实验二 门电路逻辑功能及测试
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河 北 科 技 大 学实 验 报 告级 专业 班 学号 年 月 日姓 名 同组人 指导教师 王计花 任课教师 实验名称 实验二 基本门电路逻辑功能的测试 成 绩 实验类型 验证型 批阅教师一、实验目的(1)掌握常用门电路的逻辑功能,熟悉其外形及引脚排列图。
(2)熟悉三态门的逻辑功能及用途。
(3)掌握TTL 、CMOS 电路逻辑功能的测试方法。
二、实验仪器与元器件(1)直流稳压电源 1台 (2)集成电路74LS00 四2输入与非门 1片 74LS86 四2输入异或门 1片 74S64 4-2-3-2输入与或非门 1片 74LS125 四总线缓冲门(TS ) 1片 CD4011 四2输入与非门1片三、实验内容及步骤1.常用集成门电路逻辑功能的测试在数字实验板上找到双列直插式集成芯片74LS00和74LS86。
按图进行连线。
测试各电路的逻辑功能,并将输出结果记入表中。
门电路测试结果2.测试与或非门74S64的逻辑功能在实验板上找到芯片74S64,实现Y AB CD =+的逻辑功能。
真值表A 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 1 1B 0 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 1 1 1 1C 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1D 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 YA B Y (00) Y (86)0 0 0 1 1 0 1 1Y Y &3.用与非门组成其他逻辑门电路 (1)用与非门组成与门电路按图接线,按表测试电路的逻辑功能。
根据测得的真值表,写出输出Y的逻辑表达式。
真值表逻辑表达式:(2)用与非门组成异或门电路按图接线,将测量结果记入表中,并写出输出Y 的逻辑表达式。
真值表逻辑表达式:真值表4.三态门测试(1)三态门逻辑功能测试三态门选用 74LS125将测试结果记入表中。
(2)按图接线。
将测试结果记录表中。
门电路逻辑功能与测试实验报告一、引言门电路是数字电子电路中常见的逻辑电路,用于实现布尔逻辑运算和控制功能。
门电路有与门、或门、非门、异或门等多种类型,通过它们的组合可以实现复杂的数字运算和逻辑控制。
本实验旨在通过实际操作和测试,深入了解门电路的逻辑功能和工作原理。
二、实验内容1.与门的测试:使用与门芯片(74LS08),接入两个输入A和B,并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平,观察LED灯的亮灭情况,并记录输入输出的真值表。
2.或门的测试:使用或门芯片(74LS32),接入两个输入A和B,并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平,观察LED灯的亮灭情况,并记录输入输出的真值表。
3.非门的测试:使用非门芯片(74LS04),接入一个输入A,并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平,观察LED灯的亮灭情况,并记录输入输出的真值表。
4.异或门的测试:使用异或门芯片(74LS86),接入两个输入A和B,并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平,观察LED灯的亮灭情况,并记录输入输出的真值表。
三、实验结果与分析1.与门测试结果分析:根据与门输入两个高电平时才输出高电平的特性,可以得到与门的真值表如下:A ,B , Outpu:---:,:---:,:------low , low , lolow , high, lohigh, low , lohigh, high, hig实验测试结果与理论一致,说明与门的逻辑功能正常。
2.或门测试结果分析:根据或门输入两个低电平时才输出低电平的特性,可以得到或门的真值表如下:A ,B , Outpu:---:,:---:,:------low , low , lolow , high, highigh, low , highigh, high, hig实验测试结果与理论一致,说明或门的逻辑功能正常。
