天线设计入门系列七——天线测量
- 格式:pdf
- 大小:243.38 KB
- 文档页数:4
天线测量-时域应用第一篇:天线测量-时域应用三.天线的增益和方向图测量在天线外场测试中,地面或周围环境的反射要对增益和方向图的测量结果带来或大或小的误差。
1.测量误差分析图3 天线测试示意图如图3,两相距D米,高度为H米的收发天线架设在反射系数为r的地面上。
因天线的方向性,假设发射天线辐射到O点的场强是最大值的倍,接收天线接收到O点反射波场强是其最大值的倍。
接收天线的接收场强由直射波场强E1和反射波场强E2构成。
两波的路程差为:(7)假设直射波的场强E1归一化为1,则(8)合成波的场强E为:(9)A.增益的测试误差分析天线的增益测量一般采用比较法,因为被测天线往往与标准天线的形状不一样,即使这两种天线架设在同一位置,相位中心也不一定重合,假设被测天线比标准天线距发射天线近L米,则两波的路程差变为:(10)合成波的场强为:(11)引起的增益误差为:(12)B.方向图测试误差分析同样的道理,天线在旋转过程中,有时相位中心没在转轴上,假设相位中心距转轴的距离为L,转动的起始角在收发天线的连线上。
则两波的路程差为:(13)合成波的场强为:(14)图4 合成波随天线间距变化关系图5 合成波随被测天线旋转变化关系图4中取k1=0.4 k2=0.5 r=0.9 H=3 f=1GHz;图5中取k1=0.8 k2=0.9 r=0.9 H=3 D=10 L=0.2 f=1GHz。
如果只有直射波,归一化场强为1;可看出反射波带来±0.4倍(±2dB)左右的误差。
误差可以通过减小地面反射系数,增加天线架设高度和提高发射天线的增益来减小,但很多时候不容易做到,最彻底的方法是采用时域技术去掉反射。
2.时域应用方法反射给我们的方向图测试结果造成误差,我们现在用安立公司的矢量网络分析仪MS4623B加时域功能OPTION2把它滤掉,其具体的方法是:A.根据天线的架设情况计算出反射波与直射波的路程差和时延大小。
天线方向性图的测量[权威资料] 天线方向性图的测量对于一面发射天线,如果有另一面性能较好的接收天线相配合,就可以测定发射天线的发射方向图。
对于一面接收天线,如果有一面发射天线相配合,就可以测定接收天线的接收方向图。
只是在测定方向图时,不管被测的是发射天线还是接收天线,都需要有电动伺服系统,能够平稳地、连续地在方位面和俯仰面上进行调整。
用来配合测试的天线可以与被测天线处于同一地球站内,也可以处在地理位置相隔较远的地球站上。
这种测定天线方向性图的方法,称为“辅助地球站测量法”。
要想测定发射天线的方向性图,则与之配合的接收天线就是“辅助地球站”;要想测定接收天线,则与之配合的发射天线就是“辅助地球站”。
这种测量法与其它一些方法相比有以下优点:一是既能测接收方向图,又能测发射方向图;二是测量的角度范围比较大,能够测到远旁瓣;三是测量的结果比较准确,测量精度在可控范围内。
使用这种测量方法,不论是测量发射方向性图还是测量接收方向性图,都必须向卫星发射一个不加调制的单载波,且要求其频率和功率都十分稳定。
上行功率的确定要考虑两个方面的因素,一方面上行功率要足够大,以保证在天线转动到远旁瓣时仍能接收到信号;另一方面,上行功率又不能过大,避免使卫星转发器进入饱和状态,一旦转发器处于饱和状态,会影响方向性图在主瓣附近的细节,还会影响主瓣与旁瓣之间的电平关系。
如图1(a)所示,某天线在测试时因为上行发射功率太大导致转发器饱和,主瓣被压缩,主瓣与旁瓣的电平差不符合指标要求;而在调小发射功率后再测,结果就正常了,见图1(b)。
所以,确定上行功率时需要得到卫星测控站的帮助,只要确认在天线主瓣对准卫星时转发器未饱和即可。
上行功率的确定还要兼顾测试接收机的性能,以保证接收机工作在线性范围内,避免由于接收机的原因导致测量误差。
在测量中还需注意,尽可能不使用LNB(低噪声下变频单元),而应使用LNA(低噪声放大器),且放大器中不可启用AGC(自动电平调整)功能。
