第二章 光检基本原则
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第二章 医学伦理学基本原则考试复习题1
第二章医学伦理学基本原则、规范、范畴一、名词解释1、不伤害原则：是指在医学服务中不使病人受到不应有的伤害。
2、有利原则：是指医生要把有利于病人健康放在第一位，切实为病人谋利益。
3、尊重原则：是指在医疗活动中，医务人员要尊重病人及家属。
4、公正原则：是指医务人员在医学服务中公平地对待每一位病人。
5、医学伦理学规范：是指依据一定的医学道德理论和原则制定的、用以调整医疗工作中的人际关系、评价医学行为的准则。
6、医学伦理学基本范畴：是医患之间、医务人员之间以及医疗机构和社会之间最本质、最重要、最普遍的道德关系的反映。
7、自主权：是指病人在接受诊治的过程中，享有经过深思熟悉以后做出自主的、合乎理性的选择和决定，以及改变这些选择和决定的权利。
8、医德情感：是指医务人员对医疗卫生工作及患者的职业态度和内心体验。
9、医德良心：是指医务人员对医德义务和医德责任的自觉认识，是医务人员在自我意识中按照一定的医德准则进行自我评价的能力。
10、审慎：是指医务人员在医疗行为之前的周密思考和医疗行为中的谨慎认真。
11、保密：是指医务人员在防病治病中应当保守医疗秘密，不得泄露。
二、简答题：1、简述医学伦理学基本原则的内容：答：不伤害原则、有利原则、尊重原则、公正原则。
2、简述医学伦理学规范的形式：答：戒律、宣言、誓词、誓言、法典、守则。
3、简述医学伦理学规范的作用：答：医学伦理学准则体系中的主体；医学道德评价的直接尺度；医院管理的重要依据；医学道德修养的重要内容。
4、简述医学道德情感的内容：答：同情感、事业感、责任感。
5、简述医学道德良心的作用：答;医疗行为前，起选择的作用；医疗行为过程中起监督作用；医疗行为结束后起评价作用。
6、简述审慎的道德要求：答：认真负责、谨慎小心、兢兢业业、一丝不苟、精益求精。
7、简述病人的道德权利。
答：病人道德上的权利包括：平等的医疗权；病人自主权；知情同意权；保密和隐私权；8、病人道德上的义务。
答：保持健康的义务；积极配合治疗的义务；支持医学研究的义务。
测量监测管理制度
测量监测管理制度第一章总则第一条目的和依据1.本测量监测管理制度旨在规范医院内各类测量监测活动，确保医院的测量监测工作科学、规范、高效。
2.本制度的订立依据有关法律法规、医院相关规章制度和管理要求。
第二条适用范围本制度适用于医院内全部科室、试验室和技术人员在执行测量监测工作中的相关规定。
第二章测量监测的基本原则和要求第三条基本原则1.测量监测工作应坚持科学性、准确性、公正性和可追溯性的原则。
2.测量监测工作应依法、诚信、保密、独立、公平地进行。
第四条基本要求1.测量监测工作应有明确的引导思想和操作规范。
2.测量监测工作应配备合格的人员和设备设施。
3.测量监测工作应进行记录和报告，确保数据的真实性和完整性。
4.测量监测工作应定期进行质量评估和改进，不绝提升工作水平。
第三章测量监测的组织和责任第五条组织领导责任1.医院应依据测量监测工作的特点，设立特地的管理部门，负责组织、协调和监督测量监测工作。
2.医院管理部门负责订立、修订和推广本制度，组织相关培训和知识普及。
第六条科室/试验室负责人责任1.科室/试验室负责人应组织并落实测量监测工作，确保工作的科学性、规范性和有效性。
2.科室/试验室负责人应配备合格的测量监测人员，确保其具备相应的专业知识和技能。
第七条测量监测人员责任1.测量监测人员应遵守本制度的相关规定，执行测量监测工作。
2.测量监测人员应具备相关的专业知识和技能，依照操作规程进行工作，保证测量数据的准确性和可靠性。
3.测量监测人员应及时记录和报告测量数据，确保数据的完整性和可追溯性。
第四章测量监测的具体要求和操作规程第八条测量监测的项目选择和设计1.医院应依据实际需要和相关要求，选择适当的测量监测项目。
2.测量监测项目应有明确的目标和任务，合理设计测量方案和程序。
第九条测量监测的设备设施和仪器仪表1.医院应配备符合国家标准和要求的测量监测设备设施和仪器仪表。
2.测量监测设备设施和仪器仪表应定期维护和检验，确保其正常运行和准确测量。
眼科医院建立视光档案管理制度
第一章总则第一条为规范眼科医院视光档案管理工作，确保患者视光信息的安全、准确和完整，提高医疗服务质量，特制定本制度。
第二条本制度适用于眼科医院所有视光档案的管理工作。
第三条视光档案是指记录患者视力检查、诊断、治疗、随访等信息的文件和资料。
第二章视光档案的建立第四条患者在眼科医院进行视力检查时，应由视光师负责建立视光档案。
第五条视光档案应包括以下内容：1. 患者基本信息：姓名、性别、年龄、联系方式等；2. 视力检查记录：包括裸眼视力、矫正视力、屈光度数等；3. 眼底检查记录：包括眼底照片、眼底OCT检查结果等；4. 诊断结果：包括近视、远视、散光、弱视等；5. 治疗方案：包括眼镜处方、隐形眼镜处方、激光手术方案等；6. 随访记录：包括随访时间、视力变化、治疗效果等。
