《教学分析》-SilvacoTCAD工艺仿真
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9SilvacoTCAD器件仿真模块及器件仿真流程Silvaco TCAD是一种广泛使用的集成电路(IC)设计和仿真工具,用于开发和研究半导体器件。
它提供了一套完整的器件仿真模块,可以帮助工程师设计、优化和验证各种半导体器件的性能。
本文将介绍几个常用的Silvaco TCAD器件仿真模块,并提供一个简要的器件仿真流程。
1. ATHENA模块:ATHENA是Silvaco TCAD的物理模型模拟引擎,用于模拟器件的结构和物理特性。
它可以通过解决泊松方程、电流连续性方程和能带方程等来计算电子和空穴的分布、电场和电势等物理量。
ATHENA支持多种材料模型和边界条件,可以准确地模拟各种器件结构。
2. ATLAS模块:ATLAS是Silvaco TCAD的设备模拟引擎,用于模拟半导体器件的电学和光学特性。
它可以模拟器件的电流-电压特性、载流子分布、能量带结构和光电特性等。
ATLAS支持各种器件类型,如二极管、MOSFET、BJT和太阳能电池等。
3. UTILITY模块:UTILITY是Silvaco TCAD的实用工具模块,用于处理和分析仿真结果。
它提供了各种数据可视化、数据处理和数据导出功能,帮助工程师分析和优化器件性能。
UTILITY还可以用于参数提取和模型校准,以改进模拟的准确性。
接下来是一个简要的Silvaco TCAD器件仿真流程:2. 设置模拟参数:在进行仿真之前,需要设置模拟所需的参数,如材料参数、边界条件、物理模型和仿真选项等。
可以使用Silvaco TCAD的参数设置工具来设置这些参数。
3. 运行ATHENA模拟:使用ATHENA模块进行结构模拟,通过求解泊松方程和连续性方程,计算出电子和空穴的分布、电场和电势等物理量。
可以使用Silvaco TCAD的命令行界面或图形用户界面来运行ATHENA模拟。
4. 运行ATLAS模拟:使用ATLAS模块进行设备模拟,模拟器件的电学和光学特性。
ATLAS模块可以计算器件的电流-电压特性、载流子分布、能量带结构和光电特性等。
SilvacoTCAD半导体仿真工具培训教程_资料手册Silvaco TCAD 半导体仿真工具培训教程_资料手册Silvaco TCAD 2014.00 Win32 1DVD半导体仿真工具Synopsys.Tcad.Sentaurus.vH-2013.03.Linux64 3CDSilvaco的TCAD 建模服务提供解决方案给那些有特别半导体器件建模需求而内部又没有时间和资源运行TCAD软件的客户。
使用TCAD 建模服务,可运用Silvaco在半导体物理和TCAD软件操作方面的专长,提供完全、快速和精确的即可使用的解决方案。
Silvaco AMS v2010.00 Win32 1CDSilvaco AMS 2008.09 Linux32 64Silvaco AMS 2008.09 Solaris 1CDSilvaco AMS 2008.09 Manual 1CDSilvaco Iccad 2008.09 1CDSilvaco Iccad 2008.09 Linux32 64Silvaco Iccad 2008.09 Solaris 1CDSilvaco Iccad 2008.09 Manual 1CDSilvaco Logic 2008.09 1CDSilvaco Logic 2008.09 Linux32 64Silvaco Logic 2008.09 Solaris 1CDSilvaco Logic 2008.09 Manual 1CD Silvaco TCAD 2012.00 Win32_64 1DVD Silvaco TCAD 2010.00 Linux 1CD Silvaco TCAD 2012 Linux64 1DVD Silvaco TCAD 2008.09 Solaris 1CD Silvaco TCAD 2008.09 Manual 1CD Silvaco Catalyst 2008.09 Linux32 64 Silvaco Catalyst 2008.09 Solaris 1CD Silvaco Char 2008.09 Linux32 64 Silvaco Char 2008.09 Solaris 1CD Silvaco Firebird 2008.09 Linux32 64 Silvaco Firebird 2008.09 Solaris 1CD Silvaco Mode 2008.09 Linux32 64 Silvaco Mode 2008.09 Solaris 1CD Silvaco Parasitic 2008.09 Linux32 64Silvaco Parasitic 2008.09 Solaris 1CDSilvaco UT 2007.04 Linux32 64Silvaco UT 2007.04 Solaris 1CDSilvaco VWF 2007.04 Linux32 64Silvaco VWF 2007.04 Solaris 1CDParallel SmartSpice 1.9.3.E 1CD■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□+ 诚信合作,保证质量长期有效:+ 电话TEL:189******** 客服 QQ:1140988741■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□Pinnacle产品:FracproPT.2007.v10.4.52 1CD(石油工业界的先进压裂软件工具,它提供支撑剂和酸液压裂处理的设计、模拟、分析、执行和优化功能。
