图2.2 接触式、接近式与投影式3种曝光方式的示意
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图
2.2.1掩模对准式曝光
★掩模对准式曝光可以真实地再现掩模图形,但是它要求掩模必 须与光刻胶表面完全接触。
★掩模对准式曝光又可分为接触式曝光和接近式曝光(非接触式 光学曝光)。
掩模对准式曝光
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1.接触式曝光
★接触式曝光又可分为 ①硬接触与②软接触 曝光。
参数。
★由式可见,若要曝光成像与掩模设计图形尽可能一致,只有 减小间隙和缩短照明波长。
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2.2.2投影式曝光
★投影式曝光既有接触式曝光的高分辨率,而又避免了接触式 曝光容易产生缺陷的弊端。
★光学投影成像曝光技术是用光学投影的方法将掩模版图形的 影像(以等倍方式或缩小的方式)投影在半导体基片表面上,这 时掩模版作为光学成像系统的物方,基片表面上的光致抗蚀 剂层为像方。
λ :照明光波长; NA:光学透镜的数值孔径; K2:一个与具体的曝光系统及光刻胶工艺特性
有关的常数。
★由上式可见,焦深与数值孔径的平方成反比。
★单纯地追求分辨率会使焦深大大减低。
R k1 NA
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焦深甚至比分辨率更为重要
★大规模集成电路的硅晶圆直径都是在6~8in,甚至是12in。大的晶圆本 身就不可能做到绝对的平整,加之每一道曝光工序都是在前面已经加工 过的晶圆上进行,前道工序已在晶圆表面形成了高低起伏的电路结构形 貌。如果曝光系统的焦深很小,则掩模成像只能在很小的高度起伏范围 内才能保证聚焦,超出这一范围就散焦了。散焦的结果,使得分辨率下 降。
★投影式曝光的光学分辨率(R)取决于照明光波长(λ)、光学透 镜的数值孔径(NA)和工艺条件,如下式所示:
R k1 NA