PCB钻孔机中cpk的解释
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PCB钻孔机中cpk的解释CPK基本知识什么是Cpk?Cpk的定义:制程能力指數;Cpk的意义:制程水准的量化反映;用一个数值来表达制程的水准;(1) 只有制程能力强的制程才可能生产出质量好、可靠性水平高的产品﹔(2)制程能力指数是一种表示制程水平高低的方便方法,其实质作用是反映制程合格率的高低。
和Cpk相关的几个重要概念1单边规格:只有规格上限和规格中心或只有下限或规格中心的规格;如考试成绩不得低于80分,或浮高不得超过0.5mm等;此時數據越接近上限或下限越好﹔双边规格:有上下限與中心值,而上下限與中心值對稱的规格;此时数据越接近中心值越好;如D854前加工脚长规格2.8±0.2mm;USL (Upper specification limit):即規格上限?LSL (Low specification limit): 即規格下限?C :规格中心X=(X1+X2+… …+Xn)/n 平均值(n 為樣本數)T=USL-LSL 規格公差?n -1(X1-X)2+(X2-X)2+… …+(Xn -X)2δ=和Cpk 相关的几个重要概念2Ca:制程准确度; (Capability of Accuracy)Ca 在衡量“實際平均值“與“規格中心值”之一致性;对于单边规格,不存在规格中心,因此也就不存在Ca;对于双边规格,2/T CXCa什么是Ca?等級A B C DCa值|Ca|<12.5%12.5%<|Ca|<25%25%<|Ca|<50%處理原則作業員遵守作業標準操作並達到規格之要求,需繼續保持.有必要盡可能將其改進為A級作業員可能看錯規格不按作業標準操作或檢討規格及作業標準.應采取緊急措施,全面檢討所有可能影響之因素,必要時得停止生產.50%<|Ca|Ca等级评定及处理原则Cp:制程精密度(Capability of Precision)Cp 衡量的是“規格公差寬度”與“製程變異寬度”之比例;对于只有规格上限和规格中心的规格:对于只有规格下限和规格中心的规格:对于双边规格:6σUSL-LSLCp=3σUSL-X Cpu=3σX Cpl=LSL什么是Cp?Cp等级评定及处理原则等級Cp值處理原則A+≧1.67無缺點考慮降低成本A 1.33 ≦ Cp < 1.67狀態良好維持現狀B 1.00 ≦ Cp < 1.33 改進為 A 級C0.67 ≦ Cp < 1.00制程不良較多,必須提升其能力D Cp < 0.67制程能力太差,應考慮重新整改設計制程Cpk的計算公式?Cpk=Cpx(1-Ca );Cpk≦Cp;Cpk是Cp和Ck的綜合表現﹔製程能力靶心圖.............Ca 好﹐Cp 差Cp 好﹐Ca 差Cpk 好﹔.........Cpk等級評定及處理原則等級Cpk值處理原則A+≧1.67無缺點考慮降低成本A 1.33 ≦ Cpk < 1.67狀態良好維持現狀B 1.00 ≦ Cpk < 1.33 改進為 A 級C0.67 ≦ Cpk < 1.00制程不良較多,必須提升其能力D Cpk < 0.67制程能力太差,應考慮重新整改設計制程Cpk 和制程良率換算合格率%68.395.599.7399.993799.99995≒100每一百件之不良Defects per 100 parts每一百萬件之不良(Dppm)Defects per million parts0.3331.74.5Cpk 1.331.6720.6710.00630.0000570.0000002317310455002700630.570.0020.27Cpk的計算實例1某工序的規格要求為100.1mm,實際測出50個樣本值如下﹐計算出該工序的Cpk;9.9959.9819.9639.94710.01610.0149.97110.09510.03410.0049.9289.91410.01710.02110.0069.9839.9769.96810.0269.9919.97210.05410.1599.9739.98410.01610.0039.9949.9839.9769.99210.02710.01810.00510.0039.9879.99510.00110.01710.00310.02510.0219.98710.0069.9829.9729.97510.0029.9439.994Cpk的計算實例2X=10.036;σ=0.027;Ca=(x-C)/(T/2)=(10.036-10)/0.1=0.36;Cp=(10+0.1-(10-0.1))/(6*0.027)=1.239;Cpk=Cpx(1-Ca)=1.239x(1-0.36)=0.793;總結代等號雙邊規格單邊規格級准確度:A 比較制程實績平均值與規B 格中心值一致的程度﹔CD 精密度﹕A+ 比較規格公差寬度和制程A 變異寬度﹔B C D 制程能力指數﹕A+ 綜合衡量Ca 和Cp;A B C D定義計算公式等級標准Ca無Cp Cpk無50%<ca< bdsfid="187" p=""></ca<>X - C T/2Ca=Ca ≦12.5%12.5%< ≦25%Ca 25%< ≦50%Ca T 6σCp=Cpu=USL-X3σCpl=X-LSL 3σCpk=Cp(1- Ca )1.67≦Cp1.33≦Cp<1.671≦Cp<1.330.67≦Cp<1Cp<0.67Cpk<0.67 0.67≦Cpk<11≦Cpk<1.331.33≦Cpk<1.671.67≦Cpk。