门电路逻辑功能及测试实验原理
门电路是数字电路中最基本的逻辑电路之一,用于实现逻辑操作。
常见的门电路有与门、或门、非门、异或门等。
每种门电路都有其特定的逻辑功能,以下是各种门电路的功能及测试实验原理:
1. 与门(AND Gate):
逻辑功能:当所有输入均为高电平时,输出为高电平;否则输出为低电平。
测试实验原理:将多个输入连接到与门的输入端,将输出端连接到示波器或其他仪器上。
通过改变输入的电平,观察输出的变化,验证与门电路的功能是否正确。
2. 或门(OR Gate):
逻辑功能:当任意一个输入为高电平时,输出为高电平;所有输入均为低电平时,输出为低电平。
测试实验原理:将多个输入连接到或门的输入端,将输出端连接到示波器或其他仪器上。
通过改变输入的电平,观察输出的变化,验证或门电路的功能是否正确。
3. 非门(NOT Gate):
逻辑功能:输入与输出互为反相,即输入为高电平时,输出为低电平;输入为低电平时,输出为高电平。
测试实验原理:将输入连接到非门的输入端,将输出端连接到示波器或其他仪器上。
通过改变输入的电平,观察输出的变化,验证非门电路的功能是否正确。
4. 异或门(XOR Gate):
逻辑功能:当输入的个数为奇数个时,输出为高电平;当输入的个数为偶数个时,输出为低电平。
测试实验原理:将多个输入连接到异或门的输入端,将输出端连接到示波器或其他仪器上。
通过改变输入的电平,观察输出的变化,验证异或门电路的功能是否正确。
注意:以上是常见的门电路的逻辑功能及测试实验原理,具体的实验步骤和使用仪器可能会有所不同,实验时应参考具体的实验指导书或教学资料。
《数字电路》门电路逻辑功能及测试实验报告一、实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。
2、熟悉数字电路箱及示波器使用方法。
二、实验设备74LS00 二输入端四与非门 2片74LS20 四输入端双与非门 1片74LS86 二输入端四异或门 1片74LS04 六反相器 1片数字电子技术试验箱三、实验内容及步骤实验前按实验箱的使用说明先检查实验箱电源是否正常。
然后选择实验用的集成电路。
按自已设计的实验接线图连线,特别注意Vcc及地线不能接错。
线接好后经实验指导教师检查无误后方可通电实验。
实验中改动接线须先断开电源,接好线后再通电实验。
1、测试门电路逻辑功能(1)选用双四输入与非门74LS20一只,插入实验板上的IC插座,按图4-1接线,输入端A、B、C、D分别接K1~K4(电平开关输出插口),输出端接电平显示发光二极管(L1~L16任意一个)。
(2)将电平开关按表4-1置位,分别测出输出电压及逻辑状态。
表4-1与非门输出电压及逻辑状态2、异或门逻辑功能测试图4-4 异或门逻辑功能测试(1)选取二输入四异或门电路74LS86,按图4-4接线,输入端1、2、4、5接电平开关,输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。
(2)将电平开关按表4-2置位,将结果填入表中表4-2 异或门输出电压及逻辑状态3、逻辑电路的逻辑关系(1)用74LS00,按图4-5、4-6接线,输入输出逻辑关系分别填入表4-3表4-4中;图4-5 图4-6表4-3表4-4(2)写出上面两个电路逻辑表达式。
图4-5:Y=A’B+AB’图4-6:Y=AB’+A’BZ=AB四、实验心得(1)怎样判断门电路逻辑功能是否正常?1.按照门电路功能,根据输入和输出,列出真值表。
2.按真值表输入电平,查看输出是否符合真值表。
所有真值表输入状态时,输出都是符合真值表,则门电路功能正常;否则门电路功能不正常。
(2)与非门一个输入接连续脉冲,其余端什么状态时允许脉冲通过?什么状态时禁止脉冲通过?其余输入端为高电平“1”时,允许脉冲通过,而有一个输入端为低电平“0”时,将“与非”门封锁,不允许脉冲通过。
门电路逻辑功能及测试实验报告总结
门电路是数字电路中最基本的逻辑电路之一,其主要功能是实现逻辑运算。
本次实验旨在探究门电路的逻辑功能及测试方法。
实验一:与门电路
与门电路是一种逻辑电路,其输出信号仅在所有输入信号均为高电平时才为高电平。
实验中,我们使用了CD4081芯片,通过连接输入端和输出端,观察输出信号的变化,验证了与门电路的逻辑功能。
实验二:或门电路
