手机综测仪自校准作业指导书
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No.123456 作 业 指 导 书 ( STANDARD OPERATION PROCEDURE)产品型号晶科组件工位名称组件二部--德雷射科测试仪校准方法工序代码工序名称测试仪校准作业指导书版本V2.1Model Name Station Name Process Code Process Station Version 1、根据所要测的组件型号及电池片种类选择相应的标准组件;2、计算机、组件负载、光源主机都打开后,双击桌面上测试软件图标,选择相应的参数组(一 般60P以上的组件选择8A50V)图1;3、进入测试界面后首先要确认光强,在光源主机是在“Work”的状态下,点击测试软件的“测 量—控制面板—标准”,图3、4;当闪光结束后,测试软件上会显示当前的光强值(要求在 99.8-100.5mw/cm²)如果光强值不在要求范围内,则通过光源主机的控制按钮来调节,图2 确保测试前光强在工艺要求范围内,当光强无法达到要求时则通知工艺或设备技术员;4、光强确认后,点击测试,查看图6的显示的数据是否与标准组件上的一致(允许误差:Pm ±0.8W、Isc±0.1A、Voc±0.2V、FF±0.1%),如在误差内,校准OK,如果超过误差范 围,则通过修改相应的参数使之符合(电流校准因子校准Isc值、电压校准因子校准Voc值、 修正电阻校准填充因子FF,图5它们三者的关系为:Pm=Isc*Voc*FF)除上述三个参数可以 修改外,其他参数不得更改;5、当需要电流分档时,双击测试软件的项目栏,在厂家参数1里通过修改电流/电压比例使之与标准组件的Im符合;图76、校准结束后记录相应的表格,将标准组件退出。
示意图(Picture)发行日期2012-9-11文件编号页次 1 of 1Issue Date SOP Code Page作业內容(Job Description)Q'TY Remark注意事项(Attention)1、测试仪所测到的温度应在25±1℃;2、测试仪的标准电池与反馈电池应保持洁净无遮挡;3、光源光强应在99.8-100.5mw/cm²内,如出现异常及时通知工艺或设备技术员;4、QC相应人员必须每2h对测试仪进行校准,并填写相应记录,且二级标板每15天需用最新的TUV标板进行校对并且保存相应记录;5、QC人员对上述参数有修改权力外不得更改其他参数,未经许可生产人员等无关人员禁止修改测试仪参数;6、测试时避免用眼睛直视光源,防止灼伤眼睛。
ZY-06-2012 JMZX -3006综合测试仪操作规程一、概述JMZX-3006综合测试仪是一种便携式、多功能、智能读数仪。
该系列仪器均能对钢弦传感器、电感调频类传感器、半导体温度传感器进行测量。
该系列仪器有三种型号:JMZX-3001综合测试仪(单弦);JMZX-3003综合测试仪(三弦);JMZX-3006综合测试仪(六弦)。
其中三弦、六弦测试仪为多通道综合测试仪,可测量多弦传感器(如压力传感器)。
JMZX-3006综合测试仪具有检测速度快、精度高、使用简单方便等特点。
仪器体积小、重量轻,采用可充电电池供电,使用携带极为方便。
该仪器配合本公司生产的智能型传感器使用。
能在传感器内自动记录传感器编号、系数,自动计算应变、自动检测温度的结果并作温度修正,保存记录测试结果,供以后查阅或送计算机处理。
二、使用方法(1)传感器接线连接①振弦式应变传感器或压力盒连接:传感器导线为四芯屏蔽线,如传感器配有九芯插头(连接方式为1:红、2:黄或黑、3:兰或白、4:绿),则直接插入仪器面板之INP插口即可,如传感器未接插头,可配本公司之转换插头再按红-红、黄-黄或黑、兰-兰或白、绿-绿接线即可。
②三弦穿心或压力传感器连接:上述传感器导线为六芯屏蔽线,如传感器配有九芯插头(连接方式为1:红、2:黄、3:兰、4:绿、5:橙、6:紫),则直接插入仪器面板之INP插口即可,如传感器未接插头,可配本公司之转换插头再按红-红、黄-黄、兰-兰、绿-绿、橙-橙、紫-紫接线即可。
③六弦穿心或压力传感器连接:上述传感器导线为九芯屏蔽线,该传感器均配为九芯插头,直接插入仪器面板之INP插口即可。
④温度传感器:温度传感器导线为三芯屏蔽线,配专用转换插头后接线,其中红色接传感器红线,兰色接传感器兰线,绿色接传感器黄线。
