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苹果测试屏幕触摸方法
苹果进行屏幕触摸的方法包括以下几种：
1. 单点触摸：用户通过手指在屏幕上单点触摸来进行操作，比如点击、滑动等。
2. 多点触摸：用户可以使用多个手指在屏幕上同时进行触摸操作，比如缩放、旋转等。
3. 手势识别：苹果设备可以通过识别用户的手势来进行相应的操作，比如双击、拖动、长按等。
4. 3D Touch：苹果设备支持3D Touch技术，通过对屏幕施加不同程度的压力来触发不同的操作。
5. Apple Pencil：苹果的一些设备支持使用Apple Pencil进行触摸操作，可以模拟真实笔触，提供更精细的触摸体验。
以上是苹果进行屏幕触摸的一些常见方法，不同设备和操作系统版本可能会有所差异。
![触摸按键的测试系统及其方法[发明专利]](https://img.taocdn.com/s1/m/02732cedcc17552706220871.png)
专利名称：触摸按键的测试系统及其方法专利类型：发明专利
发明人：高俊娟,杨小伟,王阳,陈俊卿
申请号：CN201310261681.2
申请日：20130627
公开号：CN104251949A
公开日：
20141231
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明提供了一种触摸按键的测试系统，该测试系统与一电子装置连接，该电子装置具有多个触摸按键，所述测试系统包括：一测试治具、一测试装置以及一组装治具。
该测试装置用于测试所述多个触摸按键的短路情况，包括：一侦测模块、一第一判断模块、一计数模块以及一第二判断模块。
该测试系统使用测试治具触摸所述电子装置的多个触摸按键，通过测试装置测试每个触摸按键被触摸后响应的触摸按键数量判断被触摸的触摸按键是否存在短路情况，精确的测试出了每个存在短路的触摸按键。
本发明还提供了一种触摸按键的测试方法。
申请人：鸿富锦精密工业(深圳)有限公司,鸿海精密工业股份有限公司
地址：518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号
国籍：CN
更多信息请下载全文后查看。
本技术公开了一种触摸按键的检测方法及其终端设备，用于解决现有技术中终端设备的侧边需要额外设置电容传感器才能检测到侧压力按键是否被触摸的问题。
所述终端设备包括侧压力按键、绝缘断点、电容处理模块和压力检测模块，其中：所述侧压力按键设置在所述终端设备的边框的内侧；所述绝缘断点在所述边框上截取的金属边框用于检测所述侧压力按键被触摸时产生的电容变化值；所述金属边框与所述电容处理模块连接，所述电容处理模块与所述压力检测模块连接，所述电容处理模块用于在所述金属边框检测到的电容变化值大于或等于预设的触发阈值时，触发所述压力检测模块检测所述侧压力按键被触摸时产生的压力值。
技术要求1.一种终端设备，其特征在于，包括侧压力按键、绝缘断点、电容处理模块和压力检测模块，其中：所述侧压力按键设置在所述终端设备的边框的内侧；所述绝缘断点设置在所述侧压力按键在所述边框上的投影区域的两端，所述绝缘断点在所述边框上截取的金属边框用于检测所述侧压力按键被触摸时产生的电容变化值；所述金属边框与所述电容处理模块连接，所述电容处理模块与所述压力检测模块连接，所述电容处理模块用于在所述金属边框检测到的电容变化值大于或等于预设的触发阈值时，触发所述压力检测模块检测所述侧压力按键被触摸时产生的压力值。
2.如权利要求1所述的终端设备，其特征在于，所述终端设备还包括中央处理器，所述压力检测模块与所述中央处理器连接；所述压力检测模块在检测到所述侧压力按键被触摸时产生的压力值大于或等于预设的压力阈值时，将所述侧压力按键被触摸的信号发送给所述中央处理器；所述中央处理器用于基于所述侧压力按键被触摸的信号确定并处理对应的按键事件。
