高加速寿命试验技术

第4卷第2期2007年04月装备环境工程EQUIPMENTENVIRONMENTALENGINEERING󰀀43󰀀

加速寿命试验与高加速寿命试验的比较分析

吴曼林，唐其环，万军

(中国兵器工业第五九研究所国防科技工业自然环境试验研究中心，重庆400039)

摘要:介绍了加速寿命试验、高加速寿命试验的基本概念、原理，从试验目的、试验方法、试验时间等

方面对加速寿命试验和高加速寿命试验进行了比较，说明它们有不同的应用时机和范围。加速寿命试验、高

加速寿命试验都是卓越的加速环境试验技术，也是可靠性试验领域的两个主要发展方向。

关键词:加速寿命试验(ALT);高加速寿命试验(HAIT);环境试验;可靠性中图分类号:TB114.3文献标识码:A

文章编号:1672一9242(2007)02一0043一02

ContrastandAnalysisofAcceleratedLifeTestandHighlyAcceleratedLifeTest

WUMan-lin，TANGQi-huan，WANJun(WeatheringTestandResearchCenterofScienceTechnologyandIndustryforNationalDefense,Chongqing400039，China)

Abstract;Thebasicconceptsandtheoriesofacceleratedlifetestandhighlyacceleratedlifetestwereintroduced.Theacceler-atedlifetestandhi酗yacceleratedlifetestwerecompared,showingthattheyhavedifferentapplicationoccasionandscope.Itwasputforwardthattheacceleratedlifetestandhighlyacceleratedlifetestarepredominanttechnologiesofacceleratedenvironmentaltest,andtheyaretwoprimarydevelopmentwayofreliabilitytest.Keywords;acceleratedlifetest;highlyacceleratedlifetest;environmentaltest;reliability

・综述・　低压电器（２０１０Ｎｏ＿９）　

加速退化试验与加速寿命试验技术综述　

王召斌　，　任万滨　，　翟国富　

（１．哈尔滨工业大学军用电器研究所，黑龙江哈尔滨　１　５０００１；　２．江苏科技大学电子信息学院，江苏镇江２１２００３）　

摘要：加速退化试验与加速寿命试验是解决高可靠性、长寿命产品可靠性评估　等问题的两种重要加速试验技术。介绍了加速退化试验与加速寿命试验的基本概念，　对两者进行了简单的比较，并进一步ｘ￣．ＤＩ速退化试验与加速寿命试验技术的国内外相　关研究现状进行了概述。最后，对该领域的研究方向进行了展望。　关键词：加速退化试验；加速寿命试验；可靠性　中图分类号：ＴＭ　５０６文献标志码：Ａ文章编号：１００１—５５３１（２０１０）０９－０００１－０６　王召斌（１９８２一），　男，助教，博士研究　生，主要研究方向　为电器贮存可靠性　及寿命预测技术。　Ｒｅｖｉｅｗ　ｏｆ　Ａｃｃｅｌｅｒａｔｅｄ　Ｄｅｇｒａｄａｔｉｏｎ　Ｔｅｓｔｉｎｇ　ａｎｄ　Ａｃｃｅｌｅｒａｔｅｄ　Ｌｉｆｅ　Ｔｅｓｔｉｎｇ　

ＷＡＮＧ　Ｚｈａｏｂｉｎ　一．　ＲＥＮ　Ｗａｎｂｉｎ　．　ＺＨＡＩ　ＧＭ０　

（１．Ｍｉｌｉｔａｒｙ　Ａｐｐａｒａｔｕｓ　Ｒｅｓｅａｒｃｈ　Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ，Ｈａｒｂｉｎ　Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ　ｏｆ　Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，Ｈａｒｂｉｎ　１　５０００　１，Ｃｈｉｎａ；　２．Ｓｃｈｏｏｌ　ｏｆ　Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ　ａｎｄ　Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ，Ｊｉａｎｇｓｕ　Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ　ｏｆ　Ｓｃｉｅｎｃｅ　ａｎｄ　Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，　

