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长波红外(LWIR)热像仪模块FLIR Lepton ® 是一种长波红外热像仪解决方案，其机身不足一角面值的硬币大小，可安装入手机使用，价格经济实惠，不足传统红外热像仪的十分之一。
借助有效像素为80×60的焦平面阵列(FPA )，Lepton 能够轻松集成于移动设备和其它电子元件中，形成一种简单易用的红外探测器或热像仪。
增强型红外探测器
灵敏度高于普通热电堆探测器• 热灵敏度<50 mK
• 可选择稳定温度输出，支持红外图像处理• 工作功率低，仅为150mW • 待机模式功率低
迷你红外热像仪
适用于小型电子元件的非制冷型红外热像仪• 一体式数字热图像处理• 多种镜头选择：50°/25°视场角• 可选配快门• 成像时间快(<0.5秒)
集成简单
简化了热成像设备的开发与生产过程• 尺寸为8.5x8.5x5.6mm • 符合帧频＜ 9Hz 的出口要求• MIPI 和SPI 视频接口• 采用标准的手机兼容电源• 双线串行控制接口
• 32针插座接口与连接器相连
FLIR LEPTON
®
技术参数
本文所述设备如用于出口，须获得美国政府的授权。
有悖于美国法律的行为一律禁止。
图片仅供说明之用。
技术参数如有变更，恕不另行通知。
©2014 FLIR Systems,Inc.版权所有。
创建日期:2014年11月21日
FLIR 中国公司总部
前视红外光电科技(上海) 有限公司
NASDAQ: FLIR
150814 L E P T O N N e w L o o k d a t a s h e e S C N。
FLIR Tau 和Neutrino 熱像儀產品家族向來以緊湊小巧、低功耗(SWaP)享譽業界。
如今，我們又迎來了新成員——Tau SWIR 。
該產品採用短波紅外熱像儀機芯，專為滿足各類OEM 應用需求而設計，可廣泛用於超譜儀、矽晶檢測、光電荷、藝術品修復、仿品鑒定和可擕式應用場合。
同時，該產品還可在不同成像和光照條件下，提供出色的畫質和性能。
FLIR Tau SWIR 短波紅外熱像儀擁有640 x 512高解析度、ISC1202銦鎵砷化物(InGaAs)、 15μm 圖元間距焦平面陣列(FPA)，同時配備豐富的高級熱像儀控制功能。
領先業界的技術特性• 高解析度InGaAs 640 x 512/15μm FPA • 板載相關雙採樣(CDS)，有效降低雜訊 • 抗模糊快照集成
• 14位元CMOS 數位視訊和NTSC/PAL 類比視頻• 三種增益狀態操作模式，專門用於低光應用環境
緊湊、小巧，低功耗(SWaP)• 38 mm x 38 mm x 36 mm • <81 克
• <3.2瓦特電源(室溫下)技術性能
• >65% 量子效率• 自動曝光控制
• 全套FLIR 高級影像處理模式
• 60幀/秒(60 Hz), 變焦模式120 Hz
FLIR T au SWIR 短波紅外(SWIR)熱像儀
™
鐳射指示器
霧穿透
穿透塗料顯示深層特徵。
可選VPC模組和三角架安裝配件如圖所示。
技术规格本文所述设备如用于出口，须获得美国政府的授权。
有悖于美国法律的行为一律禁止。
图像仅供说明之用。
技术规格如有变更，恕不另行通知。
©2014 FLIR Systems, Inc. 版权所有。
