干涉2010(14w)
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高二物理选修34第十三章:光的干涉制造人:陈合森日期:【学习目的】1、观察光的干预现象,看法干预条纹的特点。
2、能论述干预现象的成因及明暗条纹的位置特点3、知道相关光源的概念和发生干预现象的条件【重点难点】干预现象的成因及明暗条纹的位置特点、发生干预现象的条件教学进程一、杨氏双缝干预实验1.1801年,英国物理学家___________〔1773~1829〕在实验室里成功的观察到了光的干预.2.双缝干预实验〔1〕实验进程:让一束_____________的单色光投射到一个有两条狭缝的挡板上,两狭缝相距很近,两狭缝就成了两个波源,他们的频率、相位和振动方向总是_________的,两个光源收回的光在挡板前面的空间相互叠加发作_______.(2)实验现象:在屏上失掉_________条纹〔3〕实验结论:证明光是一种__________.(4)现象解释:S1、S2相当于两个频率、相位和振动方向相反的波源,当两个光源与屏上某点的距离只差等于半波长的________倍时〔即恰恰等于波长的_______倍时〕,两列光波在这点相互增强,出现_________;当两个光源与屏上某点的距离之差等于半波长的________倍时,两列光波在这点____________,出现暗条纹。
二、光发生干预的条件1.干预条件:两列波的_________同、振动方向相反、相位差恒定2.相关光源:收回的光可以发生干预的两个光源。
三、双缝干预条纹特征一系列平行的明暗相间的等间距条纹;各级明暗纹在中央明纹两侧对称散布。
相邻亮条纹或相邻暗条纹间的距离为_________________各种色光的波长由长到短的顺序为红、橙、黄、绿、蓝、靛、紫频率由低到高的顺序依次为:红、橙、黄、绿、蓝、靛、紫稳固练习:1.平行光照射在双缝上,在屏上失掉干预条纹,当〔〕A.双缝到屏的距离增大时,干预条纹间距也增大.B.双缝间距减小时,干预条纹间距也减小.C.波长变短,坚持光强不变时,那么条纹间距也不变.D.波长不变,光强削弱时,那么条纹间距也不变.2.假设把杨氏双缝干预装置从空气中移到透明液体中做实验,那么条纹宽度〔〕A.增大.B.减小.C.不变.D.缺少条件,无法判别.3.双逢干预实验装置如图3所示,双缝间的距离为d,双缝到像屏的距离为L,调整实验装置使得像屏上可以见到明晰的干预条纹,关于干预条纹的状况,以下表达正确的选项是( )A.假定将像屏向左平移一小段距离,屏上的干预条纹将不会发作变化B.假定将像屏向右平移一小段距离,屏上仍有明晰的干预条纹C.假定将像屏向上平移一小段距离,屏上仍有明晰的干预条纹D.假定将像屏向上平移一小段距离,屏上的干预条纹将将不会图3图6 发作变化4、假设把杨氏双缝干预实验,从空气中移动到某种透明的液体中做实验,那么条纹的间距:〔 〕A 、增大B 、减小C 、不变D 、缺少条件,无法判别5.在单色光的双缝干预实验中〔 〕A .两列光波的波峰和波峰堆叠处出现亮条纹 B. 两列光波的波谷和波谷堆叠处出现亮条纹C .干预条纹明暗相反,且条纹间距相等,中央条纹为亮条纹D .从两个狭缝抵达光屏上的路程差等于光的半个波长的整数倍时,出现暗条纹6.如下图是双缝干预实验表示图,屏上某处P 出现明条纹,那么P 处到双缝S1、S2的距离之差是〔 〕A .光波半波长的奇数倍.B .光波波长的奇数倍.C .光波半波长的偶数倍.D .光波半波长的整数倍.7.以下图是研讨光的双缝干预用的表示图,挡板上有两条狭缝S 1、S 2,由S 1和S 2收回的两列波抵达屏上时会发生干预条纹,入射激光的波长为λ,屏上的P 点到两缝S 1和S 2的距离相等,假设把P 处的亮条纹记作第0号亮纹,由P 向上数,与0号亮纹相邻的亮纹为1号亮纹,与1号亮纹相邻的亮纹为2号亮纹,那么P 1处的亮纹恰恰是10号亮纹.设直线S 1P 1的长度为γ1,S 2P 1的长度为γ2,那么γ2-γ1等于( )A. λ5B. 10λC. 20λD. 40λ8.光的颜色决议于 〔 〕A .波长.B .波速.C .频率.D .折射率.9.同一束单色光从空气射入水中,那么 〔 〕A .光的颜色、频率不变,波长、波速都变小.B .光的频率变小,颜色,波长、波速都不变.C .光的频率、速度变小,颜色、波长不变.D .频率、颜色、波长都不变,只要波速变小.10. 在双缝干预实验中,以白光为光源,在屏上观察到黑色干预条纹,假定在双缝中的一缝前放一白色滤光用只能透过红光〕,另一缝前放一绿色滤光片〔只能透过绿光〕,这时:A 、只要白色和绿色的干预条纹,其它颜色的双缝干预条纹消逝.B 、白色和绿色的干预条纹消逝,其它颜色的干预条纹依然存在.C 、任何颜色的干预条纹都不存在,但屏上仍有亮光.D 、屏上无任何亮光.11.如图6,在双缝干预实验中,SS 1=SS 2,且S 1、S 2到光屏上P 点的路程差△s=1.5×10-6m ,当S 为λ=0.6μm 的单色光源时,在P 点处将构成 条纹;当S 为λ=0.5μm 的单色光源时,在P 点处将构成条纹。
