偏光显微镜使用
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奥林巴斯偏光显微镜安全操作及保养规程一、前言奥林巴斯偏光显微镜是应用于各种材料科学领域的重要仪器之一。
为保证用户的安全和设备的正常运行,需要严格遵守安全操作规程以及进行定期的设备维护和保养。
本文旨在针对奥林巴斯偏光显微镜的安全操作和保养规程进行明确和详细的阐述,以提高使用者的操作技能和设备的使用寿命。
二、安全操作规程1. 前置准备工作•在进行操作前,应确保操作台面干净整洁,其上无杂物和污渍;•确认试样已经制备完毕,并确保放置在操作台面上稳固无松动;•操作者应穿戴好实验室安全装备,如实验室大衣、手套等,避免接触强酸碱以及与试样接触时的伤害。
2. 开机前准备•确认电线正确连接到用电源,并确认电源开关处于关闭状态;•将电源插头插入设备电源插座;•确认偏光片处于安装状态,而不是拆卸状态;•确认光学元件处于正确的位置;•去除显微镜工作平台上的任何杂物和模版等,以免发生意外。
3. 开机操作•按下电源开关,将设备接通电源;•电源指示灯亮起,表明设备已经开启;•等待几分钟,让设备进行预热和自检;•开始设备调试和观测。
4. 关机操作•调整镜头位置,以便下一次观察;•将偏光片置于拆卸状态,以便下次使用;•按下电源开关,将设备断开电源;•将电源线从电源插座拔出;•清理操作台面以及设备表面。
5. 注意事项•在进行显微镜观察时,应保持设备平衡和稳定,避免观察角度变化过大;•避免强光照射到显微镜物镜和偏光片上,以免影响观察效果;•遵守操作手册中关于设备保护和维护的规定;•当设备出现故障时,应及时联系专业技术人员进行维护和修理,避免自行拆卸和修理。
三、保养与维护1. 日常保养•定期清理设备表面和操作台面,特别注意光学元件的保护;•使用避免使用超过设备规定最大功率的光源;•定期更换滤光片和偏光片。
2. 定期保养•定期维修和调整光学元件;•定期检查设备电源插头和电线连接状态;•定期清理润滑各部件,并添加润滑剂;•定期更换损坏的配件或元件;•定期校准设备。
偏光显微镜操作规程偏光显微镜是一种用于观察和分析材料结构的仪器,它通过利用偏振光的性质来提供更多的信息。
下面是关于偏光显微镜的操作规程,以确保显微镜的正确使用和保养。
1. 准备工作- 将显微镜放置在平稳的工作台上,并保持显微镜水平。
- 通过调整镜筒的高度,使样本能够在镜下放置。
- 检查显微镜的电源是否连接,并确保所有按钮和旋钮处于关闭状态。
2. 加载样本- 将待观察的样本放置在载玻片上,并用夹片固定好。
- 轻轻将载玻片插入到样品夹上,并确保样品夹的位置正确。
3. 调整光源- 打开显微镜的光源,并调节亮度以适应观察需要。
- 选择适当的滤光片以调整光源的颜色和强度。
4. 调节倍率和焦距- 选择适当的物镜放置在物镜转盘上,并选择合适的倍率。
- 通过调节镜筒的高度,使样本处于焦点位置。
5. 使用偏光器- 打开偏光器,并调整偏光器的角度,以获得最佳的偏振光效果。
- 观察样本时,可以适当旋转样品夹,以改变样品的方向和角度。
6. 调节偏振条纹- 通过调节偏振片,以及在旋转偏光器和样品夹的同时观察样品,来调整偏振条纹的清晰度和对比度。
- 确保偏振条纹明亮清晰,并尽可能减少偏光效果对观察的干扰。
7. 调整相差显微镜(可选)- 如果使用了相差显微镜附件,需进行额外的调整。
调整相差装置和几何调节装置,以获得最佳的相差效果。
8. 修改和记录观察- 使用显微镜上的调节按钮和旋钮,可以改变观察的亮度、对比度和聚焦。
- 在观察时,可以通过使用显微镜配套的相机或图像捕捉设备,记录观察结果。
9. 完成观察- 观察完毕后,将样本从样品夹上取下,并小心放回原位或妥善处置。
- 关闭显微镜和光源,并拔掉电源插头。
10. 清理与维护- 使用干净的镜头纸小心擦拭物镜和目镜,确保没有指纹或灰尘。
- 定期检查显微镜的镜头和部件,以确保其完好无损。
- 当不使用显微镜时,应使用防尘罩覆盖,并妥善保存在干燥、无尘的环境中。
以上是偏光显微镜的操作规程,这些步骤能够帮助您正确地使用和保养偏光显微镜,以提供准确和可靠的观察结果。
Nikon E600偏光显微镜使用说明
1. 打开总开关及电脑,然后打开偏光显微镜电源(位移显微镜底盘的右侧方)
2. 拨动调光旋钮(底盘左侧前方),调节光度。
(一般调至最大值)
3. 先把载物台调至最低位置,选择合适倍数的目镜轻轻插入镜简上端(物镜一
般选用中、低倍镜),侧方位顺时针旋转紧后,然后把目镜移至最中间。
防目镜镜头撞上载物台)
4. 把标本轻轻放在载物台中间。
5•将CCD 连接到电脑主机上,方便更清楚地观察图片。
6. 调节焦距。
首先是粗调,通过两侧的粗动手轮实现。
先缓慢地往上调动,调
至开始出现模糊的图像时,再进行微调至清晰的图像。
微调也是位于粗动轴 的两侧末端。
7. 点击CCD 上的“capre ”按钮,图像立即保存到电脑里。
8. 当更换目镜时,先把载物台旋至最低处,移动目镜到侧方为将其逆时针旋转
