XRD精修教程

图文并茂！教你搞定xrd标准图谱和精修图谱！在XRD的数据处理中我们经常会遇到竖线图的画法，这篇推文向大家讲解这个简单实用的画法。

由于原始数据图因人而异，故此文讲解只讲解具体的标准曲线画法。

XRD标准图谱的画法1.1 以0为基点做出标准卡片Step1：找到匹配的标准卡片，确定峰位和强度:复制粘贴或者手动输入到originStep2：复制粘贴或者手动输入到originStep3：作图plot—symbol—scatter操作后会出现如下图形：Step4：双击黑点,进行设置，Size—0,其余不用改变。

Step5：接下来,drop line—选中vertical,如有需要可以自己更改线性和粗细,apply以后就是你想要的标准图谱啦。

1.2 可以设置任何位置为基点，做出标准卡片竖线，此时的做法相对更为实用Step1：假设基线下移200，以-200为基线。

在标准卡片中间加一列，全部为-200，接着标准卡片的数值全部加上-200。

Step2：数据搞定，下面开始作图。

Plot—column/bar—floating column最后，效果如下：Step3：双击图进行设置这个图里，你可以更改线的颜色和粗细：Step4：下面各个图最关键，就是你一定要把那个数值改为100，这样出来的才是线。

Apply—ok，搞定。

做出的图结果如下：现在就变成以-200为基底了，这样就可以随便更改基线啦，也可以任意调整标准卡片在XRD实验数据的位置。

不过通常是xrd数据在上面，标准卡片在下面在下面，以负数为基地的居多。

如果下移的还不够，就把基线再设低点。

XRD精修后图谱，Bragg竖线的画法Step1:导入精修后的数据，做过精修后，都会产生一个prf文件，用origin直接导入Step2: 导入后数据如下，A列是你的角度，B是obs，C是calc，D是obs-calc，E是背景可以删除，F是Bragg position，G全部为零要保留，后面的晶面指数全部删除。

xrd精修原子占位方法XRD精修原子占位方法引言：X射线衍射（X-ray diffraction，XRD）是一种广泛应用于材料科学领域的表征方法，它通过测量材料中X射线的衍射模式来确定晶体结构和原子排列方式。

XRD精修原子占位方法是在XRD技术的基础上发展起来的一种手段，用于精确确定晶体中原子的占位信息。

本文将重点介绍XRD精修原子占位方法的原理和应用。

一、XRD精修原子占位方法的原理XRD精修原子占位方法是基于XRD技术的，它利用X射线的衍射模式来推断晶体结构和原子排列方式。

在XRD实验中，通过测量样品中入射X射线的衍射角度和衍射强度，可以得到一幅XRD图谱。

XRD图谱中的衍射峰的位置和强度反映了晶体结构和原子排列的信息。

XRD精修原子占位方法通过比对实验测得的XRD图谱和理论计算得到的XRD图谱，来确定晶体中原子的占位信息。

理论计算得到的XRD图谱是根据晶体结构和原子排列的信息通过数学模型计算得到的。

通过对比实验和理论计算的XRD图谱，可以发现实验和计算之间的差异，从而推断出晶体中原子的占位情况。

二、XRD精修原子占位方法的应用1. 确定晶体结构：XRD精修原子占位方法可以用于确定晶体的结构信息，包括晶胞参数、晶胞空间群和晶体中原子的排列方式。

通过分析XRD图谱，可以对晶体的结构进行定量描述，为材料科学研究提供重要的结构信息。

2. 研究材料性质：XRD精修原子占位方法可以用于研究材料的物理性质。

通过确定晶体中原子的占位信息，可以进一步推断材料的电子结构、磁性、光学性质等。

这对于材料的设计和应用具有重要意义。

3. 分析晶体缺陷：XRD精修原子占位方法可以用于分析晶体中的缺陷情况。

晶体中的缺陷会导致XRD图谱的变化，通过比对实验和计算得到的XRD图谱，可以确定晶体中的缺陷类型和数量，为材料的缺陷工程提供指导。

4. 研究晶体生长机理：XRD精修原子占位方法可以用于研究晶体的生长机理。

通过分析晶体生长过程中XRD图谱的变化，可以推断晶体生长过程中原子的占位方式和生长机理，为晶体生长的控制和优化提供理论依据。

XRD精修干货和三元材料的XRD精修实例以下正文：在XRD精修之前，一定要搞懂的8个基本问题？1、Jade有哪两种精修模式？各有什么特点和应用？2、Jade的精修模块用什么评价精修的好坏？3、如何读入晶体结构模型？如何精修晶体结构？4、如何做约束？5、对于微量相有什么处理方法？6、对于非晶相有什么处理方法？7、做晶粒尺寸计算前要有什么准备？8、做晶胞参数精修前要做什么准备？1 Jade有两种精修模式：结构精修和全图拟合。

