第一章 半导体中的电子态
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半导体物理思考题第一章半导体中的电子状态1、为什么内壳层电子能带窄,外层电子能带宽?答:内层电子处于低能态,外层电子处于高能态,所以外层电子的共有化运动能力强,因此能带宽。
(原子的内层电子受到原子核的束缚较大,与外层电子相比,它们的势垒强度较大。
)2、为什么点阵间隔越小,能带越宽?答:点阵间隔越小,电子共有化运动能力越强,能带也就越宽。
3、简述半导体的导电机构答:导带中的电子和价带中的空穴都参与导电。
4、什么是本征半导体、n 型半导体、p 型半导体?答:纯净晶体结构的半导体称为本征半导体;自由电子浓度远大于空穴浓度的杂质半导体称为n 型半导体;空穴浓度远大于自由电子浓度的杂质半导体称为p 型半导体。
5、什么是空穴?电子和空穴的异同之处是什么?答:(1)在电子脱离价键的束缚而成为自由电子后,价键中所留下的空位叫空穴。
(2)相同点:在真实空间的位置不确定;运动速度一样;数量一致(成对出现)。
不同点:有效质量互为相反数;能量符号相反;电子带负电,空穴带正电。
6、为什么发光器件多半采用直接带隙半导体来制作?答:直接带隙半导体中载流子的寿命很短,同时,电子和空穴只要一相遇就会发生复合,这种直接复合可以把能量几乎全部以光的形式放出,因此发光效率高。
7、半导体的五大基本特性答:(1)负电阻温度效应:温度升高,电阻减小。
(2)光电导效应:由辐射引起的被照射材料的电导率改变的现象。
(3) 整流效应:加正向电压时,导通;加反向电压时,不导通。
(4) 光生伏特效应:半导体和金属接触时,在光照射下产生电动势。
(5) 霍尔效应:通有电流的导体在磁场中受力的作用,在垂直于电流和磁场的方向产生电动势的现象。
第二章半导体中杂质和缺陷能级1、简述实际半导体中杂质与缺陷来源。
答:①原材料纯度不够;②制造过程中引入;③人为控制掺杂。
2、什么是点缺陷、线缺陷、面缺陷?答:( 1)点缺陷:三维尺寸都很小,不超过几个原子直径的缺陷; (2)线缺陷:三维空间中在二维方向上尺寸较小,在另一维方向上尺寸较大的缺陷;(3)面缺陷:二维尺寸很大而第三维尺寸很小的缺陷。
大工《半导体物理》考研重点第一章、半导体中的电子状态●了解半导体的三种常见晶体结构即金刚石型、闪锌矿和纤锌矿型结构;以及两种化合键形式即共价键和离子键在不同结构中的特点。
●了解电子的共有化运动;●理解能带不同形式导带、价带、禁带的形成;导体、半导体、绝缘体的能带与导电性能的差异;●掌握本征激发的概念。
●理解半导体中电子的平均速度和加速度;●掌握半导体有效质量的概念、意义和计算。
●理解本征半导体的导电机构;●掌握半导体空穴的概念及其特点。
●理解典型半导体材料锗、硅、砷化镓和锗硅的能带结构。
重要术语:1.允带2.电子的有效质量3.禁带4.本征半导体5.本征激发6.空穴7.空穴的有效质量知识点:学完本章后,学生应具备以下能力:1.对单晶中的允带和禁带的概念进行定性的讨论。
2.讨论硅中能带的分裂。
3.根据K-k关系曲线论述有效质量的定义,并讨论它对于晶体中粒子运动的意义。
4.本征半导体与本征激发的概念。
5.讨论空穴的概念。
6.定性地讨论金属、绝缘体和半导体在能带方面的差异。
第二章、半导体中的杂质和缺陷能级●掌握锗、硅晶体中的浅能级形成原因,多子和少子的概念;●了解浅能级杂质电离能的计算;●了解杂质补偿作用及其产生的原因;。
●了解锗、硅晶体中深能级杂质的特点和作用;●理解错误!未找到引用源。
-错误!未找到引用源。
族化合物中的杂质能级的形成及特点;●了解等电子陷阱、等电子络合物以及两性杂质的概念;●了解缺陷(主要是两类点缺陷弗仑克耳缺陷和肖脱基缺陷)、位错(一种线缺陷)施主或受主能级的形成。
重要术语1.受主原子2.载流子电荷3.补偿半导体4.完全电离5.施主原子6.非本征半导体7.束缚态知识点:学完本章后,学生应具备如下能力:1.描述半导体内掺人施主与受主杂质后的影响。
2.理解完全电离的概念。