取出。
再将所用的目镜按以上方法装进使用。
9. 测完后先关掉CCD ,再关偏光显微镜。
然后将目镜取出归放原处。
10. 最后拷贝数据,关电脑,再关总电源。
注意事项: 1. 在使用和调节时,要细心缓慢进行,切勿用力过猛。
2. 每次更换目镜时,先把载物台调至最低处,以防撞击。
3. 在测试过程中,因为有事载时离开时,先关掉 CCD 和偏光纤维镜电源。
4. 每次测完后要记得把目镜装入盒子里归放原处,并且登记。
(以。
偏光显微镜使用方法
一、偏光显微镜简介
偏光显微镜是一种用于分析荧光显微图像的专业显微镜,它利用极化光学原理,可以将被观察模式中的荧光光线变成同向的极化光线。
通过使用偏振光,被观察物的显微结构可以清楚化和精细化。
由于其具有特定的极化特性,偏光显微镜可用于研究蛋白质、脂肪和其他化合物结构,也可以用于研究荧光显微图像的细胞特性和定位。
二、偏光显微镜的构造
偏光显微镜主要由可调节的偏振片、可极化的反射罩罩、反光片和定向及镜片组成。
其中,可调节的偏振片可以控制偏振光的方向和幅度,可极化的反射罩罩可以调节偏振光的极化角度,反光片可以减少被观察的样本反映的热效应,定向和镜片可以反射和放大被观察的样品图像。
三、使用偏光显微镜的步骤
1.安装和调节
首先,使用者应检查偏光显微镜是否安装正确,然后设置反射罩罩的极化角度。
接下来,使用者应调节偏振片的方向和幅度,使偏振光可以正确地被被观察样品所吸收和反射。
2.校准
在使用偏光显微镜时,需要将反射罩罩和反光片校准到正确的大小,以确保所有的光线能够准确地被被观察物接收。
3.清晰度调整。
偏光显微镜的使用方法1.准备工作:-将偏光显微镜放置在平稳的台面上,并确保显微镜平稳无动摇。
-将光源对准显微镜,并将其插入到底座上。
-确保镜片干净,无尘或污垢。
2.安装样品:-使用样品持有器将准备好的样品安装在显微镜的舞台上。
确保样品与镜片接触紧密并固定。
3.调节光源:-打开光源,并调节亮度以获得适当的照明。
-移动光源直到要被观察的样品处于适当的位置。
4.调节目镜:-调节目镜(顶部镜筒)以获取清晰的样品图像。
根据需要使用聚焦轮使图像变清晰。
5.选择合适的偏光滤光片:-通过滤光片选定适当的光源,可在显微镜的滤光片位置旋转选择(一般为四个位置)。
6.添加偏光片:-在显微镜下方的滑动排架上插入偏光片。
-根据需要调整偏光片的方向和角度,以改变光源的振动方向。
7.观察在样本上方插入偏光片的效果:-使用上面的旋钮和可调节的偏光片调整偏光的强弱和方向。
-观察样品下偏光光源产生的图像。
8.使用附件(如旋转台):-如有需要,可以使用一些附件来进一步研究样品。
-例如,旋转台可以用于观察样品在不同方向上的光学性质。
9.记录和分析结果:-使用显微镜的内置或外部照相机拍摄图像。
-记录和分析结果以便进一步研究。
10.清理和保养:-在观察完毕后,关闭光源并将显微镜清理干净。
-使用干燥的布轻轻擦拭镜片,以确保不留下污渍或污垢。
-如果有必要,可以使用适当的清洁液来清洁镜片。
总结:使用偏光显微镜需要一定的经验和技巧,并且需要特殊的滤光片和偏光片。
了解如何正确地操作偏光显微镜可以使您更好地观察样品,并获得准确的结果。
记住,定期的清理和保养是保证偏光显微镜长期的使用和维持高质量成像的关键。
偏光显微镜在岩矿鉴定工作中的使用技巧和方法
偏光显微镜是一种常用的显微镜,它可以用来鉴定和研究岩石结构和化学组成,为内部构造及其成因分析提供重要信息。
偏光显微镜的使用技巧和方法有很多,主要有以下几点:
1、准备显微镜和样品:准备好偏光显微镜,确保偏光显微镜的物镜清晰可见,然后从样品中搜集样本。
2、静态显微镜观察:将样品放在偏光显微镜上,通过改变照射光的方向和颜色,进行静态观察。
判断岩石的晶体形状,晶形,晶界宽度和光反射吸收等。
3、钻孔显微镜观察:首先根据样品自身特性钻取小孔,再将磨碎的岩石粉末取出,在偏光显微镜下观察。
以此可以获取到晶间空隙的尺寸变化,晶粒的内部构造和晶粒的组合多样性等信息。
4、化学分析:对岩石样品进行水解或用其它方法提取里面的晶体,使用电子显微镜或X射线物相聚焦技术,确定岩石中物质含量和元素成分,区分各种晶体材料。
5、透射电子显微镜观察:通过将偏光显微镜结合电子显微镜技术,可以清晰地观测到岩石中微小元素的表面结构,有利于更准确地鉴定岩石结构。
总之,偏光显微镜是一种重要的矿物鉴定显微镜,它能够发挥重要作用,帮助我们准确鉴定岩石的结构,物质含量和元素成份,帮助我们更准确地探讨岩石的组成成分及其成因,从而为我们更多的实际应用提供支撑。
偏光显微镜的使用规范
偏光显微镜是精密而贵重的光学仪器,又是教学和科研工作中必不可少的常用工具,如有损坏,将直接影响教学和科研工作,因此应该注意保养、爱护,使用时应当自觉遵守使用操作规程。
偏光显微镜的使用规范:
1)使用前应进行检查。
2)显微镜要对座固定使用,不利随意改换和搬动显微镜。
搬动和放置显微镜时,动作要轻,严防震动,以免损坏光学系统。
