决内存相关的性能问题。
最后,在结论部分,我们将总结本文介绍的Linux内存压力测试指令,并提供针对不同应用场景的建议。
此外,我们将展望未来Linux内存管理和性能优化的发展趋势,并指出可能的研究方向。
通过阅读本文,读者将了解到Linux内存压力测试的重要性以及如何使用相关指令来评估系统的内存性能。
希望本文对读者在Linux内存管理和性能优化方面的研究和实践提供帮助。
1.2文章结构1.2 文章结构本文将按照以下顺序介绍Linux内存压力测试指令的相关内容:1. 简介:首先,我们将对Linux内存管理进行简要介绍。
这部分将包括内存的概念、作用以及Linux如何管理内存等内容。
2. 内存压力测试的重要性:接下来,我们将详细探讨内存压力测试的重要性。
我们将解释为什么需要对内存进行压力测试以及压力测试能够帮助我们发现什么问题。
3. 压力测试指令:在这一部分,我们将重点介绍Linux内存压力测试的相关指令。
包括但不限于以下内容:- 内存使用情况查看指令:我们将介绍如何使用指令来查看Linux系统的内存使用情况,包括已使用内存、可用内存、缓存和交换空间等信息。
DDR测试软件简要说明书如以上的示范图:闪动的代表8颗粒的区域横着数0-7带表第一颗区域8-F代表第二颗区域,0-7带表第三颗区域,8-F代表第四颗区域依次带表8颗颗粒的内存条⒈DDR8位与16位的单面测法:注意:DDR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8⑴.0-7(第1颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第一颗粒已经损坏⑵. 8-F(第2颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第二颗粒已经损坏⑶. 0-7(第3颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第三颗粒已经损坏⑷.8-F(第4颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第四颗粒已经损坏⑸. 0-7(第5颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第五颗粒已经损坏⑹. 8-F(第6颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第六颗粒已经损坏⑺. 0-7(第7颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第七颗粒已经损坏⑻. 8-F(第8颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第八颗粒已经损坏⒉如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图:1-16M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------ 16-32M ------------------------------------------------------------------------------------------------------- 32-48M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------48-64M------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 从1M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,代表这跟内存的的第一面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)64-80M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------ 80-96M -------------------------------------------------------------------------------------------------------96-112M------------------------------------------------------------------------------------------------------------112-128M---------------------------------------------------------------------------------------------------------- 从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,代表这跟内存的的第二面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)注意:在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面93与184的代表第二面,1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用.⒊SD的8位与16位的单面测法:注意:SD的颗粒排列循序是8-4-7-3-6-2-5-1⑴.0-7(第1颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏⑵. 8-F(第2颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏⑶. 0-7(第3颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏⑷.8-F(第4颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏⑸. 0-7(第5颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏⑹. 8-F(第6颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏⑺. 0-7(第7颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏⑻. 8-F(第8颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏4.