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卡尺内校作业指导书

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文件名稱:卡尺內校操作指導書 文件編號: 制訂部門: 品保部 制訂日期:2021/5/20 版本:C 頁次:1/3

1 校正範圍:本公司所用來測量產品的通用卡尺. 2 校正環境:溫度22度(+/-2),濕度50%(+/-10%). 3 校正時機:依校驗計劃或校驗周期. 4 校正引用參考文件: 以下某些條文來自于外來文件JJG30-2002(國家通用卡尺檢定規程),本標準的引用不會因其變更而修定,這里是做為使用本標準的各方面的探討而使用以下標準. 5 校正項目: 序號 校正項目 主要校正方式/設備 1 外觀 目視 2 各部分相互作用 目視 3 示值變動性 目視 4 數字顯示器的示值穩定性 目視 5 示值誤差 量塊 6 校正步驟: 6.1 校正前: 6.1.1 用防銹油除去卡尺上的銹並清潔油污及灰層. 6.1.2 將被檢卡尺及量塊等檢定用設備同時置於平板或木桌上,其平衡溫度時間見下表的規定: 測量範圍/mm 平衡溫度時間/h 置於平板上 置於木桌上 ≦300 1 2 ＞300~500 1.5 3 ＞500~2000 2 4 6.2 校正中: 6.2.1 標準件校驗法. 6.2.1.1 校驗標准工具:經國家級或國家認可的實驗室校驗合格的標准件卡尺專用量塊. 6.2.1.2 校正項目步驟: 6.2.1.2.1外觀: 1)仔細觀察卡尺,卡尺表面應鍍層均勻,標尺標記應清晰,表蒙透明清潔.不應有銹蝕,碰傷,毛刺,鍍層脫落及明顯劃痕,有無目力可見的斷線或粗細不勻等以及影響外觀質量的其他缺陷. 2)使用中和修理後的卡尺,允許有不影響使用準確度的外觀缺陷. 3)檢定結果以合格與不合格記錄於量規儀器校驗報告上. 6.2.1.2.2各部位相互配合: 1)尺框沿尺身移動應手感平穩,不應有阻滯或鬆動現象.數字顯示應清晰,完整,無黑斑和閃跳現象.各按鈕功能穩定,工作可靠. 2)緊固螺釘的作用應可靠.微動裝置的空程應不超過1/2轉. 3)檢定結果以合格與不合格記錄於量規儀器校驗報告上. 6.2.1.2.3示值變動性: 1)移動尺框,使游標卡尺或帶表卡尺或電子數顯卡尺量爪兩外測量而接觸. 2)重復測量10次並讀數. 文件名稱:卡尺內校操作指導書 文件編號: 制訂部門: 品保部 制訂日期:2021/5/20 版本:C 頁次:2/3

3)示值變動性以最大與最小讀數的差值確定. 4)帶表卡尺和游標卡尺不超過分辨率的1/2.電子數顯卡尺不超過0.01mm. 5)檢定結果以合格與不合格記錄於量規儀器校驗報告上. 6.2.1.2.4數字顯示器的示值穩定性: 1) 在測量範圍內的任意位置緊固尺框,觀察1h內顯示值的變化不超過0.01mm. 2) 檢定結果以合格與不合格記錄於量規儀器校驗報告上. 6.2.1.2.5被檢驗儀器的示值誤差校驗: 1) 受檢點的分布:對於測量範圍在300mm內的卡尺,不少於均勻分布3點,對於測量範圍大於500mm的卡尺,不少於均勻分布6點. 2) 檢定時每一受檢點應在量爪的里端和外端兩位置檢定,量塊工作面的長邊和卡尺測量面長邊垂直. 3) 每一受檢點值用卡尺重復測量3-5次,並記錄測量數據於量規儀器校驗報告上. 4) 測量時應在螺釘緊固和松幵兩種狀態下進行.無論尺框緊固與否,卡尺的測量面和基準面與量塊表面接觸應能正常滑動. 5) 計算每一規格重復測量的平均值. 6) 在對量塊取用時須帶上手套,且輕拿輕放. 7) 對量塊規格值與測得的平均值進行比較并依判定標准進行判定. 6.2.1.2.6刀口外量爪的示值誤的檢定同6.2.1.2.5檢定時,量塊處於刀口外量爪的中間位置. 6.2.2比較校正法:無. 6.3 校正後: 6.3.1 給被校正卡尺進行防銹保養,並放於盒內. 6.3.2 給量塊進行防銹保養,並整齊放於盒內. 6.3.3 在相應儀器校驗履歷表上做好記錄. 6.3.4 把校正合格的發給使用者或保管者. 6.4 判定標准. 6.4.1 在保証量測准確度的情況下,可依此判定該量規儀器的示值誤差是否可以達到允收標准,即可以追溯到國家標准: 測量範圍(mm) 分辯率(mm) 0.01,0.02 005 0.10 允許誤差 0~150 ±0.02 ±0.05 ±0.10 ＞150~200 ±0.03 ＞200~300 ±0.04 ±0.08 ＞300~500 ±0.05 6.4.2 如客戶有特別要求的或在結合本公司產品的准確度和精確度的情況下,可另行制定偏差即允差標准. 7校驗結果處理: 7.1對所有項目的都在要求範圍內的,在卡尺適當位置貼上儀器校驗標簽. 7.2對同一卡尺中有部分項目的不在要求範圍內的,能進行維修的可適當維修,維 文件名稱:卡尺內校操作指導書 文件編號: 制訂部門: 品保部 制訂日期:2021/5/20 版本:C 頁次:3/3