移动显微镜时,必须手握镜臂,并托住镜座。
3)显微镜所有镜头均经校验,不得自行拆开。
镜头必须保持清洁,如有尘土,需用笔刷或镜头纸轻轻地将灰尘清除,切勿用手或其他物品拭擦,以防损坏镜头。
4)显微镜镜头及其他附件,需置原附件盒中,并放在固定位置,严防坠地,附件用毕放回原处。
5)切勿随便自行拆卸显微镜,或将附件调换使用。
6)薄片置于物台上时,薄片盖玻片必须向上,并用弹簧夹夹住薄片。
7)用高倍物镜准焦时,需眼睛旁观,切忌眼睛在目镜中观察,以免造成薄片压碎,损坏物镜。
8)更换物镜时,一定要用手握物镜转盘转动,切忌用手直接握住物镜转动,以免物镜转动。
9)使用上偏光镜及勃氏镜时,切忌猛力推送,以免震坏。
10)仪器损坏或调节失灵时,切勿强力扭动。
11)显微镜使用完毕,需将上偏光镜及勃氏镜推入,转动粗动手轮将物镜提起,镜筒上要留一目镜,关闭电源,并罩上仪器罩。
偏光显微镜法测双折射率原理
偏光显微镜法是一种常用的测量物质双折射率的方法。
它的原理是利用偏光镜的特性,通过观察物质在不同偏光方向下的光线偏转情况,来得到物质的双折射率。
具体来说,偏光显微镜法需要使用一台偏光显微镜和一些样品。
将样品放置在显微镜的观察平台上,并在样品上方放置一个偏光镜。
偏光镜可以调整其偏光方向,以使其与样品的主轴方向垂直或平行。
当偏光镜的偏光方向与样品主轴方向垂直时,观察到的是样品的快轴和慢轴两个方向的光线,它们经过样品后会发生不同程度的偏转。
此时,样品的双折射率可以通过计算快轴和慢轴的折射率差来得到。
当偏光镜的偏光方向与样品主轴方向平行时,观察到的是样品沿主轴方向的光线。
此时,样品的双折射率等于0,因为光线不会发生偏转。
通过偏光显微镜法可以快速、准确地测量物质的双折射率,并可用于研究材料的光学性质、晶体结构等方面。
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偏光显微镜的使用实验报告偏光显微镜作为一种精密仪器,在现代科学、医学等领域中广泛应用。
本实验旨在研究偏光显微镜的使用方法和技巧,以及通过偏光显微镜观察石英和云母样品的颜色变化及其背后的物理原理。
一、实验步骤1、调节偏光片和偏振片的位置,使它们成互相垂直的状态。
2、将样品放置在物镜下方的旋转平台上,旋转样品,观察它的颜色变化。
如果颜色变深,说明样品的双折射率很大;如果颜色变浅,说明双折射率较小。
3、旋转偏振片,观察样品颜色随着偏振片旋转而变化,记录不同角度下的颜色变化情况。
4、调节偏光片和偏振片的相对位置,使样品上方的偏振片与样品下方的偏振片垂直,观察样品的颜色变化。
如果样品变得明亮,说明该区域的样品厚度小于波长,产生透明度。
如果样品呈现黑色,则该区域样品厚度为波长的整数倍。
二、实验结果通过偏光显微镜观察石英和云母样品,可以观察到明显的颜色变化。
石英样品旋转时颜色变暗,而云母样品则由橘红色逐渐变为绿色,再变为蓝色。
通过旋转偏振片,可以看到石英样品颜色随着偏振片旋转而变化。
当偏振片垂直于偏光片时,石英样品呈现灰白色。
而云母样品则在旋转偏振片的过程中,呈现出不同的颜色和亮度。
在将偏光片和偏振片的相对位置调整垂直的状态之后,透过样品所观察到的颜色也发生了变化。
在石英样品上,可以观察到黑色十字形,而在云母样品上则出现了四个黑色十字形,这是由于样品内部多个层次的双折射现象所导致的。
三、实验分析偏光显微镜的原理是利用偏振片和偏光片之间相对位置的变化来观察双折射现象。
当偏振片和偏光片呈现垂直状态时,不透过样品,这是因为偏振片只透过振动在一个方向的光,而偏光片只允许振动在一个方向的光通过。
因此,当它们垂直时,没有光线可以通过。
当样品加入到不透明的系统中时,结果是产生多颜色的干涉条纹。
这是由于样品中不同方向的光线经过双折射现象,产生了波长和振动方向不同的两个光线。
这些光线由于不同的折射率和相对位置,最终产生了互相干涉的效应,所以出现干涉条纹的颜色变化。
偏光显微镜的使用
(1)打开电源开关,将偏光显微镜和电脑开机。
(2)调节上、下偏光正交:载物台上不放矿片,推入上偏光镜,若视野完全黑暗,说明上、下偏光镜振动方向正交,若不黑暗,说明不正交,需校正上偏光镜方向,转动上偏振镜,使视域达到最暗为止。
(3)对光:转动粗准焦螺旋,使镜筒徐徐上升,然后转动转换器,使低倍物镜对准通光孔;用手指转动遮光器(或片状光圈),使最大光圈对准通光孔,同时转动反光镜,使其朝向光源,使视野内亮度均匀合适。
(4)校正中心
①观察旋转工作台上的矿片,在矿片中找一小黑点,使位于偏光显微镜目镜十字线中心。
②转动工作台时,若物镜光轴与工作台中心不一致,黑点即离开十字线中心绕一个圆转动。
圆的中心O即为工作台的中心。
③调节载物台上两个调节螺丝,使小黑向O点移动,直到转动工作台时,小黑点不动,其它个点绕小黑点作圆周运动为止。
(5)调节焦距
①将制好的光薄片置于物台中心,必须将光薄片物料面朝上,用薄片夹夹好。