Ｚｈｅｎｊｉａｎｇ　２　１　２００３，Ｃｈｉｎａ）　

Ａｂｓｔｒａｃｔ：Ａｃｃｅｌｅｒａｔｅｄ　ｄｅｇｒａｄａｔｉｏｎ　ｔｅｓｔｉｎｇ（ＡＤＴ）ａｎｄ　ａｃｃｅｌｅｒａｔｅｄ　ｌｉｆｅ　ｔｅｓｔｉｎｇ（ＡＬＴ）ｗｅｒｅ　ｔｗｏ　ｉｍｐｏｒｔａｎｔ　ｋｉｎｄｓ　ｏｆ　ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　ａｃｃｅｌｅｒａｔｅｄ　ｔｅｓｔｉｎｇ　ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ　ｆｏｒ　ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　ａｓｓｅｓｓｍｅｎ｜ｏｆ　ｈｉｇｈ　ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　ａｎｄ　ｌｏｎｇ　ｌｉｆｅ　ｐｒｏｄｕｃｔｓ．　Ｔｈｅ　ｂａｓｉｃ　ｃｏｎｃｅｐｔｓ　ｏｆ　ＡＤＴ　ａｎｄ　ＡＬＴ　ｗｅｒｅ　ｉｎｔｒｏｄｕｃｅｄ，ｔｈｅｎ　ｔｈｅ　ｃｏｍｐａｒｉｓｏｎ　ｂｅｔｗｅｅｎ　ＡＤＴ　ａｎｄ　ＡＬＴ　ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ　ｗｅｒｅ　ｄｅｓｃｒｉｂｅｄ．Ｔｈｅ　ｓｔａｔｅ　ｏｆ　ａｒｔｓ　ｉｎ　ｔｈｉｓ　ｒｅｓｅａｒｃｈ　ｃｏｎｃｅｒｎｅｄ　ｗａｓ　ｔｈｅｎ　ｂｒｉｅｆｌｙ　ｒｅｖｉｅｗｅｄ．Ｆｉｎａｌｌｙ，ｔｈｅ　ｐｏｓｓｉｂｌｅ　ｄｉｒｅｃ—　ｔｉｏｎｓ　ａｎｄ　ｓｏｍｅ　ｓｕｇｇｅｓｔｉｏｎｓ　ｗｅｒｅ　ｇｉｖｅｎ　ｆｏｒ　ｆｕｒｔｈｅｒ　ｒｅｓｅａｒｃｈ　ｉｎ　ＡＤＴ　ａｎｄ　ＡＬＴ．　Ｋｅｙ　ｗｏｒｄｓ：ａｃｃｅｌｅｒａｔｅｄ　ｄｅｇｒａｄａｔｉｏｎ　ｔｅｓｔｉｎｇ（ＡＤＴ）；ａｃｃｅｌｅｒａｔｅｄ　ｌｉｆｅ　ｔｅｓｔｉｎｇ（ＡＬＴ）；ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　

一寿命与应力之间的关系

加速寿命试验的基本思想是利用高应力水平下的寿命特征去外推正常应力水平下的寿命特征实现这个基本思想的关键在于建立寿命特征与应

力水平之间的关系这种关系称为加速模型或

称为加速方程

福需摇贫伙甘飞、扩津

心褚

对教应力

戌认卜长礼、’

