真厚度、视厚度(图示)

地学中常用公式一、平均品位的计算公式：1、算术平均：(X1+X2-……+Xn)／n X1、X2、X n为样品品位2、加权平均：(X l×L l+X2×L2+……+ X n×Ln)／(L l+L2+……+L n) X1、X2……X n。

为样品品位，L l+L2+……+Ln为样品长度3、几何平均为Xn2⨯1 X1、X2、Xn为样品品位X⨯n⨯X注：品位为正态分布时，处理特高品位时，可用此公式。

二、矿体厚度(Vm)、品位(Vc)变化系数：—X=(X1+X2+……+Xn)／n 计算矿体厚度、品位的平均值∑-σ计算均方差X(2nXi/(-=)1)厚度、品位变化系数：Vm或Vc=⨯σ100％÷X三、地质剖面岩石厚度计算公式：y=sinα·cosβ·cosγ±cosα·sinβα--导线坡度角β--地层倾角γ --导线方向与地层倾角的夹角地层倾向与坡向相反取正号，地层倾向与坡向相同取负号；真厚度=L×y四、钻孔矿体厚度的确定矿体的厚度是根据矿体露头上、坑道中和从钻孔中所获得的资料进行的。

(一)坑道中矿体厚度的测定当坑道所揭露的矿体与围岩的接触界线清楚时，取样和编录时可在矿体上用钢尺直接捌量出来。

厚度测量的次数决定于坑道的布置情况，如矿体是用穿脉坑道圈定的，则测量次数与穿脉坑道的数量相符。

如果矿体是用沿脉坑道圈定的，则厚度的测定按一定间隔在取样的位置进行测量。

如果矿体与围岩的界线不清时，矿体厚度的测定必须根据取样结果来确定。

(二)钻孔中矿体厚度的测定因为钻孔中所截穿的矿体均在地下深处、只能间接地去测定矿体的厚度。

当钻孔是垂直矿层钻进时，且岩心采取率为100％，可直接丈量岩心，取得厚度的数据。

若岩心采取率不高，除用钢尺丈量岩心长度外，还要按下式进行换算：m nL(11-9)式中： m ——矿体的厚度(米)； L ——实测矿心长度(米)I n ——矿心采取率(％)。

层理：是沉积岩最常见的一种原生构造。

它是沉积物沉积时由于介质（如空气、水）的流动在层内形成的成层构造。

按其形态分类：平行层理、波状层理、斜层理。

利用沉积岩层原生构造确定岩层的顶面和底面1.斜层理：由一组或多组与层面或层系界面斜交的细层组成。

其判断特征是：每组细层与层系上界面或岩层顶面成截交关系，而与层系下界面或岩层地面呈收敛变缓而相切的关系，弧形层理凹向顶面凸向底面。

2.粒序层理：又叫递变层理。

其特点：在一个单层内，从底到顶粒度由粗逐渐变细。

细小顶，粗大底。

3.波痕：能指示岩层顶、底面的主要是对成型的浪成波痕。

波峰尖端指向岩层的顶面，波谷的圆弧则是凹向底面。

4.泥裂：泥裂变窄的尖端指向岩层底面（老），开口端指向顶面（新）。

5.雨痕、冰雹痕及其印模：凹坑和瘤状印模的圆弧外形总是凹或凸向岩层的底面。

6.冲刷痕迹：固结或半固结的沉积层，在露出水面或在水下时，因流水的冲刷，在沉积层的层面上造成沟、槽和浅坑等凹凸不平的冲刷痕迹。

开口为新，相反为老。

7.古生物化石的生长和埋藏状态：基部总是指向岩层的底面。

穹状纹层的凸出方向往往指向岩层的顶面。

大多数介壳的较凸的一瓣的凸出方向，往往指向岩层的顶面。

产状三要素：走向、倾向、倾角。

方位角表示法：SW205∠25（西南205，倾角25）岩层产状类型：水平岩层、倾斜岩层、直立岩层、倒转岩层。

水平岩层特征：1、水平岩层在地质图中的表现为其地质界线与等高线平行或重合，水平岩层出露和分布状态完全受地形控制。

2、水平岩层的成层顺序为上新下老。

3、水平岩层厚度为该岩层顶底面的标高差。

4、水平岩层在地质图上的露头宽度取决于地面坡度和岩层厚度，厚度相同，坡度越缓，露头宽度越大；坡度相同，厚度大，露头宽度越大。

倾斜岩层的露头界线形态：水平岩层的露头界线在地质平面图上，表现为与地形等高线平行或重合；直立岩层露头界线在地质平面图上是沿走向呈直线延伸，不随地形等高线弯曲而弯曲；倾斜岩层露头界线分布形态则较为复杂，表现为与地形等高线成交切关系，V 字形法则：①水平岩层的出露形态真实的反映等高线的弯曲特征，地质界线随等高线的弯曲而弯曲。