在评估SMT设备或在选型的时候,常听到“印刷机、贴片机或再流焊设备的Cp和Cpk值是多少?Cp、Cpk是什么意思呢?CP(或Cpk)是英文Process Capability index缩写,汉语译作工序能力指数,也有译作工艺能力指数过程能力指数。
工序能力指数,是指工序在一定时间里,处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。
它是工序固有的能力,或者说它是工序保证质量的能力。
这里所指的工序,是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程,也就是产品质量的生产过程。
产品质量就是工序中的各个质量因素所起作用的综合表现。
对于任何生产过程,产品质量总是分散地存在着。
若工序能力越高,则产品质量特性值的分散就会越小;若工序能力越低,则产品质量特性值的分散就会越大。
那么,应当用一个什么样的量,来描述生产过程所造成的总分散呢?通常,都用6σ(即μ+3σ)来表示工序能力:工序能力=6σ若用符号P来表示工序能力,则:P=6σ 式中:σ是处于稳定状态下的工序的标准偏差工序能力是表示生产过程客观存在着分散的一个参数。
但是这个参数能否满足产品的技术要求,仅从它本身还难以看出。
因此,还需要另一个参数来反映工序能力满足产品技术要求(公差、规格等质量标准)的程度。
这个参数就叫做工序能力指数。
它是技术要求和工序能力的比值,即工序能力指数=技术要求/工序能力当分布中心与公差中心重合时,工序能力指数记为Cp。
当分布中心与公差中心有偏离时,工序能力指数记为Cpk。
运用工序能力指数,可以帮助我们掌握生产过程的质量水平。
工序能力指数的判断工序的质量水平按Cp值可划分为五个等级。
按其等级的高低,在管理上可以作出相应的判断和处置(见表1)。
该表中的分级、判断和处置对于Cpk也同样适用。
表1 工序能力指数的分级判断和处置参考表Cp值级别判断双侧公差范(T) 处置Cp>1.67 特级能力过高T>106 (1)可将公差缩小到约土46的范围(2)允许较大的外来波动,以提高效率(3)改用精度差些的设备,以降低成本(4)简略检验 1.67≥Cp1.33 一级能力充分T=86—106 (1)若加工件不是关键零件,允许一定程度的外来波动(2)简化检验(3)用控制图进行控制1.33≥Cp>1.0 二级能力尚可T=66—86 (1)用控制图控制,防止外来波动(2)对产品抽样检验,注意抽样方式和间隔(3)Cp—1.0时,应检查设备等方面的情示器1.0≥Cp>0.67 三级能力不足T=46—66 (1)分析极差R过大的原因,并采取措施(2)若不影响产品最终质量和装配工作,可考虑放大公差范围(3)对产品全数检查,或进行分级筛选0.67>Cp 四级能力严重不足T<46 (1)必须追查各方面原因,对工艺进行改革(2)对产品进行全数检查过程控制中的意义CPK:Complex Process Capability index 的缩写,是现代企业用于表示制程能力的指标。
報告主題:一、CPK運算理論及應用檢查重點大綱:CPK運算理論及應用檢查重點1、何謂CPK?2、C PK運算理論介紹3、C PK應用檢查重點CPK運算理論及應用檢查重點1、何謂CPK?製程能力指數﹝Process capability index─傳統上簡稱為Cp﹞,係統計製程管制SPC的一個很重要的指標。
代表著我們產品製程的品質有多好或不良率是多少。
自從1950年代SPC普及以來,大抵使用Cp這樣的一個能力指數來反映品質水準的狀況。
但遂著時間的推移,電子產業的興起,以前的品質水準不良率以百分比%為單位就足以勝任,因為電子元件的數量龐大,百分比的不良率不敷使用,所以演化成以PPM為不良率的單位。
同時更自1980年代因為美國的汽車產業也不堪日本汽車業的競爭,從而將製程能力指數修正成Cpk,近年來電子產業多以追求Cpk為準。
傳統品管上針對這個問題是以Ca處理,但通常都帶過未加以刻意強調。
而時下流行的Cpk只是對舊有的Cp做了中心值的修正。