3.如权利要求1所述的终端设备，其特征在于，所述电容处理模块通过通用输入输出GPIO 线路与所述压力检测模块连接；所述电容处理模块在所述金属边框检测到的电容变化值大于或等于所述预设的触发阈值时，将所述侧压力按键被触摸的信号通过所述GPIO线路发送给所述压力检测模块，以触发所述压力检测模块检测所述侧压力按键被触摸时产生的压力值。
开关按键寿命测试标准
一、目的
本标准规定了按键寿命测试的测试方法、测试步骤和判定准则，以确保产品的按键具有足够的耐用性和可靠性。
二、测试方法
1. 按键按压测试：模拟用户正常操作，对按键进行按压测试，以评估其承受压力的能力。
2. 耐磨损测试：通过模拟长时间使用过程中的磨损情况，对按键进行磨损测试，以评估其耐磨性。
3. 耐腐蚀测试：模拟恶劣环境条件下的使用情况，对按键进行耐腐蚀测试，以评估其抗腐蚀能力。
三、测试步骤
1. 准备工作：准备测试所需的设备、工具和样品。
2. 按键按压测试：按照规定的操作步骤，对按键进行按压测试，记录每次按压的力度和次数。
3. 耐磨损测试：在规定的时间内，对按键进行重复按压和摩擦测试，观察其表面磨损情况。
4. 耐腐蚀测试：将按键放置在规定的腐蚀环境中，观察其表面腐蚀情况，记录腐蚀时间和程度。
四、判定准则
1. 按键按压测试：要求按键在规定次数内无损坏、无变形、无
松动等现象。
2. 耐磨损测试：要求按键表面无明显磨损，不影响正常使用。
3. 耐腐蚀测试：要求按键表面无明显腐蚀，不影响正常使用。
五、注意事项
1. 在进行按键寿命测试时，应确保测试环境和设备的清洁度，避免灰尘、杂质等对测试结果的影响。
2. 在进行耐磨损测试时，应注意保持合适的摩擦力，避免过度磨损导致损坏。
3. 在进行耐腐蚀测试时，应注意控制腐蚀环境的湿度、温度等参数，确保测试结果的准确性。
轻触开关接触电阻测试方法：
轻触开关接触电阻的测试方法主要包括以下步骤：
1.准备工具和材料：轻触开关、万用表、探头、导线等。
2.将轻触开关的两个引脚与万用表的两个探头连接。
在这个过程中，需要注意将万用
表调整到电阻测量模式，并选择合适的量程。
3.按下轻触开关，观察万用表上的电阻数值。
如果电阻数值为零或非常接近零，说明
轻触开关正常工作。
如果电阻数值非常大或无穷大，说明轻触开关存在故障。
4.如果需要进一步测试轻触开关的接触电阻，可以多次按下轻触开关，观察每次测量
的电阻数值是否一致，如果一致则说明轻触开关的接触电阻正常。
触摸按键测试方案(总3页)--本页仅作为文档封面，使用时请直接删除即可----内页可以根据需求调整合适字体及大小--触摸按键测试方案一、防水性能测试测试目的：测试触摸感应面板在溅水或水淹条件下，触摸按键仍可正常操作并且没有误动作和反应迟钝无法操作的现象。
测试方法：在待测触摸感应面板对应的弹簧按键上洒上水珠，在水珠滴落到按键时的那一刻观察按键是否动作，按键没有动作则防水性能测试为合格。
将其它的按键也洒上水滴，将水滴练成片，直到面板上形成一个“水洼”。
将相邻的几个感应按键淹没到一个“水洼”里，触摸其中的任意一个按键，观察该按键是否动作且灵敏度有无影响，并观察触摸该按键是否会导致其它的按键误触发。
若触摸该按键能正常响应，不会出现灵敏度下降导致该按键反应迟钝无法操作，且触摸该按键不会误触发其它按键。
则防水性能测试合格。
二、静电放电测试测试目的：模拟人体接触感应面板时人体静电对触摸按键的影响。
测试方法：采用接触放电，对每个触摸弹簧按键正上方的感应面板处施加±6KV的静电电压，每次一秒，各测试10次。
在打静电的过程中，所有按键不能出现误触发现象。
打完静电后，该按键还能正常工作。
三、电快速瞬变脉冲群测试测试目的：测试触摸按键在受到重复性电快速瞬变脉冲群干扰时的抗扰能力。
测试方法：输入频率为5kHz、15ms的正、负极性脉冲串，脉冲串间隔时间是300ms，每次持续2min。
触摸按键在最低4kV的脉冲群干扰下，能够正常操作按键,不会出现按键按下无效或按键误触发现象（误触发即没有按下该按键，该按键触发或按下该按键其它按键触发）。
四、辐射抗干扰能力测试测试目的：模拟触摸按键在平时使用过程中射频信号对按键的干扰。
