TM21

TEST METHOD: SATRA TM21FATIGUE TEST FOR SHOE HEELS鞋跟抗疲劳性测试JULY 2017该方法旨在确定女鞋的后跟对正常行走中发生的反复冲击的抵抗力的大小。

该方法适用于所有类型的女鞋细鞋跟，特别适用于采用张力销或钢钉加固的模制塑料鞋跟。

1.范围本标准测定女性鞋跟对正常行走中反复冲击的抵抗力。

该方法适用于女士鞋子中所有类型的细长鞋跟，并对于结合了拉力销或钢销钉以加固的模制塑料鞋跟特别适用。

2.原理将鞋跟夹紧在测试座位上，向前固定地将摆锤释放，使摆锤摇摆幅度的力施加到鞋跟尖端，直到鞋跟出现故障为止。

记录下导致鞋跟毁坏的打击次数和鞋跟毁坏的类型。

3.引用标准SATRA TM19 塑料后跟的尺寸测量。

4.仪器/材料4.1摆疲劳试验机，见图1，具有：4.1.1自由落下的摆锤，由电动机驱动的凸轮返回到固定的起始高度，并且以1±0.1s的间隔重复施加打击。

4.1.2摆锤，带有撞针（4.1.3），当摆锤从水平位置掉落并撞击试样时，撞锤会产生冲击为0.68±0.02J。

水平时的摆锤有效质量为455g。

4.1.3厚度为6±0.5mm的金属棒形式的撞针，其撞击边缘以3±0.2mm的半径倒圆，撞击尖端距摆锤枢轴的标称距离为152mm。

4.1.4钢制托板，参见图2，用于试样鞋跟，在鞋跟座周围填满熔融的可熔合金（4.2），以确保牢固地固定鞋跟。

4.1.5用于固定鞋跟的可调节底夹组件，其具有：一种将托盘（4.1.4）锁定在适当位置的方法。

一种可在水平和垂直方向上调整托盘位置，并使其绕着横轴围绕水平轴旋转的装置，以使鞋跟尖端与撞针正确对齐。

4.1.6瞄准板，见图 3，具有：■沿着其纵轴刻有一条AB 线，其位置使该线在延伸时穿过摆锤的轴线，并在摆锤自由悬挂时接触撞针(4.1.3) 的尖端（见封面照片）。

■刻有一条与纵轴成直角的线 CD，当摆锤自由摆动时，它位于撞针边缘与线 AB 相交点上方 (6 ±0.5) mm（见封面照片）。

关于TM21 LED寿命推算方法1、基础知识IES LM-80-08是用于测量LED光源光通维持率的方法，被广泛用于描述LED的光衰特性，LED器件生产厂家提供的LM-80-08测试报告(ES认可的测试机构测试)采用的数据都来至于持续测试6000h或更多时间内的测试数据，然而对于被测产品LM-80-08并没有很好的定义对于收集到的数据，如何被实际用于确定LED的有效寿命。

TM-21是Energy Star标准的技术备忘，补充了根据LM-80-08测试过程中获得的数据，来进行超出老化时间的寿命推算的方法。

额定光通维持寿命是指LED光源的光输出相对于初始光输出达到某一给定百分比所经过的运行时间，这个值被定义为Lp，p为给定的百分比值，业界常用LED光输出下降至初始光输出的70%所经过的时间来定义LED的寿命，LED达到其额定光通维持寿命取决于很多变量，包括运行温度、驱动电流、产品结构的设计和材料特性。

2、样品规模及测试数据采集对于从LM80报告中获得的所有针对某一特定产品的壳温、驱动电流等数据，都应用于流明维持寿命推算，推荐的样品规模集最小为20 pcs，并可以在流明维持寿命推算中，相对于寿命测试持续时间，LED推算寿命最大不超过6倍测试时间。