干涉理论与可靠度的计算干涉理论与可靠度的计算是工程学中重要的概念,应用于各种领域,例如电子系统、通信网络、交通运输等。
干涉理论是指当两个或多个波源发出的波相遇时,它们之间的相互作用会导致波的干涉现象。
而可靠度是指系统在给定的时间内正常工作的能力。
干涉理论的核心概念是波的叠加原理。
根据叠加原理,当两个波相遇时,它们会相互干涉,并产生新的波形。
这种干涉可以是构造性的,即波的振幅增大,也可以是破坏性的,即波的振幅减小。
干涉现象可以通过计算波的叠加来分析和预测。
在干涉理论中,有两种基本类型的干涉现象:波的增强和波的减弱。
波的增强发生在两个波的相位差为2πn(n为整数)的情况下,此时两个波的峰和谷完全重合,振幅相加得到的新波的振幅最大。
而波的减弱发生在两个波的相位差为(2n+1)π的情况下,此时两个波的峰和谷正好相反,振幅相加得到的新波的振幅为0。
干涉现象的计算可以通过干涉模型和波的干涉公式来实现。
干涉模型是一个数学模型,用于描述两个或多个波相遇后的干涉现象。
干涉公式则是用于计算干涉现象的具体数值的公式,可以通过测量波的振幅和相位来确定。
可靠度是指系统在给定时间内正常工作的概率。
可靠度的计算是通过对系统的故障率和维修率进行分析来实现的。
故障率是指系统在特定时间内发生故障的概率,可以通过对系统的历史数据进行统计来确定。
维修率是指系统在发生故障后能够及时修复的概率,可以通过对维修工作的记录和维修时间的分析来确定。
根据可靠度理论可靠度=可用时间/(可用时间+不可用时间)其中,可用时间是系统正常工作的时间,不可用时间是系统发生故障的时间。
根据干涉理论和可靠度理论,可以通过对系统的干涉现象和故障率进行分析和计算,从而提高系统的可靠性和稳定性。
这对各种行业和领域的工程师和科学家来说都是非常重要的。
中考物理辅导--光的干涉·内容要点
光的干涉·内容要点光的干涉将一束光设法分成两部分并使它们发生叠加,即可获得干涉图样. 1.杨氏双缝干涉实验:从单缝(线光源)发出的单色光射到与之平行的双缝上,即可在双缝屏后获得来自双缝(相干光源)的两束相干光在空间叠加,用光屏承接后可获得干涉图样(在一定范围内出现等间隔明暗相间的平行干涉条纹;用白光做实验则可获得彩色干涉图样).相邻两条亮纹 2.薄膜干涉:一列光波照射到透明薄膜上,从膜的前、后表面分别反射形成两列相干光波,叠加后产生干涉.其中,对楔形薄膜来说,凡是薄膜厚度相等的一些相邻位置,光的干涉效果相同而形成一条同种情况(譬如光振动加强)的干涉条纹(亮纹).随着薄膜厚度的逐渐变化,干涉效果出现周期性变化,一般在薄膜上形成明暗交替相间的干涉条纹图样.称为等厚薄膜干涉.
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干涉知识点总结一、干涉是指两个或多个波在运动过程中相遇,相互作用而产生明显的增加或减小振幅的现象。
涉及干涉的波一般是相干波,即频率相同、相位恒定、振幅相等的波。
1. 干涉的条件干涉的条件包括相干的波源和波长相近的光波。
在实际应用中,有各种产生相干光的方法,如双缝干涉、薄膜干涉、薄透镜干涉、自然光干涉等。
2. 干涉的基本现象(1)明纹和暗纹明纹是相干波叠加后在一定位置上振幅增强而形成的亮条纹;暗纹是相干波叠加后在一定位置上振幅减小而形成的暗条纹。
明纹和暗纹交替出现,形成干涉条纹。
(2)干涉条纹的周期性干涉条纹的周期性可以用双缝干涉为例来说明。
当两个光波经由两个狭缝射出,在远处的屏幕上会出现一系列的明纹和暗纹。
干涉条纹的间距与光波的波长、狭缝间距等有关。
3. 干涉的光程差光程差是指一束光波相对于另一束光波在传播过程中所经历的光程变化量。
光程差是干涉现象产生的重要原因之一。
4. 干涉的数学描述干涉现象可以用叠加原理和波动方程来进行数学描述。
在实际应用中,可以采用双缝干涉实验或薄膜干涉实验得到干涉条纹的分布,并用数学工具进行分析和计算。
二、干涉的应用1. 干涉测量干涉测量是利用干涉现象进行测量的一种方法。
通过测量明暗条纹的位置变化,可以得到物体的形状、厚度、折射率等参数。
2. 干涉显微镜干涉显微镜是一种利用干涉现象对物体进行观察和测量的光学仪器。
它可以观察到物体表面的微小凹凸及其形状、大小等。
3. 干涉光栅光栅是一种光学元件,利用光波的干涉原理来进行分光和波长测量。
常见的光栅包括光栅衍射和光栅干涉仪。
4. 激光干涉激光干涉是一种利用激光光源进行干涉实验的方法。
激光具有单色性和相干性,可以产生高质量的干涉条纹,被广泛应用于实验室和工程领域。
5. 波长测量利用干涉现象可以测量光波的波长,是一种常用的光学实验方法。
通过干涉光栅或干涉条纹的移动等方式,可以精确地测量光波的波长。
三、干涉的发展1. 法布里-珀罗干涉仪法布里-珀罗干涉仪是一种利用干涉现象对薄膜进行表面形貌检测和薄膜厚度测量的仪器。