嫂淤拓权

对数应力

寿命与应力的关系图图是一来自由个应力水平组成的典型的恒加寿命试验其中横轴表示应力水平纵轴表示

产品寿命表示产品的失效时间在图人上明确显示应力水平愈高产品寿命愈短但也有少

数例外所以着眼于个别产品的寿命是很难建立寿

命与应力之间关系的假如我们着眼于每个应力水平下寿命数据的总体特征如中位寿命平均寿

命特征寿命等那么就可以通过寿命数据的某个总体特征在图上画出一条光滑曲线它表明中

位寿命或平均寿命是应力水平的递减函数这

就是我们要寻求的加速模型

寿命特征与应力水平之间关系常是非线性曲线假如我们对寿命数据或应力水平各经过适当变

换如对数变换倒数变换那上述曲线有可能变成直线如图所示由于直线容易认别也容易拟合更方便于外推所以实际工作者都喜欢利

用直线在我们建立加速模型时应尽量使之线性

化以方便实际使用用来建立关系的寿命特征常是中位寿命平均

寿命特征寿命犯分位寿命但也有用分位寿命寿命图上就有三条曲线

其中粗线是表示中位寿命与应力水平间的关系上

下两条细线分别表示和分位寿命与应力

水平之间的关系这里所说的各种分位寿命都是对各应力水平下的寿命分布而言的为了更明白地显

示各分位寿命在图上画出了各应力水平下的

失效密度曲线它们都是垂直于纸面的假如对寿

命与应力分别作适当变换譬如各作对数变换那三条曲线就有可能变成三条直线如图所示力川洲引书侧一力应、乃产一应图

留划”飞、拍

每卿

众多的实验表明低应力水平下的寿命要高子高应力水平下的寿命但也可能有少数例外

年第期总第期时封盖材

在图上的三条直线平行只是一种可能不平行的情况也是有的

下面我们介绍几种常用的加速模型

二阿伦尼斯公模型

在加速寿命试验中用温度作为加速应力是常见的因为高温能使产品如电子元器件绝缘

２００２年第４期　环境技术　・　５　・　文章编号：１００４—７２０４（２００２）ｏ４—０００５—０５　囊誊誊蛰　蛰善　羹誊　毒　毒毒囊誊　０磐　童誊ｊ童誊誊誊誊羹誊麓磐誊薯羹　薯麓薯誊　篇瓤镬蔫　赣　薯譬譬薯譬譬∞譬≯薯薯誉蔓　薯薯譬譬譬譬譬薯譬譬譬翳誉譬譬譬譬薯譬譬善毒曩蕾　林震，张爱民，沈朝晖，谢再师　（四川绵阳市９１９信箱５２８分箱，四川绵阳６２１９００）　摘要：高加速寿命试验（ＨＡＬＴ）是一种新兴技术，它使用在产品的设计阶段，用于快　速暴露产品的缺陷和薄弱环节。本文介绍了ＨＡＬＴ的优点、典型的ＨＡＬＴ过程及　ＨＡＳＴ项目；对ＨＡｓＴ项目中的温度步进应力、６自由度随机振动、快速温度变换、温度　与振动步进应力综合试验等方法进行了详细描述。　关键词：ＨＡＬＴ；ＨＡＳＳ；工作极限；破坏极限　中图分类号：ＴＢ　２４　文献标识码：Ａ　Ｔａｌｋ　ａｂｏｕｔ　Ｈｉｇｈｌｙ　Ａｃｃｅｌｅｒａｔｅｄ　Ｌｉｆｅ　Ｔｅｓｔ　ＬＩＮ　Ｚｈｅｎ，ＺＨＡＮＧ　Ａｉ．ｍｉｎ，ＳＨＥＮ　Ｚｈａｏ－ｈｕｉ，ＸＩＥ　Ｚａｉ—ｓｈｉ　Ａｂｓｔｒａｃｔ：Ｈｉｇｈｌｙ　Ａｃｃｅｌｅｒａｔｅｄ　Ｌｉｆｅ％ｓｔ（ＨＡＬＴ）ｉｓ　ａｎ　ｅｍｅｒｇｉｎｇ　ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，ｉｔ　ｉｓ　ｐｅｒｆｏｒｍｅｄ　ｄｕｒｉｎｇ　ｄｅｓｉｇｎ　ｔｏ　ｆｍｄ　ｔｈｅ　ｗｅａｋ　ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　ｌｉｎｋｓ　ｉｎ　ｔｈｅ　ｐｒｏｄｕｃｔ．Ｔｈｉｓ　ｐａｐｅｒ　ｉｎｔｒｄｕｃｅｓ　ｔｈｅ　ｍｅｒｉｔｓ　ｏｆ　ＨＡＬＴ，ａｎｄ　ｄｅｓｃｒｉｂｅｓ　ｔｈｅ　ｔｙｐｉｃａｌ　ＨＡＬＴ　ｐｒｏｃｅｓｓ　ａｎｄ　ｉｔｅｍｓ．Ｔｈｅ　ｐａｐｅｒ　ａｌｓｏ　ｄｅｓｃｒｉｂｅｓ　ｄｅｔａｉｌｅｄｌｙ　ｔｈｅ　ＨＡＬＴ　ｉｔｅｍｓ　ｏｆ　ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ　ｓｔｅｐ　ｓｔｒｅｓｓ，ｒａｐｉｄ　ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ　ｔｒａｎｓｉｔｉｏｎｓ，６　ｄｅｇｒｅｅ—ｏｆ－ｆｒｅｅｄｏｍ　ｒａｎｄｏｍ　ｖｉｂｒａｔｉｏｎ　ａｎｄ　ｃｏｍｂｉｎｅｄ　ｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔ　ｏｆ　ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ　ａｎｄ　ｖｉｂｒａｔｉｏｎ．　Ｋｅｙｗｏｒｄｓ：ＨＡＬＴ；ＨＡｇＳ；Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ　Ｌｉｍｉｔ；Ｄｅｓｔｒｕｃｔ　Ｌｉｍｉｔ