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磁场中的磁感应强度计算方法磁感应强度是描述磁场强度的物理量，通过计算磁体产生的磁场对外部磁场的响应来确定。
在本文中，我们将介绍磁感应强度的计算方法及其在实际应用中的重要性。
一、磁感应强度的定义磁感应强度（B）是描述磁场中磁力线分布密度的物理量。
在国际单位制中，磁感应强度的单位是特斯拉(T)。
二、计算磁感应强度的方法计算磁感应强度有多种方法，下面将介绍其中两种常用的方法。
1. 定义法：根据法拉第电磁感应定律，当磁通量变化时，经过一个理想线圈产生的感应电动势与磁通量变化率成正比。
因此，可以通过测量感应电动势和线圈的参数来计算磁感应强度。
具体计算方法如下：首先，将一理想线圈放置在待测磁场中。
然后，改变待测磁场的磁通量，通过测量线圈上产生的感应电动势，可以得到磁通量变化率。
最后，根据法拉第电磁感应定律可以得到磁感应强度的值。
2. 已知电流和磁场关系法：当电流通过一定形状的导线时，会在其周围产生磁场。
根据安培环路定理，可以通过测量电流和导线周围的磁场值来计算磁感应强度。
具体计算方法如下：首先，在待测磁场附近放置一导线，通过该导线传入一定电流。
然后，在离导线一定距离的地方测量磁场强度。
根据安培环路定理，可以得到导线周围磁感应强度与电流之间的关系。
进一步通过改变电流值，可以得到不同电流下的磁感应强度值。
三、磁感应强度的应用磁感应强度的计算在各个领域中都有着重要的应用，下面以磁共振成像（MRI）为例进行介绍。
磁共振成像是一种利用核磁共振原理进行图像重建的医学成像技术。
在MRI设备中，磁感应强度的准确计算对于获得高质量的图像至关重要。
在MRI中，首先通过一强磁场使人体内的氢原子核产生共振。
然后，通过加入一个梯度磁场和射频脉冲来改变磁场的分布。
最后，根据不同位置的共振信号对磁场进行扫描，并计算出对应的磁感应强度值。
通过准确计算磁感应强度，可以得到更精准的MRI图像，提高运用该技术进行疾病诊断的准确性。
结论磁感应强度的计算方法是通过测量感应电动势或者测量电流和磁场值，从而间接计算出磁感应强度的数值。
磁场的计算和测量方法磁场是我们生活中常见的一种物理现象，它可以通过计算和测量来揭示其特性和行为。
在本文中，我们将探讨磁场的计算和测量方法，并深入了解其原理和应用。
一、磁场的计算方法磁场的计算方法有多种，其中最常见的是通过安培定律和比奥-萨伐尔定律来计算。
安培定律表明，磁场的大小与电流强度成正比，与距离成反比。
因此，我们可以通过测量电流和距离来计算磁场的强度。
具体而言，我们可以使用安培表来测量电流，并使用磁感应强度计来测量距离。
然后，根据安培定律的公式B = μ0 * I / (2πr)，其中B表示磁场强度，μ0表示真空中的磁导率，I表示电流强度，r表示距离，我们可以计算出磁场的数值。
此外，还有一种常见的计算方法是通过磁通量和磁场的关系来计算。
磁通量是磁场穿过一个平面的总磁场量，可以通过使用磁感应强度计和测量平面面积来计算。
然后，根据比奥-萨伐尔定律的公式Φ = B * A * cosθ，其中Φ表示磁通量，B表示磁场强度，A表示平面面积，θ表示磁场与平面法线的夹角，我们可以计算出磁场的数值。
二、磁场的测量方法除了计算方法外，我们还可以使用各种仪器和设备来测量磁场。
其中最常见的是磁感应强度计和霍尔效应传感器。
磁感应强度计是一种用于测量磁场强度的仪器，它包含一个磁场感应元件和一个指示器。
