电荷输运机制
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电荷输运机制及介质中扩散模型探索电荷输运机制是电子学和材料科学中的一个重要研究领域。
了解电荷在介质中的输运机制对于设计和优化电子器件,以及理解材料的电学性质具有重要意义。
本文将探索电荷输运机制及介质中扩散模型,并提供相关领域的最新研究进展。
首先,我们需要了解什么是电荷输运机制。
简单来说,电荷输运机制指的是电荷在材料或介质中传输的方式。
根据电子或空穴的传输方式,可以将电荷输运机制分为两大类:迁移和扩散。
迁移是指电子或空穴在外电场或浓度梯度作用下的定向传输,而扩散则是指电子或空穴在材料中自由运动的随机传输。
对于迁移机制,最常见的是简单迁移和复合迁移。
简单迁移是指电子或空穴在晶体中移动的过程中不发生再复合的现象。
在简单迁移过程中,电子或空穴的传输主要受到晶格缺陷、杂质和表面效应的影响。
复合迁移是指电子和空穴在移动过程中发生再复合的现象。
复合迁移会影响电子和空穴的流动速度和浓度分布。
而对于扩散机制,我们可以通过扩散方程来描述电荷的传输。
在扩散过程中,电子或空穴的运动被看作是随机过程,其传输速度和方向受到热运动的影响。
扩散机制主要受到浓度梯度、电荷密度和电势变化的影响。
除了了解电荷输运机制,研究者们还在努力探索介质中的扩散模型。
扩散模型是用来描述电荷在介质中扩散的数学模型。
常见的扩散模型有经典扩散模型和非经典扩散模型。
经典扩散模型是基于弥散理论的,可以用弗里德里希斯扩散方程来描述。
该方程描述了扩散物质在空间和时间上的分布,并用扩散系数来表示扩散速率。
经典扩散模型适用于低温下的晶体和玻璃材料,以及较小浓度梯度的情况。
相比之下,非经典扩散模型考虑了介质中的扰动、杂质和缺陷等因素对扩散过程的影响。
非经典扩散模型可以用来研究高温下的材料和扩散界面的动力学行为。
常见的非经典扩散模型有表面扩散模型、体内扩散模型和界面扩散模型等。
最新的研究进展表明,扩散模型的改进和精确描述对于理解电荷输运机制至关重要。
研究人员通过引入复杂的数学方法和模型,以及借鉴计算机模拟和实验数据,提高了扩散模型的准确性和预测能力。
电荷输运过程中的输运机制研究电荷输运是指在导电材料中电荷的传递过程,也是理解材料电学性质的基础。
研究电荷输运机制对于材料科学和电子学领域具有重要意义。
在实际应用中,理解电荷输运机制可以帮助我们设计和优化电子器件,提高电子设备的性能。
电荷输运过程可以通过几种不同的机制来实现。
最常见的机制包括扩散、迁移和离子阻抗。
这些机制在不同的材料中起主导作用,并对电子器件的性能产生重要影响。
首先,扩散是一种电荷输运的常见机制。
扩散是指电荷通过分子和原子之间的障碍以扩散的方式进行传递。
在固体中,扩散取决于原子间的距离和结构。
例如,在半导体材料中,离子内部的扩散是通过固体晶格中的点缺陷进行的。
这些点缺陷可以是晶格中的空位点,也可以是杂质或缺陷引起的其他缺陷。
除了扩散,迁移也是一种常见的电荷输运机制。
迁移是指电荷在电场作用下移动的过程。
在导电材料中,电荷通过受到电场力驱动而输运。
例如,在金属中,自由电子在电场的作用下快速移动。
在半导体中,电子和空穴通过不同的过程进行迁移。
电子主要通过与杂质原子相互作用来迁移,而空穴则通过与晶格中的点缺陷相互作用来迁移。
另外一种电荷输运的机制是离子阻抗。
离子阻抗是指电解质中的离子在电场影响下移动的过程。
这种机制在电解质溶液中起作用,例如电池中的电解质溶液。
电解质溶液中的离子通过与溶液中的其他离子相互作用来进行输运。
这种机制在某些电化学器件中非常重要,例如锂离子电池。
了解离子阻抗的机制有助于我们优化电化学器件的性能。
总的来说,电荷输运过程中的输运机制是多样且复杂的。
不同的材料和条件下可能存在不同的机制。
通过研究和理解这些机制,我们可以更好地设计和优化电子器件,提高电子设备的性能。
未来,随着材料科学和电子学的不断发展,对电荷输运机制的深入研究将成为一个重要的课题。
通过不断探索电荷输运机制,我们可以为新型电子器件的设计和发展提供更多的思路和方法。
在电荷输运机制研究中,不仅需要进行理论模拟和计算,也需要进行实验研究。
电荷输运与传播机制解释效率损失电荷输运与传播机制是研究电子、空穴等电荷在材料中传输的过程和机理。
