采样控制系统的分析讲解
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采样周期对系统性能的影响分析采样周期对系统性能的影响分析采样周期对系统性能的影响是一个重要的研究课题,它涉及到许多领域,包括控制系统、通信系统和信号处理等。
本文将从基本概念开始,逐步分析采样周期对系统性能的影响。
首先,我们来了解一下什么是采样周期。
采样周期是指连续信号在离散化过程中的采样间隔时间。
在实际系统中,连续信号会通过模数转换器(ADC)转换为离散信号,而采样周期就是ADC转换的时间间隔。
其次,我们来讨论采样周期对系统性能的影响。
首先,采样周期的选择会影响系统的响应速度。
较小的采样周期可以更快地获取到系统的动态响应,从而使系统能够更及时地对变化做出反应。
而较大的采样周期则会导致系统对变化的响应速度较慢,可能会出现系统不稳定的情况。
另外,采样周期还会影响系统的频率响应。
根据采样定理,采样频率需要满足奈奎斯特采样定理,即采样频率要大于信号频率的两倍。
如果采样周期较大,采样频率会降低,可能会导致信号频率超过了采样频率的一半,从而引发混叠现象,使得信号的频率内容无法恢复。
此外,采样周期还会影响系统的稳定性。
较小的采样周期会使得系统更容易受到噪声的影响,从而导致系统不稳定。
而较大的采样周期则会降低系统对噪声的敏感度,提高系统的稳定性。
最后,我们来讨论如何选择合适的采样周期。
采样周期的选择需要综合考虑系统的动态响应要求、信号频率特性以及噪声等因素。
一般来说,较小的采样周期可以提高系统的响应速度和频率响应,但同时也会增加系统的计算负担和噪声敏感度。
因此,在实际应用中,需要根据具体的系统要求,找到合适的采样周期。
综上所述,采样周期对系统性能有着重要的影响。
在选择采样周期时,需要充分考虑系统的动态响应要求、信号频率特性以及噪声等因素,并找到一个合适的平衡点。
这样才能确保系统的稳定性和性能达到最优化。
自动控制原理实验报告(七)采样控制系统分析班级:自动1002班学号:06101049姓名:强倩瑶3.5 采样控制系统分析一.实验目的1.了解判断采样控制系统稳定性的充要条件。
2.了解采样周期T对系统的稳定性的影响及临界值的计算。
3 观察和分析采样控制系统在不同采样周期T时的瞬态响应曲线。
三、实验内容及步骤1.闭环采样系统构成电路如图3-5-1所示。
了解采样周期T对系统的稳定性的影响及临界值的计算,观察和分析采样控制系统在不同采样周期T时的瞬态响应曲线。
2.改变采样控制系统的被控对象,计算和测量系统的临界稳定采样周期T。
图3-5-1 闭环采样系统构成电路闭环采样系统实验构成电路如图3-5-1所示,其中被控对象的各环节参数:积分环节(A3单元)的积分时间常数Ti=R2*C2=0.2S,惯性环节(A5单元)的惯性时间常数T=R1*C1=0.5S,增益K=R1/R3=5。
(1)用函数发生器(B5)单元的方波输出作为系统振荡器的采样周期信号。
(D1)单元选择“方波”,(B5)“方波输出”孔输出方波。
调节“设定电位器1”控制相应的输出频率。
(2)用信号发生器(B1)的‘阶跃信号输出’和‘幅度控制电位器’构造输入信号R(t):B1单元中电位器的左边K3开关拨下(GND),右边K4开关拨下(0/+5V阶跃)。
阶跃信号输出(B1-2的Y测孔)调整为2.5V(调节方法:调节电位器,用万用表测量Y测孔)。
(3)构造模拟电路;(4)运行、观察、记录:①运行LABACT程序,选择自动自动控制菜单下的采样系统分析实验项目,就会弹出虚拟示波器的界面,点击开始后将自动加载相应源文件,即可使用本实验机配套的虚拟示波器(B3)单元的CH1测孔测量波形。
②调节“设定电位器1”,D1单元显示方波频率,将采样周期T(B5方波输出)依次调整为15ms(66.6Hz) 、30ms(33.3Hz)和90ms(11.1Hz),按下信号发生器(B1)阶跃信号按钮(0→+2.5V阶跃),使用虚拟示波器CH1观察A6单元输出点OUT(C)的波形。
单片机数据采集控制系统
单片机数据采集控制系统是一种利用单片机进行数据采集和控制的系统。
它通
常由单片机、传感器、执行器和外围电路组成。
在系统中,传感器用于采集环境或者物体的各种参数,例如温度、湿度、光强等。
传感器将采集到的摹拟信号转换为数字信号,并通过接口与单片机进行通信。
单片机作为系统的核心部件,负责接收传感器的信号,并进行数据处理和控制。
它可以根据采集到的数据进行各种算法运算,实现对环境或者物体的监测和控制。
同时,单片机还可以通过与执行器的通信,控制执行器的动作,实现对系统的控制。
外围电路主要包括供电电路、通信接口电路、显示电路等。
供电电路为系统提
供稳定的电源,通信接口电路实现单片机与外部设备的通信,显示电路用于显示系统的数据或者状态。
单片机数据采集控制系统在工业自动化、环境监测、智能家居等领域具有广泛
的应用。
它可以实时采集和处理数据,提高系统的自动化程度和智能化水平,提高工作效率和质量。
东南大学自动控制实验室
实验报告
课程名称:热工过程自动控制原理
实验名称:采样控制系统的分析
院(系):能源与环境学院专业:热能动力姓名:范永学学号:03013409 实验室:实验组别:
同组人员:实验时间:2015.12.15 评定成绩:审阅教师:
实验八 采样控制系统的分析 一、实验目的 1. 熟悉并掌握Simulink 的使用;