(2)开机:按“ON/OFF”键(3)仪器显示时钟及功能提示测量、查阅、通讯、校时如果连接了温度传感器或温度型应变计(如:JMZX -215AT),仪器还应显示温度值。
检验、测量、试验设备自校作业指导书目的:本指导书旨在帮助使用者正确进行检验、测量、试验设备的自校工作,保证设备的准确性和可靠性。
材料:- 待校准的设备- 校准标准器具- 计量工具- 校准记录表步骤:1. 准备工作:- 确保待校准的设备处于稳定状态,没有受到外部影响。
- 准备好所需的校准标准器具和计量工具。
- 打开设备的校准记录表,填写好设备信息和校准日期等必要信息。
2. 校准操作:- 根据设备的使用说明书或者相关标准,选择合适的标准器具和计量工具进行校准操作。
- 依据标准器具的精确度和准确性,进行逐一校准设备的各项参数和功能。
- 记录校准结果,包括校准前的数值和校准后的数值,并计算出误差值。
3. 结果处理:- 对校准结果进行分析,判断设备的准确性和可靠性。
- 如果发现设备存在较大的误差,应及时对设备进行维护和修理。
- 保存校准记录表和相关校准证明。
注意事项:- 在进行校准操作时,务必按照标准操作规程进行,避免人为误差。
- 在校准结束后,对设备进行保养和维护工作,确保设备的长期可靠性。
- 校准记录表和校准结果应保存至少两年以上,以备查证。
本指导书为使用者提供了关于检验、测量、试验设备自校的详细步骤和注意事项,使用者可根据实际情况进行调整。
希望使用者能够严格按照指导书进行操作,确保设备的精准度和可靠性。
检验、测量、试验设备的自校对于各种行业的生产和研发工作来说至关重要。
只有确保设备的准确性和可靠性,才能保证产品质量和研究成果的可靠性。
因此,正确进行设备的自校工作不仅可以提高工作效率,还可以减少不必要的测量误差和设备故障,从而为企业和科研工作者提供更可靠的数据支持。
在进行自校操作时,关键是要准确地选择合适的标准器具和计量工具,以及严格按照标准的操作规程进行。
保持设备的稳定状态,以减少外界因素对测量值的影响,也是非常重要的。
在操作过程中,需要特别注意人为误差的产生,并尽量减小这些误差。
在校准结束后,对设备进行适当的维护,也能够延长设备的使用寿命并确保设备一直处于稳定的工作状态。
综测仪E8285A的校准(每天两次,每班一次)校准前取下测试仪上RF线缆1. PCB_CAL : 当前状态下选取测试面板上tester-----pcb_cal-------K1,此时仪器自动运行,约10分钟完成,若提示:pcb_cal successful-----重启仪器;若提示:pcb_cal failed---,则再次进行此项校正直到successful ,多次不成功的话,重启仪器后重复执行。
2.POWER MEASUREMENT(zero): 仪器重启后,旋转按钮调整亮点至POWERMEASUREMENT(zero),执行此项校正,3秒钟即完成。
3.POWER MEASUREMENT(calibrate): 执行完第2项校正后装上线缆,启动软件,放置一待测手机进行自动测试,测试完成后,取下线缆,旋转面板上钮调整亮点至POWER MEASUREMENT(calibrate)执行,此时仪器提示:yes or no?,选择面板上yes/on 按钮执行,约1分钟后完成。
本次校准成功,重新装好RF线缆执行测试程序。
综测仪E5515C的校准(每两周一次)校准前取下测试仪上RF线缆1.IQ Cal: 当前状态下选取测试面板右侧按键system config----1of2------service-------cal first IQ modulation 仪表自动执行约10分钟,完成后提示PASS执行下一步;否则重复此操作。
2.Channel power Cal : 选取测试面板下侧按键measurement selection ,再选择左排按键Cal Channel power,约1分钟完成。
完成后提示PASS执行下一步;否则重复此操作。
3.Digital power Cal : 选取测试面板下侧按键measurement selection, 再选择左排按键Cal Digital power, 仪表自动执行约10分钟,完成后重启仪表。
检测仪器、设备校准作业指导书1.目的和范围1.1规范本公司检测仪器和设备校准准则,确保检测仪器和设备精度,进而保证产品质量。
1.2 适用所有与产品质量相关的检测仪器,包含监控装置。
