原子荧光光谱法
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原子荧光光谱法原子荧光谱(AFS)是介于原子发射光谱(AES)和原子吸收光谱(AAS)之间的光谱分析技术,它的基本原理就是:基态原子(一般蒸气状态)吸收合适的特定频率的辐射而被激发至高能态,而后激发过程中以光辐射的形式发射出特征波长的荧光。
一、原子荧光光谱法原理
1. 1原子荧光的类型以及荧光猝灭
(1) 共振荧光
当原子受到波长为入A的光能照射时,处于基态E0(或处于E0邻近的亚稳态E1)的电子跃迁到激发态E2,被激发的原子由E2回到基态E0(或亚稳态E1)时,它就放出波长入F的荧光。这一类荧光称为共振荧光。
(2) 直跃线荧光
荧光辐射一般发生在二个激发态之间,处于基态E0的电子被激发到E2能级,当电子回到E1能级时,放出直跃荧光。
(3) 阶跃线荧光
当处于激发态E2的电子在放出荧光之前,由于受激碰撞损失部分能量而至E1回到基态时,放出阶跃线荧光。
(4) 热助阶跃线荧光
原子通过吸收光辐射由基态E0激发至E2能级,由于受到热能的进一步激发,电子可能跃迁至E2相近的较高能级E3,当其E3跃迁至较低的能级E1(不是基态E0)时所发射的荧光称为热助阶跃荧光。小于光源波长称为反stoke效应。
(5)热助反stokes荧光
(略)
某一元素的荧光光谱可包括具有不同波长的数条谱线。一般来说,共振线是最灵敏的谱线。处于激发态的原子寿命是十分短暂的。当它从高能级阶跃到低能级时原子将发出荧光。
M*TM+hr
除上述以外,处于激发态的原子也可能在原子化器中与其他分子、原子或电子发生非弹性碰撞而丧失其能量。在这种情况下,荧光将减弱或完全不产生,这种现象称为荧光的猝灭。荧 光猝灭有下列几类型:
1)与自由原子碰撞
M*+X=M+X
M*T激发原子X、MT中性原子
2)与分子碰撞
M*+AB=M+AB
这是形成荧光猝灭的主要原因。AB可能是火焰的燃烧产物;
3)与电子碰撞
M*+e-=M+E-
此反应主要发生在离子焰中
4)与自由原子碰撞后,形成不同激发态
M*+A=Mx+A
M*、Mx为原子M的不同激发态
5)与分子碰撞后,形成不同的激发态
M*+AB=Mx+AB
6)化学猝灭反应
M*+AB=M+A+B
A、B为火焰中存在的分子或稳定的游离基
2. 荧光强度与分析物浓度间关系
原子荧光强度If与试样浓度C以及激发态光源的辐射强度I0存在以下函数关系
If二①I
根据比尔一朗伯定律
厅叫口•e-KLN]
式中:①-原子荧光量子效率
I-被吸收的光强
I0-光源辐射强度 K一峰值吸收系数
L一吸收光程
N一单位长度内基态原子数
按泰勒级数展开,当N很小,则原子荧光强度If表达式可简化为:
If二①I0KIN
当所有实验条件固定时,原子荧光强度与能吸收辐射线的原子密度成正比,当原子化效率固定时,If与试样浓度C成正比,即
I=aCf
上式线性关系,只在浓度低时成立。当浓度高无论是连续光源或线光源,荧光强度会发生变化,由于自吸作用荧光信号引起变化,荧光谱线变宽,从而减少峰值强度。光源强度越高,测量线性工作范围越宽,线性的下端延至愈来越低浓度值。因此,在痕量分析时,一般不会遇到曲线弯曲现象。
二、原子荧光光谱法的仪器装置
2.1.原子荧光光谱仪器的基本结构
原子荧光光谱法仪器装置由三个主要部分组成;激发光源、原子化器以及检测部分。检测部分主要包括分光系统(某些情况下也可省去)光电转换装置以及放大系统和输出装置如图
2-1
图2-1原子荧光光谱仪器基本结构
AFS仪器有:单通道、双通道、多通道之分,我国主要产品为,单通道和双通道为主
(见图2-2) 2.2.激发光源激发光源是AFS仪器主要组成部分,一个合格光源应具有下列条件:(1)强度高、无自吸。
(2)稳定性好、噪声小。(3)辐射光谱重复性好。(4)价格便宜、寿命长。(5)发射的谱线要足够纯。
AFS法中所用的各种光源有下列几种:
a.蒸气放电灯:只适用于Zn、
Cd、Hg等少数元素由于发射谱线有严重自吸效应,近年来很少有人再用。
b.连续光源:高压汞氙灯,这种灯检出限差,光散射及光谱干扰比较严重。经改良后短弧高压氙灯,紫外波段能量还不够高。如果配合中阶梯光栅单色仪,检出限有改善,干扰相应减少但只有个别厂使用。
c.空心阴极灯:目前多采用以脉冲方式供电的空心阴极灯。一般AAS的HCL不能激发出足够强的荧光信号。不能用于AFS;空心阴极灯要求:峰值电流不高,没有谱线自吸现象。当峰值电流足够大时,离子线强度增强,原子线的强度相应减弱。目前应用这种HCL较多。高强度空心阴极灯可以得到较强的荧光信号,适用于AFS测定。但结构复杂价格高,有时配备附属设备。应用这种灯不多。
d.无极放电灯:是AFS分析中重要光源之一这种灯结构简单。无电极,所用功率小,能激发足够强荧光信号。但价格较高,使用者不多。
e.电感耦合等离子体:这种光源对某些元素(如Zn、Cd……等)有较好检出限,但应用不广。
f.温梯原子光谱灯:这是一种新光源,没有自吸,发射强度很高,但商品灯性能不够理想应用不广。