在实际应用中,电荷输运的效率是非常重要的,因为它直接决定了材料的导电性能和能量转换效率。
然而,在电荷输运过程中,常常会出现效率损失的问题,这给材料的应用带来了一定的限制。
本文将从电荷输运的基本原理出发,解释电荷输运中的效率损失机制,并探讨改善电荷输运效率的途径。
首先,了解电荷输运的基本原理对于理解效率损失机制非常重要。
在导电材料中,电荷的传输主要通过电子或空穴跃迁实现。
电子跃迁是指电子在能带中从一个能级跃迁到另一个能级的过程,而空穴跃迁是指价带中缺少电子的能级通过吸收一个电子从而形成的过程。
这些跃迁过程受到能带结构的影响,以及晶格振动的散射作用。
在电荷输运过程中,效率损失主要体现在两个方面。
第一方面是能级间跃迁的损失。
在实际材料中,能带结构往往不是完美的,能级之间存在着一定的跃迁难度。
这意味着在电子或空穴跃迁的过程中,一部分电荷会被停滞在能带中无法继续传输,从而降低导电性能。
这种损失主要受到磷化物、氮化物等半导体材料的限制。
第二方面是散射损失。
在电荷输运过程中,电子或空穴会因为晶格振动、杂质、缺陷等原因发生散射。
散射会使电荷的运动方向发生改变,从而导致电荷传输的路径变长,进一步降低传输效率。
晶格振动是导致散射的主要原因之一,尤其是在低温下,晶格振动会对电荷输运造成较大的影响。
而杂质和缺陷则是导致散射的另外两个主要原因,它们会在材料中引入额外的散射中心,从而影响电荷的传播。
针对电荷输运中的效率损失,可以通过优化材料的能带结构和减少散射来改善。
一种方法是通过控制材料的组分和杂质的含量,优化能带结构,使能级之间的跃迁更加顺利。
这需要精确地设计材料的结构和合成方法。
特殊的生长条件、合金替代和控制晶格缺陷等方法可以被用来减小跃迁的难度,提高电荷的传输效率。
另一种方法是减少散射。
通过控制晶格振动和缺陷的生成,可以降低电荷传输过程中的散射效应。
电荷传输层离子电荷协同输运电荷传输层,这个词听起来是不是挺高大上的?像是某种高级黑科技一样,能把我们日常生活中那些看不见摸不着的电荷弄得服服帖帖的。
其实它的作用呢,简单来说,就是帮着电子在设备里“跑”得更快、更顺畅。
怎么说呢?就像你和朋友之间的接力赛,你负责接力棒的传递,而电荷传输层呢,就像那个跑道。
要是跑道不平整,接力棒传得不顺,那比赛肯定是完蛋。
所以,它不仅仅是让电子们顺利传输,还得保证这些电荷之间的“默契合作”。
好像大家手拉手,才能一起奔向终点!这个“默契合作”的原理就有点像我们的团队工作。
大家每个人有自己擅长的任务,电荷传输层就负责让电子们按规律排队,然后顺利通过。
试想一下,如果每个人都做自己的事,谁也不管别人,那整个团队岂不是一团乱麻?不行,必须得有个规则,有个引导。
这就像我们平常做事一样,合作是关键。
电荷们在传输层里穿行时,也在默默“协同”,相互配合,不乱不掉队,才能顺利到达目的地。
有趣的是,这种协同输运的机制其实是天然的。
是的,电荷和电荷之间并不是孤立的,它们有着微妙的相互作用,带着电的它们在传输的过程中并不是一头雾水。
想象一下,电荷就像是在复杂的迷宫里跑来跑去,传输层就像是一条条正确的道路,把它们引向最终的目标。
没有了这层“引导”,电荷很可能迷路,就像我们有时候开车没导航,一不小心就会进入死胡同。
别看它们小小的电荷,整合在一起就是一股强大的力量。
每一次精准的协同,都是电荷传输层的智慧结晶。
而这一切,实际上都少不了离子电荷的参与。
这不,离子电荷跟电子可是一对“冤家”。
它们的存在,也给电荷的协同传输加了不少“难度系数”。
就像有个朋友特别慢,其他人走得快,结果他总是掉队。
这个问题,不解决,大家队伍的整体进度就会慢下来。
于是,电荷传输层可要发挥它的聪明才智,把这些离子电荷安排得服服帖帖,避免它们拖后腿。
电荷之间的相互作用,绝对是电荷传输层设计的“重点项目”。
在实际的应用中,电荷传输层的这些“幕后工作”可不容小觑。
电荷转移原理
电荷转移原理是一种物理现象,它描述了电荷在物体之间的传递过程。
通过该原理,电荷可以从一个物体转移至另一个物体,从而使两个物体的电荷状态发生改变。
这种转移过程可以通过多种方式实现,例如导线、电源等。
根据电荷转移原理,物体上的电荷可以分为正电荷和负电荷。
正电荷是指物体上所带的电荷量为正值,而负电荷则是指物体上所带的电荷量为负值。