②转动转动粗准焦螺旋,使镜筒徐徐下降,当物镜镜头与载物台的玻片相距2~3mm时停止,观看目镜视野,并转动粗准焦螺旋,使镜筒徐徐上升,直到看清物象为止。
如果不清楚,可调节细准焦螺旋,至清楚为止。
(6)移动矿片:当一个视野中的胶磷矿测完后,按左右方向移动矿片,继续观测。
(7)正交观测,在单偏光下推入上偏光镜,观察各种矿物的消光性。
(8)观测完毕后,关闭偏光显微镜和电脑。
偏光显微镜用途及使用注意事项偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行讨论鉴定的必备仪器,是用于讨论所谓透亮与不透亮各向异性材料的一种显微镜,在地质学等理工科专业中有紧要应用。
凡具有双折射的物质,在偏光显微镜下就能辨别的清楚,当然这些物质也可用染色法来进行察看,但有些则不可用,而必需利用偏光显微镜。
反射偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行讨论鉴定的必备仪器,可供广阔用户做单偏光察看,正交偏光察看,锥光察看。
一、紧要特点偏光显微镜的特点,就是将一般光更改为偏振光进行镜检的方法,以辨别某一物质是单折射性(各向同性)或双折射性(各向异性)。
双折射性是晶体的基本特征。
因此,偏光显微镜被广泛地应用在矿物、高分子、纤维、玻璃、半导体、化学等领域。
在生物学中,很多结构也具有双折射性,这就需要利用偏光显微镜加以区分。
在植物学方面,如辨别纤维、染色体、纺锤丝、淀粉粒、细胞壁以及细胞质与组织中是否含有晶体等。
在植物病理上,病菌的入侵,常引起组织内化学性质的更改,可以偏光显微术进行辨别。
二、工作原理偏光显微镜的两个偏振滤光片互为90°,以获得所谓的“暗位”,此时视野是全黑的;假如样品在光学上表现为各向同性(单折射体),则无论怎样旋转载物台,视场仍是黑暗;这是由于起偏镜所形成的线偏振光的振动方向不发生变化,依据马吕斯定律,透射光的强度为0;假如样品具有双折射特性,则视野会变亮,这是由于从起偏镜射出的线偏振光进入双折射体后,产生振动方向不同的两种直线偏振光(o光和e光);当这两种光通过检偏镜时,由于e光并不服从折射定律,其与检偏镜偏振方向不是90°,所以可透过检偏镜,视野上就可以看到光亮的象。
三、应用用途1.偏振光在各向异性金属磨面上的反射在正交偏振光下察看各向异性晶体。
因光学各向异性金属在金相磨面上呈现的各颗晶粒的位向不同,即各晶粒的“光轴”位置不同,使各晶粒的反射偏振光的偏振面旋转的角度不同;通过偏光显微镜后,便可在目镜中察看到具有不同亮度的晶粒衬度。
偏光显微镜分析使用方法光学显微分析是利用可见光观察物体的表面新貌和内部结构,鉴定晶体的光学性质。
透明晶体的观察可利用透射显微镜,如偏光显微镜。
而对于不透明物体来说就只能使用反射式显微镜,即金相显微镜。
利用偏光显微镜和金相显微镜进行晶体光学鉴定,是研究材料的重要方法之一。
1、偏光显微镜偏光显微镜是目前研究材料晶相显微结构最有效的工具之一。
随着科学技术的发展,偏光显微镜技术在不断地改进中,镜下的鉴定工作逐步由定性分析发展到定量鉴定,为显微镜在各个科学领域中的应用开辟了广阔的前景。
图1 . XPT-7型偏光显微镜1、目镜,2、镜筒,3、勃氏镜,4、粗动手轮,5、微调手轮,6、镜臂,7、镜座,8、上偏光镜,9、试板孔,10、物镜,11、载物台,12、聚光镜,13、锁光圈,14、下偏光镜,15、反光镜2、偏光显微镜的构成偏光显微镜的类型较多,但它们的构造基本相似。
XPT—7型偏光显微镜(图1)构成为:镜臂:呈弓形,其下端与镜座相联,上部装有镜筒。
反光镜:是一个拥有平、凹两面的小圆镜,用于把光反射到显微镜的光学系统中去。
当进行低倍研究时,需要的光量不大,可用平面镜,当进行高倍研究时,使用凹镜使光少许聚敛,可以增加视域的亮度。
下偏光镜:位于反光镜之上、从反光镜反射来的自然光,通过下偏光镜后,即成为振动方向固定的偏光,通常用PP代表下偏光镜的振动方向。
下偏光镜可以转动,以便调节其振动方向。
锁光圈:在下偏光镜之上。
可以自由开合,用以控制进入视域的光量。
聚光镜:在锁光圈之上。
它是一个小凸透镜,可以把下偏光镜透出的偏光聚敛而成锥形偏光。
聚光镜可以自由安上或放下。
载物台:是一个可以转动的圆形平台。
边缘有刻度(0-360°),附有游标尺,读出的角度可精确至1/10度。
同时配有固定螺丝,用以固定物台。
物台中央有圆孔,是光线的通道。
物台上有一对弹簧夹,用以夹持光片。
镜筒:为长的圆筒形,安装在镜臂上。
转动镜臂上的粗动螺丝或微动螺丝可用以调节焦距。
偏光显微镜应用及使用方法偏光显微镜应用及使用方法00用偏光显微镜研究聚合物的结晶形态是目前实验室中较为简便而实用的方法。
众所周知,随着结晶条件的不用,聚合物的结晶可以具有不同的形态,如:单晶、树枝晶、球晶、纤维晶及伸直链晶体等。
在从浓溶液中析出或熔体冷却结晶时,聚合物倾向于生成这种比单晶复杂的多晶聚集体,通常呈球形,故称为“球晶”。
球晶可以长得很大。