需要注意的是傳統上Cp時代,我們對製程能力指數的要求Cp=1,易言之,良品率是99.73%,而多年前Cpk出現時要求的是Cpk=1.33,而這兩年則要求提升到Cpk=1.67。
而當Cpk=1.63時即可進入個位數的PPM世界。
2、CPK運算理論介紹CPK值計算公式如下:公差USL-LSLCpk=( 1 - K ) * ----------- = ( 1 - K ) *-------------六倍標準差 6 * σ註:上式中K即早期的Ca,但中心值處理部分加絕對值。
3、CPK應用檢查重點一般來說,當量測資料收集到之後,就需要將這筆資料的製程平均值μ以及製程變異數σ兩個值畫在圖表上。
當圖表畫好後,就可以將這些數值與規格界限作比較。
我們知道,大約有68.26%的量測資料會落在平均值上下一個σ之內,大約95.44%的資料會落在平均值上下二個σ之內,大約99.73%的製程資料則會落在平均值上下3個σ之內(見Figure 4.),製程能力的觀念就是將自然變異(6σ)與規格公差(USL-LSL)作比較。
CPK基本知识CPK(Capability Process Index)是一种用于衡量一个过程的能力指数,它反映了该过程在给定规范下的能力水平。
CPK是通过计算一个过程的规范上下公差与过程能力的比值得出的。
为了更好地理解CPK的基本知识,我们需要了解以下几个关键概念:1.规范上下公差:规范上下公差是指在制造过程中所允许的变异范围。
通常情况下,规范上下公差由设计要求和质量标准所决定。
一般来说,越小的公差表示质量要求越高。
2.过程能力指数:过程能力指数是一种统计指标,用于衡量一个过程在规范要求下的能力水平。
通常用CPK来表示。
CPK是根据过程的数据分布特征,计算得出的一个数值。
CPK的取值范围为0到1,数值越大表示过程的能力越好。
3.过程能力指数的计算:CPK的计算需要获得过程的数据,并进行统计分析。
使用正态分布的假设,可以计算出过程的平均值(μ)和标准差(σ)。
同时,根据规范上下公差,可以确定控制上界(USL)和控制下界(LSL)。
然后,根据公式计算出过程的CPK值。
CPK = min((USL-μ)/(3σ), (μ-LSL)/(3σ))其中,USL表示上限规格上限,LSL表示上限规格下限。
4.过程能力的判定:根据CPK的数值,可以对一个过程的能力进行评估。
一般来说,CPK值大于1表示过程能力良好,小于1表示过程能力较差。
通常,CPK值在1.33到1.67之间被认为是较好的过程能力。
在实际应用中,CPK被广泛应用于各种制造和生产过程的质量控制中。
它可以帮助生产者判断自己的过程是否满足质量要求,并提供改进过程的依据。
同时,CPK也可以作为供应商的评估指标,用于筛选和选择合格的供应商。
总之,CPK是一个重要的质量评估指标,可以帮助我们了解并改进制造过程的能力水平。
通过合理的分析和计算,可以得出过程的CPK值,并据此进行决策和控制。
掌握CPK的基本知识,可以更好地应用于实际工作中,提高产品的质量和竞争力。
什么是CPKCPK:Complex Process Capability index 的缩写,是现代企业用于表示制程能力的指标。
制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。
制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度,以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上,作为制程持续改善的依据。
当我们的产品通过了GageR&R的测试之后,我们即可开始Cpk值的测试。
CPK值越大表示品质越佳。
CPK=min((X-LSL/3s),(USL-X/3s))Cpk——过程能力指数CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk应用讲议1. Cpk的中文定义为:制程能力指数,是某个工程或制程水准的量化反应,也是工程评估的一类指标。
2. 同Cpk息息相关的两个参数:Ca , Cp.Ca: 制程准确度。
Cp: 制程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的关系:Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|),Cpk是Ca及Cp两者的中和反应,Ca反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因素,还有是其品质特性对后制程的影响度。
5. 计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。
6. 计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。