2.定义:2.1 外部校验设备:量块、高度仪、投影仪、耐压测试仪、扭力计、螺纹环规、数显千分尺、推拉力计、稳压仪、标准压力表、百分表、数显温度表、数显多用表、示波表、功率分析仪、电流互感器、弹簧测试仪、MicroVu,其它不能内校仪器。
2.2 内部校验设备:电流连续性检测、耐高压测试夹具、辅助测试系统、气压表、电子称等。
3.职责3.1 计量工程师3.2计量员4.授权4.1 质保经理5.程序5.1 品保部负责制定全公司《检测仪器检定一览表》,以作为校准的依据。
5.2 外部校验:5.2.1由计量员定期查看(每三月一次)外部仪器状态,将到期仪器送国家级仪器鉴定中心校验。
5.2.2 经国家级仪器鉴定中心判定OK之仪器,由计量员将鉴定合格标签贴在仪器上,鉴定证书存档并认可,作好相应记录。
5.2.3 经国家级仪器鉴定中心判定NG之仪器,由计量室认可,标识不合格标签,并对鉴定不合格仪器作好相应处理(特殊情况如仪器维修或报废需报经理处理),并作好记录。
5.2.4 对维修后之仪器,需再送国家级仪器鉴定中心鉴定,校验步骤再依5.2.2,5.2.3执行。
检测仪器、设备校准作业指导书5.3内部校验:5.3.1用标准器、或通过国家计量机构检定的量规仪或已受控设备去试验需校验设备、器具的相关特性参数,若试验数据相符合则判定被校验的设备、器具合格,若试验数据不符合则判定被校验的设备、器具不合格。
5.3.2用内部检定合格的金件样品去试验需校验的设备系统,需校验的设备系统应根据金件样品所示状态显示相应状态,如灯亮或Fail或Pass。
5.3.3 若检验合格则贴内部校验合格标签,并注明下次校验日期,同时填写校验记录。
5.3.4若检验不合格则出具不合格证明,并通知相关部门处理(a报废。
检验、测量、试验设备自校作业指导书1. 引言检验、测量、试验设备在各个行业中起着至关重要的作用。
为确保这些设备的准确性和可靠性,自校作业是不可或缺的环节。
本指导书旨在提供一套完整的自校作业步骤,旨在保证设备准确性并提高工作效率。
2. 自校作业步骤自校作业主要分为以下几个步骤:2.1. 确定自校周期自校周期是根据设备类型和使用条件来确定的。
一般情况下,自校周期应在设备的使用寿命内适当分配。
例如,一些设备可能需要每月自校,而其他设备可能只需要每年自校。
确保设备实时更新的校准信息是至关重要的。
2.2. 准备校准标准在进行设备自校之前,需要准备相应的校准标准。
校准标准应当具有所需的准确性和稳定性,以确保设备的校准值是可靠的。
校准标准可以是已知准确值的规定物体,也可以是已经经过校准的测量设备。
2.3. 设备检验在进行自校之前,首先需要对设备进行全面的检验。
检查设备外观是否完好无损,并确保所有控件和显示器工作正常。
若发现任何问题或异常,应及时进行维修和修理。
2.4. 校准设备校准设备的过程将校准标准与设备进行比较以确定其准确性。
校准设备前,应正确设置测量范围和精度,并采用适当的校准方法。
根据设备类型和厂商指导书提供的操作指南进行校准。
2.5. 记录校准结果在完成设备校准后,应及时记录校准结果。
记录包括校准日期、校准人员、校准标准、校准数值和设备状态等重要信息。
这些记录将有助于日后设备维修、质量控制和审计等工作。
2.6. 跟踪和管理校准计划设备的校准并不是一次性的工作,它需要定期进行。
建立一个校准计划,跟踪设备的校准周期,确保设备校准的及时性。
同时,根据设备的使用情况调整校准周期,以提高校准效果和工作效率。
3. 自校作业注意事项在进行设备自校作业时,需要注意以下事项:3.1. 遵循操作指南始终遵循设备厂商提供的操作指南。
不要随意更改校准方法或参数,以免对设备造成损坏或校准不准确。
3.2. 严格控制环境条件设备的环境条件会对校准结果产生影响。
自准直仪校准作业指导书
1、透镜的清洁,保养光电自准直仪的透镜时,最好用吹风球或者柔软的医用纱布,清洁灰尘如果光电自准直仪的镜头上有更多的较顽固的污渍,如指纹、油脂等,可以用干净的软绵布,镜头纸或医用纱布沾上纯酒精轻轻的搽去。
禁止用二甲苯清洗双目镜筒底部的入射透镜或目镜筒内的棱镜表面。
纯酒精和二甲苯易燃烧,在将电源开关时要特别注意当心着火。
一般光电自准直仪的防静电功能都很好,所以倒不用担心静电着火。
2、当光电自准直仪不使用时,对于光电自准直仪而言,当不使用时,请用塑料罩盖好,并放在干燥的地方免生霉。
对于光电自准直仪,我们特别建议将物镜和目镜保存在干燥器一类的容器中,并放干燥剂。
