hast老化试验箱测试项目

环境老化试验箱的主要项目环境试验的主要项目：环境试验的试验场地应能具有广泛的代表性，能进行近可能多的试验项目，并且应与将来可能作战的环境近可能地接近。

但是，环境试验场往往与真实的使用环境存在差别 .在选择模拟试验项目时，应具体地分析对待试验物品的使用要求，应使选择的试验项目既代表了主要的使用环境，又能加快试验速度，节省经费。

第二次世界大站中及战后，西方国家，特别是美国建立了一系列的环境试验场及实验室，制定了环境试验标准。

美军规定所有武器装备、零部件和材料以及弹药都必须先送到环境实验室进行模拟环境试验，再送到环境试验场进行实地环境试验，只有通过了这些试验才能正式交付部队使用。

美军已把环境试验作为试验与鉴定工作的一部分。

目前，国外已将环境试验标准化，许多国家还制定了环境试验标准，总的来说这些标准大同小异，主要包括以下环境试验项目：（1）低压（高空）试验：试验适用于在飞机货舱中空运的兵器，在高原上使用的兵器和空运兵器在飞机受伤后发生压力迅速下降的情形。

试验的目的是检验兵器在低压环境中的使用性能以及压力迅速下降对兵器性能的影响。

模拟的最高高度可达30000m（米），试验时取高度相对应的温度值。

（2）高温试验：试验中兵器处于高温空气中，但不受到阳光直接照射。

试验针对高温季节在室内或密闭空间中或接近发动机等热源处储藏或使用兵器的情形。

仅当太阳辐射试验不能检验高温效应时才进行这项试验。

试验的目的是检验在高温环境中储藏或使用的性能。

（3）低温试验：试验适用于在寿命周期中很可能在低温环境中使用的试件。

试验的目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制和作战。

（4）热冲击试验：试验适用于在预定的使用区域或使用模式中经常经受极迅速温度变化的兵器。

例如：从沙漠机场起飞升到高空的飞机上的电子装备吊仓、导弹、光电设备和炸弹仓中的炸弹；从高空向沙漠地区空投的兵器；在北极地区从室内向室外转移的兵器。

目前仅进行空气中的热冲击试验，将来有可能进行从空气进入到水中的热冲击试验。

HALT/HASSHALT & HASS是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为世界范围内电子业界的标准产品验证方法。

它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT & HASS的试验方式已成为很多新电子产品上市前所必需通过的验证。

为使广大客户了解HALT/HASS方法的目的意图及方法步骤，摩尔实验室(MORLAB)特简要介绍如下：一、HALT（High Accelerated Life Testing）高加速寿命试验HALT是一种通过让被测物承受不同的应力，进而发现其设计上的缺限，以及潜在弱点的实验方法。

HALT的主要目的是通过增加被测物的极限值，进而增加其坚固性及可靠性。

HALT利用阶梯应力的方式加诸于产品，能够在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。

其加诸于产品的应力有振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。

利用该测试可迅速找出产品设计及制造的缺陷、改善设计缺陷、增加产品可靠性并缩短其上市周期，同时还可建立设计能力、产品可靠性的基础数据及日后研发的重要依据。

HALT主要应用于产品的研发阶段，能够及早发现产品可靠性的薄弱环节。

其所施加的应力要远远高于产品在正常运输﹑贮藏﹑使用时的应力。

简单地说，HALT是以连续的测试、分析、验证及整改构成了整个程序。

HALT共分为4个主要试程，即：温度应力、高速温度传导、随机振动、温度及振动合并应力。

（1）温度应力（HL高低温试验箱）此项试验分为低温及高温两个阶段应力。

首先执行低温阶段应力，一般产品是设定起始温度为20℃，每阶段降温10℃，阶段温度稳定后维持10min，之后在阶段稳定温度下执行至少一次的功能测试，如一切正常则将温度再降10℃，并待温度稳定后维持10min再执行功能，依此类推直至发生功能故障，以判断是否达到操作界限或破坏界限；在完成低温应力试验后，可依相同程序执行高温应力试验，即将综合环境应力试验机自20℃开始，每阶段升温10℃，待温度稳定后维持10min，而后执行功能测试直到发现高温操作界限及高温破坏界限为止。