091714订购信息TG165 红外成像测温仪TA13 TG165EVA 防护性外壳TA14 TG165腰带皮套世界第六感/TG165红外温度测量基本精度±1.5%或1.5˚C 温度范围-25˚C 至380˚C ，-13至716˚F发射率4 个预设值等级以及 0.1-0.99范围内自定义调节距离系数比(D:S )24:1测量分辨率0.1˚C/˚F 响应时间150ms 波长范围8-14μm激光指示器双路激光，锁定温度测量区域热成像技术热成像探测器FLIR Lepton TM 微测辐射热计焦平面阵列(FPA )快门一体式自动快门图像分辨率(高x 宽)4800像素(80x60)波长范围8-14μm 视场角(高x 宽)50°x38.6°热成像灵敏度150mk 帧频9Hz调色板2种(灰白色、铁红色)保存图像格式带有温度与发射率的位图(BMP )图像一般参数设备尺寸(高x 宽x 深)7.3 x 2.2 x 3.7’’(186 x 55 x 94 mm )显示器类型 2.0” TFT LCD 显示分辨率(宽x 高)38720像素 (176x220)电池通过迷你USB 锂离子电池循环充电，电池容量： 3.7V 、2600mAh自动关机功能有(可通过菜单设置)电池连续使用时间一般使用：5个工作日(每工作日8小时)；连续使用：8小时认证CE / CB / FCC / FDA 存储卡8GB 迷你SD 卡工作温度-10至45˚C ，14至113˚F 抗跌落测试设计为2米(6.5英尺)三脚架支座手柄底部1/4" - 20处质保若购买之日起60天内注册，享有2年整机保修，10年探测器保修*标配系索、USB 线缆、国际标准充电器(US 、UK 、EU 、AU 、CN) 8 GB 迷你SD 卡、技术文档整机保修*探测器保修*红外成像测温仪FLIR TG165141010 T G 165 b r o c h u r e S C NFLIR TG165 红外成像测温仪隆重上市查找普通测温仪难以发现的问题为了缩小单点红外测温仪与FLIR 红外热像仪在功能上的差距，FLIR 最新推出的TG165具有热成像技术的优势，能够查找常见红外测温仪难以发现的温度问题。
什么是红外热像仪？菲力尔全新FLIR T500系列红外热像仪详细介绍作为一款高科技的产品
红外热像仪越来越广泛地被应用于各个行业
好的，接下来我们就一起来了解下
什么是红外热像仪
红外热像科技在军民两方面都有应用，最开始起源于军用，逐渐转为民用。
在民用中一般叫热像仪，主要用于研发或工业检测与设备维护中，在防火、夜视以及安防中也有广泛应用。
热像仪是利用红外探测器和光学成像物镜接受被测目标的红外辐射能量分布图形反映到红外探测器的光敏元件上，从而获得红外热像图，这种热像图与物体表面的热分布场相对应。
通俗地讲热像仪就是将物体发出的不可见红外能量转变为可见的热图像。
热图像的上面的不同颜色代表被测物体的不同温度。
相信小伙伴们看到这里还是对热像仪充满了好奇，那么作为善解人意的小助手怎么会不给烧友们来个案例呢？准备接着吧！
今天要跟大家分享的是连续2017年和2018年两年获得德国红点奖最高荣誉——最佳设计奖（Best of the Best）的菲力尔全新FLIR T500系列红外热像仪。
该系列目前拥有两款型号，分别是T530和T540红外热像仪。
除了拥有出众的美学设计外，它还拥有操作舒适、精准高效、性能出色等优点，并且具备专业人士精确查找热点和排除潜在故障所需的一切特性。
接下来为大家详细介绍下它的优点与特性，希望了解更多细节后，能为您的工作或生活有所帮助。
FLIR T500系列红外热像仪的主要特性。
菲力尔推出T系列红外热像仪展示高精度高灵敏度
性能
美国菲力尔公司（FLIR Systems）宣布为其广受欢迎的T系列高端热像仪新增令人激动的特性和功能，同时增加三个新成员T600，T460和
T660。
FLIR T系列热像仪现搭载UltraMax™（超级放大）功能，这是一种显着提高热像仪红外分辨率和灵敏度的独特的图像处理功能。
相比标准未处理图像，UltraMax（超级放大）图像的热像素是其四倍，分辨率是其两倍，灵敏度提高50%。
UltraMax（超级放大）图像可在适用于PC的FLIR Tools软件内进行查看和处理，使用户能够放大比先前未处理图像更小的热异常现象，获取更精确的测温值，以及看到更多的细节。