当电荷转移到另一个物体时,转移的电荷量应保持守恒,即正负电荷之和保持不变。
在电荷转移过程中,通常涉及到两个重要概念,即电子的流动和原子的离子化。
电子的流动是指电荷通过导体或电路中的电子传递,这种流动是由电场力驱动的。
原子的离子化则是指当物质处于电场作用下,原子中的电子会发生移动,从而导致物质带上电荷。
电荷转移原理在电路中起着非常重要的作用。
例如,在闭合的电路中,电流可以通过导线从电源的正极流向负极,这就是电荷的转移过程。
此外,静电吸附、静电除尘等现象也可以通过电荷转移原理来解释。
总的来说,电荷转移原理是描述电荷在物体之间传递的原理,它解释了电流、电荷分布等现象,并在电路中起着重要的作用。
分子电子学中的电荷输运与其它相关理论分子电子学是研究分子内部电子结构和电子运动规律的学科。
其中,电荷输运是分子电子学中的一个重要研究方向,是研究分子内部电子从一个位置到另一个位置的运动规律和机制。
本文将介绍分子电子学中的电荷输运和其它相关理论。
一、电荷输运电荷是一种基本粒子,在分子中的运动可以决定化学性质和光电性能等。
电荷输运是研究电荷从一个位置到另一个位置的物理过程,是分子电子学中的一项重要研究内容。
1.1 电荷传递分子中的电子可以跃迁到另一个分子或基团,此时电荷被传递到新的分子或基团。
电荷传递过程中,需要考虑每个分子或基团中的能级结构和能量差,以及电子跃迁的机理。
1.2 电荷跨越电荷跨越是指电子从一个分子或基团通过空间障碍跨越到另一个分子或基团。
电荷跨越过程中需要考虑空间距离、障碍高度、电子自旋和态密度等因素。
1.3 电荷扩散电荷扩散是指电子在分子中自由运动的过程。
电子扩散受到分子内部的结构和场的影响,需要考虑分子间隔离、空间结构、分子间相互作用和外部场的作用等。
二、电子输运机制在电子输运过程中,电子的输运机制是决定电子输运行为的重要因素。
在分子电子学中,有许多理论用于描述电子输运机制,如:2.1 偏压输运理论偏压输运理论是一种描述分子中电子输运行为的物理模型。
该理论认为电子在分子中的运动受到分子结构、电场、温度、杂质等因素的影响,通过计算电子在这些场中运动的概率来描述电子的输运行为。
2.2 热激光输运理论热激光输运理论是一种描述分子中电子输运行为的统计方法,通过统计电子的距离分布和动力学行为来描述电子的输运行为。
该理论可以用来预测电子输运的温度和电场依赖性。
2.3 格林函数理论格林函数理论是一种描述分子中电子输运行为的量子力学方法,通过计算分子中不同点电子的格林函数定义了电子的能量分布和输运行为。
该理论可以用于解析和数值计算电子输运的时间和空间行为。
三、电荷输运与材料设计电荷输运在材料和器件的设计和开发中具有重要意义。
有机半导体器件中电荷传输机制的研究随着电子技术的快速发展,有机半导体材料逐渐成为一种备受关注的材料。
有机半导体器件的研究成为了现代电子学领域中的重要问题之一,而其中电荷传输机制就是研究的关键之一。
有机半导体器件的特点是具有可塑性强、可通过化学方法进行制备、成本低廉等优势。
同时,有机半导体器件的性能稳定性和效率方面也有所提高。
因此,有机半导体器件被广泛地应用于各种领域,如平板显示、可穿戴电子设备、太阳能电池等领域。
然而,有机半导体器件中的电荷传输机制却是一个十分复杂的问题。
其核心机制是载流子(电子和空穴)在有机半导体材料中的移动和输运过程。
这个过程受到诸多因素的影响,如有机半导体结构、界面特性、晶体缺陷等。
有机半导体器件中电荷传输机制的研究具有非常重要的意义。
首先,了解电荷传输机制有助于提高有机半导体器件的性能。
其次,可以通过控制电荷传输机制来实现制备新型有机半导体器件。
最后,对电荷传输机制的深入研究可以为未来的有机半导体器件研究提供重要的参考。
有机半导体器件中电荷传输机制的研究,可从不同角度出发进行探讨。
下面,我们从有机半导体材料的结构以及其对电荷传输机制的影响、有机半导体器件中的界面特性、晶体缺陷等方面进行论述。
1. 有机半导体材料的结构及其对电荷传输机制的影响有机半导体材料的结构对其电荷传输机制有重要的影响。
在有机半导体材料中,载流子的移动过程主要是在分子层面上进行的。
因此,有机半导体材料的分子结构和分子排列方式对载流子的输运过程起着决定性作用。