3、需防潮、防异物,我们使用光电自准直仪,或是其他自准直仪,不要将自准直仪放在潮湿的场所,如果水落在自准直仪上,立即关闭电源开关,待处理完并确认干燥后再使用。
4、定期检查,我们在使用光电自准直仪时,为保持自准直仪的性能,一般需进行定期检查。
看光路,镜头,电气等方面是否工作正常,及时发现,及时处理。
仪器校正作业指导书一、引言仪器校正是一项重要的工作,它保证了仪器的准确性和可靠性。
本指导书旨在为进行仪器校正的人员提供详细的操作指南,以确保校正工作的顺利进行。
二、校正前准备工作1. 校正标准的选择:根据仪器的类型和特点,选择合适的校正标准,确保其准确性和稳定性。
2. 校正设备的准备:检查校正设备是否完好,确保其正常工作。
清洁仪器表面,以确保校正的准确性。
3. 校正环境的准备:选择一个稳定、无干扰的环境进行校正,避免温度、湿度等因素对校正结果的影响。
三、校正步骤1. 校正前的检查:检查仪器的各项功能是否正常,确保仪器没有故障。
2. 校正前的调零:根据仪器的要求,进行零点调整,使仪器显示为零。
3. 校正点的选择:选择校正点,根据实际需要,选择多个点进行校正,以覆盖仪器的工作范围。
4. 校正数据的记录:在进行校正时,及时记录校正数据,包括校正点的数值和仪器的响应值。
5. 校正曲线的绘制:根据校正数据,绘制校正曲线,以便后续的校正计算和数据处理。
6. 校正计算的执行:根据校正曲线和所测量的数据,进行校正计算,得出校正后的结果。
7. 校正结果的评估:对校正结果进行评估,判断校正的有效性和准确性。
8. 校正结果的记录:将校正结果进行记录,包括校正前后的数据、校正曲线和校正计算的过程。
9. 校正后的检查:校正完成后,再次检查仪器的功能是否正常,确保校正的效果。
10. 校正报告的编写:根据校正结果和记录,编写校正报告,包括校正的目的、方法、结果和评估等内容。
四、校正注意事项1. 安全第一:在进行仪器校正时,要注意安全操作,避免发生意外。
2. 严格按照操作规程进行:根据仪器的操作手册和校正标准,按照规定的步骤进行校正,避免操作错误。
3. 注意环境因素的影响:在进行校正时,要注意环境因素对校正结果的影响,如温度、湿度等。
4. 防止误差的产生:在进行校正时,要注意避免误差的产生,如正确操作、准确读数等。
5. 定期进行校正:根据仪器的要求,定期进行校正,确保仪器的准确性和可靠性。
目的维持量测设备之准确度,确保产品质量。
2.0范围量规仪器总表内所规定之需校验之量测设备。
3.0职责3.1量测设备使用者: 配合校验联络单按时将必须校验之设备送品质部仪校室校验;3.2仪校室管理员: 确保校验之设备均能及时校验;3.3品质主管负责审核外校量规仪器之校验结果;4.0 作业程序4.1本公司量测设备校验分三类4.1.1免校4.1.1.1凡属参考性质、辅助设备之仪器、量具免校;4.1.1.2非用于生产测试、检验之事务性仪器、量具等免校;4.1.2.外校指凡经国家法定受权单位,校正仪器、量具的行为。
依实际使用频率订制校正周期,外校量具、仪器一般为用来传达量值的标准器或较精密而无法自校的仪器、量具;4.1.3.内校经国家法定受权单位校正的合格仪器、量具(标准器)进行校正本公司其它仪器、量具及测试设备的行为,其校正周期详见『量规仪器总览表』;4.2 标准件管理规定4.2.1 应可追溯国家标准;4.2.2 标准件可由认定合格人员进行校验及检测用;4.2.3 标准件应由仪校室保管;4.3 内校规定4.3.1校验人员资格4.3.1.1曾受过仪器、量具校验课程培训者;。
4.3.1.2内部自行培训且具两年以上并经检定合格者;4.3.2.校验人员依据量测设备内部校验联络单按有效期限及时发出校验通知,通知使用者或使用单位,将校验到期的量测设备送仪校室校验;4.3.3校验人员依“校正作业指导”进行校验判定,校验必须使用经校验合格之标准器材校验;4.3.4校验人员校验完成后将校验结果填写在『量检具校验记录表』上;4.3.5 校验完毕之合格量测设备,由使用者领回使用,限制使用之量测设备由仪校室再做处理;4.4 外校规定4.4.1 委外校验之量测设备由仪校室管理员提出申请,品质部主管核准后送至国家计量单位检验,不便搬动的设备则请国家计量单位来公司进行校验;4.4.2 经作业后,仪校室管理员按照各种量规仪器的校验周期提前一天把需送外校验之量规仪器收集,包装,写好清单,第二天送国家认可的专业计量部门进行校验;4.4.3 