测试方法：手机是日常生活中最常见的射频干扰源，因此，可以将一手机放在触摸按键感应面板上，然后用另一手机不停的拨打该手机号码，观察触摸按键的反应，不能出现任何问题如按键失效或误触发。
五、低温测试测试目的：模拟整机在低温工况下，触摸按键的工作情况。
触摸按键测试工具Demo Board 介绍
文件编码文件编码：：HA0HA0145145145s s
简介
在使用HOLTEK 触控按键系列IC （如HT45R34、HT45R36、HT45R38等）时，经常需要知道触摸按键感应量的变化值，以便调整按键的灵敏度，为了方便用户将触控程序烧入IC 之后，观察触摸按键感应量的变化值，我们特设计此DEMO BOARD 供用户使用。
此DEMO BOARD 主要功能是将用户发送的数据显示出来，为了方便用户进行通讯，我们也给出了与DEMO BOARD 相对应的发送程序。
此DEMO BOARD 用HT48R10A-1 MCU 来设计。
HT48R10A-1是HOLTEK 公司开发的8-BIT MCU ，ROM 为1K 、RAM 为64Byte 、21个I/O PORT 。
Demo Board 硬件方块图硬件方块图
方块图
硬件方块功能说明
主控芯片为HT48R10A-1
主控芯片作为SLAVE端，通过串行通讯从MASTER端获取显示数据
三个按键，用于设置工作模式以及显示值的切换
Display分为两部分。
一部分由四位数码管组成，用于显示通过串行通讯所获取的数据。
另一部分由四个LED组成，用于指示数码管当前显示的值的序号
电路说明
电路说明
电路图
电路设计说明
P1输入为DC 9V，经C6和C2滤波后送入7805的1脚，7805的3脚的输出为DC 5V给MCU供电；也可以通过V1和V2直接给MCU供电；还可以通过接口H2的PIN1和PIN5给MCU供电。
三种供电方法任选一种即可。
C1、C3、C4、R1和R2组成MCU的RESET电路。
D1为四位数码管，用于显示通过串行通讯接收到的数据。
DS0~DS3为LED，他们通过十六进制的格式来显示当前D1显示的值所对应的RC通道。
S1、S2、S3分别ADD键、DEC键、MODE键，用于设置显示的通道以及工作模式。
H2为串行通讯的接口，本项目的通讯采用CS、CLK、DATA三线通讯的方式，其中PC0对应CS、PC1对应CLK、PC2对应DATA，数据在CLK的下降沿被读取。
注意：当MCU的供电方式选择为P1输入DC9V供电或通过V1和V2直接给MCU供电时，H2的PIN1可不与被测版连接
通讯协议说明
串行通讯协议说明
本项目所采用的通讯协议为三线通讯协议，HT48R10A-1作为SLAVE端使用，其通讯格式如下： 数据总长度为24-bit，其中显示数据16-bit，显示通道8-bit。
数据传输为先传送16位需要显示的数据，再传送8位显示通道，传输方式均为低位在前（LSB）。
在8位的显示通道中，只有低四位有效，高四位要求与低四位保持一致，用于校验显示通道数据是否接收正确。
数据必须在下降沿准备好，即CLK下降沿数据有效。
通讯时序图
上图中，A 和B 之间的时间必须不小于25us ，通讯速度需低于100KHz 。
通讯中Master 发送程序用法说明
我们所设计的Demo Board 主要功能是将用户所传送的数据显示出来，为了方便用户传送数据，我们同样给出Master 部分发送程序，现将Master 部分发送程序说明如下：
通讯口定义
在使用以下Master 传送程序时，需要用到三个I/O 口，即P_CS （片选信号）、P_CLK （时钟）、P_DATA （数据），此三个口可以定义为任意I/0口。
数据入口
在调用Master 部分发送程序时，需将传送的数据放入三个RAM 中，此三个RAM 的含义说明如下：
M_DEBUG_DATAL ：串行通讯中，需要传送的16位显示数据中的低8位，在调用该函数前需要先设置好数值。
M_DEBUG_DATAH ：串行通讯中，需要传送的16位显示数据中的高8位，在调用该函数前需要先设置好数值。