研究表明,对于具有芳香环结构的有机半导体材料,其分子结构中的π电子云对载流子的输运起着重要作用。
当芳香环数目增加,分子间距减小时,材料的π-π堆积作用加强,载流子的传输性能也得到了明显的提高。
此外,有机半导体材料的晶体结构、材料形态等也会对其电荷传输机制产生影响。
如有机单晶和有机薄膜材料之间的载流子输运差异较大。
有机单晶材料的载流子直接在晶格中移动,因此其传输性能比有机薄膜材料好得多。
电荷输运和导电性
电荷输运和导电性是固体物质中的重要性质,对于材料的应用和研究具有重要意义。
本文将讨论电荷输运和导电性的基本概念、影响因素以及在实际应用中的意义。
1. 电荷输运的基本概念
电荷是物质的一种基本性质,其传输过程称为电荷输运。
在固体材料中,电荷可以通过载流子的运动来实现输运。
载流子主要分为正电载流子(如正电子、空穴)和负电载流子(如电子、阴电子)。
在导电过程中,载流子在外加电场的作用下进行漂移和漫游,导致电流的产生。
2. 影响电荷输运和导电性的因素
电荷输运和导电性受到多种因素的影响,包括材料的种类、温度、杂质掺杂等。
高浓度的杂质通常会导致电荷的发射和捕获增加,从而影响导电性能。
此外,在半导体材料中,温度也会影响载流子的活动性和浓度,进而影响电荷输运性能。
3. 导电性在实际应用中的意义
导电性是材料在电子器件制备中的重要性能指标之一。
比如,电子器件中的导线和电路需要具有良好的导电性能,以确保电子信号的传输和正常工作。
在光伏材料中,导电性能直接关系到太阳能电池的转换效率和光电器件的性能。
因此,研究和控制材料的导电性对于提高电子器件的性能具有重要意义。
总结:电荷输运和导电性是固体材料中重要的性质,对于材料的性能和应用具有重要意义。
通过研究和控制电荷输运和导电性,可以优化材料的性能,提高电子器件的效率和可靠性。
希望本文对读者对电荷输运和导电性有更深入的了解。
第五章电荷转移步骤动力学与电化学极化电荷转移步骤动力学与电化学极化是物理学中重要的研究领域之一,在材料科学、化学和电子工程等领域都有广泛的应用。
本文将从电荷转移步骤动力学和电化学极化两个方面进行介绍和讨论。
第五章:电荷转移步骤动力学电荷转移步骤动力学研究的是在化学反应、光电子器件和电池等过程中,电子和离子的传输过程。
这个过程通常包括以下几个步骤:电子从一个分子或物质转移到另一个分子或物质上,并伴随着电荷的重分布,使得系统的总能量发生变化。
这个过程的速率决定了反应动力学和物质传输的效率。
在电子转移步骤中,电荷输运的主要方式有两种:自由扩散和有界扩散。
自由扩散是指电荷无需受到限制地运动,而有界扩散是指电荷移动受到限制,比如在电极表面或界面处。
这两种方式的动力学行为有很大的差异,需要针对不同的应用场景进行研究和优化。
在电化学反应中,电荷转移步骤动力学对于理解反应速率和机制至关重要。
电荷转移反应通常包括电子转移和离子转移两个方面,比如在电化学电池中,电子可以从阴极转移到阳极,离子则在电解质中进行扩散。
这个过程经常涉及电极表面的催化作用和界面扩散效应,需要深入研究以提高电化学反应效率和电池性能。
另外,在光电子器件中,电荷转移步骤动力学也是一个重要的研究方向。
比如在太阳能电池中,光子的能量可以激发电子从价带跃迁到导带,形成电荷分离和传输。
了解光电子转移的动力学过程有助于设计和制备更高效的太阳能电池材料和结构。
电化学极化是指电化学系统中,由于电荷转移和离子扩散引起的极化现象。
在电化学过程中,电子和离子的传输会导致电位和电流的分布不均,进而引发电化学极化。
电化学极化可以分为电势极化、浓度极化和阻抗极化等几种不同类型。
电势极化是指由于电流通过电解质中导致的电位差,在电解质中产生的电场会改变电荷传输的速率。
浓度极化是指由于电极表面处离子浓度不均匀引起的电位差,从而影响电荷转移速率。
阻抗极化是指由于电池内部电阻的存在而影响电流的分布和传输速率。
电荷转移过程的物理机理电荷转移,简单来说就是电子从一个原子、分子或物体向另一个原子、分子或物体移动的过程。
这种过程在自然界中随处可见,比如说金属导电、半导体器件中的电荷输运、光电效应和化学反应等。
电荷转移具有重要的应用价值,也是理解现代科学的基础。
电子的移动可以用两个基本过程来描述:跳跃和连续移动。
跳跃是指电子从一个离子态跳到另一个离子态,它的能级差应当足够大,以保证能量守恒。