7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ),再计算出规格公差(T),及规格中心值(u). 规格公差=规格上限-规格下限;规格中心值=(规格上限+规格下限)/2;8. 依据公式:Ca=(X-U)/(T/2) ,计算出制程准确度:Ca值9. 依据公式:Cp =T/6 ,计算出制程精密度:Cp值10. 依据公式:Cpk=Cp(1-|Ca|) ,计算出制程能力指数:Cpk值11. Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)A++级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A+ 级2.0 >Cpk ≥ 1.67 优应当保持之A 级1.67 >Cpk ≥ 1.33 良能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级B 级1.33 >Cpk ≥ 1.0 一般状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升为A级C 级1.0 >Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多,必须提升其能力D 级0.67 >Cpk 不可接受其能力太差,应考虑重新整改设计制程。
CPK是什么意思•CPK也叫:制程能力指数/工序能力指数/过程能力指数•是指工序在一定时间里,处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。
它是工序固有的能力,或者说它是工序保证质量的能力。
•这里所指的工序,是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素(5M)综合作用的过程,也就是产品质量的生产过程。
产品质量就是工序中的各个质量因素所起作用的综合表现。
对于任何生产过程,产品质量总是分散地存在着。
若工序能力越高,则产品质量特性值的分散就会越小;若工序能力越低,则产品质量特性值的分散就会越大。
过程能力指数CPK的意义从上图可看,若过程输出的均值μ不与规范中心或目标值重合。
因此,在进行过程能力分析时,应将μ的影响考虑进来。
引入过程能力指数CPK就是为了解决这个问题。
由于过程中心μ通常在规范限[LSL,USL]之间,因此用过程中心μ与两个规范限最近的距离min{USL- μ,μ-LSL}与3 σ之比作为过程能力指数,记为CPK。
CPK计算工具CPK计算工具为太友科技为国内品质管理人员提供的一个免费CPK工具;CPK分析工具的特点:•简单方便地进行CPK的计算;•方便地输入需要进行计算CPK的数据;•也可从其它文件中复制数据到CPK分析工具中,如从电子表格中复制数据;•分析数据文件可方便地保存,需要时可直接打开进行计算;•可对分析数据导出打印功能等.下图为CPK分析工具工作界面图:PPK是SPC中控制图中用来计算工序性能或叫过程性能的指数。
PP(PerformanceIndiesofProcess):定义为不考虑过程有无偏移时,容差范围除以过程性能,一般表达式为:Pp性能指数公式ppk:是指考虑过程有特殊原因引起的偏差时,样本数据的过程性能。
ppk是spc第二版中提到的新内容。
(该指数仅用来与Cp及Cpk对比,或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序)CPU:稳定过程的上限能力指数,定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限:CPL:稳定过程的下限能力指数,定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限。
【专业讲解】Cmk、Cpk、Ppk的区别及应用场景术语解释Cmk 针对对象是--设备对产品质量的能力指数Cmk 是德国汽车行业常采用的参数,称为临界机器能力指数, 是衡量设备运行稳定性的一个指标。
1.CMK仅考虑设备本身对产品结果的影响,因此,在采样时对除设备因素外的其他因素要严加控制;2.CMK考虑的是短期离散,因此取样必须是短时间内取样;3.CMK同时考虑样本分布的平均值与规范中心值的偏移;Cpk 针对对象是--生产系统对产品质量的能力指数CPK是指过程能力指数,是指工序在一定时间里,处于控制状态(稳定状态)下的稳定过程的实际加工能力。
1.CPK 是指操作者、设备、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程能力指数。