外校量规仪器在搬运过程中,应小心维护,以防损坏,影响其本身精确度;4.4.4 外校回厂之量规仪器由仪校室管理员按量规仪器外校清单进行清点,以防在搬运途中丢失;4.4.5 对外校回厂之量规仪器,仪校室管理员必须审查计量部门的校正结果并保存;4.4.6 仪校室管理员对外校之量规仪器校正结果必须及时通知相关部门,若为报废必须立即申购;4.4.7 本公司之量测试验设备,原则上经校验合格后方可使用,但委外校验不合格之量测设备根据各点检定值,能满足本公司之精度要求的经品质主管核准后,在公司内可作校验合格使用;4.5 针规内校作业细则4.5.1 工具:外校合格电子千分尺一把、干净碎布;4.5.2 先将待校验的针规和校验用的电子千分尺各部位用碎布清洁,摆放于工作台面;4.5.3 用电子千分尺检测针规,两端按象限点检测,各测四点,测量值与标准值的误差不可超0.002mm,否则视为不合格;4.5.4 校验合格的针规在针规上刻上规格以作标识;4.5.5 校验不合格的针规不予标识,并报废或改作他用;4.6 游标卡尺内校细则4.6.1校正工具4.6.1.1卡尺专用量块一盒4.6.1.2干净碎布4.6.1.3平台4.6.2 准备工作4.6.2.1 用干净的布条将使用平台清洗干净再将待校件与块规置于平台上准备清洁;4.6.2.2 用干净的布条清洁卡尺;4.6.2.3 清洁完毕之待校件和块规应置放于平台上至少30分钟以上,使其与环境温度同等;4.6.2.4 校正实施前应检视校正环境是否维持在温度20°±5°湿度75%以下;4.6.3校正规程4.6.3.1 将游标卡尺外测测爪密合,将其朝向光源,视其两外测量爪间不得有光线透过,且内测间不得有微光透出,如图:且表针应垂直向上(带表)如图:感其是否平稳顺畅;用游标卡尺的外量爪测一个平放在工作平台上4.6.3.11游标卡尺之外卡,内卡,深度尺标准测定值如下:规格mm 测 定 点 0~150 5.1 41.2 81.5121.8 0~300 5.1 41.2 81.5 121.8 250 0~5005.141.281.5121.8250不透光密合4.7千分尺内校细则4.7.1 校正标准件与相关工具4.7.1.1 千分尺专用量块组一盒4.7.1.2 干净碎布4.7.1.3 平台4.7.2准备工作4.7.2.1用干净布条将使用台台清洗干净,再将待校件与块规置放于平台上准备清洁;4.7.2.2用碎布清洁千分尺各部位和块规,测量面,再用干净碎布擦干净;4.7.2.3 清洁完毕之待校件和块规应置于平台上至少30分钟以上,使其与环境温度同等;4.7.2.3 校正前应检视校正环境温度是否维持在20°±5°湿度75%以下;4.7.3 校正规程4.7.3.1目测千分尺之微分筒上刻度不得磨损不清,顶端调紧螺钉应完好无缺;4.7.3.2将螺杆测量面相互接触,调动调整螺钉,使其能紧密相触,将朝向光源不得有微光透出;4.7.3.3归零后用标准块规进行检测,测量过程中应(如图)把螺杆测量面达缘都测量,其测量结果必须与被测块规大小一致;4.7.3.4 标准块规应定期送国家合格单位校正;4.7.3.5数据及报告,由校正人员校正完成后填写『量检具校验记录表』;4.7.3.6 校正结果如为降级使用或暂停使用,应在『量检具校验记录表』上注明并在被校正件上贴附校验状态标签;4.7.3.7 送修完成之千分尺,应再实施校正,确定合格后方可发放使用;4.7.3.8 千分尺之检测标准值如下:。
LTE作业指导书LTE综测仪表CMW500作业指导书为规范LTE综测仪表CMW500的规范操作,特编制本测试作业指导书。
本文件于2012年03月首次发布,2013年07月第二次修订为便于理解,将历次修订记录保留如下:目录1、范围 (4)2、规范性引用文件 (4)3 、工作环境 (4)4、CMW500 LTE常规设置项 (4)4.1启动CMW500界面 (4)4.2选择Signal Generator (5)4.3 选择LTE signaling (6)4.4 LTE signaling配置及详解 (6)Physical Cell ID物理单元ID (10)5、LTE TX的测试项 (13)5.1、最大发射功率和最大功率衰减 (13)5.2、配置终端UE输出功率 (18)6、输出功率动态范围 (22)6.1、最小功率输出 (22)6.2、发射关断时间模板 (24)6.3、PRACH 与SRS 时间模板 (27)6.3.1、PRACH 时间模板 (27)6.3.2、SRS时间模板 (29)7、功率控制 (33)7.1、绝对功率控制容限 (33)7.2、相对功率控制容限 (35)7.3、集合功率控制 (46)8、传输信号质量: (51)8.1、频率误差 (51)8.2、误差矢量幅度 (53)8.3、载波泄漏: (65)8.4 未分配资源块带内杂散 (67)8.5 EVM均衡器频谱平坦度 (71)9、RF输出频谱发射 (75)9.1占用带宽 (75)9.2 频谱发射模板 (77)9.3额外频谱发射模板 (83)9.4邻信道泄漏比 (87)10、接收机测试 (91)10.1 接收机灵敏度 (91)10.2最大输入电平 (96)11、附录: (98)11.1 PUCCH-Related测量设置 (98)11.2 开关时间模版的测量设置 (98)11.3 相对功率控制的设置 (99)12 注意事项 (99)13、设备维护保养 (99)14、记录保存 (99)15、校准周期 (100)LTE综测仪CMW500作业指导书1、范围本文件规定了使用R&S CMW500综测仪进行LTE性能测试的操作方法,以及有关LTE性能测试的规范。
MTK-atedemo校准/综测作业指导一.目的:规范我公司主板校准/综测操作方法,保证产品质量。
二. 计算机的配置要求生产用计算机应采用运行稳定的工控机,CPU在PIII800以上,内存256M,Windows2000 以上。
预装Agilent 或着NI 的GPIB 卡及其驱动。
三. 系统硬件的连接该测试系统的硬件由手机综测仪、程控直流电源和工控机组成。
手机综合测试仪支持Agilent 8960 和CMU200。
程控直流电源支持Agilent663XX 系列,和Keithley23XX 系列电源。
程控直流电源为可选件,如不提供,则可采用假电池的方式给主板供电。
连接如下图所示:四.安装软件先将港利发布的安装包解压到本地目录后,运行其中的setup.exe 文件,安装过程中会提示选择适当的安装路径,默认的安装路径是C:\Program Files\MTK-atedemo\五.打开软件在软件安装路径下点击MTK_atedemo即可运行该综合测试软件。
打开后的界面如下图一所示六.测试选项配置点击上图Report system选项,出现下图选择测试选项,综合测试仪地址,电源地址,CPU型号,电脑端口(我司会根据不同机型,在给出校准参数的同时会抓配置图片告知测试选项).六.校准参数配置A.点击上图Select NVRAM Database file选项,配置该测试机型Database文件.B.点击上图中Select Config file选项,配置校准参数中的.CFG文件。
C.点击上图中的Select Calibration file 选项,配置校准参数中的.ini文件.D.点击上图中Select Test Setup file选项,配置校准参数中的SETUP文件。
配置完成后,点击Save Change 保存配置并退出。
回到初始界面下图Initial Final Test 只综测Initial Calibration 只校准Initial Cal and Final 校准加综测根据我司要求选择不同选项初始化仪器,OK后出现下图界面接上待测试主板,接上RF射频线,电击Calibration Test开始测试作业。
名 称
制 定 审 核批 准 编号 TE-20120820-983 日 期2012-08-20用 途
图3
1.仪器正常开机后,按8960“SYSTEM CONFIG”键; 2、然后按“MORE”键(图1),进入(图2)界面,再按“F7键Service”进入(图3)界面, 选择第一项“Cal.first IQ Moduiator”按下确定(旋扭)进入(图4)界面,看进度条显示,完成后提示(图5)界面;
图4图5 图6
3.按“Service”进入(图3)界面,选择第二项“Cal.second IQ Moduiator”按确定进入(图4)界面,看进度条显示,完成后提示(图5)界面;
4.再按“Service”进入(图3)界面,选择第三项“Cal.Burst Mod offset 1”按确定进入(图4)界面,看进度条显示,完成后提示(图5)界面;
5.然后选择“Self Test”按确定显示(图6)界面,完成后“Self Test Passed ”返回到主界面即可。
图2 综测仪自校作業指導書
检测仪器功能,自校仪器系统参数,增强仪器稳定性.