当磁感应元件暴露在磁场中时，它会产生一个电压信号，指示器会根据该信号显示磁场的强度。
这种仪器的优点是简单易用，适用于实验室和工业环境中的磁场测量。
另一种常用的磁场测量方法是使用霍尔效应传感器。
霍尔效应是一种基于磁场对电流的影响而产生的电势差现象，可以通过将霍尔效应传感器放置在磁场中来测量磁场的强度。
传感器会产生一个电压信号，该信号与磁场的强度成正比。
这种方法的优点是精确度高，适用于需要高精度测量的应用，如磁共振成像和磁力计。
除了这些仪器和设备，还有其他一些测量方法，如磁力计和磁化强度计。
磁力计是一种用于测量磁场力的仪器，它可以通过测量磁场对物体施加的力来确定磁场的强度。
磁场感应强度计算公式磁场感应强度（MagneticFieldInduction，简称MFI）是物理学家、工程师和科学家所研究的一个重要概念，它是衡量磁场在特定位置上的能量密度和磁密度的指标。
MFI的测量和计算可以帮助现代科技了解和掌握磁场中磁能量的数量及流动方向，并有助于进行磁场强度测量及模拟。
MFI的计算公式如下：MFI =感应强度/磁阻值，其中，磁感应强度是指物体表面上磁场力在两个点之间的平均值，而磁阻值是指在给定表面上被测量的恒定绝缘分布情况下的磁场能量的流动率，即能量的流动。
下面介绍一种磁感应强度的测量方法：用单磁体和形变器来测量。
在这种测量方法中，首先要准备一个单磁体，然后，用这个单磁体与形变器接触，并在形变器上施加压力，以使磁场能量流向磁体，然后，通过检测磁场能量的变化，来估计磁场的强度。
另一种磁感应强度的测量方法是用磁感应仪来测量。
该仪器是根据磁力计技术，可以检测某种特定频率的磁场能量的变化。
通过磁感应仪，可以对磁场的强度进行准确的测量，而不受物体表面形态的影响。
MFI的计算可以帮助科学家们更好地理解磁场的特性，从而帮助他们研制新型磁元件或设计新型磁技术。
例如，由于某些特定的物质或元素会影响磁场的强度从而影响磁元件的性能，若能准确计算出MFI，则可以更准确地判断出该物质对磁元件的影响，从而改进磁元件的性能。
同时，磁感应强度的计算也可用于磁场强度的模拟。
通过精确测量磁场在特定位置的MFI，可以利用计算机模拟磁场的力学行为，从而估算某些磁体在空间中某个特定点上的磁场强度等情况，可以有效地提升磁技术的精度和准确性。
总之，磁感应强度计算公式是一个重要的概念，它可以帮助科学家或研究人员更好地理解磁场的特性，并可用于磁场强度的测量和模拟。
本文简要介绍了这一概念的计算公式，并介绍了两种磁感应强度测量方法，希望本文能为大家对于磁感应强度计算公式的理解提供所需的相关信息。
常见的磁场计算公式是哪些磁场是物质周围产生的一种物理现象，它可以通过一些数学公式来描述和计算。
在物理学中，有一些常见的磁场计算公式，它们可以帮助我们理解和分析磁场的性质。
本文将介绍一些常见的磁场计算公式，并对它们进行简要的解释和应用。
1. 磁场强度的计算公式。
磁场强度是描述磁场强度的物理量，通常用符号H表示。
在真空中，磁场强度与磁感应强度之间的关系可以通过以下公式来描述：H = B/μ。
其中，H表示磁场强度，B表示磁感应强度，μ表示真空中的磁导率。
这个公式告诉我们，磁场强度和磁感应强度成正比，而比例系数是真空中的磁导率。
2. 磁感应强度的计算公式。
磁感应强度是描述磁场强度的物理量，通常用符号B表示。
在磁场中，磁感应强度与磁场强度之间的关系可以通过以下公式来描述：B = μH。