高频npn双极型晶体管Silvaco TCAD仿真一、npn晶体管器件物理1.npn晶体管的基本结构和制造工艺(1)npn晶体管的基本结构双极型晶体管由两个“背靠背”的pn结组成,一种基本结构如图1所示,晶体管中两种载流子都参与导电。
双极型晶体管按照导电类型和极性可划分为npn 晶体管和pnp晶体管,按照制作工艺可划分为合金管、平面管和台面管。
图 1 双极型晶体管基本结构(2)npn晶体管的制造工艺1948年,美国贝尔实验室的肖克莱、巴丁和布拉顿利用合金烧结法制作了第一个锗基双极型晶体管分立器件,奠基了现代电子技术的基础[1]。
npn晶体管制造的平面外延工艺在上世纪70年代一度成为主流,随着各种先进工艺和材料的引进,npn晶体管普遍使用多晶硅发射极的结构以提升注入效率,通过异质外延、离子注入、极紫外光刻等技术,npn晶体管尺寸更小、掺杂浓度更高更精确,性能也更出色。
2.npn晶体管的输出特性和击穿特性(1)npn晶体管的电流放大功能当处于放大工作状态时,npn晶体管的电流输运分为以下三个步骤:发射区发射载流子→基区输运载流子→集电区收集载流子,由于两种载流子都参与晶体管的电流输运,故得名“双极型晶体管”,三个过程定量描述载流子输运的系数分别是注入效率、基区输运系数和集电区雪崩倍增因子。
当npn型双极型晶体管发射结正偏、集电结反偏时,晶体管的基极电流将与集电极电流呈现近似比例关系,即I C=βI B(β>>1),呈现出“电流放大”的功能,其中β称为npn晶体管的电流放大系数。
npn晶体管的输出特性曲线如图2所示,图中虚线代表V BC=0,即V CE=V BE 的情形,是放大区和饱和区的分界线。
(2)npn晶体管的击穿特性当双极型晶体管一个电极开路,在另外两个电极外加反向偏压时,npn晶体管将发生雪崩倍增效应,产生类似于pn结的击穿现象,基极开路时,使I CEO→∞的V CE称为BV CEO,npn晶体管的BV CEO曲线表示如图3所示。
4.2 使用ATLAS的NMOS器件仿真4.2.1 ATLAS概述A TLAS是一个基于物理规律的二维器件仿真工具,用于模拟特定半导体结构的电学特性,并模拟器件工作时相关的内部物理机理。
ATLAS可以单独使用,也可以在SILVACO’s VIRTUAL WAFER FAB仿真平台中作为核心工具使用。
通过预测工艺参数对电路特性的影响,器件仿真的结果可以与工艺仿真和SPICE 模型提取相符。
1 A TLAS输入与输出大多数ATLAS仿真使用两种输入文件:一个包含ATLAS执行指令的文本文件和一个定义了待仿真结构的结构文件。
ATLAS会产生三种输出文件:运行输出文件(run-t i m e output)记录了仿真的实时运行过程,包括错误信息和警告信息;记录文件(log files)存储了所有通过器件分析得到的端电压和电流;结果文件(s o l ut i on fil es)存储了器件在某单一偏置点下有关变量解的二维或三维数据。
2 A TLAS命令的顺序在ATLAS中,每个输入文件必须包含按正确顺序排列的五组语句。
这些组的顺序如图4.52所示。
如果不按照此顺序,往往会出现错误信息并使程序终止,造成程序非正常运行。
图4.52 ATLAS命令组以及各组的主要语句3 开始运行A TLAS要在DECKBUILD下开始运行A TLAS,需要在UNIX系统命令提示出现时输入:deckbuild -as&命令行选项-as指示DECKBUILD将A TLAS作为默认仿真工具开始运行。
在短暂延时之后,DECKBUILD将会出现,如图4.53所示。
从DECKBUILD输出窗口可以看出,命令提示已经从A THENA变为了A TLAS。
图4.53 ATLAS的DECKBUILD窗口4 在A TLAS中定义结构在ATLAS中,一个器件结构可以用三种不同的方式进行定义:1.从文件中读入一个已经存在的结构。
这个结构可能是由其他程序创建的,比如ATHENA或DEVEDIT;2.输入结构可以通过DECKBUILD自动表面特性从ATHENA或DEVEDIT转化而来;3.一个结构可以使用ATLAS命令语言进行构建。
4.1.7栅氧厚度的最优化下面介绍如何使用DECKBUILD中的最优化函数来对栅极氧化厚度进行最优化。
假定所测量的栅氧厚度为100Å,栅极氧化过程中的扩散温度和偏压均需要进行调整。
为了对参数进行最优化,DECKBUILD最优化函数应按如下方法使用:a.依次点击Main control和Optimizer…选项;调用出如图4.15所示的最优化工具。
第一个最优化视窗显示了Setup模式下控制参数的表格。
我们只改变最大误差参数以便能精确地调整栅极氧化厚度为100Å;b.将Maximum Error在criteria一栏中的值从5改为1;c.接下来,我们通过Mode键将Setup模式改为Parameter模式,并定义需要优化参数(图4.16)。
图4.15 DECKBUILD最优化的Setup模式图4.16 Parameter模式需要优化的参数是栅极氧化过程中的温度和偏压。
为了在最优化工具中对其进行最优化,如图4.17所示,在DECKBUILD窗口中选中栅极氧化这一步骤;图4.17 选择栅极氧化步骤d.然后,在Optimizer中,依次点击Edit和Add菜单项。
一个名为Deckbuild:Parameter Define的窗口将会弹出,如图4.18所示,列出了所有可能作为参数的项;图4.18 定义需要优化的参数e.选中temp=<variable>和press=<variable>这两项。
然后,点击Apply。
添加的最优化参数将如图4.19所示一样列出;图4.19 增加的最优化参数f.接下来,通过Mode键将Parameter模式改为Targets模式,并定义优化目标;g.Optimizer利用DECKBUILD中Extract语句的值来定义优化目标。
因此,返回DECKBUILD的文本窗口并选中Extract栅极氧化厚度语句,如图4.20所示;图4.20 选中优化目标h.然后,在Optimizer中,依次点击Edit和Add项。