第三章视光档案的管理第六条视光档案应由专人负责管理，确保档案的完整性和保密性。
第七条视光档案的存储分为纸质档案和电子档案两种形式：1. 纸质档案应按照档案室管理规定存放，定期进行整理和归档；2. 电子档案应使用专业的档案管理系统进行存储，定期进行备份。
第八条视光档案的查阅权限：1. 患者本人或授权人可查阅自己的视光档案；2. 医疗人员、管理人员、科研人员等因工作需要可查阅相关患者的视光档案，但需遵守保密原则。
第四章视光档案的保密第九条视光档案的保密工作由档案管理人员负责，确保患者隐私不受侵犯。
第十条档案管理人员应严格遵守以下规定：1. 不得泄露患者个人信息；2. 不得随意翻阅、复制或携带档案；3. 不得将档案借出或转借他人。
第五章视光档案的销毁第十一条视光档案的销毁应严格按照国家相关规定和医院内部制度执行。
第十二条视光档案的销毁程序如下：1. 档案管理人员填写销毁申请表，经部门负责人审批；2. 销毁档案前，需核对档案内容，确保无误；3. 销毁档案时，应有两人以上在场监督；4. 销毁后的残骸应妥善处理，不得随意丢弃。
第六章附则第十三条本制度由眼科医院负责解释。
光电检测技术——光检基本原则
第二章光电检测系统设计的基本原则九个基本原则：1．匹配原则（光电匹配、精度匹配）见P122．阿贝比较原则3．运动学原则（按自由度确定约束数）4．统一基面原则（设计、工艺、测量基准统一）5．最小变形原则使仪器变形小（刚度大、热稳定性好），补偿变形。
6．经济原则社会价值V=F/CF：产品功能；C：成本。
要求：功能多、成本低，则价值高。
7．系列化原则8．通用化原则9．标准化原则§2-1 阿贝比较原则一．结构型式对测量误差的影响1.并联型式(一)导轨无误差,则没影响(二)导轨有误差时:量无影响。
(导轨有间隙的情况)②. 悬臂支架绕X、Z轴转动, 则对测量无影响。
(绕X轴转动,离焦,不影响测量; 绕Z轴转动, 显微镜在X方向移动量相同, 不影响测量)③. 绕Y轴转动, 对测量有影响δ1=a ·tg φ=a ·(φ+1/3φ3+2/15φ5+…)≈a ·φ (一阶误差, 即阿贝误差) 例: 令a=100mmφ=10″ 秒化弧度系数: ρ=206265≈2×105 则δ1=a ·10″/ρ=5μmY XZφM 1 M 2M 1′M 2′｝δ1标准件轴线被测件轴线a2. 串联型式 (缺点:体积大)①. 悬臂支架沿X, Y, Z 轴平移,两个显微镜作同样运动,则对测量无影响。
(导轨有间隙的情况)被测件标准件M 1M 2XYZC图2 串联型式②.悬臂支架绕X 轴转动, 显微镜离焦,不影响测量。
③. 绕Y 轴转动, 对测量有影响δ2′=C －C ·cos φ=C(1－ cos φ)=C 〔1－(1－φ2/2！+φ4/4！－……)≈C ·φ2/2④. 绕Z 轴转动, 对测量有影响 δ2〞=OH －C =C/cos φ－C=C(sec φ－1)=C(1+φ2/2！+……－≈C ·φ2/2串联型式,绕Y, Z 轴转动引起的总δ2=δ2′+δ2〞= C ·φ2,为二阶误差。
2023年样品管理实施细则
2023年样品管理实施细则第一章绪论第一节引言随着社会的发展和科技的进步，各个行业对样品管理的要求越来越高。
为了促进科学研究的发展，规范样品管理工作，制定本细则。
第二节目的和意义本细则的目的是为了规范和提高样品管理的水平，保证样品的完整性、真实性和可追溯性，从而为科研提供可靠的数据支持。
第二章样品管理的基本原则第一节安全性原则样品管理必须以安全为前提，确保人员和环境的安全。
第二节保密性原则样品管理必须遵守保密规定，保护样品和样品信息的机密性。
第三节公正性原则样品管理必须原则客观、公正，不偏袒任何一方。
第四节可追溯性原则所有样品必须具备可追溯性，包括采样、检验和储存环节。
第三章样品管理的组织机构第一节样品管理委员会设立样品管理委员会，负责制定样品管理的规章制度和技术指导，监督和指导样品管理工作。
第二节样品管理部门设置专门的样品管理部门，负责具体的样品管理工作，包括样品的接收、标识、登记、储存、处理和销毁等。
第三节样品管理员设立样品管理员，负责具体的样品管理工作。
样品管理员必须具备相应的专业知识和技能，并经过培训并取得相关资格证书。
第四章样品管理的具体内容第一节样品的接收与验收所有进入样品管理系统的样品必须经过严格的接收和验收程序，确保样品的完整性和真实性。
第二节样品的标识与登记对于每一个样品，必须进行标识和登记。
标识内容包括样品名称、来源、入库时间等，登记内容包括样品的基本信息、采样人员等。
第三节样品的储存与保管样品必须按照规定的条件进行储存和保管，确保样品的稳定性和可用性。
储存条件包括温度、湿度、光照等。
第四节样品的处理与分析样品管理部门必须按照工作流程，对样品进行处理和分析。
处理程序必须标准化，分析结果必须准确可靠。
第五节样品的销毁与处置样品管理部门必须定期对已完成的样品进行销毁和处置。