或门电路是一种逻辑电路,其输出信号在任意一个输入信号为高电平时即为高电平。
实验中,我们使用了CD4071芯片,通过连接输入端和输出端,观察输出信号的变化,验证了或门电路的逻辑功能。
实验三:非门电路
非门电路是一种逻辑电路,其输出信号与输入信号相反。
实验中,我们使用了CD4069芯片,通过连接输入端和输出端,观察输出信号的变化,验证了非门电路的逻辑功能。
实验四:与非门电路
与非门电路是一种逻辑电路,其输出信号仅在所有输入信号均为高电平时才为低电平。
实验中,我们使用了CD4081芯片,通过连接输入端和输出端,观察输出信号的变化,验证了与非门电路的逻辑功能。
实验五:或非门电路
或非门电路是一种逻辑电路,其输出信号在任意一个输入信号为高电平时即为低电平。
实验中,我们使用了CD4071芯片,通过连接输入端和输出端,观察输出信号的变化,验证了或非门电路的逻辑功能。
通过以上实验,我们深入了解了门电路的逻辑功能及测试方法。
在实验中,我们使用了数字电路实验箱和相应的芯片,通过连接输入端和输出端,观察输出信号的变化,验证了门电路的逻辑功能。
这些实验不仅加深了我们对门电路的理解,也提高了我们的实验技能。
门电路逻辑功能及测试实验原理门电路逻辑功能及测试实验原理一、门电路的基础概念门电路是数字电路中的基本组成部分,它是由逻辑门和输入输出端口组成的。
逻辑门是一个具有一定逻辑功能的电子元器件,它能够根据输入信号的不同状态,产生相应的输出信号。
常见的逻辑门有与门、或门、非门、异或门等。
二、逻辑门的分类及特点1. 与门与门是指两个或多个输入信号经过“与”运算后得到一个输出信号的逻辑电路。
当所有输入信号都为高电平时,输出信号才为高电平;否则输出信号为低电平。
2. 或门或门是指两个或多个输入信号经过“或”运算后得到一个输出信号的逻辑电路。
只要有一个输入信号为高电平时,输出信号就为高电平;否则输出信号为低电平。
3. 非门非门也称反相器,它只有一个输入端和一个输出端。
当输入端接收到高电平时,输出端就会产生低电平;反之,则会产生高电平。
4. 异或门异或(XOR)运算是指两个二进制数进行加法运算但不进位,并将结果作为二进制数的一位输出。
异或门就是实现异或运算的逻辑门,只有当两个输入信号不同时,输出信号才为高电平;否则输出信号为低电平。
三、门电路的测试实验原理门电路的测试实验可以通过实验仪器来进行。
首先需要准备一个万用表和一些逻辑门芯片,然后按照以下步骤进行测试:1. 与门测试将与门芯片的两个输入端分别接入高电平和低电平,然后用万用表测量输出端的电压值。
如果输出端为低电平,则说明与门工作正常;反之,则存在故障。
2. 或门测试将或门芯片的两个输入端分别接入高电平和低电平,然后用万用表测量输出端的电压值。
如果输出端为高电平,则说明或门工作正常;反之,则存在故障。
3. 非门测试将非门芯片的输入端接入高电平,然后用万用表测量输出端的电压值。
如果输出端为低电平,则说明非门工作正常;反之,则存在故障。
4. 异或门测试将异或门芯片的两个输入端分别接入相同/不同状态下的信号,然后用万用表测量输出端的电压值。
如果输入信号不同,则输出端为高电平;反之,则为低电平。
实验二 基本门电路逻辑功能的测试一、实验目的1.熟悉能主要门电路的逻辑功; 2.掌握基本门电路逻辑功能的测试方法。
二、使用仪器DZX-2B 型电子学综合实验装置(简称实验台)。
三、实验原理1 集成电路芯片介绍主要的门电路包括与非门、或非门和与或非门。
在数字电路中广泛应用。
无论大规模集成电路多么复杂,但内部也还是由这些基本门电路构成,因此,熟悉它们的功能十分重要。
图2-1 逻辑图及外引线排列1 2 3 4 5 6 71 2 3 4 5 6 71 2 3 45 6 7数字电路实验中所用到的集成芯片多为双列直插式,其引脚排列规则如图2-1。
其识别方法是:正对集成电路型号或看标记(左边的缺口或小圆点标记),从左下角开始按逆时针方向以1,2,3…依次排列到最后一脚。
在标准形TTL 集成电路中,电源端Vcc 一般排在左上端,接地端(GND )一般排在右下端,如74LS00。
若集成芯片引脚上的功能标号为NC ,则表示该引脚为空脚,与内部电路不连接。
本实验采用的芯片是74LS00二输入四与非门、74LS20四输入二与非门、74LS02二输入四或非门、74LS04六非门、74LS54双二双三输入与或非门,逻辑图及外引线排列图见图2-1(74LS00见实验一中图1-1(d))。