其中，B表示磁感应强度，μ表示磁导率，H表示磁场强度。
这个公式告诉我们，磁感应强度和磁场强度成正比，而比例系数是磁导率。
3. 安培环定理。
安培环定理是描述磁场分布的一个重要定理，它可以通过以下公式来表示：∮B·dl = μ0I。
其中，∮B·dl表示磁感应强度B沿闭合曲线的环流积分，μ0表示真空中的磁导率，I表示通过闭合曲线的电流。
这个公式告诉我们，闭合曲线上的磁感应强度的环流积分等于通过闭合曲线的电流乘以真空中的磁导率。
4. 洛伦兹力的计算公式。
洛伦兹力是描述磁场对电荷的作用力的物理量，它可以通过以下公式来计算：F = qvBsinθ。
其中，F表示洛伦兹力，q表示电荷量，v表示电荷的速度，B表示磁感应强度，θ表示电荷速度与磁感应强度之间的夹角。
这个公式告诉我们，洛伦兹力与电荷量、电荷速度、磁感应强度以及它们之间的夹角都有关。
5. 毕奥-萨伐尔定律。
毕奥-萨伐尔定律是描述磁场对电流产生的力的定律，它可以通过以下公式来表示：F = ILBsinθ。
其中，F表示毕奥-萨伐尔力，I表示电流强度，L表示电流元的长度，B表示磁感应强度，θ表示电流元的方向与磁感应强度之间的夹角。
屏蔽部件的屏蔽效能测试实验指导书一、实验目的理解屏蔽的分类，加强对屏蔽效能概念理解，掌握屏蔽效能测试原理及方法。
二、实验原理屏蔽效能是同一地点无屏蔽存在时的电磁场强度与加屏蔽体后的电磁场强度之比。
（一）屏蔽效能计算方法后前P PSE lg 10=()12SE A A dB =－其中：SE 为屏蔽效能，P 前和A 1为自由空间校准接收功率值，P 后和A 2为屏蔽后接收到的接收功率值。
测量原理图如图1所示。
图1屏蔽效能测试原理图 （二）屏效测试使用天线测试频段 频率范围 标准测试天线 低频段100Hz~30MHz环形天线三、实验仪器1.电磁屏蔽室（含屏效测试窗口）2信号源SP1642B，信号源MG3694A；3.测试天线组：KSTM-1013环形天线，KSTM-2213对称振子天线，KSTH-0508微波喇叭天线（各一对）；4. 安捷伦N9020A微波频谱分析仪；5.测试电缆1#、2#、3#及附件；6.被试屏蔽材料样件。
四、实验内容及步骤实验内容：（一）磁场屏效测试（1）测试频点：250 kHz 、1MHz、30MHz（4）加屏蔽体后的测试。
（二）电场屏效测试（1）测试频点：300MHz、1GHz 。
（3）自由空间测试。
（4）加屏蔽体后的测试。
（三）平面波屏效测试（1）测试频点：4GHz、6GHz 。
（4）加屏蔽体后的测试。
测试具体步骤（以磁场频效测试为例）：1．按原理图连接测试系统，经检查系统连接正常后，将信号发生器的电源插头插入220V电源，按下“电源”开关，将信号源预热30分钟；2．自由空间测试，将信号源输出频率依次调为实验内容中的测试频点，输出功率为+20dBm；在每个频率点下，在频谱仪中读出接收到的相应频率点处的功率电平幅度dBm值记为A1；3．加屏蔽体后的测试，保持信号源输出功率不变，通过频谱仪读出有屏蔽时接收到的相应频率点处的功率电平dBm值记为A2；注：应保证受试屏蔽样件与屏蔽室测试窗口安装法兰的电连续，尤其注意安装螺栓的均匀紧固，减小安装孔缝对测试结果的影响。
一、引言磁场是自然界中普遍存在的物理现象之一，广泛应用于物理学、工程学、地质学、医学等领域。
磁场强度是描述磁场强弱和方向的物理量，对于理解磁场的性质和应用具有重要意义。
本文将介绍磁场强度的概念、计算方法及其应用。