对于涉密样品，必须按照国家机密法规进行处理。
第五章样品管理的监督与评估第一节监督机制样品管理委员会负责对样品管理工作进行监督和检查，确保样品管理工作的规范和高效。
工序考核管理制度
工序考核管理制度第一章总则第一条为规范和提高工序考核管理水平，确保工序生产过程质量和效益，制定本制度。
第二条本制度适用于所有涉及工序生产的部门，所有工序生产人员必须遵守本制度。
第三条工序考核管理制度的内容包括工序考核的基本原则、工序考核的内容和要求、工序考核的程序与责任等。
第四条本制度由公司质量管理部门负责解释和管理，质量管理部门必须对本制度的落实情况进行监督和检查。
第二章工序考核的基本原则第五条工序考核必须遵循公平公正、客观公正的原则，不得违反相关法律法规和公司规章制度。
第六条工序考核必须以质量效益为导向，旨在提高工序生产水平和效益。
第七条工序考核必须定期进行，对工序生产过程中出现的问题和不合格品必须进行分析和处理。
第八条工序考核结果必须得到确认，相关人员对工序考核结果有异议必须提出书面申诉。
第九条工序考核的结果必须对相关人员进行奖惩，对达标的人员进行奖励，对不达标的人员进行处罚或督促改进。
第三章工序考核的内容和要求第十条工序考核的内容包括工序稳定性、产品质量、工艺效率等方面的考核。
第十一条工序稳定性的考核包括设备运行稳定性、工序参数设定稳定性等方面的考核。
第十二条产品质量的考核包括产品外观质量、尺寸精度、表面质量等方面的考核。
第十三条工艺效率的考核包括生产周期、生产能力利用率等方面的考核。
第十四条工序考核的要求包括按照规定的程序和要求进行，认真负责地开展考核工作。
第十五条工序考核的结果必须真实可靠，相关数据必须有依据、准确无误。
第十六条工序考核的结果必须得到确认，相关人员对工序考核结果有异议必须提出书面申诉。
第十七条工序考核的结果必须及时下发，并对不同结果的相关人员进行奖惩。
第四章工序考核的程序和责任第十八条工序考核的程序包括计划编制、数据收集、结果评定等环节。
第十九条工序考核的责任分工包括主管领导、考核组织者、考核执行人员等。
第二十条主管领导负责制定工序考核的计划，监督和检查考核工作的完成情况。
检影验光法
检影验光法1.检影验光法是一种客观检查法，原则上医生应对每一个屈光不正的病人都应检影验光，作到心中有数，然后再根据检影度数配镜，结合自觉情况适当调整，即节省时间又易得出正确的处方。
2.设备①本法需在暗室进行，所需器械包括平面反光镜及暗室灯，以100W磨砂灯泡为好，光源放于被检者耳侧。
②被检者可用：A：睫状肌麻痹剂（散瞳验光）适用于调节力较强的青少年，检查前为使睫状肌麻痹应滴1％阿托品，日二次，连用五天，或托吡卡胺5分钟一次共5次即可。
B：不应用睫状肌麻痹剂，即小瞳孔验光，此法虽可避免因用药造成短时间的近视力朦胧，但对青少年调节紧张患者不易到达使调节充分松弛，应用小瞳孔验光，暗室应较大，以便患者能尽可能向远方注视，放松调节，小瞳验光配镜适用于18岁以上患者及一般集体屈光不正检查，或已通过散瞳验光配镜，已戴镜数年，需要重新调整者，对于首次需要验光配镜的青少年，应以散瞳验光为好。
检影验光属于客观验光法，通常用检影镜照亮被检者的眼底，用检影镜直接观察从被检者眼底反射出来的光线的聚散度，来确定被检眼的屈光状态，（正视、近视、远视）。
3. 检影验光法的基本原理检影验光是通过找被检眼的远点达到验光的目的。
远点指的是被检眼完全调节时，在空间与视网膜的共轭点。
共轭点是两个对应点和可逆点，物和像就是共轭点，检影验光的过程就是通过检影镜在空间寻找视网膜的点的过程，该共轭点就是被检眼的远点。
屈光不正：睫状肌松弛状态时，5米以外来的平行光线经屈光系统聚焦于视网膜之前或后方，称非正视眼也叫屈光不正（加眼轴与屈光力配合关系）A：正视眼：5米以外来的平行光线通过眼的屈光系统在睫状肌放松状态时（即在调节静息状态下）恰好聚焦于视网膜上。
光学特点：①平行光线聚焦在视网膜上②远点位于眼前远穷远，视网膜与无穷远共轭。
B：近视眼：由于眼轴太长或屈光力太强而使平行光线聚焦于视网膜的前方，称为近视。
眼轴长是因眼球过度生长，角膜曲率半径过小或晶体小造成的屈光力过强是生长不足的表现，每一种近视以上两种都可能同存在，（近一步阐述近视）光学特点：①平等光线聚焦在视网膜前，视网膜由发散光形成模糊圈。
第二章 X线成像基础
焦点面上的线量分布是不均匀的，线量呈单峰分布 的焦点成像质量好。
（二）、照射野内的线量分布
1、焦点的方位特性：在平行于X线管长轴方向的照 射野内，近阳极侧有效焦点小，近阴极侧有效焦点大， 这一现象称为焦点的方位特性。在短轴方向上，有效焦 点的大小是对称相等。
阴极端 （一）
阳极靶面
阴极端（一） 10°
X线摄影虽然不能做动态观察，但它能 显示人体内部的细微结构，用于诊断：并可 记录、保存影像，便于会诊、复查与对比。 是现代医学影像检查的重要组成部分。
正像
图 2-15
负像
X线胸片的荧光图像和照片图像
第三节 X线照片影像密度
