AMS 2750D中文
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热电偶标准 SAE AMS 2750D(chinese)09-5-6
航空航天材料规范SAE AMS 2750D1. 范围：该规范描述了对热处理设备的温度要求。
包括温度传感器、仪器、热处理设备、系统精确度测试和温度均匀性测试。
这些对确保零件或原材料按照适用规范进行热处理，是必要的。
除非材质或过程规范特别规定，否则该规范不适用于加热或中间热处理，。
该规范适用于实验炉，参见第3.6节。
2. 适用文件：以下文件从订单发布之日起生效，并构成了该规范的一部分。
除非对使用的文件版本有专门的规定，否则供应商要使用最新版本的文件。
当参考文件取消，而且没有文件替代时，使用最新发行的那版文件。
ASTM文件可以从ASTM, 100 Barr Harbor Drive, 邮箱C700，West Conshohocken，PA19428-2959或获得。
ASTME 207，ASTM E 220，ASTM E 230，ASTM E 608，ASTM E 1129，ASTM MNL 7，ASTM MNL 12。
3. 技术要求温度传感器：温度传感器必须符合表1要求和如下要求。
一些例外情况在下文中有提到。
温度应该用此规范中规定的热电偶来测量，或用其他的精度相同或更高的热电偶或温度传感器来测。
热电偶用裸线或涂装线或MIMS线(矿物绝缘，金属铠装的)制成。
没有特殊说明的话，要求适用于所有温度传感器材料。
此规范中的“传感器”即指“温度传感器”。
从传感器首次校准或后来校准所得到的修正系数可以用来提高温度的精确度，且在此规范要求下要被使用。
校准：传感器应该有合格证明，注明校准数据的来源、理论测试温度，实际测试温度读数、校准方法和每个可追溯到NIST或其他认可的国家标准的校准温度的修正系数。
校准方法应符合ASTM E 220，ASTM E 207或其他国家标准的要求。
从毫伏到度或从度到毫伏的转化，应该遵守ASTM E 230或其他国家标准。
温度传感器必须在使用的温度范围内校准。
所有热电偶的校准点间隔不能超过250 o F(140 o C) ，不包括那些按照ASTM MNL 12或其他国家标准要求，在固定点上校准的热电偶。
AMS 2750D
主要的感应器标准——————200 英寸（60 米） 其他的高级金属感应器————2000 英寸（610 米） 基础金属次级标准感应器———2000 英寸（610 米） 所有其他的基础金属感应器——5000 英寸（1525 米） 3.1.1.8 在 500°F（260°C）以上重新使用 K 和 E 型号热电偶时，插入的深度应该等于或 超过之前使用时的深度。 3.1.1.9 任何热电偶重新使用都是不允许的除非绝缘体保存完整而且包括热交叉点在内的线 都没有损坏。如果有差异的部分[包括 K 和 E 型热电偶暴露在 500°F（260°C）的 部分]已经被修补了，热交叉点重新修正，而且热电偶重新校准，那么损坏的热电偶 可以使用。如果修理的热电偶源于校准过的卷轴，以前的卷轴可以在重新校准的情 况下使用。修补前用的次数可以包括在热电偶的总体使用次数。 3.1.1.10 对任何基础金属测试热电偶（SAT 和 TUS）消耗品的重新校准是不允许的。只要 下列公式里面的“U”不超过 30 就可以重复使用，热电偶测试的“用法”定义为一 个热电偶的加热和冷却的周期。 3.1.1.11 可回收的基础金属 E 和 K 型热电偶的校准可以在 500°F(200°C)以下进行。J 和 N 型号以及所有的高级金属热电偶（SAT 和 TUS）应该与表 1 一致。 3.1.2 传感器的参考标准应遵从表 1。 3.1.2.1 传感器的参考标准与仪器首要标准应该一起被用于传感器第一校准标准。 3.1.3 传感器第一标准应遵从表 1。 3.1.3.1 传感器第一标准与仪器第一标准应该一起被应用于传感器第二校准标准。 3.1.4 传感器第二标准应遵从表 1。 3.1.4.1 应用应该被限制在温度一致、系统准确性、控制、监测、记录以及加载传感器的标 准。 3.1.5 温度一致性测量传感器应该遵从表 1。 3.1.5.1 温度一致性测量传感器标准应该由第一或第二标准仪器对比第一或第二标准传感器 来完成，参考表 1 除 3.1.5.2 特征。见 3.1.1.8 以及 3.1.1.9 来限制热电偶的重复使用。 对已经暴露在温度高于 500°F（400°C）的 K 和 E 型的热电偶进行重新校准是不 允许的。 3.1.5.2 消耗品基础金属 TUS 热电偶（1）可用在专门的低于 1200°F（650°C）、（2）可识 别的、（3）防损的（例如：卷边、过分潮湿接触、腐蚀等）介于测试或是一直放在 架子上保护，可重新使用仅受 3.1.1.9 和 3.1.1.10 的限制影响。可回收的基础金属 TUS 热电偶装置在架子上，专门用于低于 1200°F（650°C），限制它应该少于 90 次或 者是少于三年，三年内不能超出 90 次。 3.1.6 传感器系统准确性测试应遵从表 1。 3.1.6.1 SAT 的传感器校准应该根据第一或第二仪器标准对比第一或第二传感器标准与表 1 一致来执行。见 3.1.1.8，3.1.1.9 和 3.1.1.10 来限制热电偶的重复使用。已经暴露在 高于 500°F（260°C）时 K 和 E 型热电偶的校准是不允许的。 3.1.7 控制、监测以及记录传感器应该遵从表 1。消耗的热电偶若被应用，影响到 3.1.1.9 和 3.1.1.10 的限制。 3.1.7.1 控制、监测、以及记录传感器应该在工作地区内或更近来限制热加工设备，来控制