通过以上的说明SD的双面是跟DDR的是一样的但是颗粒的好坏判断要按照他们的排列循序来判断的.5.PCB板的短路或者虚焊的测法:在以8根虚线上都出现乱码代表这根内存的PCB板有问题.6.不点亮内存的测试方法:很多内存短路和颗粒损坏后都不能点亮,不点亮的可以用一根好的内存去带动他.必须SD的带SD的.DDR的带DDR的.内存软件会自动跳过好的那根去检测坏的那条.7.使用方法:直接把软盘插入软驱,在主板的CMOS里设置软驱起动,起动后本软件会自动引导到测试界面进行检测RAM Stress Test(RST)内存测试软件使用指南近日比较关注内存的检测问题,找到了名为“RAM Stress Test”的软件(简称“R. S. T.)。
RSTPRO3USB版内存检测软件使用说明RST PRO3 USB版内存检测软件使用说明RST PRO3 USB版内存检测软件点此★. 独步全球RST Pro3 USB专业测试 Memory新登场RST Pro3 USB★. 具有自我开机系统(SBT),可测试没有PCI Slot 之PC (如:Server,Notebook,Desktop,Mini Desktop, and IPC.)RST Pro3 USB★. 支持DDR 2 DDR3 Intel最新Chipset---RST Pro3 USB★. RST Pro3 USB 是RST软体的第五代产品符合Jedec工业测试标准,可方便使用于Desktop,Notebook,Server和IPC主机外壳USB插座上随插即用。
RST Pro3 USB 是一种内存测试用的硬体/韧体设计,为了让Moudule Ram制造厂和Desktop,Notebook,Server和IPC等系统制造厂、设计工程师、及系统专业服务人员等提供内存的精确测RST Pro3 USB★. RST Pro3 USB,是一个具有自我开机系统,工作系统独立的内存重新设计的最新版本比先前的设计具有更多的特点,RST Pro3 USB 是内存测试及确认最有效的终极测试工具。
RST Pr3 USB 顶级轻巧的包装是使用者的最佳无懈可击之内存测试利器,使用者能得到精确的内存测试,缩短开发及生产时间,独立的工作系统是最有效的内存终极诊断工具。
RST Pro3 USB★. 目前RST Pro3 USB 支持所有的DDR/DDR2/DDR3,ECC,Parity and Non-Parity) 及其它,RST Pro3 USB 的主要优点,相较于一般独立的测试器,具有在系统环境下测出有效的内存的能力,现有USB上具有内存,所以RSTPro USB 能够测试系统,由系统内存前端的2K地址开始,USB 上的内存让RST Pro3 USB去测试最大数量的内存。
电脑windows内存诊断工具的使用方法
如今我们的电脑内存稍微有点问题都有可能导致系统运行不稳定,最常见的表现就是蓝屏,自动重启,甚至开不起机。
下面是小编为大家整理的关于电脑windows内存诊断工具的使用方法,一起来看看吧!
电脑windows内存诊断工具的使用方法
1、它就是系统自带的内存诊断功能,我们先打开控制面板,如下图。
2、打开里面的“管理工具”。
3、这里就能看到“Windows内存诊断”工具了,打开它
4、弹出下面窗口,一般我们直接点击“立即重新启动并检查问题”,当然前提是你要先把系统中运行的文件先保存下,以免数据丢失。
5、重启电脑后系统会自动检测,下面就是检测画面,我们主要看下面的状态,如果它一直显示“尚未检测到问题”,就说明内存是正常的。
这个过程会分为两个阶段,下面这个是第一阶段。
6、下面已经检测到第二阶段了,如果一直检测到100%都没有问题话,说明你的内存条是正常的。
检测完成后电脑会重启进入系统。
如果检测结果正常,但是电脑还是经常会蓝屏重启,说明是其他地方出了问题,系统和硬盘的可能性比较大,要重点排查。
memtester用法一、什么是memtestermemtester是一个用于测试计算机内存稳定性和可靠性的工具。
它可以模拟不同的内存负载,并检测是否存在内存错误。
memtester可以用于定位和诊断内存问题,尤其是在硬件故障或系统稳定性问题中非常有用。
二、安装memtester要使用memtester,首先需要安装它。
下面是在Linux系统下安装memtester的步骤:1.打开终端。
2.使用包管理器(如apt、yum等)安装memtester。
例如,在Ubuntu上,可以使用以下命令进行安装:sudo apt-get install memtester3.安装完成后,可以通过运行以下命令来验证是否成功安装了memtester:memtester --version如果成功安装,将显示memtester的版本信息。
三、memtester的基本用法memtester的基本用法非常简单,只需要指定要测试的内存大小和测试的次数即可。
以下是memtester的基本用法示例:memtester <内存大小> <测试次数>•<内存大小>:指定要测试的内存大小,单位可以是M(兆字节)或G(千兆字节)。
例如,要测试1GB的内存,可以使用1G作为参数。
•<测试次数>:指定要进行的测试次数。
可以根据实际需要设置测试次数。
例如,要测试2GB内存的稳定性,可以运行以下命令:memtester 2G 3上述命令将对2GB的内存进行3次测试。
四、memtester的高级用法除了基本用法外,memtester还提供了一些高级选项,以满足更复杂的测试需求。
以下是一些常用的高级用法:1. 指定模式memtester可以模拟不同的内存访问模式,以更全面地测试内存的稳定性。
可以使用-p选项来指定测试模式。
以下是一些常用的测试模式:•0xff:使用全1模式进行测试。
•0x00:使用全0模式进行测试。
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111 使用u启动Memtest4.20内存检测工具对电脑内存进行检测
现今社会电脑已是生活和工作中不可缺少的小伙伴了,但是电脑的健康状况你有了解多少呢?今天u启动小编就教大家利用Memtest4.20内存检测工具来检测电脑的健康状况吧!