g.可调谐染料激光:这是一种十分有希望的光源,对某些元素的检出限可达fg的数量级,目前,染料激光价格太贵,装置复杂,推广应用较困难。
2.3.原子化器
适用于AFS法的理想的原子化器必须具有下列特点:(1)原子化效率高。(2)没有物理或化学干扰。(3)背景发射低。(4)稳定性好。(5)不含高浓度的猝灭剂。(6)在光路中原子有较长寿命。 火焰原子化器:应用不多
(略)
(b) 电热原子化器:从理论上讲,它是AFS法中比较理想的原子化器,是一种较有前途的原子化器。目前因机理和方法未明朗,应用较少。
(c) 固体样品的原子化器:应用较少。(略)
(d) 氢化物法原子化器:这是近年来,应用最多一种原子化器,加热方式有两种:(a)石英炉电热原子化器。见图2-3
代)石英炉红外加热原子化器。
2.4.色散系统与无色散系统
色散系统指用单色器分光。非色散系统不分光,没有单色器(图2-2)为了降低室内光线影响,采用工作波长为160-320^^的目盲倍增营,直接检测荧光。这种系统具有设计简单且便宜。不存在波长漂移。有较好的检出限,目前国产仪器多采用这种系统不足之处是:用目盲倍增营,较易受到散射和光谱干扰,对光源的纯度有较高的要求。
(图2-2)
2.5.电子检测线路
无色散系统,国内的双道AFS系列实际上是采用时间分辩——多路传输方案,安装在原子化器周围的HCL顺序点亮。依次对荧光信号进行检测。(其原理和电路部分,略)三、氢化物发生进样方法
这种方法是利用某些能产生出生态还原剂或化学反应,将样品溶液中的分析元素还原为挥发性共价氢化物,然后借助载气流将其导入AFS分析系统进行测量方法。该方法优点在于(1)分析元素能够与可能引起干扰的样品基体分离,从而消除干扰。(2)与溶液直接喷雾进样相比它能将待测元素充分预富集,进样效率近于100%(3)连续氢化物发生装置宜于实现自动化(如与流动注射联用)。(4)不同价态的元素氢化物在不同条件下,可进行价态分析。氢化物发生法有各种各样方式。但概括归纳起来有三大体系;金属——酸还原体系;硼氢化钠(钾)——酸还原体系;电解体系。金属——酸还原体系由于适用元素不多,虽然不断改善仍存在许多缺点,应用不多。硼氢化钠(钾)——酸体系应用较广泛,适合于测定As、(a) Sb、Bi、Ge、Sn、Pb、Se、Hg、Zn、Cd、Te等11种元素:
反应式如下:
NaBH4+3H2O+H+►H3BO3+Na++8H-—EHn+H2T
硼氢化物的形成决定于二个因素,一是被测定元素于氢化合的速度,二是硼氢化钠在酸性溶液中分解的速度,在进行氢化反应时,必须保持一定酸度,被测元素也要以一定价态存在(例如Se+6、Te+6完全不与硼氢化钠反应)。有时需要在某些价态元素中加入氧化剂,在样液中以锌粉、硼氢化钠作还原剂制备氢化物较好,在室温下,易生成氢化物气体,易从基体分离出来导入原子化器内,这种体系克服或减少了金属——酸还原体系的缺点。在还原能力,反应速度自动化操作,干扰程度以及适用性等方向有极大的优越性。用电化学方法产生氢化物是一种新方法:在KOH碱性介质中电解,在铂电极上还原As和Sn,然后生成AsH3、SnH4导入原子化器中进行测定,只适用于AAS法,AFS法未能推广应用。
3.1.氢化物发生的实际操作氢化物发生法可分两类:一是直接传输法;二是收集法(略),后者用于AFS较少,目前较
常用是直接传输法。(见图3-1)
早期AFS和XDY系列均采用间断法,这种方法在发生器中先加入一定量的样品溶液,然后加入硼氢化钠(钾)溶液其优点是装置简单,但自动化程度差。目前AFS系列的仪器出口产品均用流动注射法。国内产品采用断续流动反应法(装置)见图3-2。
3. 2氢化物发生法中干扰
3.2.1干扰的分类
Dedina曾对氢化物发生——原子吸收法中的干扰作了分类:I—发生过程中动力学干扰
干扰一
Dedina提出的氢化物干扰是目前较为系统和细致分类,虽对AAS而言,但这类分类方法原则上也适用于氢化物发生——AFS法。不论液相干扰或是气相干扰。近年来对其机理研究,国内外专家学者正争论和探索之中。没有比较统一完整说法,在这里不作详细介绍。请参阅有关资料。
3.2.2干扰的消除
A.液相干扰的消除:
(1) 对于某些干扰元素加入络合剂与干扰元素形成稳定的络合物。
(2) 适当增加酸度加大金属微粒溶解度防止金属物产生。
(3)降低硼氢化钠(钾)的浓度。NaBH4的浓度越大越易引起液相干扰。
(4) 某些情况下加入氧化还原电位高于干扰离子的元素,减慢干扰元素的生成速度。
(5) 改变氢化物发生的方式,采用连续流动或间断流动法取代间断法。
(6) 通过化学反应改变干扰元素的价态。
(7) 分离干扰元素。
表1氢化物法中一些消除干扰实例
测定元素 干扰元素 加入试剂 测定方法 As、Se Cu、Co、Ni、Fe EDTA AAS/AFS
Bi Ni EDTA AAS/AFS
As Ni KCNS AAS/AFS
Te Cu、Au 硫脉 AFS
Bi Cu 硫脉 AFS 「液相干扰(氨化物发生过程的干扰)
发生效率干扰
I—传输过程中的初力学干扰
传输效率二扰
游离基数引起干扰