连续移动是指电子在能谷中运动,它的能量接近于能谷的底部,可以分为导体中的自由电子、半导体中的载流子和离子在溶液中的扩散等。
在电化学反应中,电荷转移的机理是电子的输运和原子、分子之间电荷的重分配。
例如,电解质溶液中的离子在电场作用下发生氧化还原反应,质子传递、离子扩散和电子传输都是电荷转移过程的组成部分。
电荷转移是物理学和化学学科的基础,并且它也是电子学和材料科学的重要分支。
在工业、医学和生物学等领域都有广泛的应用。
电荷转移的驱动力和机理电荷转移是电子在电场作用下移动的过程,它的驱动力是电势差。
在两个带电体之间施加电势差时,电荷会从能势低的体移动到能势高的体。
这个过程是电势差的结果,电势差是两个带电体之间的电位差,通常用电压表示。
电荷转移过程的机理取决于原子、分子或物体的性质和带电状态。
电子在固体中移动的机理与分子、离子在液体或气体中移动的机理不同。
在金属中,电子很容易从一个金属原子跳转到相邻的金属原子,形成自由电子云,通过“自由电子–离子”模型解释电子在金属中的输运机制。
在半导体器件中,载流子的移动方式是受限的,其移动由材料的能带结构和杂质浓度决定。
半导体材料中有两个能带,分别为价带和导带,中间由带隙隔开。
在室温下,价带中不太可能存在自由电子,热激发使得部分价电子跃迁到导带中成为导电子。
引入杂质后,杂质原子会在能带中形成能级,成为“夹杂”的能级,使半导体材料成为n型或p型材料,形成导电和空穴。
导电和空穴带电子被施加电场加速后,总导电电流等于载流子浓度和移动率的积。
表1几种电荷输运机制的能带示意图,电流特性公式及电流对温度、电压的依赖关系q :电子电荷;V :外加电压;k :波尔兹曼常数;n :理想因子;I s :饱和电流;J s =I s /A εr :相对介电常数;ε0:真空介电常数;L :阴阳两极间距离输运机制能带示意图电流特性公式温度依赖性电压依赖性文献直接隧穿()()21122222exp 2q V dI S m m d ααϕϕ-⎛⎫= ⎪⎝⎭none I V ∝G 1Fowler–Nordheim隧穿*3232*42()exp 83FNm Smq I E hm hqE ϕπϕ⎛⎫=- ⎪ ⎪⎝⎭none()2ln 1I V V∝G 2Schottk y发射效应 ()2120exp /I SAT e E kT βφ=- ()2ln 1I T T∝()12ln I V∝G 3Poole-F rankel 效应00()exp PF q qE SV I d kT ϕπεεσ⎛⎫-=- ⎪ ⎪⎝⎭()ln 1I T ∝()12ln I V V∝G 4Hopping传导0exp(-)a E SI V d kTσ=()ln 1I V T ∝I V ∝G 5SCLC 效应2398S S V I dεμθ= nonenI V ∝G 6Standar d diode方程W dMott-Gu rney lawnoneJ1/2VI-V欧姆传导None有用sclc理解薄膜中电荷的输运机制对于分子电子器件的应用具有重要意义,例如分子二极管、分子晶体管和分子存储元件等。
因此,关于金属电极薄膜中电荷的输运机制的研究已成为纳米材料研究中倍受关注的热点课题。
电荷在金属电极-薄膜-金属电极结构中的输运机制主要有直接隧穿、Fowler –Nordheim 隧穿、Schottky 发射效应、Poole-Frankel 效应、跳跃传导(Hopping conduction )及空间电荷限制(SCLC )效应六种,各种输运机制的能带示意图,电流特性公式及电流对温度、电压的依赖关系如表1所示。
直接隧穿和Fowler –Nordheim 隧穿属于非共振遂穿,电流大小均和温度无关,其中直接隧穿适用于小电压范围(eV φ<),电流和电压呈线性关系;Fowler –Nordheim 隧穿适用于较高电压范围(eV φ>),()2ln I V 和1V 呈线性关系。
在小电压范围,美国耶鲁大学Reed G7研究组利用直接隧穿模型研究了饱和烷硫醇自组装薄膜器件在变温条件下的电荷输运机制,并推算出势垒高度φ及衰减系数β。
清华大学陈培毅教授G8等也对烷基硫醇饱和分子结中的电荷输运进行了研究,证实了隧穿为饱和分子结中的主要电荷输运机制。