对于几微米以上的球晶,用普通的偏光显微镜就可以进行观察;对小于几微米的球晶,则用电子显微镜或小角激光光散射法进行研究。
聚合物制品的实际使用性能(如光学透明性、冲击强度等)与材料内部的结晶形态,晶粒大小及完善程度有着密切的联系,因此,对聚合物结晶形态等的研究具有重要的理论和实际意义。
一、目的要求1.了解偏光显微镜的结构及使用方法。
2.观察聚合物的结晶形态,估算聚丙烯球晶大小。
二、基本原理球晶的基本结构单元具有折叠链结构的片晶(晶片厚度在10mm左右)。
许多这样的晶片从一个中心(晶核)向四面八方生长,发展成为一个球状聚集体。
根据振动的特点不同,光有自然光和偏振光之分。
自然光的光振动(电场强度E的振动)均匀地分布在垂直于光波传播方向的平面内;自然光经过反射、折射、双折射或选择吸收等作用后,可以转变为只在一个固定方向上振动的光波。
这种光称为平面偏光,或偏振光。
偏振光振动方向与传播方向所构成的平面叫做振动面。
如果沿着同一方向有两个具有相同波长并在同一振动平面内的光传播,则二者相互起作用而发生干涉。
由起偏振物质产生的偏振光的振动方向,称为该物质的偏振轴,偏振轴并不是单独一条直线,而是表示一种方向。
自然光经过第一偏振片后,变成偏振光,如果第二个偏振片的偏振轴与第一片平行,则偏振光能继续透过第二个偏振片;如果将其中任意一片偏振片的偏振轴旋转90°,使它们的偏振轴相互垂直。
这样的组合,便变成光的不透明体,这时两偏振片处于正交。
光波在各向异性介质(如结晶聚合物)中传播时,其传播速度随振动方向不同而发生变化,其折射率值也因振动方向不同而改变,除特殊的光轴方向外,都要发生双折射,分解成振动方向互相垂直,传播速度不同,折射率不等的两条偏振光。
偏光显微镜及冷热台操作规程
一.偏光显微镜
1.打开透射或反射电源及录像机,计算机电源。
2.将样品载玻片置于载物台上,将灯的亮度调到10左右。
3.首先选用放大倍数为10的物镜选择视场,然后根据不同样品选择不同倍数的物镜(若配合热台使用,请选择20倍长焦物镜)
4.打开计算机桌面上的Linksys32程序,点击file-connect.下面蓝框中由Programmer not connected变为显示温度即为软件与仪器连接上;点击Vide-Show Window.显示观看视野,若显微镜中可以看到视野,但是电脑上看不见,可以右击观看视野,将Exposure Time调稍微大一点,稍等片刻即可观察到。
5.观察样品的光学性质,记录或拍照,或将透射或反射检偏器和起偏器摆入光路在正交偏光下观察,记录或拍照。
6.测样结束(或换样品载玻片),将灯的亮度调到2.5,将样品从载物台上取下,关闭透射或反射电源及录像机和计算机电源。
注意事项:只观察不拍照时,灯光亮度不要调的过高,测试中若暂时不观察,请把灯光亮度调到2.5
二.冷热台
1.将有样品载玻片的冷热台置于显微镜载物台上,固定调节样品的清晰度。
2.将程序温度控制器及自动冷却系统电源打开。
3.设置升温或降温速率及温度上,下限。
4.观察样品在升温或降温时的光学性质变化。
5.测试结束,将其从显微镜上取下,样品片从热台中取出。
6.关闭程序温度控制器及自动冷却系统电源。
注意事项:测试中不要把冷热台盖打开进行观察若打开冷热台取出或换样品片时,请移开物镜。
偏光显微镜(Polarizing microscope )1. 2. 3. 4. 5. 6. 7.8. 9. 10. 11. 先把显微镜下的画面调节清楚,再转动偏振片,继续观察。
放标本玻片于载物台中,下降镜筒到快近玻片处,下降集光器或调小光圈,慢慢用粗调上升镜筒,直至看清标本为止。
用高倍镜时,在低倍镜看清的位置,放大光圈和上升集光器,直接在低倍镜下转换,调节细调节器至看清为止。
(偏光显微镜共有两个偏振片,聚光镜上一个,物镜后方一个。
在不加样品的条件下将两个偏振片的夹角转成90度。
这时视野里一片漆黑,就行了。
加上样品载玻片后,如果有晶体,镜下就能看到它闪闪的亮光了。
需要使用正交偏光,即上下偏光镜呈90度。
插入你制成的试板,旋转物台360度,如果出现4次消光(只有4个角度视域是黑的),说明是非等轴晶体)。
(二)详细的1 使用前的检查1.1.确定起偏振镜或检偏振镜振动方向:将检偏振镜自镜中推出、只留一个起偏振镜观察工作台上黑云母切片、转动工作台,当黑云母解理与起偏振镜的振动方向平行时对黑云母吸收性最强,此时呈现深棕色,当解理与起偏振镜的振动方向垂直时,黑云母吸收性微弱,此时晶体呈现淡黄色,据此就能确定起偏振镜的振动方向。
另一法是将起偏振镜自显微镜上取下,通过起偏振镜以较大倾斜角观察任一光亮的反射表面,转动起偏振镜至一最暗位置,即可确定起偏振镜振动方向与水平方向(左右不限)垂直、因光亮表面反射来的部分偏振光振动方向始终是观察者的左右方向。
本仪器上的起偏振镜振动方向为观察者的左右方向。
1.2.起偏振镜与检偏振镜正交:将检偏振镜推入(为观察清楚,应取下目镜、物镜及拨开聚光镜前片),转动起偏振镜,观察到最暗位置,即系正交位置,此时起偏振镜刻线应对准00(1800)。