任何样品规模的改变都将导致不确定度及流明维持寿命推算的时间间隔的改变，对于样品规模为1019pcs的情况，LED推算寿命最大不超过5.5倍测试时间。

不支持样品规模小于10pcs的寿命推算。

从目前各厂家提供的LM80报告来看，样品规模多为20 pcs或25 pcs。

目前LM80 6000h报告中数据的采集时间间隔多为1000h，且很多厂家持续测试时间已超6000H，超6000H的附加测量可以提高流明维持寿命推算的准确性。

3、流明维持寿命推算方法目前LM80报告中采用最多的是对采集到的数据进行曲线拟合，以推算光通维持率衰减至70%所经历的时间，这个时间就是LED的流明维持寿命。

第1篇一、矩形波导的模式分类矩形波导中的电磁波模式主要分为TE（横电磁波）模式和TM（纵电磁波）模式。

1. TE模式TE模式是指电场只在波导的横向（垂直于传播方向）分量存在，而磁场则在纵向（沿传播方向）分量存在。

根据电场和磁场在波导横截面上的分布，TE模式又可以分为TE10、TE20、TE01等模式。

（1）TE10模式：TE10模式是矩形波导中最基本、最常用的模式。

其电场分布呈矩形，磁场分布呈椭圆。

TE10模式的截止频率最高，适用于高频传输。

（2）TE20模式：TE20模式的电场分布呈矩形，磁场分布呈圆形。

其截止频率低于TE10模式，适用于中频传输。

（3）TE01模式：TE01模式的电场分布呈矩形，磁场分布呈椭圆。

其截止频率最低，适用于低频传输。

2. TM模式TM模式是指磁场只在波导的横向分量存在，而电场则在纵向分量存在。

根据电场和磁场在波导横截面上的分布，TM模式又可以分为TM01、TM11、TM21等模式。

（1）TM01模式：TM01模式的电场分布呈矩形，磁场分布呈圆形。

其截止频率最高，适用于高频传输。

（2）TM11模式：TM11模式的电场分布呈矩形，磁场分布呈椭圆。

其截止频率低于TM01模式，适用于中频传输。

（3）TM21模式：TM21模式的电场分布呈矩形，磁场分布呈圆形。

其截止频率最低，适用于低频传输。

二、矩形波导的模式特性1. 截止频率截止频率是矩形波导中一个重要的参数，它决定了电磁波在波导中能否有效传输。

不同模式的截止频率不同，其中TE10模式的截止频率最高，适用于高频传输。

2. 相速度相速度是指电磁波在波导中传播的速度。

不同模式的相速度不同，TE模式的相速度比TM模式快。

3. 模式损耗模式损耗是指电磁波在波导中传播时，由于波导壁的吸收和辐射等原因，能量逐渐衰减的现象。

不同模式的损耗不同，TE模式的损耗比TM模式小。

4. 传输特性矩形波导中不同模式的传输特性不同，如TE模式的传输特性较好，适用于高频传输；TM模式的传输特性较差，适用于低频传输。

lm80和TM21两个标准的差异是什么？LM-80 Measuring Lumen Maintenance of LED Light Sources•Approved method for measuring lumen depreciation of solid-state (LED) light sources, arrays and modules.•Does not cover measurement of luminaires.•Does not define or provide methods for estimation of life.TM-21 is a Technical Memorandum being developed by anIlluminating Engineering Society (IES) technical•It is currently in the IES vote/comment stage and therefore,may change before final publication•Information provided here is preliminary and notapproved by IES•TM-21 does not determine traditional life or“time to failure” of an LED Lighting system–The useful life of an LED system has manycomponents that need to be considered(lamp, driver, lens, etc.)–LEDs degrade (like all light sources) but forpotentially very long periods of time. Insteadof outright failure, LEDs will eventually dimto a point that is too low to serve theirpurpose•TM-21 does project the lumen maintenanceof an LED source (package/array/module):….. Which can then be used to projectthe expected lumen output of the sourceas part of a system (fixture)翻译：LM-80测量LED光源光通维持率•批准的方法用于测量固态（LED）灯的光衰来源，阵列和模块。

3种STR试剂盒在二联体亲权鉴定中的效能评价【摘要】：Microreader TM 21 Direct ID System试剂盒（21D）采用多重扩增检测20个STR基因座和1个性别位点，可以用亲缘关系检测。

在二联体亲权鉴定过程中，发现了一些达不到亲权判定标准的案例，需要使用Microreader TM23sp-D ID System试剂盒（23sp-D）加测位点才能作出结论。

Microreader TM 28A ID System试剂盒（28A）可以检测28个位点。

本研究利用21D、23sp-D和28A试剂盒分别对收集到的10个21D无法判定亲权关系的案例血卡样本进行检测，结果表明，单独使用28A试剂盒能替代21D和23sp-D联合使用进行二联体亲权关系鉴定。

更加符合司法鉴定的需求。

【关键词】：短串联重复；亲权鉴定短串联重复序列（STR）因其多态性高，个体识别能力强，检测简便快捷，目前已经广泛应用于亲权鉴定方面【1】。

但研究和应用发现STR基因座突变率较高，经常会出现不符合孟德尔遗传规律的矛盾基因座【2】。

根据我国现行的亲权鉴定技术规范（GB/T 37223-2018）的要求，不应根据一个遗传标记不符合遗传规律就作出排除亲权关系的意见，需要增加检验的STR基因座数量【3】。