修後的儀器需重新進行校驗.不能維修的可進行降級使用或部分使用,並在校驗報告上注明及知會使用者或保管者. 7.3對同一卡尺中所有項目都不在要求範圍內的,且不能內修的先貼上暫停使用標簽,再報上級進行外修或報廢處理. 8其它: 在校驗中在確保量測准確度情況下,由校驗員自行根據以上校驗方法來決定校驗的方式.

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数显卡尺校正作业指导书

数显卡尺校正作业指导书

数显卡尺校正作业指导书

一、背景介绍

数显卡尺是一种用于测量物体尺寸的精密测量工具，广泛应用于机械制造、精密加工等领域。为确保数显卡尺的测量准确性，需要进行定期的校正作业。本文将详细介绍数显卡尺校正的步骤和注意事项。

二、校正步骤

1. 准备工作

a. 确保数显卡尺处于关闭状态，并且电池电量充足。

b. 准备校准块，校准块的尺寸应与数显卡尺的量程相匹配。

2. 校正零点

a. 将数显卡尺平放在水平的工作台上。

b. 按下数显卡尺上的“ON/OFF”按钮，打开数显卡尺。

c. 将校准块放置在数显卡尺的测量范围内，确保校准块与数显卡尺接触良好。

d. 按下数显卡尺上的“ZERO”按钮，将当前位置设置为零点。

3. 校正绝对值

a. 将校准块放置在数显卡尺的测量范围内，确保校准块与数显卡尺接触良好。

b. 记录校准块的实际尺寸。

c. 按下数显卡尺上的“ABS/INC”按钮，切换至绝对值模式。

d. 按下数显卡尺上的“ABS”按钮，将当前位置设置为校准块的实际尺寸。 4. 校正增量值

a. 将校准块放置在数显卡尺的测量范围内，确保校准块与数显卡尺接触良好。

b. 记录校准块的实际尺寸。

c. 按下数显卡尺上的“ABS/INC”按钮，切换至增量值模式。

d. 按下数显卡尺上的“INC”按钮，将当前位置设置为校准块的实际尺寸。

5. 校正结束

a. 按下数显卡尺上的“ON/OFF”按钮，关闭数显卡尺。

b. 将校准块取出，清理数显卡尺表面的灰尘和污垢。

c. 将数显卡尺放置在干燥、清洁的地方，妥善保管。

三、注意事项

1. 校准块的选择应与数显卡尺的量程相匹配，以确保校准的准确性。

2. 在校准过程中，应保持数显卡尺和校准块的接触良好，避免产生误差。

3. 校准过程中，应注意避免外界的干扰，如振动、温度变化等。

数显卡尺校正作业指导书 2

数显卡尺校正作业指导书 2

数显卡尺校正作业指导书

引言概述：

数显卡尺是一种常用的测量工具，用于测量物体的尺寸。然而，由于长期使用和环境因素的影响，数显卡尺的测量结果可能存在一定的误差。为了保证测量的准确性，进行定期的校正是必要的。本文将详细介绍数显卡尺校正的步骤和注意事项。