1.3.目镜分划板十字线与起偏振镜、检偏振镜振动方向平行:检查方法同 1.1.在单偏光下观察黑云母切片,当黑云母解理与起偏抵镜的振动方向平行时,颜色最深,呈深棕色,此目镜分划板十字线之一应与黑云母解理方向平行。
正交偏光显微镜的使用polarizing microscope一、实验目的(1)了解正交偏光显微镜的基本结构和工作原理;(2)学习正交偏光显微镜的样品制备方法;(3)学习正交偏光显微镜的操作;(4)掌握正交偏光显微镜图像的分析二、正交偏光显微镜的基本结构和工作原理偏光显微镜(Polarizing microscope)是载物台下装有起偏器,而在物镜与目镜之间装有检偏器,从而检测出物质的各向同性和各向异性的一种双折射性质的显微镜。
凡具有双折射的物质,在偏光显微镜下就能分辨的清楚。
偏光显微镜是以自然光和其它外来光作为光源,利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定,可做单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察。
2.1 正交偏光显微镜的结构正交偏光显微镜与普通光学显微镜极其相似,其构造主要以下部分组成:(1)镜座:是显微镜的底座,用以支持整个镜体。
(2)镜柱:是镜座上面直立的部分,用以连接镜座和镜臂。
(3)镜臂:一端连于镜柱,一端连于镜筒,是取放显微镜时手握部位。
(4)镜筒:连在镜臂的前上方,镜筒上端装有目镜,下端装有物镜转换器。
(5)目镜:装在镜筒的上端,通常备有2~3个,上面刻有5×、10×、15×等符号以表示其放大倍数。
(6)物镜转换器(旋转器):接于棱镜壳的下方,可自由转动,盘上有4~5个圆孔,是安装物镜部位,转动转换器,可以调换不同倍数的武警,当听到碰叩声时,方可进行观察,此时物镜光轴恰好对准通光孔中心,光路接通。
转换物镜后,不允许使用粗调节器,只能用细调节器,使像清晰。
(7)物镜:装在镜筒下端的旋转器上,一般有3~4个物镜,其中最短的刻有“10×”符号的为低倍镜,较长的刻有“40×”符号的为高倍镜,最长的刻有“100×(油)”符号的为油镜。
此外,在高倍镜和油镜上还通常加有一圈不同颜色的线,以示区别。
(8)上偏光镜(检偏镜):(9)镜台(载物台):在镜筒下方,形状有方、圆两种,用以放置玻片标本,中央有一通光孔,我们所用的显微镜其镜台上装有玻片标本推进器(推片器),推进器左侧有弹簧夹,用以夹持玻片标本,镜台下有推进器调节轮,可使玻片标本作左右、前后方向的移动。
偏光显微镜的使用流程1.准备工作a.将偏光显微镜平稳地放置在实验台上,并将电源插头连接到电源插座上。
b.打开电源开关,调节照明亮度的旋钮,使光源适合观察。
c.调节调焦手轮,将目镜和物镜聚焦到同一个焦平面上。
2.标本准备a.将待观察的标本制备好,例如材料样品、细胞培养液、玻璃片上的显微镜标本等。
b.在标本准备过程中,要确保标本的干净和透明。
对于材料样品,可以使用显微镜玻璃片将其覆盖,确保样品的平整度。
3.放置标本a.将标本放置在显微镜的载物台上,确保标本与载物台接触面完全平行。
b.观察材料样品时,将其固定在载物台上,可以使用夹子或夹具进行固定。
对于玻璃片上的标本,可以使用剪刀或其他工具将其固定在载物台上。
4.选择合适的偏光装置a.根据需要选择偏光片、偏振镜和旋转台等偏光装置。
b.将偏光片插入显微镜光路中,确保偏光方向与样品所需的偏光方向一致。
c.如果需要测量样品表面或内部的特定方向性属性,可以旋转样品或旋转台。
5.调节偏光显微镜参数a.调节横截光和狭缝宽度,以获得适当的光强度和对比度。
b.调整偏振镜的角度,以改变通过样品的偏振光的方向。
6.开始观察a.使用目镜调焦手轮将样品调焦到清晰的图像上。
b.调整物镜的倍数,选择合适的放大倍数以便观察。
c.使用偏光显微镜观察样品时,可以通过旋转样品、偏振镜或旋转台,调整样品的偏光效果和显示效果。
7.记录结果a.使用手机或相机将观察到的图像捕捉下来,以便后续分析或保存。
b.记录下观察到的样品特征、光强度、对比度等信息,可作为实验报告或研究记录。
8.关闭偏光显微镜a.将物镜调至低倍放大倍数,将偏光片、偏振镜和旋转台等偏光装置拆下。
b.关闭电源开关,断开电源插头。
总结:。
火山岩岩矿鉴定简易手册(一)偏光显微镜的使用与调节1 熟悉偏光显微镜的构造、装置、使用和维护保养方法2 调节照明(对光)(1)装上低倍或中倍物镜,打开锁光圈,轻轻推出上偏光镜、勃氏镜及聚光镜(2)转动反光镜至视域最亮为止。
如果总是对不亮,可以轻轻抽出目镜或推入勃氏镜,然后转动反光镜至视域内看到光源为止。
此时加上目镜或推出勃氏镜,视域必然最亮。
3 调节焦距(准焦)(1)将一薄片置于载物台上(注意必须使盖玻璃朝上),用弹簧夹夹住。
(2)从侧旁看物镜镜头,转动粗动螺丝,使镜筒下降,至物镜到最低位置(注意切勿压碎薄片)。