天线测量与微波测量实验讲义(试用)实验一、喇叭天线方向图的测量一、 实验目的:1、 了解喇叭天线的方向图特性;2、 掌握天线方向图的测量方法。
二、 实验原理:H 面和E 面方向图的计算公式为E H θ)E 0b[(λR H )/8]1/2{exp[j(π/4)λR Hθ/λ))2][C(u 1)+C(u 2)-jS(u 1)-jS(u 2)]+exp[j(π/4)λR H ((1/a h )-(2sin θ/λ))2][C(u 3)+C(u 4) -jS(u 3)-jS(u 4)]}E E 2]1/2cos θ}{[C(w 1)+C(w 2)]2+[S(w 1)+S(w 2)]2}1/2±j(π/2)t 2]dt=C(x)±jS(x)u1=(1/2)1/2{[a h/(λR H)1/2]+(λR H)1/2[(1/a h)+(2sinθ/λ)]}u2=(1/2)1/2{[a h/(λR H)1/2]-(λR H)1/2[(1/a h)+(2sinθ/λ)]}u3=(1/2)1/2{[a h/(λR H)1/2]+(λR H)1/2[(1/a h)-(2sinθ/λ)]}u4=(1/2)1/2{[a h/(λR H)1/2]-(λR H)1/2[(1/a h)-(2sinθ/λ)]} w1=[b h/(2λg R E)1/2]+{[(2λg R E)1/2/λ]sinθ}w2=[b h/(2λg R E)1/2]-{[(2λg R E)1/2/λ]sinθ}w1=[b h/(2λg R E)1/2]+{[(2λg R E)1/2/λ]sinθ}w1=[b h/(2λg R E)1/2]+{[(2λg R E)1/2/λ]sinθ}w1=[b h/(2λg R E)1/2]+{[(2λg R E)1/2/λ]sinθ}三、实验装置:测量方向图所需的基本设备可分为发射系统和接收系统两大部分。
天线测试方法介绍天线测试方法介绍对天线与某个应用进行匹配需要进行精确的天线测量。
天线工程师需要判断天线将如何工作,以便确定天线是否适合特定的应用。
这意味着要采用天线方向图测量(APM)和硬件环内仿真(HiL)测量技术,在过去5年中,国防部门对这些技术的兴趣已经越来越浓厚。
虽然有许多不同的方法来开展这些测量,但没有一种能适应各种场合的理想方法。
例如,500MHz以下的低频天线通常是使用锥形微波暗室(Anechoic Chamber),这是20世纪60年代就出现的技术。
遗憾的是,大多数现代天线测试工程师不熟悉这种非常经济的技术,也不完全理解该技术的局限性(特别是在高于1GHz的时候)。
因此,他们无法发挥这种技术的最大效用。
随着对频率低至100MHz的天线测量的兴趣与日俱增,天线测试工程师理解各种天线测试方法(如锥形微波暗室)的优势和局限的重要性就愈加突出。
在测试天线时,天线测试工程师通常需测量许多参数,如辐射方向图、增益、阻抗或极化特性。
用于测试天线方向图的技术之一是远场测试,使用这种技术时待测天线(AUT)安装在发射天线的远场范围内。
其它技术包括近场和反射面测试。
选用哪种天线测试场取决于待测的天线。
为更好地理解选择过程,可以考虑这种情况:典型的天线测量系统可以被分成两个独立的部分,即发射站和接收站。
发射站由微波发射源、可选放大器、发射天线和连接接收站的通信链路组成。
接收站由AUT、参考天线、接收机、本振(LO)信号源、射频下变频器、定位器、系统软件和计算机组成。
在传统的远场天线测试场中,发射和接收天线分别位于对方的远场处,两者通常隔得足够远以模拟想要的工作环境。
AUT被距离足够远的源天线所照射,以便在AUT的电气孔径上产生接近平面的波阵面。
远场测量可以在室内或室外测试场进行。
室内测量通常是在微波暗室中进行。
这种暗室有矩形的,也有锥形的,专门设计用来减少来自墙体、地板和天花板的反射(图1)。
在矩形微波暗室中,采用一种墙面吸波材料来减少反射。