2. 通过本实验进一步理解香农定理和零阶保持器ZOH 的原理及其实现方法;
3. 研究开环增益K 和采样周期T 的变化对系统动态性能的影响;
二、实验原理
1. 采样定理
图2-1为信号的采样与恢复的方框图,图中X(t)是t 的连续信号,经采样开关采样后,变为离散信号)(*t x 。
图2-1 连续信号的采样与恢复
香农采样定理证明要使被采样后的离散信号X *(t)能不失真地恢复原有的连续信号X(t),其充分条件为:
max 2ωω≥S
式中S ω为采样的角频率,max ω为连续信号的最高角频率。
由于T S πω2=
,因而式可为 m ax
ωπ≤
T T 为采样周期。
2. 采样控制系统性能的研究
图2-2为二阶采样控制系统的方块图。
图2-2
采样控制系统稳定的充要条件是其特征方程的根均位于Z 平面上以坐标原点为圆心的单位圆内,且这种系统的动、静态性能均只与采样周期T 有关。
由图2-2所示系统的开环脉冲传递函数为: ]2
5.05.01[)1(25])2(2[)1(25])15.0()1(25[)(21212++--=+-=+-==---S S S Z Z S S Z Z S S e Z z G S T ]5.015.0)1([)1(25221T
e Z Z Z Z Z TZ Z Z ---+----=
)
)(1()]21()12[(5.122222T T T T e Z Z Te e Z e T --------++-= 闭环脉冲传递函数为: )]
21(]12[5.12)1()]21(12[5.12)()(222222222T T T T T T T T Te e Z e T e Z e Z Te e Z e T z R z C ----------++-+++---++-=)( 5
.12)5.1125()5.115.1325()]21(12[5.12222222++-+-+--++-=-----T e Z e T Z Te e Z e T T T T T T )(
根据上式,根据朱利判据可判别该采样控制系统否稳定,并可用迭代法求出该系统的阶跃输出响应。
三、实验设备:
装有Matlab 软件的PC 机一台
四、实验内容
1. 使用Simulink 仿真采样控制系统
2. 分别改变系统的开环增益K 和采样周期T S ,研究它们对系统动态性能及稳态精度的影响。
五、实验步骤
5-1. 验证香农采样定理
利用Simulink 搭建如下对象,如图2-3。
图2-3
设定正弦波的输入角频率w = 5,选择采样时间T 分别为0.01s 、0.1s 和1s ,观察输入输出波形,并结合香农定理说明原因,感兴趣的同学可以自选正弦波频率和采样时间T 的值.。
5-2.采样系统的动态特性
利用Simulink 搭建如下二阶系统对象,如图2-4。
当系统的增益K=10,采样周期T 分别取为0.003s ,0.03s ,0.3s 进行仿真实验。
更改增益K 的值,令K=20,重复实验一次。
感兴趣的同学可以自己设定采样时间以及增益K 的值,要求能够说明系统的动态特性即可。
系统对象simulink 仿真图:
图2-4
六、实验数据及分析
5-1. 验证香农采样定理
Simulink所搭建对象,如上面图2-3所示。
1正弦波的输入角频率w = 5,采样时间T为0.01s时,输入输出波形为
由香农定理推导得T≤π/ω,π/ω=π/5=0.628,此时T=0.01<0.628,由采样图可知,能够完全复现原有连续信号。
2正弦波的输入角频率w = 5,采样时间T为0.1s时,输入输出波形为
由香农定理推导得T≤π/ω,π/ω=π/5=0.628,此时T=0.1<0.628,由采样图可知,虽然不能够完全复现原有连续信号,但已能够大致复现。
3正弦波的输入角频率w = 5,采样时间T为1s时,输入输出波形为
由香农定理推导得T≤π/ω,π/ω=π/5=0.628,此时T=1>0.628,由采样图可知,完全
不能复现原有连续信号。
5-2.采样系统的动态特性
系统的增益K=10时,系统对象simulink仿真图如上面图2-4所示。
当系统的增益K=10,采样周期T取为0.003s时
此时由于采样周期小,频率高,输入输出曲线几乎重合。
当系统的增益K=10,采样周期T取为0.03s时
此时由于采样周期变大,频率变小,采样器的负作用变大,减低了系统的稳定性裕量,波动相对于理想值变大,但此时系统依旧稳定。
此时由于采样周期很大,频率很小,使系统出现不稳定的现象。
系统的增益K=20时,系统对象simulink仿真图:
两曲线基本能够重合。
当系统的增益K=20,采样周期T取为0.03s时
与K=10时相比,偏差已经较为明显,采样图线需要经过很长时间才能趋于稳定。
与K=10时相比,采样图线振荡更为剧烈。
七、思考题
1.采样周期T的变化对系统性能的影响?
对于有采样器和保持器的反馈系统,如果采样周期很短,采样系统就很接近于连续系统,加大采样周期而不改变系统的整定参数必然会降低系统的稳定性裕量,甚至使系统变为不稳定。
但是过分地缩短采样周期会受到实际设备的限制,而且也失去了采样控制系统的优点。
2.为什么离散后的二阶系统在K大到某一值会产生不稳定?
连续二阶线性定常系统,不论开环增益K多大,闭环系统均是稳定的,在加入采样器和零阶保持器后,随着开环增益增大,系统稳定性也会变化。