基于单片机的DS18B20温度测量
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基于DS18B20的温度测量系统
第5页 共 14页 基于DS18B20的温度测量系统
组员:计佳辰 11221120
组员:徐文杰 11221110
1. 课题要求
测量环境中的温度,以BCD码的形式在LED上显示
2. 设计背景
随着现代信息技术的飞速发展和传统工业改造的逐步实现,能够独立工作的温度检测和显示系统应用于诸多领域。传统的温度检测以热敏电阻为温度敏感元件。热敏电阻的成本低,但需后续信号处理电路,而且可靠性相对较差,测温准确度低,检测系统也有一定的误差,这里设计的数字温度计具有读数方便,测温范围广,测温精确,数字显示,适用范围宽等特点。本设计选用AT89C51单片机作为主控制器件,DS18B20作为测温传感器,通过LM016L实现温度显示。通过DS18B20直接读取被测温度值,进行数据转换,该器件的物理化学性能稳定,线性度较好,在0℃~100℃最大线性偏差小于0.01℃。该器件可直接向单片机传输数字信号,便于单片机处理及控制。另外,该温度计还能直接采用测温器件测量温度,从而简化数据传输与处理过程。
3. 设计方案
3.1总体设计思路方案与系统框图
采用数字温度芯片DS18B20测量温度,输出信号全数字化。采用了单总线的数据传输,由数字温度计DS18B20和AT89C51单片机构成的温度测量装置,DS18B20的DQ与AT89C51的P3.7口相连,与它直接输出温度的数字信号,采用AT89C51单片机控制,温度显示由四位八段LED显示屏完成,LED的D0~D7为8位双向数据端,与AT89C51的P1口相连,系统框图如下图所示。 基于DS18B20的温度测量系统
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3.2 DS18B20芯片介绍
DS18B20引脚定义:
(1) DQ为数字信号输入输出端
(2) GND为电源地
(3) VDD为外接供电电源输入端
温度寄存器(0和1字节)
AT89C51 时钟电路
复位电路 DS18B20数字温度传感器 测温物体
图1 显示电路 基于DS18B20的温度测量系统
第5页 共 14页 DS18B20中的温度传感器可完成对温度的测量,以12位转化为例:
16位符号扩展的二进制补码读数形式提供,以0.0625℃/LSB形式表达,其中S为符号位。
这是12位转化后得到的12位数据,存储在18B20的两个8比特的RAM中,二进制中的前面5位是符号位,如果测得的温度大于0,这5位为0,只要将测到的数值乘于0.0625即可得到实际温度;如果温度小于0,这5位为1,测到的数值需要取反加1再乘于0.0625即可得到实际温度。
DS18B20 的温度操作是使用16 位,也就是说分辨率是0.0625。BIT15~BIT11 是符号位,为了就是表示转换的值是正数还是负数。
3.3 LED显示屏(共阴)介绍
A,B,C,D,E,F,G,DP管脚是段选引脚,1,2,3,4是位选引脚(低电平有效),字形码如下:
3.4.AT89C51芯片 基于DS18B20的温度测量系统
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VCC:供电电压。
GND:接地。
P0口:P0口为一个8位漏级开路双向I/O口,每脚可吸收8TTL门电流。当P1口的管脚第一次写1时,被定义为高阻输入。P0能够用于外部程序数据存储器,它可以被定义为数据/地址的第八位。在FIASH编程时,P0 口作为原码输入口,当FIASH进行校验时,P0输出原码,此时P0外部必须被拉高。
P1口:P1口是一个内部提供上拉电阻的8位双向I/O口,P1口缓冲器能接收输出4TTL门电流。P1口管脚写入1后,被内部上拉为高,可用作输入,P1口被外部下拉为低电平时,将输出电流,这是由于内部上拉的缘故。在FLASH编程和校验时,P1口作为第八位地址接收。
P2口:P2口为一个内部上拉电阻的8位双向I/O口,P2口缓冲器可接收,输出4个TTL门电流,当P2口被写“1”时,其管脚被内部上拉电阻拉高,且作为输入。并因此作为输入时,P2口的管脚被外部拉低,将输出电流。这是由于内部上拉的缘故。P2口当用于外部程序存储器或16位地址外部数据存储器进行存取时,P2口输出地址的高八位。在给出地址“1”时,它利用内部上拉优势,当对外部八位地址数据存储器进行读写时,P2口输出其特殊功能寄存器的内容。P2口在FLASH编程和校验时接收高八位地址信号和控制信号。