2.CPK计算经常与控制图Xbar-R图一起使用(判断是否是稳定状态,确定授控后,才计算CPK)3.分组抽样,长时间取样4.考虑中心有偏移PPK是指过程性能指数,是进入大批量生产前,对小批生产的能力评价, PPK反映的是当前合格率水平。
公式解释•S:取样数据的标准差,用STDEV公式直接计算•T:公差范围,即上、下极限值之差•K: 为修正系数或偏离系数•Bi:平均值Xbar 和测量的理论中间值之差•Bi=[ Xbar - 图纸中间值 -(上偏差+下偏差)/2]•USL:图纸上限尺寸,(中间值+上公差)•LSL: 图纸下限尺寸,(中间值+下公差)•Xbarbar:每组抽样数据的平均数,然后再平均数(其实就是所有抽样数据的平均数)•Rbar:每组抽样数据的极差的平均数•d2:跟据抽样数据的多少而对应的修正系数,有表可查S: 取样数据的标准差,用STDEV公式直接计算附注: CMK和PPK的公式其实是一样的。
使用场景Cmk:1. 生产线上所有影响SC尺寸的设备特性参数例如:•伺服位移反馈--滑道行程•力传感器--滑道最大力和最小力•模具冲头--滑道挡点深度•定量阀--注油量•螺丝枪--螺丝扭矩还有一些位置尺寸等和所有的影响装配SC的设备特性2.使用阶段:量产前和量产后CPK,PPK:1. SPC 控制图----产品图纸上的所有SC特性例如: SC位置度、SC力值......2. 使用阶段: PPK量产前、CPK量产后1END1。
製程能力分析製程能力研究在於確認這些特性符合規格的程度,以保證製程成品不符規格的不良率在要求的水準之上,作為製程持續改善的依據。
製程能力研究的時機分短期製程能力研究及長期製程能力研究,短期著重在新產品及新製程的試作、初期生產、工程變更或製程設備改變等階段;長期以量產期間為主。
製程能力指標 Cp 或 Cpk 之值在一產品或製程特性分配為常態且在管制狀態下時,可經由常態分配之機率計算,換算為該產品或製程特性的良率或不良率,同時亦可以幾 Sigma 來對照。
計數值統計數據的數量表示缺點及不良(Defects VS. Defectives)缺點代表一單位產品不符要求的點數,一單位產品不良可能有一個缺點或多個缺點,此為計點的品質指標。
例如描述一匹布或一鑄件的品質,可用每公尺棉布有幾個疵點,一鑄件表面有幾個氣孔或砂眼來表達,無塵室中每立方公尺含微粒之個數,一片PCB有幾個零件及幾個焊點有缺點,一片按鍵有幾個雜質、包風、印刷等缺點,這些都是以計點方式表示一單位產品的特性值。
不良代表一單位產品有不符要求的缺點,可能有一個或一個以上,此將產品分類為好與壞、良與不良及合格與不合格等所謂的通過-不通過(Go-NoGo)的衡量方式稱為計件的品質指標。
例如單位產品必須以二分法來判定品質,不良的單位產品必須報廢或重修,這是以計件方式來表示一單位產品的特值。
每單位缺點數及每百萬機會缺點數(DPU VS. DPMO)一單位產品或製程的複雜程度與其發生缺點的機會有直接的關係,越複雜容易出現缺點;反之越簡單越不容易出現缺點。
因此,以每單位缺點數(DPU)來比較複雜程度不同的產品或製程品質是不公平的,在管理上必須增加一個衡量產品或製程複雜程度的指標,Six Sigma 以發生缺點的機會(Opportunities)來衡量。
DPU 是代表每件產品或製程平均有幾個缺點,而DPMO 是每檢查一百萬個機會點平均有幾個缺點。
一個機會點代表一產品或製程可能會出現缺點的機會,它可能是一個零件、特性、作業等等。
CPK基本知识
什么是Cpk?
⏹Cpk的定义:制程能力指數;
⏹Cpk的意义:制程水准的量化反映;
用一个数值来表达制程的水准; (1) 只有制程能力强的制程才可能生产出质量好、可靠性水平高的产品﹔
(2)制程能力指数是一种表示制程水平高低的方便方法,其实质作用是反映制程合格率的高低。
和Cpk相关的几个重要概念1单边规格:只有规格上限和规格中心或只有下限或规格中心的规格;如考试成绩不得低于80分,或浮高不得超过0.5mm等;此時數據越接近上限或下限越好﹔
双边规格:有上下限與中心值,而上下限與中心值對稱的规格;此时数据越接近中心值越好;如
D854前加工脚长规格2.8±0.2mm;
⏹
USL (Upper specification limit):即規格上限⏹
LSL (Low specification limit): 即規格下限⏹
C :规格中心⏹
X=(X1+X2+… …+Xn)/n 平均值(n 為樣本數)▪
T=USL-LSL 規格公差⏹n -1
(X1-X)2+(X2-X)2+… …+(Xn -X)2δ=和Cpk 相关的几个重要概念2
•Ca:制程准确度; (Capability of Accuracy)
•Ca 在衡量“實際平均值“與“規格中心值”之一致性;
•对于单边规格,不存在规格中心,因此也
就不存在Ca;
•对于双边规格,
2/
T C
X
Ca
什么是Ca?