现在，精选的T系列热像仪还具有增强的热灵敏度低至20mK并提高了测温精确度。
除包含所有上述功能外，新型T460和T660红外热像仪还具有扩大至2，000度C的温度范围、连续自动调焦，以及机载录制实时辐射视频文件等特性。
所有数据可在FLIR Tools和FLIR Tools+软件内进行回放和分析，因此随着时间的推移，热图像可进行进一步细致研究。
新型T600红外。
FLIR T1040红外热像仪基于50载专业积累打造，为客户提供卓越的热成像性能。
得益于其非凡的测量距离、高达310万像素的分辨率和灵活的可定制性，T1040堪称简化工作流程、提升作业效率的终极利器。
T1040红外热像仪集高清图像、准确测量与高灵活性于一身，是FLIR 近半世纪以来在红外成像领域孜孜以求、不懈探索的结晶。
卓越的测量性能无论是广角还是长焦镜头，随时随地为客户提供精确的测温值。
•借助FLIR OSX TM 精密高清红外光学系统，用户可在2倍距离处获得精确测量值•连续自动调焦模式实现与用户运动状态同步•先进的OSX 光学系统确保在极端条件下亦能获得精确测量值•独具匠心的光路设计可排除来自视场角(FOV)以外热源的干扰出众的图像清晰度配备高灵敏度探测器，UltraMax™处理能力令其如虎添翼。
•探测器分辨率高达1024 x 768，清晰度居FLIR 手持式红外热像仪产品之首•拥有超高热灵敏度，30 ˚C 时<0.02 ˚C ，优于行业标准2倍以上•UltraMax™将像素提高4倍，达到310万像素，超高分辨率可呈现更加精细、准确的信息•MSX ®可将可见光细节信息叠加于红外图像上为专家用户量身定制的创新功能与用户界面外观小巧，用户界面反应灵敏，即时报告生成……有效简化工作流程，令工作事半功倍。
•通过可编程按钮配置热像仪，使用操作更加得心应手•动态调焦控制可根据用户触感调节，实现完美的图片调节•红外辐射视频录制功能可捕捉用于综合分析的全画幅、全帧视频•一键式快速报告生成功能可快速分享图像和测量结果过热变电站断路器输电线路变压器温度过高低温环境中发生故障的变压器线圈FLIR T1040高清红外热像仪技术参数本文所述设备如用于出口，须获得美国政府的授权。
有悖于美国法律的行为一律禁止。
图像仅供说明之用。
技术参数如有变更，恕不另行通知。
©2014 FLIR Systems, Inc 。
正如医院的视力检查。
当您坐在检查室里看视力表时，您或许能够看清字母最小的那一行——但如果距离再远一点,您还能看得清吗(即“测量”它们)？如果您的视力是20/20，那么一定还能看得清。
此例中，20/20的视力就相当于高分辨率的红外热成像仪。
如果您的视力下降，可以通过戴眼镜来改善视力(即给红外热像仪加配镜头)或离视力表近一点(即缩短您与待测目标之间的距离)。
最首要的是要理解光斑尺寸比。
对于已知的待测目标尺寸,光斑尺寸比数值能够确定精确测量目标温度的最远距离。
为了实现最精确的温度测量，您需要使待测目标获得尽可能多的红外热像仪探测器像素。
这样就能更多细节的红外图或者您可能正打算购买一台红外热像仪，而不确定哪一款产品能够精确测量目标但不会超出您的预算。
“您的测量距离能达到多远？”这个问题的答案取决于诸多因素,例如:分辨率、瞬时视场角(IFOV )、镜头、物体尺寸等等。
技术说明光斑尺寸比视场角(FOV )像。
当距离待测目标越来越远，就将无法精确测量温度。
红外热像仪的分辨率越高，您在更远的距离使待测目标上分布更多像素并准确测温的可能性也就越高。
数字变焦并不能提高测量精度，更高的分辨率或较窄的视场角才是关键所在。
假设需要在距离15米远处使用红外热像仪对尺寸为20毫米的待测目标进行精确的温度测量。
如何确定使用的红外热像仪是否能够胜任呢？首先需要核对红外热像仪的规格，并确定视场角和红外分辨率。
对于此例，假设红外热像仪的分辨率为320 x 240，镜头的水平视场角为24度。
