SPC-01基本概念
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SPC 统计过程控制制作:Strong wang目录SPC的基本知识SPC的判读规则0104为什么要运用SPC?02SPC的实践应用03第一部分SPC的基本知识PART 01l控制图的发展l SPC的作用l SPC的名词解释l SPC的缺点5休哈特博士到英国主讲统计品质管制。
提高了英国人将统计方法应用到工业方面.戴明博士将SPC等概念及品质工具带到日本.(PDCA)1980一.SPC的基本常识因其用法简单且效果显著人人能用,到处可用,遂成为实施品质管制时不可缺少的主要工具.1950~1980三十时间日本跃居世界质量与生产效率的领先地位.6一.SPC的基本知识利用统计技术分析达到对过程进行进行过程控制改善SPC不能告知异常发生的因素不能告知异常发生的位置即不能进行诊断判断过程的异常及时预警7第二部分为什么要运用SPC?PART 01l科技时代发展的必然l控制观念的转变时代发展科技时代发展的必然21世纪是质量的世纪,提出,是世界发展的大方向。
如电子产品的不合格品率由过去的百分之一、千分之一、降低到百万分之一,乃至十亿分之一.生产控制方式由过去的3σ控制方式改为6σ控制方式.要保证产品质量、要满足21世纪超严质量要求就必须。
行业要求后者比前者降低了:2.7 X 10-3 / 2.0 X 10-9=1.35 X106即一百三十五万倍!五大工具之一改 善测量传统生产模型输入过程顾客返工输入过程反馈输出10第三部分SPC的实践应用?PART 01l与控制有关的要素l控制图的原理l控制图的选定l控制图的制作11三.SPC的实践应用与控制有关的要素SPC控制生产过程中的某一特性,在可控范围.(最佳)的范围控制(最低)的成本(最小)的风险(最强)的能力找到付出要求证明控制图的演变控制图的原理68.26%95.45%99.73%μ+1σ+2σ+3σ-1σ-2σ-3σ控制图的原理1.对过程加以测定、记录并进行控制管理的一种用统计方法设计的图.2.控制图的组成:UCL(Upper Control Limit) 上控制限LCL(Lower Control Limit) 下控制限CL (Central Line)中心线控制图按时间顺序抽取的样品统计量数值的描点序列的原理n=10~25控制图的选定资料性质不良数或缺陷数单位大小是否一定“n”是否一定样本大小n≧2数据的性质n是否较大“u”图“c”图“np”图“p”图X-Rm图X-R图X-R图X-s 图計数值计量值n=1n≧1中位数平均值n=2~5缺陷数不良数不一定一定一定不一定均值极差图X bar -R 控制图的控制限计算公式:UCL = x + A 2R CL = xLCL = x - A 2R R(极差)的控制限:UCL = D 4R CL = R LCL = D 3 RX bar -R 控制图的制作16确定对象、抽取数据First第四步第五步三.SPC的实践应用X bar -R控制图的制作合理分组Second将数据在图中打点并作图Sixth计算x i、R iThird第六步计算x、RFourth计算R图的控制线、x图的控制线FifthX bar -R 控制图的制作日期/時間4/104/114/124/134/144/154/164/174/184/194/204/214/224/234/244/254/264/274/284/294/305/15/25/35/4批號12345678910111213141516171819202122232425樣115.80 15.80 15.80 15.77 15.81 15.80 15.79 15.82 15.80 15.80 15.80 15.83 15.78 15.83 15.79 15.80 15.80 15.80 15.79 15.82 15.81 15.80 15.79 15.78 15.81 本215.79 15.81 15.81 15.79 15.80 15.78 15.78 15.84 15.77 15.77 15.77 15.81 15.79 15.77 15.79 15.78 15.80 15.80 15.80 15.83 15.77 15.78 15.82 15.81 15.77 測315.77 15.80 15.80 15.81 15.82 15.76 15.78 15.84 15.78 15.81 15.79 15.81 15.81 15.80 15.82 15.83 15.80 15.79 15.80 15.77 15.79 15.79 15.80 15.82 15.80 定415.78 15.80 15.80 15.81 15.81 15.83 15.81 15.78 15.78 15.79 15.82 15.80 15.79 15.78 15.78 15.82 15.84 15.80 15.80 15.79 15.79 15.80 