二联体鉴定由于缺少了一方亲代的遗传信息会降低其亲子关系相对机会(RCP) 值和非父排除率 (PE)【4】，且鉴定时可能存在STR基因座突变现象，严重影响亲子鉴定结果的准确判定，因而对试剂盒检测效能的要求更高。

有研究表明，二联体亲子鉴定要达到亲子鉴定判断标准CPI ≥ 10000，累计非父排除率CPE > 0.9999的条件下至少需要检测18个STR基因座，若发现1个矛盾基因座，需增加检测基因座至29个或以上【5】。

当检测基因座数量较少时，也会出现无矛盾基因座但累计亲权指数（CPI）小于10000的情况，根据规范要求，在CPI值大于10000才可做出“不排除亲生关系”或“支持存在亲生关系”的结论，此时也需要增加检测的STR基因座数量【3】。

TM 电工技术TM 电工技术机电一体化入TH-39。

[TM-9] 电工技术经济易入F407.6。

TM0 一般性问题TM02 电工设计、制图TM05 电工安装技术TM07 电工保养、维修TM08 电工安全TM1 电工基础理论电力电子学入此。

TM11 电工单位、电工计算[TM12] 电学、磁学宜入O441。

TM13 电路理论TM131 线性电路{TM131.1} 电路拓扑学停用；4版改入TM13。

TM131.2 过渡过程、暂态过程TM131.3 直流电路TM131.4 交流电路TM131.4+1 谐振电路、耦合电路TM131.4+2 圆图及反演TM131.4+3 多相电路TM131.4+4 对称分量TM131.4+6 多端网络[TM131.5] 逻辑电路TM131.6 时变电路TM132 非线性电路、铁心电路TM133 电路综合与分析TM134 分布参数电路TM135 电路参数TM14 磁路TM141 磁导TM142 直流磁路TM143 交流磁路TM144 永久磁铁磁路TM15 电磁场理论的应用TM151 静电场计算方法TM151+.1 二度场计算TM151+.2 三度场计算TM151+.3 电容及部分电容TM152 电流场、电流场计算TM153 磁场、磁场计算TM153+.1 磁场计算TM153+.2 电感计算TM153+.3 电磁力[TM153+.4] 地磁TM153+.5 磁屏蔽TM154 交变电磁场TM154.1 交变电磁场计算TM154.2 导电体中电磁过程及其应用。

能源之星系列标准LM82与LM58和TM21简介一、LM82LM82是LM79的后续标准，他规定了升高温度后的LED光引擎（我觉得可以认为是SSL）和整体式LED灯在不同温度下的电气和光学测试。

主要有以下重点：a、待测样品需要给出温度监控点Tb以及电源的温度监控点Td（不强制）。

b、初始测试—按照LM79第九节在环境温度为25±1℃进行功率、光通量及色参数的测试，并监控此时的Tb值，记为Tb i。

c、校准测试—通过调节环境温度使得Tb到初始测试时的环境温度（25±1℃），然后进行功率、光通量及色参数的测试，并监控记录此时的Tb值，记为Tb0。

d、第一次温升测试—通过调节环境温度使Tb到达Tb0+25℃，然后进行功率、光通量及色参数的测试，并监控记录此时的Tb值，记为Tb1。

e、第二次温升测试—通过调节环境温度使Tb到达Tb0+50℃，然后进行功率、光通量及色参数的测试，并监控记录此时的Tb值，记为Tb2。

f、对以上测得的数据按照标准规定的处理方法得到升高温度后的光度特性。

g、标准中提到对于温度的控制建议使用温控积分球，其他的方法必须要求能控制好Tb点得温度并不影响光度测试。

二、LM58LM58规定了辐照度、辐射度以及辐射通量的测量程序和测试设备要求。

测量的范围是近紫外到近红外区域。

光谱辐射度测量的基本组成包括校准源、输入结构、单色仪、检测系统和自动测量程序。

光谱辐照度对于可见和红外区域，标准源应该是白炽灯；对于紫外区域，需要使用时应卤素灯或者氘灯。

该标准规定的要求的内容包括：测量数据、被测源的确定以及运行条件、辐射量的计算、单色仪型号、标准源的鉴定、光谱范围、带宽和波长间隔、波长扫描方法和绝对光谱功率分布等，可认为是LM79中积分球测试的详细要求。

三、TM21TM21提供对LM80所测得数据的处理方法，主要包括以下内容：a、给出了指数函数形式的数据拟合方法。

b、给出了拟合寿命（70%光衰寿命）的修正方法。