CPK讲义
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C PK 培訓教材一.Cpk 的定義某一制程在一定因素與正常管制狀態下的品質作業能力.二.Cpk 的影響因素製程要因--—原料,机器設備,人員能力,測量儀器.製程條件-——常態分配,統計管制狀態。
三。
Cpk 的計算USL :上限尺寸L SL:下限尺寸Ave ra ge:測量數据的平均值σ:標準差,其公式為: σ=1/)(22--∑∑n n x xCpu=(USL —Average)/3σCp l=(Average-L SL )/3σCpk=Min(Cpu,C pl) σ:其大小表示測量數据的離散程度, σ越小表示數据的離散程度越小,反之則數据的離散程度越大.C pu:其值表示測量數据偏離上限的程度, Cpu 越大表示測量數据偏離上限較遠; 反之則數据靠近上限。
Cpl: 其值表示測量數据偏離下限的程度, C pl 越大表示測量數据偏離下限較遠; 反之則數据靠近下限。
四.Cp k的等級A : 1.33≦C pkA 級,製程能力滿足圖紙要求,生產中几乎沒有不良品產生。
B: 1。
00≦Cpk〈1.33B級,製程能力基本滿足圖紙要求,生產中約有0。
27%不良品產生,必須加以注意,並設法維持不使其變坏。
C: Cpk<1.00C級,製程能力不能滿足圖紙要求,生產中可能有較多不良品產生, 應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響的因素,必要時得停止生產。
五.Cpk 管制抽樣的基本原則管制方法取樣頻率管制圖查檢表高 1—-2小時15——30分鐘中 4-—8小時每小時低每班次 2小時六.CPK數据分析.1.數据均分布于中值兩旁, Cpk值一般大于1。
33,見附圖1. 2。
數据离散地分布中值兩旁,Cpk值一般小于1.33,見附圖2.3。
數据分布离散度小,但偏中值不遠,Cpk值大于1.33,見附圖3。
4.數据分布离散度小,但偏中值較遠,Cpk值小于1.33. 見附圖4.5。
數据絕大多數雖均分布于中值兩旁,但個別超差,將大大降低Cpk值,甚至Cpk值小于1。