YYSZXB36硅光电池与电荷耦合器件测量光强性能比较
魏芳波1,王安福1,朱喜仲2,胡成香2
(1.郧阳师范高等专科学校 物理与电子工程系,湖北丹江口442700;
2.汉江集团 碳化硅公司,湖北丹江口442700)
[摘 要]硅光电池与电荷耦合器件(CCD)均可作为光电探测器,但在测量光强时由于结构和制造过程的
不同具有各自优势.从结构和基础差异的角度,结合测量激光参数,对二者的探测性能进行了比较.
[关键词]硅光电池;CCD;光电探测器;图像采集
[中图分类号]O472 [文献标识码]A [文章编号]1008—6072(2006)06—0036—03
目前半导体光电探测器在数码摄像、光通信、太阳电
池等领域得到广泛应用,硅光电池是半导体光电探测器的
一个基本器件,在一定时期得到广泛应用.近年来,由于电
荷耦合器件(CCD)所具有的突出优点,使电荷耦合器件
(CCD)的应用已深入到各个领域,现已成为跨行业、跨专
业多方面应用的一种光电产品.两者均可作为光强探测仪
器,在某些领域相互补充和相互交叉.研究硅光电池与电
荷耦合器件(CCD)的测光性能不同点,可为我们在研究光
学时选取元件做重要参考.
1 硅光电池与CCD的光电转换原理
1.1 硅光电池的结构和工作原理
硅光电池是半导体光电探测器的一个基本单元,硅光
电池是一个大面积的光电二极管,它被设计用于把入射到
它表面的光能转化为电能.
图1硅光电池结构示意
光电池的基本结构如图1所示,当半导体PN结处于
零偏或反偏时,在它们的结合面耗尽区存在同一内电场,
当有光照时,入射光子将把处于价带中的束缚电子激发到导带,激发出的电子空穴对在内电场作用下分别飘移到N
型区和P型区,当在PN结两端加负载时就有一光生电流
流过负载.流过PN结两端的电流为:
I=Is(eeVkT-1)+Ip(1)
式(1)中Is为饱和电流,V为PN结两端电压,T为绝
对温度,V为产生的光电流.从式中可以看到,当光电池处
于零偏时,V=0,流过PN结的电流I=Ip;当光电池处于