1.范围本标准规范规定了—---的平板电脑的HALT试验技术要求、试验方法。

适用于———-———实验中心在新产品开发阶段及生产过程中的质量监控，确保产品的可靠性.2.测试内容HALT（Highly accelerated life test高加速寿命试验)是一种利用阶梯应力加诸于产品，快速发现产品设计缺陷、操作边际及结构强度极限的方法，并加以改善和提高，从而增加产品的极限值,提高其坚固性及可靠性。

施加于试品的应力,包括振动、高低温、温度循环、综合应力等。

高加速寿命试验的具体测试内容包括以下几点:1)。

逐步施加应力直到产品失效或出现故障；2）。

采取临时措施,修正产品的失效或故障；3). 继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障,并再次加以修正；4)。

重复以上试验→失效→改进的步骤;5）. 找出产品的基本操作界限和基本破坏界限。

3.测试目的HALT以连续的测试、失效分析、缺陷改进及验证构成了整个程序，而且可能是个闭环循环过程。

往往一个测试计划,需要重复进行几次，除非一次性能经受加速应力试验。

其关键在于分析失效的根本原因。

试验的主要目的如下：1)．利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来，并加以改善；2)。

了解产品的设计能力及失效模式;3）. 作为高应力筛选及制定品质核查规格的参考；4)。

快速找出产品制造过程的瑕疵；5). 增加产品的可靠性，减少维修成本；6）。

建立产品设计能力数据库，为研发提供依据并缩短设计制造周期。

4.名词解析操作极限（OL)：产品的工作状态不再满足技术条件要求的极限应力，但应力消除后,产品仍能恢复正常工作。

LOL（Lower Operating Limit)：下操作极限UOL（Upper Operating Limit)：上操作极限破坏极限(DL):产品的工作状态不再满足技术条件要求的极限应力，且应力降低后，产品仍然不能能恢复正常工作（硬故障).LDL（Lower Destruct Limit)下破坏极限UDL（Upper Destruct Limit）上破坏极限Bypass 失效：用如隔离，局部加热，局部固定等手法使得某失效暂时不发生，测试可以继续进行。

hast老化寿命试验机作业指导书一、高压加速老化寿命试验机用途：适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、CD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。

测试其制品的耐厌性，气密性.二、产品特点：1。

高压加速老化试验箱具有自动加水功能并且在试验过程中水过低时自动补水.2.试验过程自动运转至完成结束，使用简便。

3。

温度控制：ED数字型温度控制器可作精确试验温度之设定、控制及显示.4.高计时器:ED数字型计时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验完全。

5。

精准的压力/温度表随时显示锅内压力与相对温度。

6.运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到最佳蒸气品质。

7.一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长.8.高压加速老化试验箱内经抛光处理经久耐用美观三、结构:1。

圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验中露滴水设计。

2.圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品；3。

精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200h;4.自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制，专利安全门把设计，内有大于常压时测试们会被反压保护；5。

艾思荔专利型packing,箱内压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合，与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命。

6.实验开始前之真空动作可将原来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气（partica〈1micorn).以确保箱内之纯净度；7.临界点IMIT方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。

四、箱体材质:1.外箱材质:A极电解板＋粉体烤漆或SS304高级不锈钢板。

2.内箱材质：SS304高级不锈钢板.3。

保温材质：高密度聚氨酯.4。

箱体底座:采用国标6＃槽钢铺底。

5。

箱门：单开门×1套。

hast测试判定标准
HAST（Highly Accelerated Stress Test）测试是一种常用的可
靠性测试方法，用于评估电子设备的可靠性和寿命。

HAST测
试判定标准可以根据具体的行业和产品类型有所不同，但一般包括以下几个方面的评估：
1. 外观检查：检查设备在测试过程中是否有明显的物理损坏或变形，如裂纹、烧伤、脱落等。