中国科学技术大学王晓平G9研究组研究了自组装硫醇分子膜输运特征的压力依赖性,分析表明自组装硫醇分子膜输运特征的压力依赖性也主要源于电荷在分子膜中的链间隧穿过程。
在较高电压范围,韩国光州科学研究院Lee G10等观察到饱和烷硫醇自组装薄膜器件电流输运机制由直接隧穿转变为Fowler –Nordheim 隧穿,并研究了不同条件下过渡电压的变化规律。
中科院上海微系统与信息技术研究所董耀旗G11等基于分栅闪存存储器的结构,对多晶硅/隧穿氧化层/多晶硅非平面结构的F-N 隧穿进行了研究。
天津大学胡明教授G12等在研究碳纳米管场发射性能时认为其至少在某一电流密度范围内属于Fowler –Nordheim 遂穿。
直接隧穿和Fowler –Nordheim 隧穿是饱和烷烃自组装薄膜中最常见的两种输运机制,然而对于π共轭分子,由于禁带宽度较小,则有可能是近似共振隧穿机制。
Schottky 发射效应是指在一定温度下, 金属中部分电子将获得足够的能量越过绝缘体的势垒,此过程又称为热电子发射,由电流特性公式可知()2ln I T 和1T 、()ln I 和12V均呈线性关系。
美国匹兹堡大学Perello G13等研究碳纳米管器件时观察到Schottky 发射效应并推算出Schottky 势垒。
北京工业大学聂祚仁G14研究组也通过Schottky 发射效应分析研究了纳米复合W-La 2O 3材料的I-V 曲线并计算了材料的有效逸出功。
如果介质层包含有非理想性结构, 如不纯原子导致的缺陷, 那么这些缺陷将扮演电子陷阱的作用, 诱陷电子的场加强热激发将产生电流,此即为Poole-Frankel 效应。
电流对温度和电压的关系为()ln 1I ∝和()12ln I V V ∝。
西安电子科技大学汪家友教授G15等在研究a-C :F 薄膜电学性能时观察到薄膜在高场区符合Poole-Frankel 机制。
如果介质层缺陷密度很大, 电子的输运将由跳跃传导控制,此时,电流和电压呈线性关系且()ln 1I V ∝。
美国耶鲁大学周崇武G16等研究Au/Ti/4-thioacetylbiphenyl/Au分子结时观察到,在负偏压且偏压较小时即属于跳跃传导机制。
新加坡国立大学Nijhuis G17等在研究Ag TS SC 11Fc 2Lee, W. Y. Wang, M. A. Reed. Mechanism of Electron Conduction in Self-AssembledAlkanethiol Monolayer Devices[J]. Ann. . Acad. Sci. 2003, 1006, 21–35.G2 G. Pananakakis, G. Ghibaudo, R. Kies. Temperature dependence of the Fowler-Nordheim current in metal-oxide- degenerate semiconductor structures[J]. J. Appl. Phys. 1995, 78, 2635-2641.G3 M. A. Gaffar, A. Abu El-Fadl, S. Bin Anooz. Doping-induced-effects on conduction mechanisms in incommensurate ammonium zinc chloride crystals[J]. Cryst. Res. Technol. 2007, 42, 567-577.G4 D. K. Aswal, S. Lenfant, D. Guerin, J. V. Yakhmi, D. Vuillaume. Self assembled monolayers on silicon for molecular electronics[J]. Analytica Chimica Acta. 2006, 568, 84–108.G5 S. A. DiBenedetto, A. Facchetti, M. A. Ratner, T. J. Marks. Charge Conduction and Breakdown Mechanisms in Self-Assembled Nanodielectrics[J]. J. AM. CHEM. SOC. 2009, 131, 7158–7168.G6 A comparison of the DC conduction properties in evaporated cadmium selenide thin films using gold and aluminium electrodes[J]. Thin solid films. 