二、磁场强度的概念磁场强度（Magnetic Field Intensity）用符号H表示，单位为安培每米（A/m）。
磁场强度是描述磁场强弱和方向的物理量，其方向与磁感应强度B的方向相同，但大小不同。
磁场强度与磁感应强度之间的关系如下：H = B / μ₀其中，B为磁感应强度，单位为特斯拉（T）；μ₀为真空磁导率，其值为4π×10⁻⁷T·m/A。
三、磁场强度的计算方法1. 磁场强度H的计算公式根据磁场强度与磁感应强度的关系，可以推导出磁场强度H的计算公式。
以下是一些常见的计算公式：（1）均匀磁场中，磁场强度H的计算公式为：H = F / (IL)其中，F为磁场力，单位为牛顿（N）；I为电流，单位为安培（A）；L为导体长度，单位为米（m）。
（2）磁感应强度B已知时，磁场强度H的计算公式为：H = B / μ₀2. 磁场强度H的数值计算（1）利用磁场强度H的计算公式进行数值计算以均匀磁场中磁场强度H的计算为例，已知磁场力F为5N，电流I为2A，导体长度L为0.5m，则磁场强度H的计算如下：H = F / (IL) = 5 / (2×0.5) = 5A/m（2）利用磁场强度H与磁感应强度B的关系进行数值计算已知磁感应强度B为0.1T，真空磁导率μ₀为4π×10⁻⁷ T·m/A，则磁场强度H的计算如下：H = B / μ₀ = 0.1 / (4π×10⁻⁷) ≈ 7.96×10⁵ A/m四、磁场强度的应用1. 磁场强度在工程领域的应用（1）电机、变压器等电气设备的设计与制造磁场强度是电机、变压器等电气设备设计制造中必须考虑的物理量。
磁场参数计算公式分享磁场参数计算公式⼀、磁场强度与磁感应强度计算公式1、磁场强度与磁感应强度定义磁场强度是线圈安匝数的⼀个表征量，反映磁场的源强弱。
磁感应强度则表⽰磁场源在特定环境下的效果。
打个不恰当的⽐⽅,你⽤⼀个固定的⼒去移动⼀个物体,但实际对物体产⽣的效果并不⼀样,⽐如你是借助于⼯具的,也可能你使⼒的位置不同或⽅向不同.对你来说你⽤了⼀个确定的⼒.⽽对物体却有⼀个实际的感受,你作⽤的⼒好⽐磁场强度,⽽物体的实际感受好⽐磁感应强度。
2、磁场强度与磁感应强度区别磁场强度和磁感应强度均为表征磁场性质（即磁场强弱和⽅向）的两个物理量。
由于磁场是电流或者说运动电荷引起的，⽽磁介质（除超导体以外不存在磁绝缘的概念，故⼀切物质均为磁介质）在磁场中发⽣的磁化对源磁场也有影响（场的迭加原理）。
因此，磁场的强弱可以有两种表⽰⽅法：在充满均匀磁介质的情况下，若包括介质因磁化⽽产⽣的磁场在内时，⽤磁感应强度B表⽰，其单位为特斯拉T，是⼀个基本物理量；单独由电流或者运动电荷所引起的磁场（不包括介质磁化⽽产⽣的磁场时）则⽤磁场强度H表⽰，其单位为A/m2，是⼀个辅助物理量。
具体的，B决定了运动电荷所受到的洛仑兹⼒，因⽽，B的概念叫H更形象⼀些。
在⼯程中，B也被称作磁通密度（单位Wb/m2）。
在各向同性的磁介质中，B与H的⽐值即介质的绝对磁导率µ。
3、磁场强度计算公式：H = N × I / Le式中：H为磁场强度，单位为A/m；N为励磁线圈的匝数；I为励磁电流（测量值），单位位A；Le为测试样品的有效磁路长度，单位为m。
4、磁感应强度计算公式：B = Φ / (N × Ae)式中：B为磁感应强度，单位为Wb/m^2；Φ为感应磁通（测量值），单位为Wb；N为感应线圈的匝数；Ae为测试样品的有效截⾯积，单位为m^2。