(3)从目镜中观察,同时转动粗动螺丝,使镜筒上升,当视域中刚刚出现物象时,改用微动螺丝,使物象清晰为止。
(4)换用高倍物镜,用同法调节焦距。
在调节焦距时,绝不能眼睛看着目镜下降镜筒,因为这样很容易压碎薄片并损坏物镜。
在调节高倍物镜焦躁时,尤应注意。
因为高倍物镜的焦躁很短,镜头几乎与薄片接触,若薄片盖玻璃朝下时,不但无法准焦,而且常有压碎薄片,割伤镜头的事故发生。
4 校正中心在校正中心前,必须检查接物镜位置是否正确,如物镜没有安装在正确位置上,中心不但不能校正,而且往往容易损坏物镜和校正螺丝。
校正中心时,如发现螺丝旋转费力,或失效时,应立即报告,请求指导,切勿强力扭动。
校正中心的方法,参阅教材的有关部分。
二颜色和多色性的观察,解理及解理夹角的测量1 确定下偏光镜的振动方向观察许多光学现象,必须知道下偏光镜的振动方向。
为此,在进行单偏光镜下的晶体光性研究之前,必须确定下偏光镜振动方向,并使之固定,不要轻易改变。
(1)在一薄片中选择一个具清晰解理的黑云母,置视域中心。
(2)旋转物台使黑云母解理缝与东西十字丝平行。
此时如果云母颜色最深,则东西十字丝方向即为下偏光镜振动方向。
否则,则需转动下偏光镜,至黑云母颜色最深为止。
2 颜色、多色性及吸收性的观察(1)使薄片中黑云母分别置视域中心,旋转物台使黑云母解理缝、电气石延长方向平行下偏光镜振动方向,观察颜色并注意颜色浓度。
(2)再旋转物台90度使解理缝或延长方向与下偏光镜振动方向垂直,观察颜色,并注意深浅变化。
(3)使黑云母解理或电气石延长方向与下偏光镜振动方向斜交,观察矿物颜色及其浓度,此时颜色及颜色浓度介于上述两种情况之间。
(4)将不具解理的黑云母,近于三角形的电气石切面置视域中心,旋转物台,观察颜色、浓度的变化。
(5)使角闪石具一组解理,两组解理的切片,分别置视域中心,旋转物台,观察颜色浓度的变化。
3 解理的观察及解理夹角的测量(1)观察薄片中云母、普通角闪石、斜长石、磷灰石的解理完善程度,并观察角闪石、黑云母在不同方向切面中解理的可见性、组数。
(2)测角闪石、透辉石的解理夹角。
A 选择合适的切片,即两组解理缝细密而清晰,升降镜筒时解理缝不左右移动。
B 使一组解理与十字丝之一平行,记下载物台刻度,记作A。
C 旋转物台,使另一组解理与同一十字丝平行。
再记下载物台的刻度,如b。
两次读数之差(a。
-b。
)即为所测夹角。
三突起等级及折光率高低的比较1 矿物边缘、糙面及突起等级的观察A 观察石英、云母、石榴石、透辉石、及萤石中矿物的边缘轮廓特征、糙面,确定突起等级和突起正负。
B 观察白云石的闪突起。
2 用贝克线、色散效应法比较矿物折光率的高低A 用贝克线法确定透辉石、石英的突起正负、相对高低,并确定突起等级。
B 确定萤石的突起正负。
C 观察石英、钾长石的色散效应,折光率相对高低和突起正负,并用贝克线法加以验证。
注意:(1)色散效应只适用于无色透明矿物或介质,且当两者折光率相差很小的情况。
(2)观察色散效应时,必须选择二介质接触无杂质处。
(3)将所观察两矿物接触部位置视域中心,并适当缩小光圈即可四单偏光镜下晶体光学性质的系统观察进一步熟悉掌握单偏光镜下观察的主要内容:晶形、解理及解理夹角的测量、颜色及多色性、吸收性、突起、糙面边缘、贝克线及色散效应。
逐个观察橄榄石、辉石、黑云母、斜长石,系统记录它们在单偏光镜下的光性特征,并绘图表示之。
五消光、干涉、干涉色的观察及干涉色级序和干涉色升降判断1 正交偏光镜下观察的准备(1) 检查上、下偏光镜振动方向是否垂直。
A 装上中倍或低倍物镜,调节照明使视域最亮。
B 推入上偏光镜,观察视域中黑暗程度如何。
如果不够黑暗,说明上、下偏光镜振动方向不正交,需转动上、下偏光镜至视域最暗为止(注意下偏光镜已调整至与东西十字丝平行,不宜再动。
上偏光镜偏光片可转动调节,并使二者正交)。
(2)检查目镜十字丝是否与上、下偏光镜振动方向一致由于已使下偏光镜振动方向与东西十字丝平行,并使上、下偏光镜振动方向正交,南北十字丝应与上偏光镜振动方向平行,否则十字丝不正交,应予维修。
A 在薄片中找一个具有清晰解理的黑云母,置视域中心。
旋转物台使解理缝与南北十字丝平行(黑云母解理缝平行东西十字丝时吸收性最强,不易观察)此时最亮。
B 推入上偏光镜,如果黑云母变至最暗,说明上、下偏光镜振动方向已正交。
C 推入上偏光镜后,如果黑云母未达到最暗,说明十字丝与上下偏光镜振动方向不平行,此时应旋转物台使黑云母最暗,然后再转动目镜使十字丝与黑云母解理平行。
2 消光与干涉现象的观察A 观察萤石或石榴石的全消光现象。
B 观察非均质矿物任意方向切片(除垂直光轴外)的四次消光、四次明亮现象。
将非均质矿物任意方向切片置视域中心,推入上偏光镜,旋转物台360度,有四次黑暗,四次明亮现象。
但每次黑暗并非骤然变暗,而是由亮逐渐变暗直到消光,此时即为消光位。
由消光位转45度时最亮,所见干涉色最鲜艳和最亮。
3 准确消光位的确定非均质矿物的任意方向的切片,消光时的位置是消光位。
此时无光通过上偏光镜而视线呈现黑暗。