第九章地震薄层分析第一节薄层地震相应的特征一、一般特征①合成记录②子波导数二、楔状夹层特征第二节调谐原理一、调谐条件①调谐点②调谐振幅，调谐厚度二、调谐与分辨率①分辨区②不可分辨区（检测区）三、调谐原理的应用方法①调谐点识别②分段计算第三节薄层频率特征一、基本原理二、厚度解释第四节薄互层定量解释一、基本薄互层二、薄的薄互层三、厚的薄互层第五节应用实例第九章地震薄层分析薄层分析是储层最重要的内容之一。

主要原因是因为储集层一般都比教薄，这是大家共知的。

第一节薄层概念的相对性从一般的常识中可知，地层的厚薄程度都是相对而言的。

每一个研究领域中（尤其是应用领域），都有一套自己的地层厚薄的大致界线或标准。

如：（1）在逆冲断裂带上采集的地震资料，能显示出许多高角度的逆冲断层，同时存在一些低角度的滑片。

构造地质学中往往把这些滑片视为薄层，而把其上下的块体视为厚层。

（2）在层序地层学中，一般把海相页岩地层称为海相页岩楔，而其最大饥饿面和其海岸一侧均变为薄层。

而将其上的高水位期沉积体系视为厚层。

（3）又如，在垂直地震剖面（VSP）中，井下两个接收点之间一般约为25米，而一般的地震测井为125米间隔，这样它们反映出的最小地层厚度是完全不同的。

（4）再如，在地震速度谱上，能量团能够代表的最薄地层约100～300米，而大大超过这个限度的地层视为厚层等等（如层序或亚层序）。

（5）另外，大家很熟悉的，声波测井曲线：岩层厚度的大小是相对声波测井仪的间距来确定的。

厚度大于间距的称为厚层，反之称为薄层。

我国采用0.5米的间距。

显然，决定一套地层是厚还是薄无非受到以下两个方面的限制。

（1）资料测量的精度，如VSP观察间距，声波测井曲线采样间隔等。

（2）研究目的（如区域研究时一组同相轴与精细研究一个同相轴）根据地震资料确定地层厚度的历史由来已久，但过去只是用运动学参数时差来计算。

地震能否解决薄层是个长期争论的问题。

第二节 地震反射振幅分析法（时间域）一、薄层的地震响应关于薄层的地震响应，前人很早就有认识和论述。

GIC复习名词解释（部分）1类质同象变体：晶体结构中某质点（原子、离子或分子）为其他类似的质点所代替，其结构型式不发生改变，这种现象称为矿物的类质同象2磷光：矿物在受外界能量激发时发光，激发源撤除后仍能继续发光一段时间的叫磷光。

一般继续发光时间只有几秒。

如磷灰石的热发光等。

磷光过程：1、电子以热的形式放出热量，落入陷阱能级；2、电子吸收热能克服能垒；3、电子以光子的形式回落到基态能级。

（可画图）意义：可做辅助性鉴定依据，如天然欧泊有磷光，而合成欧泊没有。

3用显微镜测量折射率：主要方法有贝克线法、柏拉图法和直接测量法；贝壳线：光通过RI不同的相邻两种矿物边缘形成的一条明亮的细线。

当提升镜筒时，贝壳线会发生移动；1、提升镜筒，贝壳线向RI大的一方移动；2、降低镜筒，贝壳线向RI小的一方移动；柏拉图法：1、将宝石进入油中；2、RI宝石>RI油，准焦于宝石上方液体中，宝石刻面棱呈白线；准焦于宝石内，宝石刻面棱呈黑线；3、RI宝石<RI油，准焦于宝石上方液体中，宝石刻面棱呈黑线；准焦于宝石内，宝石刻面棱呈白线；直接测试法：又称真厚度/视厚度，真景深/视景深法。

具体操作：（利用带游标尺的显微镜测试）1、将清洗过的宝石顶刻面朝上，放在载玻片上，使顶刻面水平；2、目镜与顶刻面准焦，从标尺上读数A；3、下降目镜与底小面或亭尖准焦，从标尺上读数B；4、移开宝石，目镜与载玻片准焦，从标尺上读数C；5、带入公式：RI=（C-A）/(B-A)。

4折射率测量的远视法：为了扩大折射仪使用范围，对小刻面宝石或弧面型宝石的折射率，可采用远视法即点测法进行近似测试。

方法如下：1、清洗棱镜和宝石，摘下偏光片；2、在金属台上点一滴接触液；3、手持宝石，用弧面或小刻面接触金属台上的液滴，以保证宝石上的接触液滴直径约为0.2mm。

若宝石上的液滴较大，则不易得到清晰而准确的读数；4、将带有合适液滴的宝石轻轻放置于棱镜中央，使宝石通过液滴与棱镜形成良好的光学接触；5、眼睛距目镜30-45cm，平行目镜前后移动头部，读取宝石近似折射率。