X线照片呈现黑白不同的图像，就是 因为感光并被显影的银离子在照片上分布 不均之故。照片上的银离子密度是形成照 片影像的基础。
5°
阳极端（+）
0°
5°
10 °
阳极端 （+）
10° 5° 0° 5° 10°
图 2-5 焦点的方位特性示意图
2、焦点的阳极效应：当阳极倾角约为 20°时，进行X线量得测定，其结果是在平行 于X 线管的长轴方向上，近阳极侧X线量少， 近阴极侧的X线量多，最大值在110°处，分 布是非对称性的。这一现象称为X线管的阳极 效应。在X线管的短轴上，X线量的分布基本 上对称 相等。
4、屏—片系统（S／F） 使用增感屏可吸收高能量X线光子，转换成低 能量可见光，使胶片感光，从而提高照片的密度。
胶片本身的感光度越高，照片的密度也越高。
5、被检体厚度、密度 照片密度随被检体的厚度和密度的增高而降低；
随着被检体的厚度和密度的降低而增高。 6、照片后处理技术 X线照片影像密度的变化，与照片的显影处理
二、影响照片密度值的因素
（二）、照射野内的线量分布
1、焦点的方位特性：在平行于X线管长轴方向的照 射野内，近阳极侧有效焦点小，近阴极侧有效焦点大， 这一现象称为焦点的方位特性。在短轴方向上，有效焦 点的大小是对称相等。
阴极端 （一）
阳极靶面
阴极端（一） 10°
X线摄影虽然不能做动态观察，但它能 显示人体内部的细微结构，用于诊断：并可 记录、保存影像，便于会诊、复查与对比。 是现代医学影像检查的重要组成部分。
正像
图 2-15
负像
X线胸片的荧光图像和照片图像
第三节 X线照片影像密度
X线照片呈现黑白不同的图像，就是 因为感光并被显影的银离子在照片上分布 不均之故。照片上的银离子密度是形成照 片影像的基础。
5°
阳极端（+）
0°
5°
10 °
阳极端 （+）
10° 5° 0° 5° 10°
图 2-5 焦点的方位特性示意图
2、焦点的阳极效应：当阳极倾角约为 20°时，进行X线量得测定，其结果是在平行 于X 线管的长轴方向上，近阳极侧X线量少， 近阴极侧的X线量多，最大值在110°处，分 布是非对称性的。这一现象称为X线管的阳极 效应。在X线管的短轴上，X线量的分布基本 上对称 相等。
4、屏—片系统（S／F） 使用增感屏可吸收高能量X线光子，转换成低 能量可见光，使胶片感光，从而提高照片的密度。
胶片本身的感光度越高，照片的密度也越高。
5、被检体厚度、密度 照片密度随被检体的厚度和密度的增高而降低；
随着被检体的厚度和密度的降低而增高。 6、照片后处理技术 X线照片影像密度的变化，与照片的显影处理
二、影响照片密度值的因素
第二章-食品的物理检验法
一 节
➢校正实例
例1：19 ℃时的观察锤度20.00
相 对
19 ℃时温度校正值0.06
密
校正锤度为19.94
度 例2：22 ℃时的观察锤度 19.50 法
22 ℃时温度校正值 0.12（+
校正锤度 19.62
仪器
2.密度计法
第 ③ 乳稠计
一 节 ➢乳稠计是用以测定牛乳相对密度的比重计，测
定范围为 1.015～l.045；
对 密
肯定食品的质量有问题；
➢ 全脂牛奶为✓1当.0相28对～密1度.03正2常时，并不能肯定
度 ➢ 植物油（压榨食法品）质为量无0.9问09题0～，必0.9须29配5合其它
法 测定出液态食品理的化相分对析密，度才能以确后定，通过查表可求
出其固形物的含量。
三、相对密度的测定方法
第 1. 密度瓶法（准确度高，耗时长）
节 法直接测出总固形物。但对于番茄酱、果酱等个
别食品，已通过实验编制了总固形物与可溶性固
折 形物关系表，先用折光法测定可溶性固形物含量， 光 法 即可查出总固形物的含量。
测定仪器与方法
第 二 节
折 光 法
阿贝式折光计
1．底座；2．棱晶调节旋或； 3．圆盘组（内有刻度板）； 4 ．小反光镜； 5．支架；6．读数镜简；7．目 镜；8 ．观察镜简；9．分界线 调节螺丝；
相
中为66ºBé，其余刻度等距离划分。
对
密 ➢波美计有两种：
度
轻表（用以测定相对密度小于1的溶液）
法
重表（用以测定相对密度大于1的溶液）
2.密度计法
仪器
第 ④ 波美计
一
➢
波美度（ºBé）与相对密度（
射线检测智慧树知到课后章节答案2023年下南昌航空大学
射线检测智慧树知到课后章节答案2023年下南昌航空大学南昌航空大学绪论单元测试1.无损检测五大常规方法常用（）能量进行无损检测。
A:化学能量 B:意识能量 C:生物能量 D:物理能量答案:物理能量2.在役飞机起落架轮毂常采用（）方法检测表面缺陷。
A:MT B:UT C:ET D:RT答案:ET3.金属材料的力学性能与（）关系最小。