⼆、磁通量与磁通密度相关公式：1、Ф = B * S（1）Ф：磁通(韦伯)；B ：磁通密度(韦伯每平⽅⽶或⾼斯)，1韦伯每平⽅⽶=104⾼斯S：磁路的截⾯积(平⽅⽶)2、B = H * µ（2）µ：磁导率(⽆单位也叫⽆量纲)；H：磁场强度(伏特每⽶)3、H = I*N / l （3）I ：电流强度(安培)；N ：线圈匝数(圈T)；l ：磁路长路(⽶)4、当电源电压做正弦变化时，主磁通也做正弦交变，设其瞬时值为：wt m sin Φ=Φ带⼊公式dtd Ne Φ-=得感应电动势的瞬时值为 wt wN dtd Ne m cos Φ-=Φ-= 则感应电动势的有效值为： m m m m fN fN wN e E Φ-=Φ-=Φ-==44.42222π其中f 为交流电频率，N 为线圈匝数。
电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法电磁屏蔽室（EMC）是一种专门用于测试电子设备对电磁干扰容忍度的实验室。
其内部有特殊的金属屏蔽结构，可以屏蔽外部电磁波干扰，以保证实验结果的准确性。
然而，电磁屏蔽室的屏蔽效能需要得到精确的测量，本文将介绍电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法。
一、屏蔽效能的定义屏蔽效能是指电磁屏蔽室内部对外部电磁波的屏蔽能力。
通常使用衰减（dB）来表示，即单位长度内电磁波功率的减少量。
例如，衰减10dB表示电磁波功率降低了10倍。
二、屏蔽效能的测量方法1. 磁场测量法磁场测量法是一种常用的屏蔽效能测量方法。
该方法通过在电磁屏蔽室内放置一组磁场探头，分别测量屏蔽室内外的磁场强度，并计算出屏蔽效能。
由于磁场的传播特性与电场不同，因此该方法适用于低频电磁波的屏蔽效能测量。
2. 频域扫描法频域扫描法是一种基于电场测量的屏蔽效能测量方法。
该方法通过在电磁屏蔽室内放置一组电场探头，分别测量不同频率下的电场强度，并计算出相应的屏蔽效能。
该方法适用于高频电磁波的屏蔽效能测量。
3. 平面波激励法平面波激励法是一种基于传输线理论的屏蔽效能测量方法。
该方法通过在电磁屏蔽室外部放置一组电磁波发生器，并将发生器输出的电磁波通过传输线输入到电磁屏蔽室内部，然后测量屏蔽室内部的电磁波功率，并计算出相应的屏蔽效能。
该方法适用于电磁波频率较高的情况。
三、屏蔽效能的评价屏蔽效能的评价通常采用以下两种指标：1. 透过波比透过波比是指电磁波穿过电磁屏蔽室时的衰减量。
该指标越大，说明屏蔽效能越好。
2. 反射波比反射波比是指电磁波在电磁屏蔽室内部被反射的程度。
该指标越小，说明屏蔽效能越好。
四、注意事项在进行电磁屏蔽室屏蔽效能测量时，需要注意以下事项：1. 测量前需要将电磁屏蔽室内部的杂物清理干净，以保证测量结果的准确性。
2. 测量时需要保证电磁屏蔽室内部没有电子设备运行，以避免干扰测量结果。
3. 不同测量方法的适用范围不同，需要根据具体情况选择合适的测量方法。
磁场强度的测量和屏蔽效率的计算
C.1 一般原则
C.1.1 磁场强度指标
（1） GB/T2887和GB50174中规定，电子计算机机房内磁场干扰环境场强不应大于800A/m。
注：本磁场强度是指在电流流过时产生的磁场强度，由于电流元IΔs产生的磁场强度可按下式计算：
H = IΔs/4πr2 （C.1）
距直线导体r处的磁场强度可按下式计算：
H = I/2πr （C.2）
磁场强度的单位用A/m表示，1A/m相当于自由空间的磁感应强度为1.26μT。
T（特斯拉）为磁通密度B的单位。