1998, 317, 409-412.G7 W. Y. Wang, T. Lee, M. A. Reed. Mechanism of electron conduction in self-assembled alkanethiol monolayer devices[J]. PHYSICAL REVIEW B. 2003, 68, 035416.G8 董浩, 邓宁, 张磊, 任敏, 陈培毅. 烷基硫醇饱和分子结中的电荷输运[J]. 功能材料与器件学报, 2007, 13, 6, 561-565.G9 胡海龙, 张琨, 王振兴, 王晓平. 自组装硫醇分子膜电输运特性的导电原子力显微镜研究[J]. 物理学报, 2006, 55, 3, 1430-1434.G10 G. Wang, T. W. Kim, G. Jo, T. Lee. Enhancement of Field Emission Transport by Molecular Tilt Configuration in Metal-Molecule-Metal Junctions[J]. J. AM. CHEM. SOC. 2009, 131, 5980–5985.G11 董耀旗, 孔蔚然. 多晶硅/氧化硅/多晶硅非平面结构中Fowler-Nordheim隧穿及氧化层退化研究[J]. 功能材料与器件学报, 2010, 16, 6, 560-564.G12 房振乾, 胡明, 李海燕, 梁继然. 碳纳米管冷阴极材料制备及其场发射性能研究[J]. 压电与声光, 2006, 28, 6, 715-718.G13 D. Perello, D. J. Bae, M. J. Kim, D. K. Cha, S. Y. Jeong, B. R. Kang, W. J. Yu, Y. H. Lee, M. Yun. Quantitative Experimental Analysis of Schottky Barriers and Poole–Frenkel Emission in Carbon Nanotube Devices[J]. IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY. 2009, 8, 355-360.G14 席晓丽, 聂祚仁, 郝世明, 杨建参, 翟立力, 左铁镛. 纳米复合W-La2O3材料的表面行为与热发射性能[J],中国有色金属学报, 2005, 15, 6, 907-911.G15 吴振宇, 杨银堂, 汪家友. a-C:F薄膜结构与电学性能研究[J]. 真空科学与技术学报, 2006, 26, 1, 36-39.G16 C. Zhou, M. R. Deshpande, M. A. Reed. Nanoscale metal/self-assembled monolayer/metal heterostructures[J]. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 611-613.G17 C. A. Nijhuis, W. F. Reus, A. C. Siegel, G. M. Whitesides. A Molecular Half-Wave Rectifier[J]. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 15397–15411.G18 王晓东, 彭晓峰, 张端明. PLD法制备高取向透明(100)薄膜性能研究[J]. 无机材料学报, 2005, 20, 5, 1222-1228.G19 张沛红, 李刚, 盖凌云, 雷清泉. 聚酞亚胺薄膜的高场电导特性[J]. 材料研究学报, 2006, 20, 5, 465-468.G20 李英德,王传奎. 单分子电子器件的理论研究[D]. 山东师范大学, 2011.。