P3口:P3口管脚是8个带内部上拉电阻的双向I/O口,可接收输出4个TTL门电流。当P3口写入“1”后,它们被内部上拉为高电平,并用作输入。作为输入,由于外部下拉为低电平,P3口将输出电流(ILL)这是由于上拉的缘故。
P3口也可作为AT89C51的一些特殊功能口,如下表所示:
口管脚 备选功能
P3.0 RXD(串行输入口)
P3.1 TXD(串行输出口)
P3.2 /INT0(外部中断0) 基于DS18B20的温度测量系统
第5页 共 14页 P3.3 /INT1(外部中断1)
P3.4 T0(记时器0外部输入)
P3.5 T1(记时器1外部输入)
P3.6 /WR(外部数据存储器写选通)
P3.7 /RD(外部数据存储器读选通)
P3口同时为闪烁编程和编程校验接收一些控制信号。
RST:复位输入。当振荡器复位器件时,要保持RST脚两个机器周期的高电平时间。
ALE/PROG:当访问外部存储器时,地址锁存允许的输出电平用于锁存地址的地位字节。在FLASH编程期间,此引脚用于输入编程脉冲。在平时,ALE端以不变的频率周期输出正脉冲信号,此频率为振荡器频率的1/6。因此它可用作对外部输出的脉冲或用于定时目的。然而要注意的是:每当用作外部数据存储器时,将跳过一个ALE脉冲。如想禁止ALE的输出可在SFR8EH地址上置0。此时, ALE只有在执行MOVX,MOVC指令是ALE才起作用。另外,该引脚被略微拉高。如果微处理器在外部执行状态ALE禁止,置位无效。
/PSEN:外部程序存储器的选通信号。在由外部程序存储器取指期间,每个机器周期两次/PSEN有效。但在访问外部数据存储器时,这两次有效的/PSEN信号将不出现。
/EA/VPP:当/EA保持低电平时,则在此期间外部程序存储器(0000H-FFFFH),不管是否有内部程序存储器。注意加密方式1时,/EA将内部锁定为RESET;当/EA端保持高电平时,此间内部程序存储器。在FLASH编程期间,此引脚也用于施加12V编程电源(VPP)。
XTAL1:反向振荡放大器的输入及内部时钟工作电路的输入。
XTAL2:来自反向振荡器的输出。
3.5硬件电路图
基于DS18B20的温度测量系统
第5页 共 14页 本系统中通过温度传感器DS18B20的数据线DQ与主控芯片51单片机的P3.7相连接,DS18B20将采集到的数据送给单片机,经过单片机出来后,显示在8位数据线与单片机P1口的液晶LED上。位选由P2控制。
3.6 程序设计
4.仿真与调试
AT89C51 复位电路
晶振电路
测温部分
显示部分
基于DS18B20的温度测量系统
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附录
TMPL EQU 29H
TMPH EQU 28H
DATAIN BIT P3.7
ORG 0000H
MAIN: MOV P1,#0FFH;LED显示清零(空格)
LCALL GET_TEMPER;调用初始化,写指令,读指令子程序
LCALL CVTTMP;十六进制转换为BCD码
LCALL DISP1;LED显示温度子程序
AJMP MAIN
;初始化DS18B20
INIT_1820:SETB DATAIN
NOP
CLR DATAIN;拉低DQ发送复位脉冲
MOV R1,#3;延时
TSR1: MOV R0,#107
DJNZ R0,$
DJNZ R1,TSR1 基于DS18B20的温度测量系统
第5页 共 14页 SETB DATAIN;拉高DQ
NOP
JB DATAIN,$;等待应答脉冲
MOV R0,#117;延时
TSR6:DJNZ R0,$
TSR7:SETB DATAIN
RET
;初始化完毕
;调用初始化,写指令,读指令子程序
GET_TEMPER:
SETB DATAIN
LCALL INIT_1820;调用初始化子程序
MOV A,#0CCH
LCALL WRITE_1820;写命令,0CCH送入DS18B20,跳过ROM检测
MOV A,#44H
LCALL WRITE_1820;写命令,把44H送入DS18B20,在DS18B20内部进行温度转换。把测得的数据转换成十六进制
LCALL INIT_1820;调用初始化子程序
MOV A,#0CCH
LCALL WRITE_1820;写命令,把0CCH送入DS18B20,跳过ROM检测
MOV A,#0BEH
LCALL WRITE_1820;读命令,把0BEH送入DS18B20,准备读DS18B20的温度数据