2. 功能性能测试：对设备进行一系列功能性能测试，确保设备在测试过程中能正常工作，如电路测试、信号测试等。

3. 可靠性评估：根据设备在测试过程中的功能性能数据和损坏情况，评估设备的可靠性指标，如失效率、平均故障间隔时间等。

4. 温度和湿度测试：检查设备在高温高湿环境下的表现，评估设备的耐热性和耐湿性。

5. 震动和冲击测试：检查设备在震动和冲击条件下的表现，评估设备的抗震性和抗冲击性。

根据具体产品和行业的要求，HAST测试的判定标准可能会有
所不同。

一般而言，设备在经过HAST测试后需能正常工作，并且满足相关的可靠性指标，才能被判定为通过HAST测试。

高压加速老化试验箱试验简介
高压加速老化试验箱(HAST)适用于半导体芯片行业以及航空、航天、兵器、船舶、核工业、科研院校等领域。

通过对电子部品、元器件、集成电路以及材料、工艺等通过加速进行高温、高湿、高压循环及恒定试验测试来确认其是否因耐久性(寿命)或环境变化而导致功能失效。

高压加速老化试验箱主要测试环境包含THB(主要的测试条件是温度为85℃/相对湿度为85%/规定电压）、PCT（通常指100%相对湿度的饱和蒸汽测试）、HAST（通常指相对湿度为85%的非饱和蒸汽测试）。

随着社会发展进步，我们生产生活中需要使用的电子设备、电子产品越来越频繁，对其质量品质的要求越来越高（如重量、寿命、安全、外形等）；这意味着生产商在选择原材料及电子元件时需提出更高质量需求。

以半导体模具为塑料材料为例：
试验条件①在温度为85 ℃，湿度为85% 85% 的测试条件下，寿命周期超过500小时。

②在温度为121 ℃，湿度为100% 的测试条件下，寿命周期超过数十小时。

在满足上述条件的情况下：推测试件在温度为30℃和相对湿度为85%的通常使用环境下，使用寿命应超过10年。

综上所述，可以对零件和材料做防潮性能测试，来检查由湿度所造成的裂变或者失效，通过加速寿命测试来检查试件防潮性能。

高压加速老化试验箱可以加速暴露产品在研发、生产过程中的不良或缺陷，以便更好地完善产品的各项性能指标。

设计为滑动托盘:
①样品托盘安置于工作仓的外部，放置样品时可在仓外完成而不必把手放进炉腔里面操作，这样可减小操作人员烧伤的危险。

②在工作仓外面完成老化测试的配线工作，操作便捷、工作效率高、安全系数大。

HAST测试是一种高加速老化测试，已成为某些行业的标准，特别是在PCB、半导体、太阳能、显示面板等产品中，作为标准高温高湿测试（如85C/85%RH-1000小时）的快速有效替代方案。

HAST测试的判定标准会根据产品的特性和行业标准来确定，以下是一些可能的判定标准示例：
- 常规性能测试：通过检测产品在各种压力和温度条件下的性能表现，如电气参数，在设定的阈值范围内是否保持稳定。

- 可靠性指标：对产品进行一定周期的测试，并记录故障发生的概率。

根据产品所在行业的标准，确定产品的可靠性指标，如故障率、平均无故障时间等。

- 环境适应性：测试产品在不同温度、湿度和振动等环境条件下的适应性能。

判定标准可以根据产品所要求的工作环境决定，比如是否满足工作环境的温度、湿度要求等。

- Endurance（耐久性）测试：测试产品在长时间使用下的可靠性和寿命。

HAST加速老化箱使用注意事项
HAST加速老化箱用于测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，多层线路板,EVA,光伏组件，IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。

加湿器和传感器是高压加速寿命试验机的核心部件，直接影响设备的性能，结合多年的生产和销售经验，对高压加速寿命试验机保养提出如下建议，仅供参考：
一、设备运行场地的电压必须要稳定，如果电压不稳，会导致电流过大或过小，长时间在这种环境下运行会造成传感器损坏。

二、时时检查管路状况，看是否漏气，做试验前先检查一遍水箱是否水量充足，以防止加湿气干烧。

三、在试验完成后检查箱内是否有压力，需要待压力完全排除后才方可打开箱门。

四、HAST加速老化箱设备使用的环境要求：
1、地面平整，通风良好，不含易燃、易爆、腐蚀性气体和粉尘。

2、附近没有强电磁辐射源
3、设备周围留有适当的维护空间
4、温度：5℃～30℃(24小时内的平均温度≤30℃)
5、相对湿度：≤85%RH
6、气压：86～106kpa。

hast老化实验箱测试项目一、磁性材料测试必备设备：由于永磁材料旳磁性能会随着温度旳变化而发生较大变化，并且不同永磁材料旳温度系数差别也很大，在达到某一特定温度时，磁性甚至还会消失。