15.80 15.79 15.79 值515.77 15.79 15.80 15.83 15.82 15.77 15.79 15.84 15.79 15.79 15.78 15.78 15.79 15.77 15.80 15.80 15.77 15.77 15.78 15.79 15.81 15.80 15.80 15.80 15.81 确定对象、抽取数据First合理分组SecondX bar -R控制图的制作计算x i、R iThird计算x、RFourth日期/時間4/104/114/124/134/144/154/164/174/184/194/204/214/224/234/244/254/264/274/284/294/305/15/25/35/4批號12345678910111213141516171819202122232425樣115.80 15.80 15.80 15.77 15.81 15.80 15.79 15.82 15.80 15.80 15.80 15.83 15.78 15.83 15.79 15.80 15.80 15.80 15.79 15.82 15.81 15.80 15.79 15.78 15.81 本215.79 15.81 15.81 15.79 15.80 15.78 15.78 15.84 15.77 15.77 15.77 15.81 15.79 15.77 15.79 15.78 15.80 15.80 15.80 15.83 15.77 15.78 15.82 15.81 15.77 測315.77 15.80 15.80 15.81 15.82 15.76 15.78 15.84 15.78 15.81 15.79 15.81 15.81 15.80 15.82 15.83 15.80 15.79 15.80 15.77 15.79 15.79 15.80 15.82 15.80 定415.78 15.80 15.80 15.81 15.81 15.83 15.81 15.78 15.78 15.79 15.82 15.80 15.79 15.78 15.78 15.82 15.84 15.80 15.80 15.79 15.79 15.80 15.80 15.79 15.79 值515.77 15.79 15.80 15.83 15.82 15.77 15.79 15.84 15.79 15.79 15.78 15.78 15.79 15.77 15.80 15.80 15.77 15.77 15.78 15.79 15.81 15.80 15.80 15.80 15.81ΣX78.9278.9979.0279.0079.0678.9578.9579.1078.9278.9578.9679.0278.9678.9578.9879.0479.0078.9578.9779.0178.9878.9779.0279.0078.99X15.7815.8015.8015.8015.8115.7915.7915.8215.7815.7915.7915.8015.7915.7915.8015.8115.8015.7915.7915.8015.8015.7915.8015.8015.80 R0.020.020.010.060.020.070.040.060.030.040.040.050.020.060.040.050.070.030.020.060.040.020.030.040.0419UCL = x + A2R = 15.802+0.577 *0.039 = 15.825 CL = x = 15.802LCL = x - A2R= 15.802-0.577 *0.039 = 15.779R(极差)的控制限:UCL = D4R = 2.114*0.039 = 0.082CL = R = 0.039LCL = D3 R= 0三.SPC的实践应用X bar -R 控制图的制作计算R图的控制线、x图的控制线Fifth例如加工工藝改變、刀具改變、設備改變以及進行了某種技術改革和管理改革措施后, 應重新收集最近期間的數據,以重新計算控制界限並作出新的控制圖20三.SPC的实践应用X bar -R控制图的制作将数据在图中打点并作图Sixth21第四部分SPC的判读规则?PART 01l製程的組成以及其波動的原因l过程失控情形l制程能力指标查出异常不再出现采取措施纳入标准保证消除四.SPC的判读规则预防原则20字真经四.SPC的判读规则24影响过程输出的所有单值的一种变差源.在控制图中表现为过程变差的一部分.一种间断性的, 不可预计的,不稳定的变差源, 有时也称为可查明原因.可表现为: 超出控制限的点或在控制限内的链或其它的图形.四.SPC的判读规则製程的組成以及其波動的原因过程失控情形m + 3 σm + 2 σm + 1 σmm - 1 σm - 2 σm - 3 σ过程失控情形趋势即呈同一方向上升或下降,通常是由于零部件逐渐磨损退化。