将制作好的u盘插入到电脑的usb插口处,重启电脑按下相应的快捷键进入到u启动的主菜单界面后选择“【07】运行硬盘内存硬盘检测扫描工具菜单”后按回车键确认;如下图所示:在检测工具菜单下利用键盘上的方向键将光标移至“【04】运行Memtest4.20内存检测”后按下回车键“Enter”键确认即可;如下图所示:
当我们按下回车键是系统便会自动进行内存检测,检测的时间大约会在2小时左右,请耐心等待。
如下图所示:
现在u启动小编就内存检测的过程中的相关数值向大家详细说明一下:
上方的Pass:表示检测过程中的整体进度;
Test:表示检测当前进度;
下方的WallTime:检测时长,大约会在2小时左右;
Pass:进行内存检测的次数,经过这一次检测后,下次检测室这里的数值将会是“1”,并且每一次的检测都会累计上去。
Error ECC Errs:检测错误的次数和地点将会在此显示出来。
到此,u启动小编就将MemTest4.20的使用过程教给大家了,是不是很简单了,赶快动起来对你电脑的内存进行一次检测吧!。
微软内存检测工具使用说明Windows Memory Diagnostic—内存诊断测试状态有两种模式,17项测试,如256M内存,全程约一小时;正常来说,关闭BIOS里的快速启动模式,让开机检测内存转三次就可以确定内存芯片是好的了。
使用内存检测工具主要是进行老化测试,内存芯片正常的情况下,PCB板有可能高温下传递错误的信号。
微软内存检测工具需要制作成启动盘(光盘或软盘都行),启动后自动运行简易模式,按T键进入深层测试。
简易模式下1GB内存大概测10分钟,深层模式下1 GB需要1小时,依此类推(PASS为通过的次数,可以无限次测试下去)。
最下方是错误提示,没错误时显示NO ERROR.......有错误时显示具体物理位置写入什么数据,读出来是什么数据,两个数据不一样(都以16进制显示)。
我碰到过有些内存在简易模式下PASS 8才出现错误,深层模式下PASS 3才出现错误。
一、extended tests扩展内存测试模式,有6项测试,它是不断循环的,只须测试一Pass就可,当显示Pass:2时,可按“T”键进入另一个模式.扩展内存测试模式分别检测:MATS+,INVC,LRAND,STRIDE6,WMATS+,WINVC二、standard tests标准内存测试模式,有11项测试,它也是不断循环的,只须测试一Pa ss就可,当显示Pass:2时,可按“T”键进入另一个模式,也可按“X”键,退出,完成测试。
精选文库全程总共17项测试,只要其中一项不能Succeeded,如果你的内存是两条或以上,可转换一下内存的排列顺序再试,一定要全部Succeeded,否则就要换内存了(或者是内存槽坏了),如果在测试过程中死机,那说明你的CPU有问题或超频过头了。
Succeeded=成功Active=活跃都表示没问题STANDARD 模式测试内容:MATS+,INVC,LRAND,STRIDE6,WMATS+,WINVC,MATS+, STRIDE38,WSTRIDE-6,ERAND(时间较长),后面应该还有个没记下来。
Linux内存测试⼯具memtester安装与使⽤转⾃:1. memtester下载官⽹:当前最新版本是:memtester-4.5.1.tar.gz可以直接下载安装包安装,也可以通过wget命令下载$ wget http://pyropus.ca/software/memtester/old-versions/memtester-4.5.1.tar.gz2. 解压$ tar -xzvf memtester-4.5.1.tar.gz3. 编译并安装$ cd memtester-4.5.1$ sudo make$ sudo make install4. 使⽤⽤于测试内存i.g. 例如测试内存总量1900M,循环测试10次$ ./memtester 1900M 10运⾏结果(没有测出问题):...got 0MB (73728 bytes), trying mlock ...too many pages, reducing...got 0MB (69632 bytes), trying mlock ...too many pages, reducing...got 0MB (65536 bytes), trying mlock ...locked.Loop 1/10:Stuck Address : okRandom Value : okCompare XOR : okCompare SUB : okCompare MUL : okCompare DIV : okCompare OR : okCompare AND : okSequential Increment: okSolid Bits : okBlock Sequential : okCheckerboard : okBit Spread : okBit Flip : okWalking Ones : okWalking Zeroes : ok8-bit Writes : ok16-bit Writes : ok...Loop 10/10:Stuck Address : okRandom Value : okCompare XOR : okCompare SUB : okCompare MUL : okCompare DIV : okCompare OR : okCompare AND : okSequential Increment: okSolid Bits : okBlock Sequential : okCheckerboard : okBit Spread : okBit Flip : okWalking Ones : okWalking Zeroes : ok8-bit Writes : ok16-bit Writes : okDone.。