8960 具、高频头、射频线等)
注:非工程人员不可私自调试仪器;仪器自校前需确保两点:第一必须是仪器在开启30分钟后才能校准,第二自校前,移除带负载的工装(如:夹作 业 视 图
作 业 内 容 及 步 骤
图1SYSTEM CONFIG MORE
旋扭。
监测仪器设备检定校准指导书1 目的提高本机构仪器设备管理水平,规范检定/校准和自校验(以下简称自校)工作,指导仪器设备自校人员校验仪器设备,确保试验检测数据准确、可靠。
2 适用范围适用于监测类仪器设备检定/校准和自校。
3 依据依据监测相关的规程规范、仪器设备说明书及其他相关参考资料。
4 职责4.1监测室为本作业文件的归口管理部门,负责本文件的制定和修订。
4.2 设备主管、设备管理员及设备自校人员按本文件管理和校验仪器设备。
5 检定/校准指南5.1 监测仪器设备量值溯源分类监测仪器设备量值溯源的具体方式分为以下三类:(1)检定根据《中华人民共和国计量法》第九条规定:“企业、事业单位使用的最高量标准器具,以及用于贸易结算、安全防护、医疗卫生、环境监测方面的列入强制检定目录的工作计量器具,实行强制检定。
目前强制检定的工作计量器具共有61项118种。
强制检定的计量器具实行属地管理,由当地县(市)级人民政府计量行政部门指定的计量检定机构检定,当地不能检定的,送至上一级人民政府计量行政部门指定的计量检定机构检定。
强制检定的周期,由执行强制检定的计量检定机构根据计量检定规程确定。
主要为测量单一物理量(如质量、长度等)的通用计量器具。
由检定机构出具检定报告。
(2)校准对非强制检定的计量器具进行定期检定通常称为校准。
由计量器具使用单位自行决定校准是在本单位实施或者是送其他计量检定机构实施。
使用单位自行实施校准也称为自校,部分计量器具无法自校,可能采取机构间比对的方式进行量值溯源;委托其他单位也无法校准的部分计量器具,可以通过测试,取得测试报告作为量值溯源的依据。
校准周期由实施校准的单位自行规定,由校准单位出具校准报告。
计量器具使用单位需要对校准结果进行确认。
(3)功能检查无量值输出的工具类仪器设备,采取自行维护检查的管理方式。
本机构监测类仪器设备检定/校准分类见附表C03.08-01: 监测仪器设备检定/校准一览表。
目录
1目的 (2)
2适用范围 (2)
3执行人员 (2)
4自校准记录 (2)
5综测仪校准内容 (2)
5.1 综测仪E5515C的校准 (2)
5.1.1 注意事项 (2)
5.1.2 校准项及正常情况下自校准周期 (2)
5.1.3 校准步骤 (3)
5.2 综测仪CMU200自校准 (4)
5.2.1 注意事项: (4)
5.2.2 自校准周期 (4)
5.2.3 自检方法及步骤: (4)
5.3 综测仪MT8820 自校准 (5)
5.3.1 注意事项 (5)
5.3.2 自校准周期 (5)
5.3.3 自校准步骤 (5)
1目的
确保ZTE 终端产品的生产稳定、有序进行,规范生产线操作,维护测试站的正常测试进程,为设备的管理,维护,操作提供依据,为生产线测试站的可靠性提供保障
2适用范围
本说明适用于手机产品体系主要移动电话机生产线测试站综合测试仪(E5515C/CMU200/MT8820
3执行人员
由手机产品体系制造一、二部及康讯部件生产部手机测试车间技术员按照此说明操作或在技术员指导下的生产部测试站作业员执行此操作。
4自校准记录
综测仪校准成功后,做好记录,注明操作人、时间,以备维护和下次自校准。
5综测仪校准内容
5.1 综测仪E5515C的校准
5.1.1注意事项
1)校准前必须取下测试仪所有射频接口上RF线缆和转接头等;
2)校准前要至少开机运行30 分钟以上;
3)确认仪器是否需要校准,一般根据各自周期按时校准,如特殊情况,如有环境
改变,增加新模块,维修过等情况,在使用前需要校准;
4)温度变化超过10 度时需进行自校准。
5.1.2校准项及正常情况下自校准周期
5.1.3校准步骤
5.1.3.1 IQ 校准步骤:
在WCDMA/ Cdma2000/IS-95/AMPS/1xEV-DO模块下,按SYSTEM
CONFIG – More (1 of 2)-- Service (F7),先后选择“Cal. First IQ
Modulator”和“Cal. Second IQ Modulator”校准。
每个分别需要5~6
分钟。
5.1.3.2 Burst Mod offset 1 Calibration 步骤:
在WCDMA/ Cdma2000/IS-95/AMPS/1xEV-DO模块下,按SYSTEM
CONFIG – More (1 of 2)-- Service (F7),再选择“Cal. Burst Mod
offset 1”校准。
所需时间不超过1 分钟。
5.1.3.3 Thermal power Null Adjustment 步骤:
在WCDMA/ Cdma2000/IS-95/AMPS/1xEV-DO模块下,按SYSTEM
CONFIG – More (1 of 2)-- Thermal power Null Adjustment (F9).