2.逻辑表达式:非门 A Y = 2-1 2输入端与非门 B A Y •= 2-2 4输入端与非门 D C B A Y •••= 2-3 或非门 B A Y += 2-4对于与非门,其输入中任一个为低电平“0”时,输出便为高电平“1”。
只有当所有输入都为高电平“1”时,输出才为低电平“0”。
对于TTL 逻辑电路,输入端如果悬空可看做;逻辑1,但为防止干扰信号引入,一般不悬空,可将多余的输入端接高电平或者和一个有用输入端连在一起。
对MOS 电路输入端不允许悬空。
对于或非门,闲置输入端应接地或低电平,也可以和一个有用输入端连在一起。
四、实验内容及步骤1.逻辑功能测试①与非门逻辑功能的测试:* 将74LS20插入实验台14P 插座,注意集成块上的标记,不要插错。
物理与电子科学系EDA1实验报告实验课题EDA技术及实验班级姓名学号成绩实验日期实验学时实验地点物理系EDA机房任课教师指导老师实验名称实验二门电路逻辑功能的测试实验目的(1)学习门电路的功能测试方法;(2)熟悉Mulsitim 10的数字逻辑功能的显示方法以及单刀双掷开关的应用。
实验要求(1)测试二输入端异或门的组合电路的逻辑功能:用逻辑开关信号作输入,用探测器显示输出信号;(2)测试二输入端与非门的组合电路的逻辑功能;(3)研究R-S触发器:用二输入端与非门塔式R-S触发器。
实验设备及软件环境(1) 个人电脑一台(2) Multisim 10集成开发环境一、实验原理1. 门电路是最基本的逻辑元件,它能实现最基本的逻辑功能,即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系,常用门电路见表1。
名称非门二输入与门二输入与非门二输入或门同或门异或门图形符号真值表A F A B F A B F A B F A B F A B F0 1 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 1 0 0 01 0 0 1 0 0 1 1 0 1 1 0 1 0 0 1 11 0 0 1 0 1 1 0 1 1 0 0 1 0 11 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 0逻辑式F=A F=A·B F=BA F=A+B F=A⊙B F=A⊕B表1常用门电路2. 本次实验是在门电路的输入端输入不同的电压时,表示输入不同的逻辑电平。
输出端输出不同电压,表示输出不同逻辑电平。
测量输入、输出电压变化(灯泡的亮灭)与逻辑电平的对应关系,根据输出电平(灯泡的亮灭,亮为高电平,灭为低电平)与输入电平关系,以确定门电路的逻辑功能。
3.基本RS触发器的电路如图1(a)所示。
它是由两个与非门,按正反馈方式闭合而成,也可以用两个或非门按正反馈方式闭合而成。
图1(b)是基本RS触发器逻辑符号。
定义A门的一个输入端为R d端,低电平有效,称为直接置“0”端,此时S d 端应为高电平;B门的一个输入端为S d 端,称为直接置“1”端,此时R d 端应为高电平。
实验二门电路逻辑功能及测试
一、实验目的:
1、掌握门电路逻辑功能及测试方法。
2、熟悉数字电路实验装置的使用方法。
3、熟悉双踪示波器的使用方法。
二、实验仪器及材料
1、数字电路实验装置。
2、双踪示波器。
3、数字万用表。
4、器件:74LS00 74LS86 74LS04
三、实验内容及步骤:
1、TTL与非门逻辑功能测试
(1)将74LS00按图2-1接线,输入端A、B接S1、S2电平开关的输入插口,输出端Y接电平显示LED的输入插口。
(2)测试电路,填写表2-1.
(
Y
图2-1 图2-2
表2-1
图2-3
TTL异或门逻辑功能测试
(1)将74LS86按图2-2姐接线,输入端A,B接S1、S2电平开关的输入插口,输出端Y接电平显示LED的输入插口。
(2)测试电路填表2-2
(3)写出异或门逻辑函数的表达式。
3、逻辑功能的功能测试
(1)将74LS00和74LS04按图2-3接好。
(2)测试电路填表2-3.
(3)写出表2-3 的电路的逻辑函数表达式。
4、用与非门控制输出
将74LS00接线,A接逻辑电平开关输出插口,B接1KHz脉冲信号用双踪示波器:
Y1输入端接B端、Y2输入端接输出Z,A=0、A=1,分别记录输入输出波形,说
明与非门的控制作用。
表2-1波形:表2-2波形:
电信科技一班
孙鹏飞110706121。