这些特性都需要原则进行精确旳测量和评价。

在实际应用中，永磁材料往往工作于高温环境中，如永磁直驱风力发电机所用旳永磁体，其内部温度就达到150℃，其在高温下旳磁性能还能满足设计规定吗？核反映堆、航天器高速电机等所用旳钐钴磁体旳温度超过了300℃，甚至达到500℃，需用旳磁体在不同温度下各项磁性能旳精确数值又是多少呢？之前，国内建立旳hast加速老化实验箱硬磁材料磁特性检定装置，只能基于国际原则措施测量常温下旳磁特性，却无法检测高温下旳磁特性。

高温下旳磁特性测量只能依赖进口旳商业永磁测量仪，但其闭磁路高温测量能力也只在220℃以内。

而国防和航空航天等领域迫切需求旳温度测量范畴为300℃~500℃，这已超过了重要发达国家计量院旳永磁高温测量能力，商业永磁测量仪更是无法达到规定。

重要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常用之故障方式为积极金属化区域腐蚀导致之断路，或封装体引脚间因污染导致短路等。

广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能旳检测,测试其制品旳耐压性,气密性。

加速老化寿命实验旳目旳是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品旳电压、负荷等)，加快实验过程，缩短产品或系统旳寿命实验时间。

二、技术性能：1、升温时间: 由100℃升至＋132℃约10分钟非线性空载。

2、温度变化速率为空气温度平均变化速率,而非产品温度变化速率。

三、和绿色照明旳关系：由于磁性材料检测离不开，而现代旳路灯；高速公路可用它做夜晚旳路标灯；山区旳孩子可以在日光灯下晚自习；都市小高层楼顶也可用风力电机，这不仅节省能源并且是真正绿色电源。

家庭用风力发电机，不仅可以避免停电，并且还能增长生活情趣。

HAST高压加速老化试验箱主要技术参数在工业生产时，一般在产品生产制造出来后，要进行检测，检测出来的性能达标的产品才是优良品，允许交货给客户或者进行售卖。

现有技术中，常规的老化试验速度比较慢，周期较长，并且进行老化试验的设备体积较大，工作效率较低，试验效果不够好，会影响对产品质量的判断。

本设备结构合理，设计巧妙，通过智能控制系统能迅速的产生非饱和水蒸汽湿度、温度、压力，对产品进行高温、高湿、高压的加速老化寿命试验环境，给产品施加非常苛刻的测试环境，并且对产品的测试时间短，使用此设备测试1小时相当于普通测试环境的250小时测试结果，性能良好可靠，对加速产品老化寿命的测试，对产品品质的监控起到很好的作用。

下面就介绍一下HAST高压加速老化试验箱设备本身有哪些主要技术参数：⑴、控制方式：恒定湿度湿度压力控制，程序运转（湿度上升下降），湿度控制等。

⑵、条件设定：温度、相对湿度、表压力直接设定。

⑶、控制动作：PID控制SSR驱动方式⑷、压力容器的种类：小型圆形压力容器试验箱,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象。

⑸、温度控制范围：+105.0～+142.9℃⑹、湿度控制范围：+75.0～+100%rh⑺、压力范围：0.020～0.196MPa(表压力）⑻、温湿度波动范围：±0.5℃/±3%RH⑼、温度均匀性：±0.5℃(在100%RH时)，±0.7℃（在75%RH时）⑽、加热时间（当环境温度为+23℃时）：常温到+142.9℃大约45 分钟⑾、加压时间（当环境温度为+23℃时）：0～0.196MPa(压力计）大约35 分钟⑿、降温时间（当环境温度为+23℃时无式样）：大约120分钟以内可以从+142.9℃/75%RH下降到+85.0℃/85%RH⒀、降压时间：自动降压：约15分钟，手动降压：10分钟。

hast老化试验机的基本知识一、hast老化试验机三大特点：1.艾思荔采用了更加好的技术来更加好的控制hast老化试验机温度，更加好的控制，更加准确，更加的精密，在蒸汽温度方面我们采用的是进口微电脑来控制饱和蒸气温度、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度。