于给定的镜头，每个像素能够覆盖的区域大小取决于待测目标的距离。
当您离待测目标越来越远，就将无法准确测量温度。
如需了解有关红外热像仪或此应用的更多信息，敬请访问：/instruments显示图像可能并不能代表红外热像仪的实际分辨率。
图像仅供说明之用。
©2018 FLIR Systems, Inc.创建日期：2018年6月 17-1465-INS_EMEA首先需要计算出瞬时视场角的数值，单位为毫弧度(mrad )，公式如下：IFOV = (FOV/像素*) x [(3.14/180)(1000)]*使用与视场角方向(水平/垂直)相匹配的像素镜头的水平视场角为24度，因此将24除以红外热像仪的水平像素分辨率 — 此例中为320。
µCore-275ZMini-Core MCT 3000制冷型中波红外热像仪机芯产品主要特性：• 制冷式碲镉汞(MCT)探测器• 内嵌于硬件和软件的先进图像处理• 易于集成到吊舱和安防产品中高分辨率设计中波热成像系统3款带有制冷机芯组件的热像仪原始设备制造商(OEM)之所以选择µCore-275Z、Mini-Core或MCT模块的原因在于其能够提供无与伦比的远距离目标可见度。
工作在中波红外波段(3-5µm)的这些红外热成像机芯堪称吊舱和安防监控产品的理想之选。
如果您的产品采用640 x 512分辨率成像仪，选择中波热像仪最为经济实惠。
FLIR中波热像仪机芯以低f/#运转，使用更紧凑、更经济的镜头。
此外，中波探测器具有出众的大气透过率性能，在高温和潮湿条件下应用更显高效。
关于热像仪机芯和所有FLIR的原始设备制造商解决方案的更多信息，敬请访问/OEM。
关于FLIR原始设备制造商FLIR Systems为众多先进的热成像平台提供机芯和部件。
热像仪机芯是设计用于集成到其他系统的子系统，可以以整体系统或子系统形式用于原始设备制造商的多种应用领域中。
其他FLIR原始设备制造商部件包括长波、短波和近红外探测器机芯、激光指示器和测距仪、用于红外和X射线的读出电路(ROIC)以及高性能方位/俯仰云台。
| 2 |FLIR中波热像仪机芯的功能特性连续光学变焦µCore-275Z和Mini-Core均可实现连续变焦，便于操作人员在窄视场和广视场之间进行来回调节，且绝不会错失目标。
制冷型MCT探测器碲镉汞(MCT)探测器具有卓越的距离性能，能够生成清晰的640x512像素热图像（可提供几种探测器面阵规格）。
多视场角光学特性MCT 3000和Mini-Core均具有多视场角光学特性，比连续变焦镜头具有更加出众的距离性能。
广角镜头具有实况感知能力，而窄角镜头提供所需的细节，为在宽角度或中等角度图像中吸引你关注的目标提供更多实质证据。
热像仪精度规格与不确定性方程式你可能会注意到，大多数红外热像仪的数据规格手册上的精度规格会显示为±2 ˚C或读数的2%。
这一规格数据是基于广泛采用的名为“平方和根值”(RSS)不确定性分析技术结果。
它的概念是一个计算温度测量公式每个变量的局部误差值，取每个误差项的平方，然后将其全部相加，最后取其平方根值。
虽然这个公式听起来复杂，但其实很简单。
从另一方面来讲，局部误差值的确定可能会很难。
“局部误差”来自于典型红外热像仪温度测量公式中多个变量中的一个，包括：• 发射率• 反射的环境温度• 透过率大气温度• 热像仪的响应值• 校准器(黑体)的温度精度一旦确定上述各个值的“局部误差”响应值，那么整个误差公式就是：总误差 = √∆T12+∆T22+∆T32 …以此类推其中，∆T1、∆T2、∆T3...是测温公式中变量的局部误差值。
那为何公式是这样的？事实证明，随机的误差值有时是在同一个方向上相加，使你离正确值的偏差越来越远；有时，误差值又是在相反方向上相加，相互抵消。
所以，采用“平方和根植”是计算总误差值最适合的方法，并一直作为FLIR红外热像仪数据规格表上的显示数据。