第三章热平衡时半导体中载流子的统计分布●掌握状态密度,费米能级的概念;●掌握载流子的费米统计分布和波尔兹曼统计分布;●掌握本征半导体的载流子浓度和费米能级公式推导和计算;●掌握非简并半导体载流子浓度和费米能级公式推导和计算、杂质半导体的载流子浓度以及费米能级随掺杂浓度以及温度变化的规律;●了解简并半导体及其简并化条件。
第一章 半导体中的电子状态 例题:第一章 半导体中的电子状态例1. 证明:对于能带中的电子,K 状态和-K 状态的电子速度大小相等,方向相反。
即:v(k )= -v(-k ),并解释为什么无外场时,晶体总电流等于零。
思路与解:K 状态电子的速度为:1()()()()[]x y zE k E k E k v k i j k h k k k ∂∂∂=++∂∂∂ (1)同理,-K 状态电子的速度则为:1()()()()[]x y zE k E k E k v k i j k h k k k ∂-∂-∂--=++∂∂∂ (2)从一维情况容易看出:()()x x E k E k k k ∂-∂=-∂∂ (3)同理有:()()yy E k E k k k ∂-∂=-∂∂ (4)()()zz E k E k k k ∂-∂=-∂∂ (5) 将式(3)(4)(5)代入式(2)后得:1()()()()[]x y zE k E k E k v k i j k h k k k ∂∂∂-=-++∂∂∂ (6)利用(1)式即得:v(-k )= -v(k )因为电子占据某个状态的几率只同该状态的能量有关,即: E(k)=E(-k)故电子占有k 状态和-k 状态的几率相同,且v(k)=-v(-k),故这两个状态上的电子电流相互抵消,晶体中总电流为零。
评析:该题从晶体中作共有化运动电子的平均漂移速度与能量E 的关系以及相同能量状态电子占有的机率相同出发,证明K 状态和-K 状态的电子速度大小相等,方向相反,以及无电场时,晶体总电流为零。
例2. 已知一维晶体的电子能带可写成:2271()(cos 2cos6)88h E k ka ka m a ππ=-+式中,a 为晶格常数。
试求:(1) 能带的宽度;(2) 能带底部和顶部电子的有效质量。
思路与解:(1)由E(k)关系得:223(2sin 2sin 6)4dE h ka ka dk m a πππ=-=231(3sin 2sin 2)4h ka ka m a πππ- (1)222221(18sin 2cos 2cos 2)2d E h ka ka ka dk m ππππ=- (2)令 0dE dk = 得:21sin 212ka π= 1211cos 2()12ka π∴=±当cos 2ka π=2)得:222211(180121221212d E h dk m mπ=⨯=>对应E(k)的极小值。
半导体物理学课后习题第一章 半导体的电子状态1. [能带结构计算]设晶格常数为a 的一维晶格,导带极小值附近能量)(k E c 和价带极大值附近能量)(k E v 分别为()()02120223m k k m k k E c -+= ()022021236m k m k k E v -= 式中,0m 为电子惯性质量,a k /1π=,nm a 314.0=。
试求: ① 禁带宽度;② 导带底电子有效质量; ③ 价带顶电子有效质量;④ 价带顶电子跃迁到导带底时准动量的变化。
解:①先找极值点位置()023201202=-+=m k k m k dk dE c 得出,当143k k =时,0212(min)4m k E c =同理由0=dk dE v 得当0=k 时,0212(max)6m k E v = 所以禁带宽度0212(max)(min)12m k E E E v c g =-==0.636eV ②830222*m dk E d m c nc== ③60222*m dk E d m v nv-==④由①可知,准动量的变化为)(109.7834301291--⋅⋅⨯-=-=⨯-⨯=∆=-=∆s m kg ahk k P P P c v2. [能带动力学相关]晶格常数为0.25nm 的一维晶格,当外加102V/m ,107V/m 的电场时,试分别计算电子能带底运动到能带顶所需要的时间。