A:化学成分 B:组织结构 C:金属色泽 D:成形方式答案:金属色泽4.阴极射线管产生X射线中，对射线产生的强度影响最少的是（）A:阴极灯丝温度 B:加速电压 C:阳极靶材料 D:射线管管壁材料答案:射线管管壁材料5.居里夫人因分离金属镭而获得诺贝尔（）A:物理学奖 B:化学奖 C:和平奖 D:生物学奖答案:化学奖6.世界上最早成立的无损检测学会（）A:ASNT B:ECNDT C:CSNT D:JSNT答案:ASNT7.中国在（）研制的第一台X射线机A:1968年 B:1964年 C:1958年 D:196年答案:1964年8.医院头部CT检测在无损检测五大常规方法中归类为（）A:UT B:MT C:ET D:RT答案:RT9.医院肝腹部B超检测在无损检测五大常规方法中归类为（）A:MT B:RT C:UT D:ET答案:UT10.下列不是射线检测课程培养目标（）A:国际通用无损检测高级人员 B:解决复杂工程问题能力 C:团队合作和理解沟通能力 D:解决复杂社交场合酒精滋润的能力答案:解决复杂社交场合酒精滋润的能力第一章测试1.原子核式结构模型的提出是根据粒子散射实验中（）A:粒子只偏2～3° B:以大角散射为主也存在小角散射 C:以小角散射为主也存在大角散射 D:绝大多数粒子散射角接近180答案:以小角散射为主也存在大角散射2.欲使处于基态的氢原子发出Hα线，则至少需提供多少能量（eV）? （）A:12.09 B:10.2 C:3.4 D:13.6答案:12.093.对于每个主壳层n，它最多可以容纳的电子数为（）A:2n B:n2 C:n D:2n2答案:2n24.原子核外轨道精细结构主要是有（）引起的。
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1 1 1 1角秒 = ≈ = (rad ) 5 206265 2 × 10 ρ
附录: 导轨不直度测量:导轨不直度原因: 附录: 导轨不直度测量:导轨不直度原因: 应力(时效) 变形(重力) ① 应力(时效) ② 变形(重力)
R 反射镜
N
α
N
2α
望远镜
导轨不直度误差视为半径为R的圆弧, 导轨不直度误差视为半径为R的圆弧, 其测量方 法是用自准直仪测量, 反射镜每在一个位置, 法是用自准直仪测量, 反射镜每在一个位置, 就在自 准直仪上读数x 即为所测φ 准直仪上读数xi , 即为所测φi〞。
1）测量系统的总精度值可根据被测工件的公 差值和同一尺寸被测量的次数或成品筛选的 合格率要求确定。 合格率要求确定。 一般为： 一般为：测量系统总精度应为被测工件的公 差值的1/2~1/10； 差值的1/2~1/10； 2).仪器的分辨率 或最小脉冲当量） 2).仪器的分辨率（或最小脉冲当量）一般取仪 仪器的分辨率（ 器总精度的1/2~1/5； 器总精度的1/2~1/5； 3).在精度设计时 3).在精度设计时，仪器的总系统误差一般为仪 在精度设计时， 器总误差的1/3。 器总误差的1/3。
四.艾宾斯坦原理——棱镜、透镜原理 艾宾斯坦原理——棱镜 棱镜、 这种仪器解决用较短的工作台( 这种仪器解决用较短的工作台(标准件与被测件 并联) 在测量长度时不产生阿贝误差。 并联)，在测量长度时不产生阿贝误差。 如下图，投影测长机就是这一原理的例子。 如下图，投影测长机就是这一原理的例子。
测长机主要组成部分 1.底座 2.头座微动装置 3.测量头座组 4.万能工作台 5.V型支架组 6.测量尾座 底座 头座微动装置 测量头座组 万能工作台 型支架组 测量尾座
3)根据光源、探测器特性和总体要求设计与之匹配 3)根据光源 探测器特性和总体要求设计与之匹配 根据光源、 的光学系统（照明系统和光电变换光学系统）。 的光学系统（照明系统和光电变换光学系统）。 选取，膜系设计等。 其中包括光学元件材料的 选取，膜系设计等。
目标 光学系统 探测器
光源
2.精度匹配 精度匹配 在光电系统的精度设计中， 在光电系统的精度设计中，光、机、电各部分的精 度一般应该和系统总精度相匹配， 度一般应该和系统总精度相匹配，而系统总精度也应与 使用要求相适应， 使用要求相适应，无限制的提高系统的总精度不仅对检 测无益，而且还会导致成本提高，稳定性下降。 测无益，而且还会导致成本提高，稳定性下降。根据实 际设计经验，拟出以下几条作为设计时参考： 际设计经验，拟出以下几条作为设计时参考：
视场光栏 目镜L 目镜 2 2α 物镜L 物镜 1 f’1 xi -f2
α
原理: 刻普勒望远系统, 原理: 刻普勒望远系统, 物镜与目镜的公共焦面上设 置有十字线分划板, 上面的十字线经物镜、反射镜, 置有十字线分划板, 上面的十字线经物镜、反射镜, 再返回物镜成实像在公共焦面上, 再返回物镜成实像在公共焦面上, 物、像之间垂直 距离为x 距离为xi , xi =f1'tg2α≈f1'·2α
Φ10 ± 0.01
二．阿贝比较原则 三．运动学原则 原动件数目等于自由度数，按自由度确定约束数。 原动件数目等于自由度数，按自由度确定约束数。 四．统一基面原则（设计、工艺、测量基准统一） 统一基面原则（设计、工艺、测量基准统一） 五．最小变形原则 使仪器变形小（刚度大、热稳定性好），补偿变形。 使仪器变形小（刚度大、热稳定性好），补偿变形。 ），补偿变形 六．经济原则 社会价值V=F/C 社会价值V=F/C F：产品功能；C：成本。 成本。 产品功能； 要求：功能多、成本低，则价值高。 要求：功能多、成本低，则价值高。 七．系列化原则 八．通用化原则 九．标准化原则