些数据，而红外热像仪常常会被归到这一测量仪器的类别之中。
而且，在讨论红外热像仪的测量精度时，常常会用到一些令人困惑不已、产生误解的复杂术语和行话。
最终使一些研究人员完全对这些工具绕行而走。
不过也因此，他们会与其在研发热测量应用所具有的潜在优势失之交臂。
在下面的讨论中，我们会避免使用技术术语，以直白的语言阐述红外热像仪在测温上的不确定性，让你对此有基本的了解，从而帮助你理解红外热像仪标定流程和精度。
图1 – 位于美国佛罗里达州尼斯维尔的FLIR温度记录校准实验室这里需要说明的是，目前所讨论的计算值有效的条件是只有当热像仪用于实验室或户外短距离范围(20米以内)。
由于大气吸收因素，还有影响程度较小的发射率因素，距离变长会增加测量值的不确定性。
当红外热像仪的研发工程师在实验室条件下对大部分现代的红外热像仪系统采用“平方和根值”的分析方法时，所得结果近似为±2 ˚C或2% — 因此成为热像仪规格参数中使用的合理精度率。
但是，实践表明，诸如FLIR X6900sc的高性能的热像仪比FLIR E40的经济型热像仪的精度效果要好，因此，我们仍需要做些工作来更好地解释这一观察结果。
技术说明实验室测量值和±1 ˚C 或1%精度在本节内容中，我们会发现在观察已知发射率和温度的物体时，热像仪实际产生的温度测量值。
此类物体一般指代为“黑体”。
在引用已知发射率和温度的物体的理论概念前，你可能听说过这个术语。
黑体的这一概念也用来指代一些实验室设备。
图1显示的是FLIR 校准实验室里1/4圈的21个以上腔式黑体。
实验室测量值的不确定性包括将校准热像仪指向校准的黑体，并画出随时间变化的温度变化。
虽然经过仔细的校准，但在测量中总会出现一些随机误差。
所产生的数据集可以对精度和精确性进行量化。
请参见图2的校准黑体测量值结果。
图2的图形显示的是FLIR A325sc 红外热像仪在室内距离0.3米观测37 ˚C 黑体的2小时以上的数据结果。
热像仪每秒记录一次温度。
数据图形是图像中所有像素的平均值。
数据直方图虽然显示得更清楚，但大部分的数据点都位于36.8 ˚C 至37 ˚C 之间。
记录的最宽温度范围是从36.6 ˚C 至37.2 ˚C 。
我们来看下这个数据，所有像素平均值的预期精度可能达到0.5 ˚C 。
有些人可能甚至会声称FLIR A325sc 等使用相同探测器的其他热像仪的精度为±1 ˚C 。
不过，也有些人可能会辩称，上面图形显示的是所有像素的平均值，可能并不能代表个别的像素。
了解所有像素彼此有多一致的一种方法为观察标准差和时间。
如图3所示。
该图形显示出其典型的标准差小于 0.1 ˚C 。
突破到0.2 ˚C 左右的偶然情况也是因为热像仪进行了单点校准。
单点校准是自校准流程中的一种类型，是所有采用微测辐射热计的红外热像仪都必须定期执行的流程。
到目前为止，我们讨论的都是非制冷型微测辐射热计红外热像仪采集的数据。
那么高性能量子探测器红外热像仪的结果会有何不同？图4显示的是典型3‐5 µm 带锑化铟(InSb)探测器的红外热像仪，比如FLIR X6900sc 。
该热像仪的规格文档中标明，该测试精度为±2 ˚C 或2%。
在下图中，你会发现数据在这些规格范围内：该天的精度读数约0.3 ˚C ，精确性读数约0.1 ˚C 。
但为什么偏移误差是在0.3 ˚C ？这可能是因为黑体的校准、热像仪的校准或第2节中提到的局部误差术语造成的。
另一种可能是热像仪只在测量开始的时候进行了简单的暖机。
如果光学镜头或机身的内部没有产生温度变化，那么可能会抵消温度测量值。
我们从这两个校准测试中可以得出这样的结论，微测辐射热计红外热像仪和光子计数量子探测器红外热像仪可能经过出厂校准，在典型的室内环境条件下，观测已知发射率的37 ˚C 物体时的精度小于1 ˚C。