这是我们优先选择最好的，最方便快捷简单的，在水位控制方面我们选择的是hast老化试验机自动水位控制器，这款控制器有着非常好的功能以及特点，能够在位不足时会有警示并且在时间控制器使用的是LED 显示器，最新式的指针显示正负压表。

2.hast老化试验机在设计上我们优先的选择好的设计，以及材料，hast老化试验机中我们使用的符合工业安全标准的圆型内箱，采用了不锈钢的原型使用内箱结果，这种设计可以在试验中能够防止结露滴水。

并且选择有着不锈钢的圆幅内衬的hast老化试验机采用了不锈钢的的圆型设计，有了该圆幅的设计可完全的避免蒸气潜热直接冲击测试品。

导致试验品损坏。

并且在水位控制上采用了精密的设计，使得每次试验加水可以联系使用200小时，并且气密性非常好，还有耗水量非常少。

3.hast老化试验机内压力系统也是进行了大的变动，在内压力越大的时候hast老化试验机箱门呼吁反压导致其与箱体更加紧密结合,不同于的传统挤压式,可延长专利的寿命。

并且在hast老化试验机非常好的临界点 LIMIT 方式自动安全保护,在出现异常原因和故障指示灯都会显示，能够好的避免因为异常导致损失，甚至导致今天损坏。

hast老化试验机主要是测试半导体封装的抗湿气能力，通过将待测产品放置在严苛的温度、湿度及压力下环境下，测试产品的质量。

在日常使用hast老化试验机时，由于对设备的不了解我们不免会产生一些疑问，下面艾思荔就为各位列举几个。

二、故障和解决方法：1.如打开电源指示灯不亮时?检查电源开关是否故障,保除丝是否烧断。

2.定时器故障?检查控制面板接线是否松脱,定时器是否出现故障。

Hast老化箱测验温度时刻考表一、产品用处：广泛应用于线路板,多层线路板,IC半导体,LCD,磁铁等商品之密封功用的检查,测验其成品的耐压性,气密性。

二、特性：试验进程主动作业至完结完毕、运用简洁。

两层过热维护设备，当锅内温度过高时，机器鸣叫警报并主动堵截加热电源。

LED数字型温度操控器可作准确试验温度之设定、操控及显现，PID操控差错±0。

1℃。

LED数字型定时器，当锅内温度抵达后才开端计时以保证试验彻底。

精准的压力、温度对照显现。

作业时流水器主动排出未饱满蒸汽以到达最好蒸汽质量。

试验进程中水位缺乏时能主动弥补水位之功用，试验不中止，保证运用安全。

锅内安全设备，锅门若未关紧则机器无法发动。

安全阀，当锅内压力超越最大作业值主动排气泄压。

门盖维护，ABS原料制成可防止操作人员触摸烫坏。

一体成型硅胶门垫圈，气密度杰出，且运用寿数长。

三、测验温度时刻考表：暴露物品：试验温度：121℃试验时刻：5~20分钟枯燥时刻：2分钟试验温度：132℃试验时刻：5~10分钟枯燥时刻：2分钟薄布包装：试验温度：121℃试验时刻：20~25分钟枯燥时刻：3分钟试验温度：132℃试验时刻：10~15分钟枯燥时刻：3分钟厚布包装：试验温度：121℃试验时刻：25~30分钟枯燥时刻：5分钟四、机械构造:1、圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱构造,契合工业安全容器规范,可防止试验中结露滴水规划圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬规划,可防止蒸气潜热直接冲击试品。

2、精细规划,气密性杰出,耗水量少,每次加水可接连200h 。

3、主动门禁,圆型门主动温度与压力检知安全门禁确定操控,专利安全门把规划,箱内有大于常压时测验们会被反压维护。

4、专利型,箱内压力愈大时,会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统揉捏式彻底不一样,可延长寿数。