图1 窜联型式
Y Z
X
M M1
1
M2 C
标准件
被测件
图2 串联型式
悬臂支架沿X, 轴平移,两个显微镜作同样运动 ①. 悬臂支架沿 Y, Z轴平移 两个显微镜作同样运动 则 轴平移 两个显微镜作同样运动,则 对测量无影响。 导轨有间隙的情况 导轨有间隙的情况) 对测量无影响。(导轨有间隙的情况 悬臂支架绕X轴转动 不影响测量。 ②.悬臂支架绕 轴转动 显微镜离焦 不影响测量。 悬臂支架绕 轴转动, 显微镜离焦,不影响测量 轴转动, ③. 绕Y轴转动 对测量有影响 轴转动
不直度φ =α(秒 不直度φi〞=α(秒)
《应光》图14—36 P409 应光》 14—
三.结论 结论 1.只有当导轨存在不直度误差, 且标准件与被测件轴线不重合 1.只有当导轨存在不直度误差 只有当导轨存在不直度误差, 才产生阿贝误差(一阶误差) 才产生阿贝误差(一阶误差)。 2.阿贝误差按垂直面、水平面分别计算。 2.阿贝误差按垂直面、水平面分别计算。 阿贝误差按垂直面 3.在违反阿贝原则时 测量长度为ι 3.在违反阿贝原则时,测量长度为ι的工件所引起的阿贝误差 在违反阿贝原则时, 是总阿贝误差的ι/L 是总阿贝误差的ι/L 。 4.为避免产生阿贝误差 在测量长度时, 4.为避免产生阿贝误差, 在测量长度时, 标准件轴线应安置在 为避免产生阿贝误差, 被测件轴线的沿长线上——阿贝原则 要串联, 阿贝原则。 被测件轴线的沿长线上——阿贝原则。(要串联, 不要并 联 )。 5.满足阿贝原则的系统 结构庞大。 5.满足阿贝原则的系统, 结构庞大。 满足阿贝原则的系统, 问题：能否找到一种既采用并联，体积小（长度短），又没 问题：能否找到一种既采用并联，体积小（长度短），又没 ）， 有阿贝误差的系统？ 有阿贝误差的系统？ ——————答案是肯定的：误差补偿。 ——————答案是肯定的：误差补偿。见“艾宾斯坦原理” 答案是肯定的 艾宾斯坦原理”
≈Hα－α2ι/2 ≈Hα－
l
B D H A 测量轴线
∆1 α
C A′
工件长a 工件长
α
H
B’
刻尺分划面 （ 标准轴线 ） S(透镜焦点 透镜焦点) 透镜焦点
0 S″
∆2
100 S′(透镜2焦点 透镜 焦点) 焦点
透镜1 透镜
α α
透镜2 透镜 S′
α f’ ∆2 S″
2（光学计） 光学计） 8（尾架） 尾架） 1（被测件）
3（读数显微镜） 读数显微镜） 4（头架） 头架）
1000
900
800
200
100
5（床身） 床身） 7（分米分划板） 分米分划板） 图2-6 测长机示意图 6（毫米刻尺） 毫米刻尺）
(一). 导轨制造误差α转变为测量位置的阿贝误差: 导轨制造误差α转变为测量位置的阿贝误差: ∆1=CD－ ι =CD－ =DB'+C B'－ι B'－ =(Hsinα+ιcosα)－ι =(Hsinα+ιcosα)－ = Hsinα－2ιsin2(α/2) Hsinα－
ϕ
δ1/δ2
5° 2° 1°Hale Waihona Puke 30ˊ 10ˊ 30ˊ 10ˊ
1ˊ
30"
10
1"
2.3 5.7 11.5 23
69
688 1330 4160 40000
3.横向移动式 3.横向移动式 Z轴转动的测误差 类似于δ 轴转动的测误差( 绕Y, Z轴转动的测误差(类似于δ2′) δY=δZ= C·φ2/2 对固定长度测量方便, 属于二阶误差,远小于δ 对固定长度测量方便, 属于二阶误差,远小于δ1 。
1 ϕ" ψ " = = R L l
φ〞
l 5 × 50 = = 1.25" L 200
l Lρ
ϕ " = 5" ;
ι
L全长 ψ〞
R
则
ψ " = ϕ"
阿贝误差则
δ 1 = aψ " = aϕ "
(2—3)式 (2—3)式
式中: a为测量轴线到基准轴线的距离 式中: a为测量轴线到基准轴线的距离。 为测量轴线到基准轴线的距离。 ρ为秒化弧度系数, ρ=2×105, 为秒化弧度系数, ρ=2×
§2-1 阿贝比较原则
万能工具显微镜是一种长度、角度测量仪器， 万能工具显微镜是一种长度、角度测量仪器， 是一种长度 精度可以达到1µm。测量的结构型式为被测件与标准 。 精度可以达到 件并联式。下图为实物图。 件并联式。下图为实物图。
一．结构型式对测量误差的影响 1.并联型式 1.并联型式
导轨无误差, （一）导轨无误差,则没影响
δ2′=C－C·cosφ ′=C－ =C(1－ =C(1－ cosφ) =C〔 =C〔1－(1－φ2/2！+φ4/4！ －……)] (1－ /2！ /4！ ≈C·φ2/2
M1 ′ c φ M2 ’ Z δ2 ′ M2 X
④. 绕Z轴转动, 对测量有影响 轴转动, δ2〞=OH－C =OH－ =C/cosφ－ =C/cosφ－C =C(secφ－ =C(secφ－1) =C(1+φ2/2！+…－1) /2！+…－ ≈C·φ2/2