图2 - 观测37 ˚C 黑体时典型FLIR A325sc 红外热像仪的响应值。
图3 - 观测37 ˚C 黑体时典型FLIR A325sc 红外热像仪的标准差。
环境温度补偿出厂校准的一个最关键步骤是环境温度补偿。
无论是热探测器红外热像仪还是量子探测器红外热像仪，都会对落在探测器上的总红外能量做出响应。
如果热像仪的设计精良，大部分能量都来自于物体：极少是来自热像仪本身。
但是，不可能完全消除探测器和光程周围材料的影响。
没有适当的补偿，机身或镜头的任何温度变化都可能明显改变热像仪提供的温度读数。
实现环境温度补偿最好的方法是从最多3个不同位置测量热像仪和光程的温度。
然后将测量数据并入校准公式中。
这样可以确保整个工作温度范围的准确读数(一般为-15 ˚C至50 ˚C)。
这对将要用于室外的热像仪来说尤为重要，否则的话便会受到温度波动的影响。
和环境温度补偿一样重要的是，在进行关键测温前要对热像仪进行完全的预热。
同时，也要确保热像仪和镜头没有直接曝露于光照或其他热源下。
改变热像仪和光学镜头的温度会对测量的不确定性产生不利影响。
我们应该注意到，并非所有的热像仪制造商在他们的校准过程中都会进行环境温度补偿。
如果对环境温度偏移补偿做的不好，这些热像仪的数据可能出现明显的错误 — 偏差可能在10 ˚C 以上。
因此，在购买红外热像仪前，一定要询问其有无进行过校准，以及如何执行的校准。
其他测量值考量因素无论与热像仪的校准有无直接的相关性，某些考量因素，如发射率和距离系数比都可能影响热像仪的精度。
发射率设置错误或测试条件不合适会影响热像仪能否正确测量物体。
发射率——或者说是物体发射而非反射红外能量的能力——必须占比合理。
这意味着要花时间确定物体的发射率以及将此信息输入热像仪。
也意味着要注意物体是否完全反射，并在进行测量前是否要采取解决措施(如使用不反射涂层涂抹物体表面)。
所有的FLIR红外热像仪都提供了合适发射率的定义方法。
如果你出错了，FLIR 研发软件能够帮助你在分析过程中(实时查看或后期分析)更改发射率。
更改可以在整个图像上进行，也可以按区域更改。
另一个要考量的因素是距离系数比或覆盖目标对象的每一个像素的区域大小。
比方说，使用25°默认镜头的FLIRA325sc测量60英尺外点亮的火柴。
每一个像素占总场景的1平方英寸面积。
但火柴头只有1/8平方英寸，远小于它所覆盖的像素。
几乎像素中所有明显的红外能量实际上都来自火柴灰烬背后的区域。
只有1/64是我们要测量的灰FLIR Systems的校准室。
图4 - 观测35 ˚C黑体时典型锑化铟红外热像仪的响应值。
烬部分。
如果背景是室内温度的话，热像仪报告的温度值可能会低于灰烬的温度值。
解决办法是在热像仪上装一个望远镜头或是将它向目标物移近。
可能使灰烬的距离系数比接近1:1比例。
如果我们想要获得最近似的绝对温度精度，必须确保最小的测量物体区域完全占据10x10以上的像素。
不过，即使考虑了单个像素或3 x 3像素网格的距离系数比，你也可能已经很靠近真实的测量值。
结论如我们所见，“平方和根值”的不确定性分析方法可以确定红外热像仪的精度，使这些热像仪最多有2 ˚C 的边际误差。
通过适当的校准和注意环境温度、发射率、距离系数比等因素，边际误差可能小于1 ˚C 。
最后要注意的一点是：本文中提供的信息主要基于出厂校准的红外热像仪。
但用户可以进行物理性的校准，根据所讨论系统的不同，用户校准所需的工具和方法也可能各异。
此外，如果能够进行一次良好的用户校准，那么您便可以进行自定义的不确定性分析。
如需了解有关热像仪或此应用的更多信息， 敬请访问：/research显示图像可能并不代表热像仪的实际分辨率。
图像仅供说明之用。
创建日期：2016年9月高速FLIR X6900sc 红外热像仪(左图)与入门级FLIR A325sc 红外热像仪(右图)的精度都是±2 ˚C 或2%。