Gs是旧的磁场强度的高斯CGS单位，新旧换算中，1Gs约为79.5775A/m，即2.4Gs 约为：191A/m，0.07Gs约为5.57A/m。
（2） GB/T17626.9中规定，可按下表规定的等级进行脉冲磁场试验：
（3） GB/T2887中规定，在存放媒体的场所，对已记录的磁带，其环境磁场强度应小于3200A/m；对未记录的磁带，其环境磁场强度应小于4000A/m。
C.1.2 信息系统电子设备的磁场强度要求
1971年美国通用研究公司R.D希尔的仿真试验通过建立模式得出：由于雷击电磁脉冲的干扰，对当时的计算机而言，在无屏蔽状态下，当环境磁场强度大于0.07G S时，计算机会误动作；当环境磁场强度大于2.4G S时，设备会发生永久性损坏。
按新旧单位换算，2.4 G S约为191A/m，此值较C.1.1的（1）中800A/m低，较表C.1中3等高，较4等低。
注：IEC62305-4（81/238/CDV）文件中给出在适于首次雷击的磁场（25K H2）时的1000-300-100A/m值及适用于后续雷击的磁场（1MH2）时的100-30-10A/m指标。
C.1.3 磁场强度测量一般方法
（1）雷电流发生器法
IEC 62305-4提出的一个用于评估被屏蔽的建筑物内部磁场强度而作的低电平雷电电流试验的建议。
（2）浸入法
GB/T17626.9规定了在工业设施和发电厂、中压和高压变电所的在运行条件下的设备对脉冲磁场骚扰的抗扰度要求，指出其适用于评价处于脉冲磁场中的家用、商业和工业用电气和电子设备的性能。
（3）大环法
GB12190规定了屏蔽室屏蔽效能的测量方法，主要适用于各边尺寸在1.5m～15m之间的长方形屏蔽室。
（4）交直流高斯计法
GB/T 2887中5.8.2条“磁场干扰环境场强的测试”中指出可使用交直流高斯计，在计算机机房内任一点测试，并取最大值。
C.1.4 屏蔽效率的计算
屏蔽效率的测量一般指将规定频率的模拟信号源置于屏蔽室外时，接收装置在同一距离条件下在室外和室内接收的磁场强度之比，可用下式表示：
S H = 20Lg（H0/H1） (C.3)
式中：
H0—没有屏蔽的磁场强度
H1—有屏蔽的磁场强度
S H—屏蔽效率（能），单位为dB。
屏蔽效率与衰减量的对应关系参见表C.2：
C.2 测量方法和仪器
C.2.1 雷电流发生器法
试验原理见图C.1所示，雷击电流发生器原理见图C.2所示。
C 1 雷电流发生器法测试原理图
图C.2 雷电流发生器原理图
在雷电流发生器法试验中可以用低电平试验来进行，在这些低电平试验中模拟雷电流的波形应与原始雷电流相同。
IEC标准规定，雷击可能出现短时首次雷击电流i f（10/350μs）和后续雷击电流i s（0.25/100μs）。
首次雷击产生磁场H f，后续雷击产生磁场H s，见图C.3和图C.4：
C.3 首次雷击磁场强度（10/350μs）上升期的模拟
C.4 后续雷击磁场强度（0.25/100μs）上升期的模拟
磁感应效应主要是由磁场强度升至其最大值的上升时间规定的，首次雷击磁场强度H f可用最大值H f/max（25KHz）的阻尼振荡场和升至其最大值的上升时间T p/f (10μs、波头时间 )来表征。
同样后续雷击磁场强度Hs可用Hs/max（1MHz）和Tp/s（0.25μs）来表征。
当发生器产生电流i o/max为100kA，建筑物屏蔽网格为2m时，实测出不同尺寸建筑物的磁场强度如表C.3：
