三极管来料抽样检验规范

半导体二极管三极管来料检验规程

集团标准化工作小组 [Q8QX9QT-X8QQB8Q8-NQ8QJ8-M8QMN]

电子元器件来料检验规程（一）

半导体晶体管部分

1 内容

本规程规定了本公司常用半导体二极管、三极管、达林顿晶体管、绝缘栅双极晶体管

（IGBT）来料检验的抽样方式、接收标准、检验测试方法和所用测试仪器等具体要求。

2 范围

本规程适用于本公司常用半导体二极管、三极管、达林顿晶体管、绝缘栅双极晶体管

（IGBT）来料检验和验收。

3 引用标准

计数抽样检验程序 第一部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划

GB2421 电工电子产品基本环境试验规程 总则

电工电子产品基本环境试验规程 试验Cb：恒定湿热试验方法

GB2421 电工电子产品基本环境试验规程 试验N：温度变化试验方法

电工电子产品应用环境条件 贮存

4 检验测试设备和测试方法

测试设备：DW4824型晶体管特性图示仪（或QT2型晶体管特性图示仪等）

测试大功率晶体管专用转接夹具、插座或装置

数字万用表、不锈钢镊子等应手工具

晶体管特性图示仪、数字万用必须经检定合格并且在计量检定的有效期内。

人员素质：能熟练操作使用晶体管特性图示仪进行各种半导体器件参数测试，工作态度严谨、细心，持有检验测试操作合格证或许可证。

测试准备：

晶体管特性图示仪每次开启，必须预热五分钟。检查确认图示仪的技术状态完好方能进行测试。

每种器件在测试前都要做外观检查：管脚应光洁、明亮，管身标志清晰、无划痕，封装尺寸应符合订货要求。

绝缘栅N沟道双极晶体管IGBT

主要测试参数：

IGBT的特性曲线

IGBT的饱和压降VCES

IGBT的栅极阈值电压VGE（th）

IGBT的击穿电压VCER

测试方法：

IATF16949/ISO14001/ISO45001/SA8000文件范例

文件名称： 三极管物料检验标准 生效日期： 2021-07-01

文件编号： 页数 1/3 生效版本： A0

文件制修订记录

NO 制/修订日期 修订编号 制/修订内容 版本 页次

1 2021-07-01 - 新制订 A0

核准 审核 制订

IATF16949/ISO14001/ISO45001/SA8000文件范例

文件名称： 三极管物料检验标准 生效日期： 2021-07-01

文件编号： 页数 2/3 生效版本： A0

三极管物料检验标准

1.目的 作为IQC人员检验三极管类物料之依据。

2.适用范围 适用于本公司所有三极管之检验。

3.抽样计划 依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。

4.允收水准（AQL） 严重缺点(CR): 0;

主要缺点(MA): 0.4;

次要缺点(MI): 1.5.

5.参考文件 无

检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注

包装检验 MA 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。

包装必须采用防静电包装，否则不可接受。 目检

数量检验 MA 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；

实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接 受。 目检

点数

外观检验 MA Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；

来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；

本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；

元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过0.5mm2,且未露出基质, 可接受；否则不可接受；

Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受。 目检

10倍以上的放大镜 检验时，必须佩带静电带。 IATF16949/ISO14001/ISO45001/SA8000文件范例

惠州市金迪塑胶五金制品有限公司

Huizhou Kingtech Plastic and Metal Products Company Ltd.

文件编号 KT-3-224 文件名称 三极管来料检验标准

制定部门 品管部 制定日期 2013-11-24 页次 1 / 1 版次 A / 0

1.范围：

此程序适合IQC对三极管来料检查。

2.目的：

保証三极管来料质量。

3.参考文件：

3.1来料送检通知单 GOOD RECEIVING NOTE (GRN)；

3.2样品承认书 SAMPLE EVALUATION REPORT (SER)；

3.3规格书 COMPONENT SPECIFICATION (CS)；

3.4物料材质报告 INCOMING MATERIAL LOG SHEET ；

3.5电子物料不良品分类及判定标准。

4.使用工具：

4.1卡尺/千分尺；

4.2锡炉/电铬铁。

5.抽样：

按ANSI/ASQZI.4-2003（Ⅱ）.AQL：CRI＝0 MAJ＝0.65 MJN＝1.0抽样，特性（电气性能）以1.0抽样标准进行检查，试装，尺寸项按每批次抽5PCS样品检验。.

6.检查程序：

6.1文件检查：

6.1.1根据GRN内的资料,抽取有关的SER、C.S、INCOMING MATERIAL LOG SHEET,是否有足够的资料用作检查来料的依据；

6.1.2如发觉资料不足,应向组长或部门主管反映；

6.2 外观检查：

6.2.1来料包装箱及包装是否良好；

6.2.2来料是否有损烂气孔, 元件是否有折断；

6.2.3来料标记是否与样板一致,标记是否清楚；

6.2.4来料元件脚是否有氧化、污渍。

6.3 性能检查：

6.3.1导电性检测：将万用表置于 导通档，两 红黑表笔 分别接按三极管的对应引脚。应得一个几百欧的阻值，则判定为正确。

三极管来料检验指导书—范文

1、 目的：确保来料正确及符合规定的要求。

2、 范围：仅适用于三极管的来料检查。

3、 文件：根据相应的三极管，寻找相应的样本评估报告书、样本，供检查来料单上之

物料，若找不到其中一样，向组长直至主管报告。

4、 仪器及工具：晶体管特性图示仪、万用表、信号发生器、直流电源、静电手挽。

5、 检查标准：抽样方法：采用AQL标准，检查水准IL=II，批中缺陷坏品数超过标准

要求判整批不合格。缺陷分为如下三大类，QL直分别为：

Critical 严重）：AQL=O, Major （主要）：AQL=0.25 Min or （次要）：AQL=0.65

6、 包装检查：检查包装是否合样本评估报告书要求要分清散装料、带装料或片装料。

若包装料不符合要求或包装方式不足以保证来料品质，判主要缺陷。

7、 外观检查：形状、颜色、标示（若有）是否与样/ 样本本评估报告书之要求相同，是 否有缺脚、断脚等不良，否则判主要缺陷。来料脚位氧化视轻重程度依次判次要、 主要缺陷。

8、 尺寸：据样本评估报告书上图纸有荧光笔标示的尺寸，用卡尺量度。若样本评估报

告书上未给出相关尺寸，对照样本，用卡尺量度。详见附表一，并将量度的尺寸填

入三极管参数测试表。若尺寸不对，视轻重程度判次要或主要缺陷。

9、 功能：功能缺陷判主要缺陷，据样本评估报告书要求，对其进行功能测试，如用晶

体管特性图示仪测量三极管特性曲线，用数字万用表、信号发生器、直流电源等仪

器，按下表所列参数进行相应的测试。

中小功率三极管： 集电极-发射极耐电压：Bvceo

集电极-发射极间电压：VCE —

放大倍数：HFE

大功率三极管： 集电极-发射极耐电压：Bvceo

发射极-基极反向饱和电流：Icbo

集电极-发射极间电压：VCE 1

放大倍数：HFE

或将该检测料装于对应机种上，检查该机种是否功能正常

10 上锡检查：取样数N=5根据要求进行上锡检查，观察是否上锡困难，否则视轻重 程度判次要，主要缺陷。小锡炉温度250±10C，焊接时间：3-5秒，再做功能测 试，应能满足条目9。