M_DEBUG_ADDR ：串行通讯中，本次通讯数据所对应的地址，只有低四位有效，高四位要求与低四位保持一致，用于校验显示通道数据是否接收正确。
例如：要发送第1通道数据，那么应将11H 放入M_DEBUG_ADDR 中。
发送第5通道数据，那么应将55H 放入M_DEBUG_ADDR 中
调用调用方法方法
应用时，只需将子程序SBR_DEBUG 插入主程序中即可使用。
注意在调用前设置好M_DEBUG_DATAL，M_DEBUG_DATAH 和M_DEBUG_ADDR 的值。
发送程序如下：
;;-----------------------------------------------
;; Function : SBR_DEBUG
;; In : M_DEBUG_DATAL,M_DEBUG_DATAH,M_DEBUG_ADDR
;; Out : NULL
;; Description: Send M_DEBUG_DATAL & M_DEBUG_DATAL & ASCR to Slave by SPI ;; Format : LSB bit0~bit15 bit16~bit23
;; Data must ready before falling
;;-----------------------------------------------
SBR_DEBUG:
CLR P_CS ;;CS = 0
MOV A,20
SDZ ACC
JMP $-1 ;;Wait
MOV A,8 ;;Load length
L_DEBUG_LP1:
RRC M_DEBUG_DATAL ;;Send M_DEBUG_DATAL
CLR P_DATA
SZ C
SET P_DATA
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
CLR P_CLK ;;CLK = 0,Slave will read data
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
SET P_CLK
SDZ ACC
JMP L_DEBUG_LP1
MOV A,8
L_DEBUG_LP2:
RRC M_DEBUG_DATAH ;;Send M_DEBUG_DATAH
CLR P_DATA
SZ C
SET P_DATA
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
CLR P_CLK ;;CLK = 0,Slave will read data
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
SET P_CLK
SDZ ACC
JMP L_DEBUG_LP2
MOV A,8
L_DEBUG_LP3:
RRC M_DEBUG_ADDR ;;Send ASCR
CLR P_DATA
SZ C
SET P_DATA
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
CLR P_CLK ;;CLK = 0,Slave will read data JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
SET P_CLK
SDZ ACC
JMP L_DEBUG_LP3
SET P_CS
RET
Demo Board操作说明
电源连接方法
给此Demo Board供电有两种方法。
用DC9V供电时，会经7805降压到5V。
也可将5V电源直接接到VCC和GND接口。
显示说明
如上图所示，数码管是用来显示数据，LED灯是用来指示数据对应的通道号。
按键功能说明
MODE键：自动模式和手动模式选择。
自动模式下每隔五秒自动切换一次显示通道。
手动模式下通过ADD键和DEC键切换显示通道。
ADD键/DEC键：在手动模式下进行显示通道的切换。