GB/T17626.9（idt IEC 61000-4-9）对设备进行脉冲磁场抗扰度试验中规定：
受试设备（EUT）可放在具有确定形状和尺寸的导体环（称为感应线圈）的中部，当环中流过电流时，在其平面和所包围的空间内产生确定的磁场。
试验磁场的电流波形为6.4/16μs的电流脉冲。
试验过程中应从x、y、z三个轴向分别进行。
由于受试设备的体积与格栅形大空间屏蔽体相比甚小，此法只适于体积较小设备的测试和在矮小的建筑物屏蔽测量时可参照使用。
具体方法见GB/T17626.9。
C.2.3 大环法
GB12190《高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法》规定了高性能屏蔽室相对屏蔽效能的测试和计算方法，主要适用于1.5～15.0m之间的长方形屏蔽室，采用常规设备在非理想条件的现场测试。
为模拟雷电流频率，在测试中应选用的常规测试频率范围为100Hz～20MHz，模拟干扰源置于屏蔽室外，其屏蔽效能计算公式如本标准附录C.3式。
测试用天线为环形天线，并提出下列注意事项：
（1）在测试之前，应把被测屏蔽室内的金属（及带金属的）设备，含办公用桌、椅、柜子搬走。
（2）在测试中，所有的射频电缆、电源等均应按正常位置放置。
大环法可根据屏蔽室的四壁均可接近时而采用优先大环法或屏蔽室的部分壁面不可接近时而采用备用大环法。
现将备用大环法简要介绍如下：
（1）发射环使用频段I（100Hz～200kHz）的环形天线。
（2）当屏蔽室的一个壁面是可以接近时，将磁场源置于屏蔽室外，并用双绞线引至可接近的壁，沿壁边布置发射环，环的平面与壁面平行，其间距应大于25cm。
可将发射环固定在壁面上。
（3）磁场源由通用输出变压器、常闭按纽开关、具有1W输出的超低频振荡器、热电偶电流表组成。
（4）屏蔽室内置检测环，衰减器和检测仪，其中检测环的直径为300mm。
（5）当检测仪采用高阻选频电压表时，
S H = 20Lg（V0/V1）（C.4）
C.2.4 其他测量方法
C.2.4.1 以当地中波广播频点对应的波头做为信号源，将信号接收机分别置于建筑物内和建筑物外，分别测试出信号强度E0和E1。
用下式计算出建筑物的屏蔽效能：
S E = 20lg（E0/E1）（C.5）测试时，接收机应采用标准环形天线。
当天线在室外时，环形天线设置高度应为0.6m～0.8m，与大的金属物，如铁栏杆，汽车等应距1m以外。
当天线在室内时，其高度应与室外布置同高，并置在距外墙或门窗3～5m远处。
室内布置与大环法的要求相同。
用本方法可测室内场强（A2）和室外场强（A1）,屏蔽效能为其代数差（A1－A2）。
C.2.4.2 可使用专门的仪器设备（如EMP-2或EMP-2HC等脉冲发生器）进行与备用大环法相似的测试，其区别于备用大环法的内容有：
（1）脉冲发生器置于被测墙外约3m处。
发生器产生模拟雷电流波头的条件，如10μs、0.25μs及2.6μs、0.5μs。
发生器的发生电压可达5kV～8 kV，电流4～19kA。
（2）从被测建筑物墙内0.5m起，每隔1m直至距内墙5～6m处每个测点进行信号电势的测量。
如被测房间较深，在5～6m处之后可每隔2m（或3m、4m）测信号电势一次，直至距被测墙体对面墙的0.5m处。
平移脉冲发生器，在对应室内测量的各点处测量无屏蔽状况的信号电势。
各点的屏蔽效能为：
E = 20lg（e0/e1）（C.6）
式中： e0—无屏蔽处信号电势； e1—有屏蔽处信号电势。
建筑物的屏蔽效能应是各点的平均值。