解:设晶格常数为a ,则电子从能带底到能带顶过程中准动量的变化为ak π=∆,因为dt dk qE f==,所以qEdt dk =所以所需要的时间为:E =∙∆=∆=∆qa qE k dtdk k t π,当m V /102=E 时,s t 81028.8-⨯=∆ 当m V /107=E 时,s t 131028.8-⨯=∆第二章 半导体中杂质和缺陷能级1. [半导体、杂质概念]实际半导体与理想半导体的主要区别是什么? 解:杂质和缺陷的存在是实际半导体和理想半导体的主要区别。
基本概念题:第一章半导体电子状态半导体通常是指导电能力介于导体和绝缘体之间的材料,其导带在绝对零度时全空,价带全满,禁带宽度较绝缘体的小许多。
能带晶体中,电子的能量是不连续的,在某些能量区间能级分布是准连续的,在某些区间没有能及分布。
这些区间在能级图中表现为带状,称之为能带。
能带论是半导体物理的理论基础,试简要说明能带论所采用的理论方法。
答:能带论在以下两个重要近似基础上,给出晶体的势场分布,进而给出电子的薛定鄂方程。
通过该方程和周期性边界条件最终给出E-k关系,从而系统地建立起该理论。
单电子近似:将晶体中其它电子对某一电子的库仑作用按几率分布平均地加以考虑,这样就可把求解晶体中电子波函数的复杂的多体问题简化为单体问题。
绝热近似:近似认为晶格系统与电子系统之间没有能量交换,而将实际存在的这种交换当作微扰来处理。
克龙尼克—潘纳模型解释能带现象的理论方法答案:克龙尼克—潘纳模型是为分析晶体中电子运动状态和E-k关系而提出的一维晶体的势场分布模型,如下图所示利用该势场模型就可给出一维晶体中电子所遵守的薛定谔方程的具体表达式,进而确定波函数并给出E-k关系。
由此得到的能量分布在k空间上是周期函数,而且某些能量区间能级是准连续的(被称为允带),另一些区间没有电子能级(被称为禁带)。
从而利用量子力学的方法解释了能带现象,因此该模型具有重要的物理意义。
导带与价带有效质量有效质量是在描述晶体中载流子运动时引进的物理量。
它概括了周期性势场对载流子运动的影响,从而使外场力与加速度的关系具有牛顿定律的形式。
其大小由晶体自身的E-k关系决定。
本征半导体既无杂质有无缺陷的理想半导体材料。
空穴空穴是为处理价带电子导电问题而引进的概念。
设想价带中的每个空电子状态带有一个正的基本电荷,并赋予其与电子符号相反、大小相等的有效质量,这样就引进了一个假想的粒子,称其为空穴。
它引起的假想电流正好等于价带中的电子电流。
空穴是如何引入的,其导电的实质是什么?答:空穴是为处理价带电子导电问题而引进的概念。
第一章 半导体中的电子状态§1.1 锗和硅的晶体结构特征 金刚石结构的基本特征§1.2 半导体中的电子状态和能带 电子共有化运动概念绝缘体、半导体和导体的能带特征。
几种常用半导体的禁带宽度; 本征激发的概念§1。
3 半导体中电子的运动 有效质量导带底和价带顶附近的E(k )~k 关系()()2*2nk E k E m 2h -0=; 半导体中电子的平均速度dEv hdk=; 有效质量的公式:222*11dk Ed h m n =。
§1。
4本征半导体的导电机构 空穴空穴的特征:带正电;p n m m **=-;n p E E =-;p n k k =-§1。
5 回旋共振§1.6 硅和锗的能带结构 导带底的位置、个数; 重空穴带、轻空穴第二章 半导体中杂质和缺陷能级§2。
1 硅、锗晶体中的杂质能级基本概念:施主杂质,受主杂质,杂质的电离能,杂质的补偿作用。
§2。
2 Ⅲ—Ⅴ族化合物中的杂质能级 杂质的双性行为第三章 半导体中载流子的统计分布热平衡载流子概念§3。
1状态密度定义式:()/g E dz dE =;导带底附近的状态密度:()()3/2*1/232()4ncc m g E VE E h π=-;价带顶附近的状态密度:()()3/2*1/232()4p v Vm g E V E E hπ=-§3.2 费米能级和载流子的浓度统计分布 Fermi 分布函数:()01()1exp /F f E E E k T =+-⎡⎤⎣⎦;Fermi 能级的意义:它和温度、半导体材料的导电类型、杂质的含量以及能量零点的选取有关.1)将半导体中大量的电子看成一个热力学系统,费米能级F E 是系统的化学势;2)F E 可看成量子态是否被电子占据的一个界限。