如何准确确定是否达到消光位至关重要,其方法如下:A 置矿物切片于视域中心。
B 旋转物台使之消光,即达最暗位置。
C 插入石膏板,如果矿片呈现石膏一级红干涉色,即达消光位,否则要稍转物台,至矿片是一级红方可。
4 干涉色的观察(1)分别观察云母试板(R=1/4λ)、石膏试板(R=1λ)的干涉色。
(2)观察石英楔的干涉色级序。
A 装好正交偏光镜。
B 从试板孔缓缓插入石英楔(从薄到厚),从镜中可以看到视域中一至三级干涉色连续出现。
其次序与干涉色色谱表的相同,有的甚至可看到四级干涉色。
观察时注意多级干涉色的特征。
(3)观察白云石的高级白干涉色。
高级白干涉色往往是混合的灰白色,并带珍珠色彩,但要确定为高级白干涉色应作如下操作。
A 置白云石于视域中心,推入上偏光镜。
B 旋转物台使其消光,再转物台45度观察干涉色特征。
C 插入云母板或石膏板,干涉色无明显变化,此即为高级白,否则为一级白。
(4)观察绿泥石,绿帘石的异常干涉色。
5 判断干涉色级序(1)直观法和色圈法根据各级的特征,多次观察对比,积累经验,可以直接观察、判断干涉色的级序。
一级以上干涉色的矿片,其边缘往往可见到细圈干涉色色圈,红圈圈数加1,即为矿片本身的干涉色级序。
用直观法判断石英和白云石的最高干涉色;用色圈法判断橄榄石的最高干涉色。
(2)借助试板判断干涉色级序1)用石膏板和云母板判断,其步骤如下:A 将该切片转至消光位。
B 由消光位转物台45度,至干涉色最亮。
C 插入试板观察干涉色变化。
D 向相反方向转物台90度(即由消光位转45度),观察干涉色特征。
如用石膏板时出现黄或灰,用云母板时出现橙红或灰白,则该黄为一级黄。
2)用石英楔判断干涉色级序A 在薄片中选干涉色最高的切片置视域中心,旋转物台使之消光,再转物台4 5度,观察切片的干涉色。
B 从试板孔缓缓插入石英楔,如果干涉色逐渐降低,直到矿物切片呈现黑暗或出现黑带为止(如果干涉色逐渐升高,旋转物台90度,再插入石英楔)。
C 缓缓抽出石英楔,干涉色由低逐渐升高,注意有几次红色出现,红色数加1即为该片干涉色级序。
6 判断干涉色级序升降干涉色的升高与降低,是以色谱表的顺序为标准确定的,干涉色向色谱表右方移动是升高,向左方移动是降低。
(1)借助石膏板判断干涉色升降石膏板R=575毫米,呈一级红干涉色,通常用于判断一级干涉色的升降,它升降一个级序。
A 将石英切片置视域中心,旋转物台使之消光,再转45度,呈一级灰白干涉色。
B 插入石膏板,观察干涉色的变化(注意此时判断干涉色升降应以石膏板的干涉色为准)。
若由一级红变为二级兰,则干涉色升高;若由一级红变为一级灰白或一级黄(对矿物来说升高了),则干涉色降低。
(2)借助云母板判断透辉石干涉色的升降。
云母板R=147毫微米,呈一级灰白干涉色,使用它可使干涉色升降一个色序,其使用方法与石膏板相同,通常用于一级以上干涉色升降的判断。
(3)借助石英楔判断透辉石干涉色的升降。
A 将具较高干涉色的透辉石切片(有干涉色圈者)置视域中心。
旋转物台使之消光,再转45度观察干涉色。
B 向试板孔缓缓插入石英楔,观察干涉色的连续变化。
C 按色谱表顺序确定干涉色升降。
D 一般应根据干涉色圈的移动情况来判断,当插入石英楔时,色圈向外移动是升高,向内移动是降低。
六双折率的测量和光率体轴名的测定1 双折射率的测量1)测薄片厚度由公式R=d(N1-N2)知双折射率(N1-N2)=R∕d,可见由薄片厚度(d)和光程差(R)即可求出双折射率。
岩石薄片应磨制0.027mm厚,但一般达不到要求。
为精确测量双折射率应首先测量薄片厚度,方法是:A 在薄片中找已知矿物具最高干涉色的切片,得N1-N2;B 确定干涉色级序,得光程差;C 由公式N1-N2=R∕d,得d。
已知石英的最大双折射差Ne-No=0.009,根据薄片中石英的最高干涉色求出薄片的厚度。
2)测双折射率双折射率是非均质矿物的重要光学常数。
但只有最大双折射率才具鉴定意义。
所以测矿物双折率必须在平行光轴(一轴晶)和平行光轴面(二轴晶)切面上进行。
定向切面应通过锥光观察寻找,一般只需找具最高干涉色切面即可。
A 用石英楔测橄榄石的双折射率。
B 找最高干涉色切面,确定其干涉色级序;C 假定薄片厚度为0.027mm;D 查干涉色色谱表,得双折射率。
2 光率体轴位置和名称的确定用试板确定透辉石不同方向切面(具一组解理的切片和具两组解理的切片)光率体轴位置和名称。
(1)将选定切片置视域中心,转物台使之消光,此时十字丝方向即为光率体轴的位置。
(2)由消光位转45度(顺时针、逆时针方向均可)。
(3)插入试板,观察干涉色升降。
由光程差迭加原理,判断光率体轴名称。
七消光类型、消光角及延长符号的测定1 观察磷灰石、角闪石、电气石、白云母不同方向切面的消光类型。
2 测量磷灰石、电气石、白云母的延长符号。
A 将欲测矿物切片置视域中央,转动物台使之消光。
B 由消光位转物台45度,呈最亮干涉色。
C 插入试板,根据干涉色升降确定光率体轴名称。