5、试验开端前之真空动作可将本来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气(。

以保证箱内之纯净度。

6、临界点LIMIT方法主动安全维护,反常因素与毛病指示灯显现。

使用HAST加速老化箱的LED（二极管）加速寿命试验方法HAST加速老化箱的目的、意义：寿命试验是在试验室模拟各种使用条件来进行的，为了缩短试验时间在不改变失效机理的条件下，用加大应力的方法来进行试验，通过加速寿命试验可以评价产品的可靠性水平。

半导体照明用发光二极管（LED）可靠性要求是LED器件能否应用于半导体照明的重要考量。

因此，规定适当的寿命要求、测量与试验方法是规范行业有序竞争的首要条件，此标准的制定对于促进我国半导体照明产品应用和行业产业化发展具有重大意义。

范围和主要技术内容：1、范围：平均寿命是电子元器件最常用的可靠性参数，发光二极管（LED）一般以光输出的衰减值作判断来获取试验数据，常规的方法需要较长的时间，本标准给出了一种可缩短试验时间获取试验数据的方法和比较简易的数据处理程序。

本标准规定了LED产品加速寿命试验的程序。

它适用于各种可见光和非可见光LED光输出的慢退化模式。

通过试验数据可求得该产品的平均寿命。

2、主要研究内容：规定LED产品加速寿命试验的程序；适用于各种可见光和非可见光LED光输出的慢退化模式；通过加速寿命试验来计算产品的平均寿命和评价产品的可靠性水平。

国内外情况简要说明：国内已有标准：GB.2689.1-81 恒定加速寿命和加速寿命试验方法总则、GB.2-81寿命试验和加速寿命的图估法（用于威布尔分布）、GB.2689.3-81寿命试验和加速寿命的简单线性无偏估计法（用于威布尔分布）、GB.2689.4-81命试验和加速寿命的最好线性无偏估计法（用于威布尔分布）、SJ/T11099-96寿命试验用表最好线性无偏估计用表（极值分布、威布尔分布）。

本标准是针对我国半导体照明产品的发展要求，参照上述标准制订的。

hast老化寿命试验机作业指导书一、高压加速老化寿命试验机用途：适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、CD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使川于在产品的设计阶段，用于快速暴需产品的缺陷和薄弱环节。

测试其制品的耐厌性，气密性。

二、产品特点：1•高压加速老化试验箱具冇自动加水功能并在试验过程中水过低时自动补水。

2.试验过程白动运转至完成结束，使用简便。

3.温度控制：ED数字型温度控制器可作楷确试验温度之设定、控制及显示。

4•高计时器：ED数字型计时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验完全。

5•精准的压力/温度表随时显示锅内压力与相对温度。

&运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到最佳蒸气品质。

7.—体成型硅胶门梨圈，气密度良好，使用寿命长。

8.高压加速老化试验箱内经抛光处理经久耐用美观三、结构：1•圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验屮露滴水设计。

2.圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，对避免蒸气潜热直接冲击试品；3.精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200h；4.自动门禁，圆型门H动温度与压力检知安全门禁锁定控制，专利安全门把设计，内有大于常压时测试们会被反压保护；5.艾思荔专利型packing，箱内压力愈大时，packing会冇反压会使其与箱体更紧密结合, 与传统挤压式完全不同，可延长packing寿命。

6.实验开始询之真空动作可将原來箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气(partica<lmicorn)。

以确保箱内之纯净度；7.临界点IMIT方式自动安全保护，异常原因与故障指示灯显示。

四、箱体材质：1•外箱材质:A极电解板+粉休烤漆或SS304高级不锈钢板。

2. 内箱材质:SS304高级不锈钢板。

3. 保温材质:高密度聚氨酯。

4. 箱体底座:采用国标6#杷钢铺底。

HAST非饱和高压加速老化试验箱工作原理一.设备特点：1.HAST非饱和高压加速老化试验箱采用顶级进口品牌配件,整机1年免费保修.2.PCT加速老化试验箱最新优化设计,美观大方,做工细节优良.3.大容量水箱,试验时间长,全自动补水,试验不中断.4.进口“SHIMAX”LED双数显高精度自能温控器,误差±0.1℃，或根据试验需要可采用真彩触摸屏控制器.5.一体成型硅胶门垫圈,气密度良好,且使用寿命长.6.电路整合设计,操作简单,维护方便.二、产品应用：HAST非饱和高压加速老化试验箱（又名PCT高压加速老化试验机）主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度.湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。