3)F E 的位置比较直观地标志了电子占据量子态的情况,通常就说费米能级标志了电子填充能级的水平。
半导体物理考点归纳第一章 半导体中的电子状态一.名词解释1.电子的共有化运动:(P10)原子组成晶体后,由于电子壳的交叠,电子不再局限于某一个原子上,可以由一个原子转移到相邻的原子上去。
因而,电子可以在整个晶体中运动。
这种运动称为电子的共有化运动。
2.单电子近似:(P11)单电子近似方法认为,晶体中德电子是在周期性排列且固定不动的原子核势场,以及其他大量电子的平均势场中运动,这个势场是周期性变化的,且其周期与晶格周期相同。
3.有效质量:(P19)有效质量2*22n h m d Edk =,它直接把外力f 和电子的加速度联系起来,而内部势场的作用则由有效质量加以概括。
二.判断题1.金刚石和闪锌矿结构的结晶学原胞都是双原子复式格子,而纤锌矿结构与闪锌矿结构型类似,以立方对称的正四面体结构为基础。
(X )金刚石型结构为单原子复式格子,纤锌矿型是六方对称的。
2.硅晶体属于金刚石结构。
(√)3.Ge 的晶格是单式格子。
(X ) (复式)4.有效质量都是正的。
(X ) (有正有负)5.能带越窄,有效质量越小。
(X )(2*22n h m d Edk =,能带越窄,二次微商越小,有效质量越大) 6.硅锗都是直接带隙半导体。
(X ) (间接)7.Ge 和Si 的价带极大值均位于布里渊区的中心,价带中空穴主要分布在极大值附近,对应同一个k 值,()E k 可以有两个值。
8.实际晶体的每个能带都同孤立原子的某个能级相当,实际晶体的能带完全对应于孤立原子的能带。
(X ) (不相当,不完全对应)三.填空题1.晶格可以分为7大晶系,14种布拉菲格子,按照每个格子所包含的各点数,可分为原始格子,体心,面心,底心。
2.如今热门的发光材料LED 是直接带隙半导体,该种材料的能带结构特点是当k=0时的能谷的极值小。
3.Ge 、Si 是间接带隙半导体,InSb 、GaAs 是直接带隙半导体。
4.回旋共振实验中能测出明显的共振吸收峰,就要求样品纯度高,而且要在低温下进行。
半导体物理第一章半导体中的电子状态单电子近似:即假设每个电子是在周期性排列且固定不动的原子核势场及其他电子的平均势场中运动。
该势场是具有与晶格同周期的周期性势场。
1.1半导体的晶格结构和结合性质1.大量的硅、锗原子组合成晶体靠的是共价键结合,他们的晶体结构与碳原子组成的一种金刚石晶格都属于金刚石型结构。
2.闪锌矿型结构(见课本8页)1.2半导体中电子的状态和能带1.Φ(r,t)=Ae i(k.r−wt) k为平面波的波数2.k=|k|=2л/λ波的传播方向为与波面法线平行3.在晶体中波函数的强度也随晶格周期性变化,所以在晶格中各点找到该电子的概率也具有周期性变化的性质。
这反映了电子不再完全局限在某一个原子上,而是可以从晶胞中某一点自由运动到其他晶胞内的对应点,因而电子可以在整个晶体中运动,这种运动称为电子在晶体内的公有化运动。
1.3半导体中的电子的运动有效质量1.导带低电子的有效能量1h2(d2Edk2)k=0=1m n∗2.引进有效质量的意义在于它概括了半导体内部势场的作用,使得在解决半导体中的电子外力作用下的运动规律时,可以不涉及半导体内部势场的作用。
3.能量带越窄二次微商越小,有效质量越大。
内层电子的能量带越窄,有效质量大;外层电子的能量带宽,有效质量小。
1.4本征半导体的到点机构空穴1.可以认为这个空状态带有正电。
2.正电荷为空状态所有,它带的电荷是+q。
3.空穴:通常把价带中空着的状态看成是带正电的粒子,称为空穴。
.空穴不仅带有正电荷+q,而且还具有正的有效质量。
4引进空穴概念后,就可以把价带中大量电子对电流的贡献用少量的空穴表达出来。
半导体中除了导电带上电子导体作用外,价带中还有空穴的导电作用,这就是本征半导体的导电机构。
1.6 硅和锗的能带结构硅和锗的禁带宽度是随温度变化的,在T=0K时,硅和锗的禁带宽度E g分别趋近于1.70eV和0.7437eV.随着温度的升高,E g按如下规律减小E g(T)=E g(0)- -aT2T+β,式中E g(T)和E g(0)分别表示温度为T和0K时的禁带宽度,a,β为温度系数。
