拉曼光谱分析法 张应鹏
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有机及高分子化合物结构研究中的光谱方法投入光谱研究是一个复杂而有效的技术,在有机及高分子化合物结构研究中广泛使用。
它可以提供有机分子结构的完整信息,有助于探索物质的物理化学性质及其生物活性。
本文将介绍光谱法在有机及高分子化合物结构研究中的应用,重点介绍核磁共振(NMR)光谱,拉曼(Raman)光谱,紫外(UV)光谱和同步辐射(Synchrotron)光谱。
核磁共振(NMR)光谱是一种用于研究有机及高分子化合物结构的有效技术,它可以提供非常有用的定量性信息,包括元素含量、分子量和结构参数(如原子序数、取代型、异构体类型等)。
此外,NMR 还可以提供与分子构型、空间结构、动力学行为以及聚集状态相关的重要信息。
一般来说,NMR是分析有机及高分子化合物的最有效的方法,它的准确性和敏感性也非常高。
拉曼(Raman)光谱法利用了分子中电子振动的能量散射原理,可以探测有机及高分子化合物结构中的基本组分,用于分析分子内部的结构变化。
其进行极精确的收集红外和可见光,从而获取拉曼光谱,它们包括分子结构信息,以及元素和分子结构在空间分布上的信息。
拉曼光谱不仅可以用于鉴定和定义有机化合物的分子结构,还可以用于分析有机分子的空间结构。
紫外(UV)光谱是一种常用的用于研究有机及高分子化合物结构的衍射技术。
它可以用来检测分子类型和结构,以及分子中的官能团的氢键连接的次序和空间布局。
此外,紫外光谱还可以用来确定有机及高分子化合物的吸收极性及其极性强度。
在实际应用中,紫外光谱可以用来判定有机分子之间的氢键互作,以及有机及高分子化合物的结构和对称性。
同步辐射(Synchrotron)光谱是一种由同步辐射源(如X射线)产生的高强度光谱,此外,它还可以用来获得实时的有机及高分子化合物结构信息。
它具有较高的分辨率和极高的信噪比,因此可以用来研究分子的空间布局和动力学行为。
相对于其他光谱技术,同步辐射光谱具有较高的灵敏度,并且可以在微秒时间尺度上监测分子动力学行为。
专利名称:拉曼光谱-共聚焦微分干涉差显微镜联用分析系统专利类型:发明专利
发明人:文锐,宋月先,施杨,胡新成
申请号:CN202010025088.8
申请日:20200110
公开号:CN111024675A
公开日:
20200417
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本发明涉及一种拉曼光谱‑共聚焦微分干涉差显微镜联用分析系统,其特征在于,该系统包括:电化学原位反应装置,用于电极充放电过程的原位测试且设置有光学窗口;拉曼光谱系统,用于通过照射所述光学窗口时实现所述电极电化学过程的原位拉曼光谱测试;共聚焦微分干涉差显微镜,用于通过照射所述光学窗口获取所述电极在电化学过程中的光学成像。
本发明能够实现电极过程的原位拉曼光谱测试及高分辨光学成像,确保物质结构和化学成分同步检测,从而获得更丰富的界面电化学反应信息。
申请人:中国科学院化学研究所
地址:100190 北京市海淀区中关村北一街2号
国籍:CN
代理机构:北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人:刘美丽
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半焦炭的红外光谱与拉曼光谱分析引言:半焦炭是一种常见的石墨质材料,具有多种应用领域,如电池、催化剂和碳基材料等。
了解半焦炭的结构和性质对其应用和优化具有重要意义。
红外光谱和拉曼光谱是两种常用的表征半焦炭结构和组分的研究方法。
本文将分别介绍半焦炭的红外光谱与拉曼光谱,并讨论这两种光谱在半焦炭研究领域中的应用。
红外光谱分析:红外光谱(IR)是一种通过测量物质吸收红外辐射的技术。
半焦炭在红外光谱中显示了许多特征峰,这些峰对应着材料中各种化学基团的振动模式。
通过分析半焦炭的红外光谱,可以确定其化学组成和结构。
在半焦炭的红外光谱中,常见的峰包括C-H伸缩振动峰、C=O伸缩振动峰、C=C伸缩振动峰等。
C-H伸缩振动峰的存在表明半焦炭中存在一定量的碳氢键。
C=O伸缩振动峰通常表示半焦炭中存在的羰基官能团,可能与氧化物或酮类相关。
C=C伸缩振动峰则指示了半焦炭中存在的芳香环结构。
此外,在红外光谱中,还可以观察到其他不同强度和位置的特征峰,这些峰对应着半焦炭的其他可能功能基团或结构。
通过比对半焦炭样品的红外光谱与已知化合物的光谱图谱进行分析,可以确定半焦炭样品的组成和结构。
拉曼光谱分析:拉曼光谱(Raman)是通过测量物质散射光的频率变化来研究物质的光谱。
与红外光谱不同,拉曼光谱对于半焦炭的研究提供了一种独特的结构信息。
在半焦炭的拉曼光谱中,常见的峰有D峰、G峰和2D峰。
D峰位于约1350cm^-1处,与材料中存在的有短程有序结构和无定形键相关。
G峰位于约1580cm^-1处,与材料中存在的芳香环结构和纵波光学声子相互作用有关。
2D峰则位于约2700 cm^-1处,与材料中存在的二维晶格振动模式有关。
通过分析拉曼光谱中这些特征峰的相对强度和位置,可以研究半焦炭的石墨化程度、晶格结构和微观缺陷等信息。
例如,G峰与D峰的强度比值(I_G/I_D)可以用来评估半焦炭的结晶度和石墨化程度。
应用领域:半焦炭的红外光谱和拉曼光谱分析在多个领域具有重要应用价值。
拉曼光谱在第三代半导体材料测试领域的应用付丙磊;张争光;王志越【摘要】The measurements of Raman spectroscopy for GaN material are summarized. This paper also shows the potential application of Raman spectroscopy in the non-destructive measurement of 3rd-generation-semiconductors.%对第三代半导体GaN材料体系的拉曼光谱测试进行了综述,并展望了其在第三代半导体无损检测领域的应用前景.【期刊名称】《电子工业专用设备》【年(卷),期】2018(000)004【总页数】5页(P42-45,65)【关键词】拉曼光谱;GaN;无损检测【作者】付丙磊;张争光;王志越【作者单位】中电科电子装备集团有限公司, 北京 100070;中电科电子装备集团有限公司, 北京 100070;中电科电子装备集团有限公司, 北京 100070【正文语种】中文【中图分类】TN304.07GaN是第三代半导体材料的重要代表,是固态光源和电力电子、微波射频器件的"核芯",大量应用于航空、航天等重要领域,在半导体照明、新一代移动通信、智能电网、新能源汽车等民品领域市场前景广阔,是关乎国防安全和国民经济的战略性先进电子材料。
应力、有源区结温等性质对GaN器件性能具有相当重要的影响,如何对其进行精确、无损、便捷的检测成为科研及工业界亟需解决的重要问题。
拉曼光谱是利用光与物质的相互作用来进行材料分析的手段,具有非接触、无损等特点,可以得到材料应力、晶体组分、器件结温、自由载流子浓度等第三代半导体材料、器件的重要信息,在第三代半导体测试领域具有很好的应用前景。
本文综述了第三代半导体GaN材料体系的拉曼光谱性质,并对其在第三代半导体无损检测领域的应用前景进行了展望。