DDR测试软件简要说明书如以上的示范图:闪动的代表8颗粒的区域横着数0-7带表第一颗区域8-F代表第二颗区域,0-7带表第三颗区域,8-F代表第四颗区域依次带表8颗颗粒的内存条⒈DDR8位与16位的单面测法:注意:DDR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8⑴.0-7(第1颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第一颗粒已经损坏⑵. 8-F(第2颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第二颗粒已经损坏⑶. 0-7(第3颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第三颗粒已经损坏⑷.8-F(第4颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第四颗粒已经损坏⑸. 0-7(第5颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第五颗粒已经损坏⑹. 8-F(第6颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第六颗粒已经损坏⑺. 0-7(第7颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第七颗粒已经损坏⑻. 8-F(第8颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第八颗粒已经损坏⒉如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图:1-16M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------ 16-32M ------------------------------------------------------------------------------------------------------- 32-48M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------48-64M------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 从1M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,代表这跟内存的的第一面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)64-80M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------ 80-96M -------------------------------------------------------------------------------------------------------96-112M------------------------------------------------------------------------------------------------------------112-128M---------------------------------------------------------------------------------------------------------- 从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,代表这跟内存的的第二面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)注意:在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面93与184的代表第二面,1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用.⒊SD的8位与16位的单面测法:注意:SD的颗粒排列循序是8-4-7-3-6-2-5-1⑴.0-7(第1颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏⑵. 8-F(第2颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏⑶. 0-7(第3颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏⑷.8-F(第4颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏⑸. 0-7(第5颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏⑹. 8-F(第6颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏⑺. 0-7(第7颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏⑻. 8-F(第8颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏4.通过以上的说明SD的双面是跟DDR的是一样的但是颗粒的好坏判断要按照他们的排列循序来判断的.5.PCB板的短路或者虚焊的测法:在以8根虚线上都出现乱码代表这根内存的PCB板有问题.6.不点亮内存的测试方法:很多内存短路和颗粒损坏后都不能点亮,不点亮的可以用一根好的内存去带动他.必须SD的带SD的.DDR的带DDR的.内存软件会自动跳过好的那根去检测坏的那条.7.使用方法:直接把软盘插入软驱,在主板的CMOS里设置软驱起动,起动后本软件会自动引导到测试界面进行检测RAM Stress Test(RST)内存测试软件使用指南近日比较关注内存的检测问题,找到了名为“RAM Stress Test”的软件(简称“R. S. T.)。
但是下载下来,只有区区的2M多,并且是nero格式的文件,这么小的文件能检测内存吗?于是在Google上查找相关说明,经过跋山涉水,终于找到一片,但是很不幸,在一家被挡在墙外的网站上,也就只好半转载、半理解得写出了这一篇使用说明。
先看软件介绍。
这个可以从网络上搜索。