等級A B C D
Ca值
|Ca|<12.5%
12.5%<|Ca|<25%
25%<|Ca|<50%
處理原則
作業員遵守作業標準操作並達到規格之要求,需繼續保持.
有必要盡可能將其改進為A級
作業員可能看錯規格不按作業標準操作或檢討規格及作業標準.
應采取緊急措施,全面檢討所有可能影響之因素,必要時得停止生產.
50%<|Ca|
Ca等级评定及处理原则
•Cp:制程精密度(Capability of Precision)•Cp 衡量的是“規格公差寬度”與“製程變異寬度”之比例;对于只有规格上限和规格中心的规格:对于只有规格下限和规格中心的规格:对于双边规格:6
σUSL-LSL Cp=3σ
USL-X Cpu=3σX Cpl=
LSL 什么是Cp?
Cp等级评定及处理原则
等級Cp值處理原則
A+≧1.67無缺點考慮降低成本
A 1.33 ≦ Cp < 1.67狀態良好維持現狀
B 1.00 ≦ Cp < 1.33 改進為 A 級
C0.67 ≦ Cp < 1.00制程不良較多,必須提升其能力
D Cp < 0.67制程能力太差,應考慮重新整改設計制程
Cpk的計算公式⏹Cpk=Cpx(1-Ca );
⏹Cpk≦Cp;
⏹Cpk是Cp和Ck的綜合表現﹔
製程能力靶心圖.
............Ca 好﹐Cp 差Cp 好﹐Ca 差Cpk 好﹔.........
Cpk等級評定及處理原則
等級Cpk值處理原則
A+≧1.67無缺點考慮降低成本
A 1.33 ≦ Cpk < 1.67狀態良好維持現狀
B 1.00 ≦ Cpk < 1.33 改進為 A 級
C0.67 ≦ Cpk < 1.00制程不良較多,必須提升其能力
D Cpk < 0.67制程能力太差,應考慮重新整改設計制程
Cpk 和制程良率換算
合格率%68.395.599.7399.993799.99995≒100
每一百件之不良Defects per 100 parts
每一百萬件之不良(Dppm)Defects per million parts
0.3331.74.5Cpk 1.331.672
0.6710.00630.0000570.0000002
317310455002700630.570.002
0.27
Cpk的計算實例1
某工序的規格要求為10±0.1mm,實際測出50個樣本值如下﹐計算出該工序的Cpk;
9.9959.9819.9639.94710.016
10.0149.97110.09510.03410.004
9.9289.91410.01710.02110.006
9.9839.9769.96810.0269.991
9.97210.05410.1599.9739.984
10.01610.0039.9949.9839.976
9.99210.02710.01810.00510.003
9.9879.99510.00110.01710.003
10.02510.0219.98710.0069.982
9.9729.97510.0029.9439.994
Cpk的計算實例2
⏹X=10.036;
⏹ σ=0.027;
⏹Ca=(x-C)/(T/2)=(10.036-10)/0.1=0.36;
⏹Cp=(10+0.1-(10-0.1))/(6*0.027)=1.239;
⏹Cpk=Cpx(1-Ca)=1.239x(1-0.36)=0.793;
總結
代等號
雙邊規格
單邊規格
級准確度:
A 比較制程實績平均值與規
B 格中心值一致的程度﹔
C
D 精密度﹕
A+ 比較規格公差寬度和制程A 變異寬度﹔
B C D 制程能力指數﹕
A+ 綜合衡量Ca 和Cp;A B C D
定義
計算公式
等級標准
Ca
無
Cp Cpk
無
50%<Ca
X - C T/2
Ca=
Ca ≦12.5%
12.5%< ≦25%Ca 25%< ≦50%Ca T 6σ
Cp=
Cpu=
USL-X
3σCpl=
X-LSL 3σ
Cpk=Cp(1- Ca )
1.67≦Cp
1.33≦Cp<1.671≦Cp<1.330.67≦Cp<1Cp<0.67Cpk<0.67
0.67≦Cpk<11≦Cpk<1.331.33≦Cpk<1.671.67≦Cpk。