广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。

加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压.负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

三、规范要求：HAST非饱和高压加速老化试验箱内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。

安全保护装置A.误操作安全装置：高压加速老化试验箱锅门若未关紧则机器无法启动.B.超压安全保护：当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压.C.超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源.D.防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤.E.手动安全保护排压伐.四、半导体测试：HAST非饱和高压加速老化试验箱对半导体的PCT测试：PCT最主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应.动金属化区域腐蚀造成之断路.封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。

hast加速老化标准
"HAST加速老化标准"指的是"HAST (Highly Accelerated Stress Test) Aging Standard"，是一种用于加速老化测试的标准。

HAST测试旨在模拟产品在恶劣条件下的使用情况，以便预测其寿命和可靠性。

这种测试通常用于电子产品和零部件，以及其他需要长期稳定性和可
靠性的领域。

HAST测试的具体标准可以因产品类型和行业而异，但通常包括以下内容：
1. 温度和湿度：HAST测试通常在高温高湿的环境下进行，温度通常在100°C至130°C之间，湿度通常在85%至95%之间。

2. 压力：HAST测试中通常会施加一定水汽压力，以模拟产品在恶劣条件下的工作环境。

3. 测试时间：HAST测试的时间通常比实际使用条件下的预期寿命要短，以加速老化过程。

通过HAST测试，可以评估产品在恶劣环境下的可靠性和寿命，
帮助制造商了解产品的弱点并采取相应的改进措施。

这可以帮助提高
产品的质量和可靠性，并减少故障率和售后服务成本。

在环境模拟试验中，常常会遇到这样一个问题：产品在可控的试验箱环境中测试若干小时相当于产品在实际使用条件下使用多长时间？这是一个亟待解决的问题，因为它的意义不仅仅在于极大地降低了成本，造成不必要的浪费，也让测试变得更具目的性和针对性，有利于测试人员对全局的掌控，合理进行资源配置。

在众多的环境模拟试验中，温度、湿度最为常见，同时也是使用频率最高的模拟环境因子。

实际环境中温度、湿度也是不可忽略的影响产品使用寿命的因素。

所以，迄今将温度、湿度纳入考量范围所推导出的加速模型在所有的老化测试加速模型中占有较大的比重。

由于侧重点的不同，推导出的加速模型也不一样。

下面，本文将解读三个极具代表性的加速模型。

模型一．只考虑热加速因子的阿伦纽斯模型（Arrhenius Mode）某一环境下，温度成为影响产品老化及使用寿命的绝对主要因素时，采用单纯考虑热加速因子效应而推导出的阿伦纽斯模型来描述测试，其预估到的结果会更接近真实值，模拟试验的效果会更好。

此时，阿伦纽斯模型的表达式为：AF=exp{(Ea /k)·[(1/Tu)-(1/Tt)]}式中：AF是加速因子；Ea是析出故障的耗费能量，又称激活能。

不同产品的激活能是不一样的。

一般来说，激活能的值在0.3ev~1.2ev之间；K是玻尔兹曼常数，其值为8.617385×10-5；Tu是使用条件下(非加速状态下)的温度值。

此处的温度值是绝对温度值，以K(开尔文)作单位；Tt是测试条件下(加速状态下)的温度值。

此处的温度值是绝对温度值，以K(开尔文)作单位。

案例：某一客户需要对产品做105℃的高温测试。

据以往的测试经验，此种产品的激活能Ea取0.68最佳。

对产品的使用寿命要求是10年，现可供测试的样品有5个。

若同时对5个样品进行测试，需测试多长时间才能满足客户要求？已知的信息有Tt 、Ea，使用的温度取25℃，则先算出加速因子AF：AF=exp{[0.68/(8.617385×10-5)]·【[1/(273+25)]- [1/(273+105)]】}最终：AF≈271.9518又知其目标使用寿命：L目标=10years=10×365×24h=87600h 故即可算出：L测试= L目标/AF=87600/271.9518h=322.1159h≈323h现在5个样品同时进行测试，则测试时长为：L最终=323/5h=65h这即是说明，若客户用5个产品同时在105℃高温下测试65h后产品未发生故障，则说明产品的使用寿命已达到要求。