结构精修：以物相的晶体结构为模型进行精修，是一个标准的Rietveld精修程序。

可以用于计算晶胞参数，物相定量和微结构。

而且可以修正晶体结构。

全图拟合：以PDF卡片(衍射峰位置和衍射峰相对强度)为模型进行精修，它仅是一个全图拟合程序。

可以用于计算晶胞参数，物相定量和微结构。

Jade 特色操作界面操作步骤示例例：对有一个Mn-O样品，进行Rietveld精修样品中加入30%内标物质Si。

Si在这里有两个作用：作为晶胞参数精修的标样,校正仪器的测量误差。

作为多相定量的内标,计算各个相的含量。

具体步骤如下：1 物相检索，确定晶体结构模型模型选择为PDF卡片，称为“非结构相”，模型选择为晶体结构（Cif文件），称为“结构相”。

Jade通过选择“计算卡片”来读入“结构相”模型。

2 进入精修窗口选择“Options | WPF Refine”命令，进入全谱拟合窗口。

图中显示4个物相被引入。

3固定内标参数，输出参数初始值Si作为内标物质,首先就要固定住它的晶胞参数LC不被改变,同时设置作为定量分析的内标,输入其掺入量为30%。

4计算理论谱,建立初始模型根据引入的晶体结构计算出一个“计算谱”，同时显示计算谱和实测谱之间的差异(方差)图中白色的谱图为实测谱，红色的谱图为计算谱，在窗口的上端显示两者的差异R。

5“全局参数”精修全局参数包括:背景线(BG)，样品位移(SD)，仪器零点(Z0)等，分别在这些项目前的勾选框中加入对号，并按下“Refine”按钮，即逐步加入新的精修参数，逐步精修。

xrd精修晶格常数步骤
X射线衍射（XRD）精修晶格常数通常包括以下步骤：
1. 数据收集：使用X射线衍射仪收集待测样品的衍射数据。

这些数据通常是在不同的角度和衍射强度下测量的。

2. 数据处理：使用数据处理软件对收集到的数据进行初步处理。

这包括背景扣除、峰位校正、峰强度修正等。

3. 晶胞参数确定：根据衍射图案中的峰位置确定晶胞参数。

这可以通过对峰位置进行分析，并与已知的标准样品进行比较来实现。

4. 晶格常数计算：根据确定的晶胞参数计算样品的晶格常数。

这可以使用晶胞参数之间的关系来计算。

5. 精修晶格常数：通过计算得到的晶格常数与已有的数据进行比较，进行修正，直至得到最准确的晶格常数。

需要注意的是，XRD精修晶格常数的步骤可能因实验条件和
样品性质的不同而有所差异。

尤其是在处理样品表面或材料微观结构存在缺陷的情况下，可能需要更加细致和复杂的处理过程。

XRD基本问题对称性或不对称性。

这五个基本要素都具有其自身的物理学意义。

衍射峰位置是衍射面网间距的反映（即Bragg定理）；最大衍射强度是物相自身衍射能力强弱的衡量指标及在混合物当中百分含量的函数（Moore and Reynolds,1989）；半高宽及形态是晶体大小与应变的函数（Stokes and Wilson,1944）；衍射峰的对称性是光源聚敛性（Alexander,1948）、样品吸收性（Robert and Johnson,1995）、仪器机戒装置等因素及其他衍射峰或物相存在的函数（Moore and Reynolds,1989；Ste任何一个衍射峰都是由五个基本要素组成的，即衍射峰的位置，最大衍射强度，半高宽，形态及rn et al.,1991）。

2现有一张XRD图谱，其中的每一条衍射峰的位置（即衍射角度）都与标准图谱完全吻合，但峰的强度不一样，这是什么现象，能说明什么问题？XRD谱图峰位置与标准谱图完全吻合，但峰的强度不一样，这是很正常的。

你得注意：其相对强度大小是不是一样的。

XRD测试是一个半定量的仪器，某种组分的衍射峰强度跟其在物质中的含量有关，含量越大，峰强度越强。

但是它的一个晶面跟该成分另外一个晶面的衍射峰强度的相对比之应该是一定的。

这样才能说是某种成分存在，否则，即使峰位置吻合，也不能肯定是该物种！3，JADE 5.0的应用，No2 数据的输入Jade软件可以直接读取Rigaku、Bruker、Philips、Scintag等很多衍射仪的原始数据。

打开File\patterns,将出现如附件中所示画面，先（I）找到你文件位置，从（III）的下拉框中选择你的数据格式，按（II）选择。

很多仪器输出文件的格式都是*.raw,实际上都是不一样的，但格式选错了也没关系，软件会给你自动转到合适的格式中去的。

高级一点的：有一些数据格式在（III）的下拉框中没有，比如最常见的txt，xy等，此时你可以自己动手设置，在以上的数据输入面板中，点击工具栏上的“import",进入格式设置画面，如附件所示，a区为注释区，b区为数据格式区，对于最简单的一列角度，一列强度的数据格式，a区不用填写，b区在”angle column“前打上勾，数据从第1行开始读，每行1列数据，强度数据从第8行开始（角度不算），角度从1至6列，所得数据格式即为附件中所示的数据格式。

X射线衍射（XRD）是一种用于研究物质晶体结构的技术。

在XRD分析中，衍射图谱的峰可以用来确定晶格参数，如晶格常数、晶面间距等。

舍勒方程（Scherrer equation）是用于计算晶粒大小的一种公式。

它基于衍射峰的宽度来估计晶粒的大小。

通过测量衍射峰的半高宽（FWHM）并使用舍勒方程，可以估算出晶粒的平均尺寸。

舍勒方程的一般形式为：
D = kλ / (βcosθ)
其中：D 是晶粒的平均尺寸，k 是一个常数（通常取0.89），λ是X射线的波长，β是衍射峰的半高宽（以弧度为单位），θ是衍射角。

通过测量衍射峰的半高宽和已知的X射线波长，可以使用舍勒方程来计算晶粒的平均尺寸。

这对于材料科学、地质学和陶瓷等领域的研究非常有用，因为它可以帮助了解材料的微观结构和晶体生长情况。