M1 ′ Z
M1
瞄准 瞄准
Y
M2 ′
c
O
×
φ c
H X δ2 〞
串联型式绕Y, Z轴转动引起的总误差 串联型式绕Y, Z轴转动引起的总误差： 轴转动引起的总误差： δ2=δ2′+δ2〞=Cφ2, 为二阶误差。 为二阶误差。
在φ很小时, δ2比δ1小很多(见表2—1)。 很小时, 小很多(见表2 1)。 表2-1 不同φ角时并联与串联安装的误差比 不同φ
③. 绕Y轴转动, 对测量有影响 轴转动,
Y X M1 M1 ′ 轴 Z φ
｝
M2 δ1 δ1=a·tgφ =a·(φ+1/3φ3+2/15φ5+…) ≈a·φ ( , : a=100mm φ=10″ : ρ=206265≈2 δ1=a·10″/ρ=5µm
附录: 导轨不直度测量:导轨不直度原因: 附录: 导轨不直度测量:导轨不直度原因: 应力(时效) 变形(重力) ① 应力(时效) ② 变形(重力)
R 反射镜
N
α
N
2α
望远镜
导轨不直度误差视为半径为R的圆弧, 导轨不直度误差视为半径为R的圆弧, 其测量方 法是用自准直仪测量, 反射镜每在一个位置, 法是用自准直仪测量, 反射镜每在一个位置, 就在自 准直仪上读数x 即为所测φ 准直仪上读数xi , 即为所测φi〞。
1）测量系统的总精度值可根据被测工件的公 差值和同一尺寸被测量的次数或成品筛选的 合格率要求确定。 合格率要求确定。 一般为： 一般为：测量系统总精度应为被测工件的公 差值的1/2~1/10； 差值的1/2~1/10； 2).仪器的分辨率 或最小脉冲当量） 2).仪器的分辨率（或最小脉冲当量）一般取仪 仪器的分辨率（ 器总精度的1/2~1/5； 器总精度的1/2~1/5； 3).在精度设计时 3).在精度设计时，仪器的总系统误差一般为仪 在精度设计时， 器总误差的1/3。 器总误差的1/3。
四.艾宾斯坦原理——棱镜、透镜原理 艾宾斯坦原理——棱镜 棱镜、 这种仪器解决用较短的工作台( 这种仪器解决用较短的工作台(标准件与被测件 并联) 在测量长度时不产生阿贝误差。 并联)，在测量长度时不产生阿贝误差。 如下图，投影测长机就是这一原理的例子。 如下图，投影测长机就是这一原理的例子。
测长机主要组成部分 1.底座 2.头座微动装置 3.测量头座组 4.万能工作台 5.V型支架组 6.测量尾座 底座 头座微动装置 测量头座组 万能工作台 型支架组 测量尾座
3)根据光源、探测器特性和总体要求设计与之匹配 3)根据光源 探测器特性和总体要求设计与之匹配 根据光源、 的光学系统（照明系统和光电变换光学系统）。 的光学系统（照明系统和光电变换光学系统）。 选取，膜系设计等。 其中包括光学元件材料的 选取，膜系设计等。
目标 光学系统 探测器
光源
2.精度匹配 精度匹配 在光电系统的精度设计中， 在光电系统的精度设计中，光、机、电各部分的精 度一般应该和系统总精度相匹配， 度一般应该和系统总精度相匹配，而系统总精度也应与 使用要求相适应， 使用要求相适应，无限制的提高系统的总精度不仅对检 测无益，而且还会导致成本提高，稳定性下降。 测无益，而且还会导致成本提高，稳定性下降。根据实 际设计经验，拟出以下几条作为设计时参考： 际设计经验，拟出以下几条作为设计时参考：
视场光栏 目镜L 目镜 2 2α 物镜L 物镜 1 f’1 xi -f2
α
原理: 刻普勒望远系统, 原理: 刻普勒望远系统, 物镜与目镜的公共焦面上设 置有十字线分划板, 上面的十字线经物镜、反射镜, 置有十字线分划板, 上面的十字线经物镜、反射镜, 再返回物镜成实像在公共焦面上, 再返回物镜成实像在公共焦面上, 物、像之间垂直 距离为x 距离为xi , xi =f1'tg2α≈f1'·2α
Φ10 ± 0.01
二．阿贝比较原则 三．运动学原则 原动件数目等于自由度数，按自由度确定约束数。 原动件数目等于自由度数，按自由度确定约束数。 四．统一基面原则（设计、工艺、测量基准统一） 统一基面原则（设计、工艺、测量基准统一） 五．最小变形原则 使仪器变形小（刚度大、热稳定性好），补偿变形。 使仪器变形小（刚度大、热稳定性好），补偿变形。 ），补偿变形 六．经济原则 社会价值V=F/C 社会价值V=F/C F：产品功能；C：成本。 成本。 产品功能； 要求：功能多、成本低，则价值高。 要求：功能多、成本低，则价值高。 七．系列化原则 八．通用化原则 九．标准化原则
图1 窜联型式
Y Z
X
M M1
1
M2 C
标准件
被测件
图2 串联型式
悬臂支架沿X, 轴平移,两个显微镜作同样运动 ①. 悬臂支架沿 Y, Z轴平移 两个显微镜作同样运动 则 轴平移 两个显微镜作同样运动,则 对测量无影响。 导轨有间隙的情况 导轨有间隙的情况) 对测量无影响。(导轨有间隙的情况 悬臂支架绕X轴转动 不影响测量。 ②.悬臂支架绕 轴转动 显微镜离焦 不影响测量。 悬臂支架绕 轴转动, 显微镜离焦,不影响测量 轴转动, ③. 绕Y轴转动 对测量有影响 轴转动
不直度φ =α(秒 不直度φi〞=α(秒)
