直接式:直接转换平板探测器主要由非晶硒层( Amorphous Se-lenium,a-Se )与TFT构成。入射的X射线使硒层产生电子空穴对,在外加偏压电场作用下 ,电子和空穴对向相反的方向移动形成电流,电流在薄膜晶体管中形成储存 电荷。每一个晶体管的储存电荷量对应于入射X射线的剂量,通过读出电路 可以知道每一点的电荷量,进而知道每点的X线剂量。由于非晶硒不产生可 见光,没有散射线的影响,因此可以获得比较高的空间分辨率。
未曝光图像板
X射线管
记录
Scanning
读取
擦除光
擦除
CR成像特征
右图为CR与S-F(屏/片) 成像特征对比 CR的信号强度与X线曝 光量呈线性关系
CR成像的动态范围大, 达10000,是S-F成像的 100倍
CR成像特征
由于CR的动态范围较 广,所以在高曝光量 和低曝光量时CR成像 仍能保持图像对比度 ,而S-F成像的高曝光 量和低曝光量时图像 对比度下降。
直接式的探测器直接将X光转化成电信号 间接式的探测器先将X光转化成光,再通过光 电二极管将光信号转化成电信号这样两个步骤
注意:间接式这种转换机制必然导致由于光线散射 而造成图像分辨率的降低
DR-间接转换方式
间接转换方式 非直接式的探测器包含两个步骤:
1.先将X光转化成可见光
2.光电二极管将光信号转化成电信 号 TFT转换器存储电荷 信号
图像保存方便
适合远程图像传输 辐射剂量小:
数字X射线摄影类型
DF:digital fluorography: 数字荧光X摄影
CR:computed radiography 计算机X射线摄影