半导体物理学讲义第⼀章半导体中的电⼦状态本章介绍:本章主要讨论半导体中电⼦的运动状态。
主要介绍了半导体的⼏种常见晶体结构,半导体中能带的形成,半导体中电⼦的状态和能带特点,在讲解半导体中电⼦的运动时,引⼊了有效质量的概念。
阐述本征半导体的导电机构,引⼊了空⽳散射的概念。
最后,介绍了Si、Ge和GaAs的能带结构。
在1.1节,半导体的⼏种常见晶体结构及结合性质。
在1.2节,为了深⼊理解能带的形成,介绍了电⼦的共有化运动。
介绍半导体中电⼦的状态和能带特点,并对导体、半导体和绝缘体的能带进⾏⽐较,在此基础上引⼊本征激发的概念。
在1.3节,引⼊有效质量的概念。
讨论半导体中电⼦的平均速度和加速度。
在1.4节,阐述本征半导体的导电机构,由此引⼊了空⽳散射的概念,得到空⽳的特点。
在1.5节,介绍回旋共振测试有效质量的原理和⽅法。
⾃学内容。
在1.6节,介绍Si、Ge的能带结构在1.7节,介绍Ⅲ-Ⅴ族化合物的能带结构,主要了解GaAs的能带结构第⼀节半导体的晶格结构和结合性质本节要点1.常见半导体的3种晶体结构;2.常见半导体的2种化合键。
1. ⾦刚⽯型结构和共价键重要的半导体材料Si、Ge都属于⾦刚⽯型结构。
这种结构的特点是:每个原⼦周围都有四个最近邻的原⼦,与它形成四个共价键,组成⼀个如图1(a)所⽰的正四⾯体结构,其配位数为4。
⾦刚⽯型结构的结晶学原胞,是⽴⽅对称的晶胞如图1(b)图所⽰。
它是由两个相同原⼦的⾯⼼⽴⽅晶胞沿⽴⽅体的空间对⾓线滑移了1/4空间对⾓线长度套构成的。
⽴⽅体顶⾓和⾯⼼上的原⼦与这四个原⼦周围情况不同,所以它是由相同原⼦构成的复式晶格。
其固体物理学原胞和⾯⼼⽴⽅晶格的取法相同,但前者含两个原⼦,后者只含⼀个原⼦。
原⼦间通过共价键结合。
共价键的特点:饱和性、⽅向性。
2. 闪锌矿结构和混合键III-V族化合物半导体绝⼤多数具有闪锌矿型结构。
闪锌矿结构由两类原⼦各⾃组成的⾯⼼⽴⽅晶胞沿⽴⽅体的空间对⾓线滑移了1/4空间对⾓线长度套构成的。
第五章非平衡载流子
一重要术语解释
1.载流子的产生:电子从价带跃入导带,形成电子-空穴对的过程。
2.载流子的复合:电子落入价带中的空能态(空穴)导致电子-空穴对消灭的过程。
3.过剩载流子:过剩电子和空穴的总称。
4.过剩电子:导带中超出热平衡状态浓度的电子浓度。
5.过剩空穴:价带中超出热平衡状态浓度的空穴浓度。
6.过剩少子寿命:过剩少子在复合前存在的平均时间。
7.产生率:电子-空穴对产生的速率(/cm3-s)
8.复合率:电子-空穴对复合的速度(#/cm3-s)
8.小注入:过剩载流子浓度远小于热平衡多子浓度的情况。
9.扩散:粒子高浓度区向低浓度运动的过程。
10.扩散系数:关于粒子流动与粒子浓度梯度之间的参数。
11.扩散电流:载流子扩散形成的电流。
12.少子扩散长度:少子在复合前的平均扩散的距离:数学表示为τ
D,其中D和τ分别为少子的扩散系数和寿命。
13.准费米能级:电子和空穴的准费米能级分别将电子和空穴的非平衡状态浓度与本征载流子浓度以及本征费米能级联系起来。
14.表面态:半导体表面禁带中存在的电子能态。
15.表面复合速度:
二知识点
学完本章后,读者应具备以下能力:
1.论述非平衡载流子产生和复合的概念。
2.论述过剩载流子寿命的概念。
3.理解电子和空穴的准费米能级。
4.计算给定浓度的过剩载流子的复合率。
5.论述载流子扩散电流密度。
6.论述爱因斯坦关系。
7.论述连续性方程的推导过程。
8.运用连续性方程解决不同的问题。
三复习题
1.为什么热平衡状态电子的产生率与复合率相等?
2.为什么一般的连续性方程为非线性方程?
3.定性解释为什么在外加电场作用下,过剩载电子和空穴会向同在一方向运动。
4.定性解释为什么在小注入条件下,过剩载流子寿命可以归纳为少子的寿命。
5.分别论述电子和空穴的准费米能级的定义。
6.一般情况下,为什么半导体表面的过剩载流子浓度要低于内部的过剩载流子浓度?
7.写出电子和空穴的扩散电流浓度方。
8.爱因斯坦关系是什么?。