所需时间30秒到3分钟不等。
5.1.3.4 Digital Average power校准步骤:
在Cdma2000/IS-95/AMPS/1xEV-DO模块下,按Measurement selection ,
选择
Digital Average power,再按“Calibration Digital Avg pwr”(F4 键)。
大约需要9分钟。
注:该项目完成后必须重启仪器才能生效。
5.1.3.5 Spectrum Monitor 校准步骤:
Cdma2000/IS-95/AMPS/1xEV-DO 共用Spectrum Monitor校准参数文
件,只需任意校准其中一个模块;
WCDMA/HSPA 有自身的Spectrum Monitor校准参数文件;
GSM/GPRS/ EGPRS/ AMPS/136 共用Spectrum Monitor校准参数文
件,只需校准任意其中一个模块。
在需要自校准的模块下,按“Instrument selection”键,选择“Spectrum
Monitor”
,再按F4(Trigger Setup),再选择F11(Calibration Measurement),
选择“YES”开始自校。
需要45秒到3分钟不等。
5.1.3.6 Channel power 校准:
在需要自校准的模块下, 按Measurement selection , 选择“Channel
power”,再按F4 进行自校准。
需要2 分钟左右。
如果已经执行过Spectrum Monitor 校准,可不需要再执行该校准。
5.1.3.7 Calibration Measurements
在需要自校准的模块下, 按Measurement selection , 分别选择WCDMA
各测试项目,再分别按F4 进行自校准。
每项大约需要 3 分钟。
如果已经执行过Spectrum Monitor 校准,可不需要再执行该校准。
5.1.3.8 本次校准成功,重新装好RF线缆执行测试程序。
5.2 综测仪CMU200自校准
5.2.1注意事项:
1)自检前要至少开机运行15 分钟以上;
2)特殊情况,如有环境改变较大,增加新模块,维修过等情况,在使用前需要进
行自检;
5.2.2自校准周期
正常情况下两个月自检一次
5.2.3自检方法及步骤:
1)选择MENU SELECT健.
2)选择Basic Functions→Base.
3)选择Select→System Selftest→Test→ON/OFF. 检查CMU200内部各个模块是
否正常.
4)选择Select→Internal RF Loop Path 1 →Test→ON/OFF,检查射频端口1 内环路
测试是否通过. 1自测完毕直接按Enter 键检查射频端口2 内环路测试是否通
过.
5)选择Select→1→4/2→3RF Loop Path 1. 将射频电缆连接到CMU200的端口
1和4, 选择Test→ON/OFF. 检查端口1→端口4外环路测试是否通过.
6)接上步骤,将射频电缆拆下并连接到CMU200 的端口2和3, 直接按Enter 键.
检查端口2→端口3外环路测试是否通过.
注:5,6步骤所用射频线可使用通用射频线,转接头,N型头制作,将射频线接射频头口转成 N 型头后,可同时接到两个射频头上。
5.3 综测仪MT8820 自校准
5.3.1注意事项
1)自检前要至少开机运行30 分钟以上;
2)特殊情况,如有环境改变较大,增加新模块,维修过等情况,在使用前需
要进行自检。
5.3.2自校准周期
正常情况下每个月自检一次
5.3.3自校准步骤
1)校准必须在parameter界面下进行,如果不在,按面板上的focus按钮进行
切换,focus按钮的功能是在parameter,fundamental,UE Report三个界面
之间进行切换。
2)切换到parameter界面之后,按面板右下角的next按键到第三页,会看到
Full calibration的选项,直接按旁边的按钮就可以进行全校准,需要2分
钟左右。
3)校准完后按面板最下面的config按键进入下面系统配置界面
4) 4.再按system information screen进入系统信息界面,界面中间有个full cal
time,那个就是最近一次的校准时间。