一、校正前的准备工作：

1.1 清洁数显卡尺表面：使用干净的软布或棉纱蘸取少量酒精，轻轻擦拭数显

卡尺表面，确保表面干净无尘。

1.2 检查数显卡尺电池：确保数显卡尺电池电量充足，若电量不足应及时更换

新电池。

1.3 确认校正参考物：准备一根已知尺寸的标准物体，如标准尺或标准块，作

为校正的参考。

二、校正步骤：

2.1 零位校正：将数显卡尺置于平整的工作台上，按下“ON/OFF”按钮开启数显

卡尺，然后按下“ZERO”按钮，确保显示屏上的数值归零。

2.2 检查刀片和测量夹具：确保刀片和测量夹具的清洁度和完好性，如有损坏

或污垢应及时更换或清洁。

2.3 进行校正测量：将标准物体放置在数显卡尺的测量夹具之间，确保夹具与

标准物体紧密贴合。读取数显卡尺上显示的数值，并与标准物体的实际尺寸进行比较，记录下测量结果。

三、校正结果的判断：3.1 判断是否需要校正：将校正结果与数显卡尺的规格要求进行比较，如果校

正结果在规格要求范围内，则数显卡尺无需校正；如果校正结果超出规格要求范围，则需要进行校正。

3.2 判断校正方向：根据校正结果的偏差确定校正方向，即增加或减小数显卡

尺的读数。

3.3 判断校正量：根据校正方向和校正结果的偏差确定校正量，按照规定的步

骤进行数显卡尺的校正调整。

四、校正后的验证：

4.1 重新校正：在校正后，再次进行校正测量，确保校正结果符合规格要求。

4.2 记录校正信息：将校正结果和校正日期记录在校正记录表中，以备日后参

考。

4.3 定期校正：根据数显卡尺的使用频率和环境条件，制定定期校正计划，保

证数显卡尺的准确性和稳定性。

五、校正注意事项：

5.1 避免碰撞：在使用和存放数显卡尺时，要避免碰撞和摔落，以免影响其测

通用卡尺校准作业指导书

通用卡尺校准作业指导书

通用卡尺校准作业指导书

1. 背景介绍

通用卡尺是一种常用的测量工具，用于测量物体的长度、宽度和深度。为了确保测量结果的准确性，定期对通用卡尺进行校准是非常重要的。本作业指导书旨在提供详细的步骤和要求，以确保通用卡尺的准确性和可靠性。

2. 校准设备和材料

为了进行通用卡尺的校准，需要以下设备和材料：

- 校准块：具有已知尺寸和精确度的金属块。

- 清洁布：用于清洁卡尺表面和校准块。

- 记录表格：用于记录校准结果和日期。

3. 校准步骤

以下是通用卡尺校准的详细步骤：

步骤1：准备工作

- 确保工作区域清洁，避免灰尘和杂物对校准的干扰。

- 检查通用卡尺的表面是否干净，并使用清洁布擦拭干净。

步骤2：校准块选择

- 根据通用卡尺的测量范围选择合适的校准块。

- 校准块的尺寸应该比通用卡尺的测量范围略大。

步骤3：校准块准备 - 使用清洁布将校准块擦拭干净，确保表面干净无尘。

- 检查校准块的尺寸和精确度，确保其符合要求。

步骤4：校准操作

- 将校准块放置在平整的工作台上。

- 轻轻将通用卡尺的测量刀片与校准块的表面接触，并确保刀片与校准块的表面完全接触。

- 通过调整卡尺的调节螺丝，使刀片与校准块的表面紧密接触，但不要过紧。

步骤5：校准结果记录

- 使用记录表格记录校准的日期和结果。

- 记录通用卡尺的测量范围和校准块的尺寸。

- 如果通用卡尺的测量结果与校准块的尺寸相符，则校准结果为合格。如果不符，请进行调整或修理。

步骤6：校准频率

- 根据通用卡尺的使用频率和环境条件，制定校准频率。

- 一般建议每隔3个月进行一次校准，以确保测量结果的准确性和可靠性。

4. 校准记录和报告

- 所有校准结果应记录在记录表格中，并保留在档案中。

- 如果通用卡尺的校准结果不合格，应及时进行调整或修理，并记录修复的日期和结果。

- 定期生成校准报告，包括校准日期、校准结果和修复记录。 5. 校准质量控制

卡尺校准作业指导书

卡尺校准作业指导书

卡尺校准作业指导书

引言概述：

卡尺是一种常用的测量工具，用于测量物体的长度、宽度和深度等尺寸。然而，由于长期使用或者不当使用，卡尺的测量精度可能会浮现偏差。为了确保测量结果的准确性，进行卡尺校准是非常重要的。本文将为大家提供一份卡尺校准作业指导书，旨在匡助读者正确进行卡尺校准。

一、校准前的准备

1.1 清洁卡尺：在进行校准之前，首先应确保卡尺的表面干净无尘。使用柔软的布或者刷子轻轻擦拭卡尺的刻度线和刻度槽，以保证测量时不会浮现误差。

1.2 检查卡尺的完整性：子细检查卡尺的刻度线是否清晰可见，刻度槽是否平整无损。如发现刻度线含糊或者刻度槽有损坏，应及时更换或者修理卡尺，以确保校准的准确性。

1.3 准备校准工具：除了卡尺本身，还需要准备一把精确度更高的参考卡尺或者长度标准，以用来校准待测卡尺。参考卡尺或者长度标准应具备国家标准或者认可机构认可的准确度。

二、校准方法

2.1 校准环境的选择：卡尺校准应在无风、无震动、温度适宜的环境中进行。避免在有干扰的环境下进行校准，以确保测量结果的准确性。

2.2 校准前的预热：将卡尺和参考卡尺或者长度标准放置在校准环境中，让其达到相同的温度。这是因为温度的变化会导致卡尺的膨胀或者收缩，进而影响测量结果。 2.3 开始校准：将参考卡尺或者长度标准放置在水平平台上，确保其稳定。然后，使用待测卡尺测量参考卡尺或者长度标准的长度。重复测量多次，记录每次的测量结果。

三、校准结果的处理

3.1 计算平均值：将多次测量结果相加，并除以测量次数，得到平均值。这样做可以减小由于操作误差带来的影响，提高测量结果的准确性。

3.2 计算偏差：将待测卡尺的测量结果与参考卡尺或者长度标准的平均值进行比较，计算出每次测量的偏差。偏差可以通过求平均值或者标准差来表示。

3.3 判断校准结果：根据偏差的大小和标准要求，判断卡尺的测量精度是否符合要求。如果偏差超出了规定的范围，需要对卡尺进行调整或者更换。