例如,它是一个独立开发的系统,没有依附任何操作系统,相容于x86系列,只要BIOS认的到的容量都能测。
也有人写道,是什么专业测试软件,很贵(500美元)等等,其实只需要知道能测试内存好坏就可以了。
而且,该软件不但可以测试内存好坏,还可以测试内存上的芯片……,对,就是芯片(chip)。
当发现内存错误时,软件会明确发生错误的内存芯片位置,发出警告音。
在Dos系统下,它还可以打印检测报告。
彪悍。
但能检测的单条内存容量最大为2G。
据说,测试DDR2内存也不灵,而且目前最新版本是4.4.2,以后改为硬件了(看这里),囧。
软件为光盘镜像文件,用刻录机做成成启动光盘,使用非常简易,电脑只要设定为软、光盘启动,插入制作好的盘即可自动运行。
程序执行后,第一选项是测试物理内存中基本内存地址(Base Memory,由主板自带的,据说是DOS时代的遗物,为了运行DOS系统而产生的,通常小于640K,具体的看这里。
),第二项是扩展内存地址(Extended Memory,一般就是知内存槽里插的内存了,科学的解释还得看这里。
),第三项是测试你CPU的L2 cache。
基本内存与扩展内存,其实以内存模块来说是一样的,差别是在于内存寻址的区段不同,基本内存的地址为0~640KBytes,扩展内存的地址为1024KBytes 以上的内存地址,中间的641~1024KBytes,则被以前设计IBM 兼容PC (x86)的架构保留成为I/O 地址,至今的计算机多多少少仍继承的的内存架构(I/O与内存共享地址)。
具体使用步骤,还是看别人现成的吧。
注,下列图片引自史莱姆论坛(/)这张图是我自己补的,为了说明测试时候的情况。
测试时,下方的白色区域,会有一行红色的闪动数字和字母:0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF哪一行出现了字母,比如图5/7中,就说明哪一颗芯片出错了。
其中,从1M到64M的4条虚线上出现的话,说明内存的的第一面的颗粒有问题;从64M到128M的4条虚线出现的话,说明这根内存的的第二面的颗粒有问题。
在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面,93与184的代表第二面。
我只使用该软件检测了DDR一代双面的内存,DDR一代单面内存、SD内存没有检测,PCB板也没有检测。
所以不知道网上说的对不对,但是也照搬过来了。
上面提到的闪动的字母和数字依次代表内存条的8颗颗粒。
从左到右横着数:0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗粒、8-F代表第6颗粒、0-7代表第7颗粒、8-F代表第8颗粒。
DDR8位与16位的单面测法:⑴. 0-7(1 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏⑵. 8-F(2 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏⑶. 0-7(3 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏⑷. 8-F(4 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏⑸. 0-7(5 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏⑹. 8-F(6 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏⑺. 0-7(7 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏⑻. 8-F(8 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏注意DDR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8SD的8位与16位的单面测法:⑴. 0-7(1)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第8颗粒已经损坏⑵. 8-F(2)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第4颗粒已经损坏⑶. 0-7(3)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第7颗粒已经损坏⑷. 8-F(4)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第3颗粒已经损坏⑸. 0-7(5)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第6颗粒已经损坏⑹. 8-F(6)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第2颗粒已经损坏⑺. 0-7(7)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第5颗粒已经损坏⑻. 8-F(8)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第1颗粒已经损坏(注:PCB板上从1到84为第一面,颗粒的排列顺序从1到84为8-7-6-5-4-3-2-1,切记注意)板的短路或者虚焊的测法:如果在8根虚线上都出现乱码,说明这根内存的PCB 板有问题。
PCBRAM Stress Test(RST)内存测试软件说明Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式,是专门给系统生产厂商出机前用的测试程式,他其实是从其他的产品独立出来的一项测试,该公司专作系统测试的软硬体,方便生产厂商将产品做详细测试,至于R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍,因为经过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题,所以是非常好用的一个测试工具!闪动的一排测试数字代表内存8颗粒的测试情况。