《应光》图14—36 P409 应光》 14—
三.结论 结论 1.只有当导轨存在不直度误差, 且标准件与被测件轴线不重合 1.只有当导轨存在不直度误差 只有当导轨存在不直度误差, 才产生阿贝误差(一阶误差) 才产生阿贝误差(一阶误差)。 2.阿贝误差按垂直面、水平面分别计算。 2.阿贝误差按垂直面、水平面分别计算。 阿贝误差按垂直面 3.在违反阿贝原则时 测量长度为ι 3.在违反阿贝原则时,测量长度为ι的工件所引起的阿贝误差 在违反阿贝原则时, 是总阿贝误差的ι/L 是总阿贝误差的ι/L 。 4.为避免产生阿贝误差 在测量长度时, 4.为避免产生阿贝误差, 在测量长度时, 标准件轴线应安置在 为避免产生阿贝误差, 被测件轴线的沿长线上——阿贝原则 要串联, 阿贝原则。 被测件轴线的沿长线上——阿贝原则。(要串联, 不要并 联 )。 5.满足阿贝原则的系统 结构庞大。 5.满足阿贝原则的系统, 结构庞大。 满足阿贝原则的系统, 问题：能否找到一种既采用并联，体积小（长度短），又没 问题：能否找到一种既采用并联，体积小（长度短），又没 ）， 有阿贝误差的系统？ 有阿贝误差的系统？ ——————答案是肯定的：误差补偿。 ——————答案是肯定的：误差补偿。见“艾宾斯坦原理” 答案是肯定的 艾宾斯坦原理”
≈Hα－α2ι/2 ≈Hα－
l
B D H A 测量轴线
∆1 α
C A′
工件长a 工件长
α
H
B’
刻尺分划面 （ 标准轴线 ） S(透镜焦点 透镜焦点) 透镜焦点
0 S″
∆2
100 S′(透镜2焦点 透镜 焦点) 焦点
透镜1 透镜
α α
透镜2 透镜 S′
α f’ ∆2 S″
2（光学计） 光学计） 8（尾架） 尾架） 1（被测件）
3（读数显微镜） 读数显微镜） 4（头架） 头架）
1000
900
800
200
100
5（床身） 床身） 7（分米分划板） 分米分划板） 图2-6 测长机示意图 6（毫米刻尺） 毫米刻尺）
(一). 导轨制造误差α转变为测量位置的阿贝误差: 导轨制造误差α转变为测量位置的阿贝误差: ∆1=CD－ ι =CD－ =DB'+C B'－ι B'－ =(Hsinα+ιcosα)－ι =(Hsinα+ιcosα)－ = Hsinα－2ιsin2(α/2) Hsinα－
ϕ
δ1/δ2
5° 2° 1°Hale Waihona Puke 30ˊ 10ˊ 30ˊ 10ˊ
1ˊ
30"
10
1"
2.3 5.7 11.5 23
69
688 1330 4160 40000
3.横向移动式 3.横向移动式 Z轴转动的测误差 类似于δ 轴转动的测误差( 绕Y, Z轴转动的测误差(类似于δ2′) δY=δZ= C·φ2/2 对固定长度测量方便, 属于二阶误差,远小于δ 对固定长度测量方便, 属于二阶误差,远小于δ1 。
1 ϕ" ψ " = = R L l
φ〞
l 5 × 50 = = 1.25" L 200
l Lρ
ϕ " = 5" ;
ι
L全长 ψ〞
R
则
ψ " = ϕ"
阿贝误差则
δ 1 = aψ " = aϕ "
(2—3)式 (2—3)式
式中: a为测量轴线到基准轴线的距离 式中: a为测量轴线到基准轴线的距离。 为测量轴线到基准轴线的距离。 ρ为秒化弧度系数, ρ=2×105, 为秒化弧度系数, ρ=2×
§2-1 阿贝比较原则
万能工具显微镜是一种长度、角度测量仪器， 万能工具显微镜是一种长度、角度测量仪器， 是一种长度 精度可以达到1µm。测量的结构型式为被测件与标准 。 精度可以达到 件并联式。下图为实物图。 件并联式。下图为实物图。
一．结构型式对测量误差的影响 1.并联型式 1.并联型式
导轨无误差, （一）导轨无误差,则没影响
δ2′=C－C·cosφ ′=C－ =C(1－ =C(1－ cosφ) =C〔 =C〔1－(1－φ2/2！+φ4/4！ －……)] (1－ /2！ /4！ ≈C·φ2/2
M1 ′ c φ M2 ’ Z δ2 ′ M2 X
④. 绕Z轴转动, 对测量有影响 轴转动, δ2〞=OH－C =OH－ =C/cosφ－ =C/cosφ－C =C(secφ－ =C(secφ－1) =C(1+φ2/2！+…－1) /2！+…－ ≈C·φ2/2
M1 ′ Z
M1
瞄准 瞄准
Y
M2 ′
c
O
×
φ c
H X δ2 〞
串联型式绕Y, Z轴转动引起的总误差 串联型式绕Y, Z轴转动引起的总误差： 轴转动引起的总误差： δ2=δ2′+δ2〞=Cφ2, 为二阶误差。 为二阶误差。
在φ很小时, δ2比δ1小很多(见表2—1)。 很小时, 小很多(见表2 1)。 表2-1 不同φ角时并联与串联安装的误差比 不同φ
③. 绕Y轴转动, 对测量有影响 轴转动,
Y X M1 M1 ′ 轴 Z φ
｝
M2 δ1 δ1=a·tgφ =a·(φ+1/3φ3+2/15φ5+…) ≈a·φ ( , : a=100mm φ=10″ : ρ=206265≈2 δ1=a·10″/ρ=5µm