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薄膜厚度的测量
石英晶体振荡器法 广泛应用于薄膜淀积过程中厚度的实时测量,主要应
用于淀积速度,厚度的监测,还可以反过来(与电子技术 结合)控制物质蒸发或溅射的速率,从而实现对于淀积过 程的自动控制。
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四、薄膜材料
a) 增透膜
b) 反光膜
c) 分光膜
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d) 滤光膜
轰击膜料表面使动能变为热能,对其加温,使其熔化或升华。
电子枪对薄膜性能的影响 1、对膜层的影响: (1)蒸气分子的动能较大,膜层较热蒸发的更致密牢固; (2)二次电子的影响:使膜层结构粗糙,散射增加; 2、对光谱性能的影响
电子枪对光谱的影响主要是焦斑的形状、位臵、大小在成膜的影响。 特别是高精度的膜系,和大规模生产的成品率要求电子枪的焦斑要稳定。
e) 偏振膜
f) 保护膜
g) 电热膜
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镀膜工艺
主要工艺因素 (1)基板处理:包括抛光、清洁、离子轰击 (2)制备参数:包括基板温度、蒸发速率、真空度 (3)蒸汽入射角; (4)老化处理。
薄膜主要性质: (1)光学性质:包括折射率、各项异性、吸收、散射、光学 稳定性等 (2)机械性质:包括硬度、附着力、应力 (3)抗激光损伤。
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平均自由程
气体分子之间相邻两次碰撞的距离,其统计平均值为平均自 由程。 l=1/(√2πς2n)=kT /(√2πς2P)
PVD所需真空度的基本确定原则是“气体分子的平均自由程大 于蒸发源到被镀件之间的距离”。
d=25cm,P<=2.7×E-3Pa d=50cm,P<=1.3×E-3Pa d=90cm,P<=7.4×E-4Pa 可见对于大的真空室,真空度的要求更高。