解析AMS2750D_高温测量_
第 30卷第 3期 2009年 6月
热处理技术与装备 RECHUL I J ISHU YU ZHUANGBE I
Vol. 30, No. 3 Jun, 2009
·综 述 ·
解析 AMS 2750D《高温测量 》
李 克 1 ,张 莉 2
(1. 中国南方航空工业集团有限公司 ,湖南 株洲 412002; 2. 东华大学机械工程学院 ,上海 201620)
( - 200至 + 870 ℃) + 32至 + 1400 )
( 0至 + 760 ℃) - 328至 + 2282 )
( - 200至 + 1250 ℃) - 450至 + 2372 )
( - 267至 + 1300 ℃) - 328至 + 662 )
( - 200至 + 350 ℃) + 32至 + 2642 )
第 3期
李 克等 :解析 AM S 2750料成分 Table 1 Compositions of thermocoup les materials
说 明
E 镍铬合金正极线 (90%镍 , 10%铬 )和一根铜镍合金负极线 (45 %镍 , 55 %铜 )
30 gage
0. 25 mm 150 ℃ 320 ℃ 370 ℃ 760 ℃
图 1 传感器的电压与温度关系曲线 Fig. 1 Curves of sensor voltage and temperature
性能稳定 , K、N 型热电偶在 700 ℃左右仍然可用 ; 500 ℃以下时 ,任何热电偶均能使用 。低温下 , E型 电压变化速率约为 B 型的 10倍 ,所以用于低温测量 时候 ,采用 E型热电偶比较合理 ,灵敏度高且价格便 宜。
热处理技术与装备 RECHUL I J ISHU YU ZHUANGBE I
Vol. 30, No. 3 Jun, 2009
·综 述 ·
解析 AMS 2750D《高温测量 》
李 克 1 ,张 莉 2
(1. 中国南方航空工业集团有限公司 ,湖南 株洲 412002; 2. 东华大学机械工程学院 ,上海 201620)
( - 200至 + 870 ℃) + 32至 + 1400 )
( 0至 + 760 ℃) - 328至 + 2282 )
( - 200至 + 1250 ℃) - 450至 + 2372 )
( - 267至 + 1300 ℃) - 328至 + 662 )
( - 200至 + 350 ℃) + 32至 + 2642 )
第 3期
李 克等 :解析 AM S 2750料成分 Table 1 Compositions of thermocoup les materials
说 明
E 镍铬合金正极线 (90%镍 , 10%铬 )和一根铜镍合金负极线 (45 %镍 , 55 %铜 )
30 gage
0. 25 mm 150 ℃ 320 ℃ 370 ℃ 760 ℃
图 1 传感器的电压与温度关系曲线 Fig. 1 Curves of sensor voltage and temperature
性能稳定 , K、N 型热电偶在 700 ℃左右仍然可用 ; 500 ℃以下时 ,任何热电偶均能使用 。低温下 , E型 电压变化速率约为 B 型的 10倍 ,所以用于低温测量 时候 ,采用 E型热电偶比较合理 ,灵敏度高且价格便 宜。
AMS2750E与AMS2750D的区别
AMS2750E与AMS2750D的主要区别1.在第二章引用文件中增加：ASTM E29实验数据中取用有意义的位数以确定满足技术条件的方法。
2.在第三章中新增加了：3.8四舍五入第三章技术要求的主要修订见下表：3 表格内容的修订：4.主要修改内容分析：（1）E版对于整卷的热电偶，需要两端取样校准，取两端修正系数的平均值，而在D版中规定是305m以下的只需要校准一端，305m 以上的才需要校准两端。
E版中整卷热电偶的校准偏差应满足：一、二等级热电偶在0.6℃以内，其它热电偶在1.1℃以内。
而在D版中，这一条仅适用于305米以上的卷，而对于305米以下的卷，则采用表一的标准。
（2）E版放宽了二级标准热电偶的最大允许误差。
R、S型热电偶放宽至±1.0℃或读数的±0.25％中的最大值，而B型热电偶放宽至±0.6℃或读数的±0.5％取大值。
这一条对于有内校能力的单位来说是非常有帮助的，可以有效的降低购置二级标准热电偶的费用，延长使用时间。
此外，还放宽了SAT用贵金属热电偶的最大允许误差。
（3）在炉子的修订上比较有积极意义的一条是：控制和记录热电偶不再规定必须是同一支热电偶了，如果使用两只热电偶分别进行控制和记录，只需要它们的距离不超过10mm即可。
D版要求控制和记录热电偶必须由同一支来担任，而在许多欧洲的相关热处理标准中却需要两支来担任，这就给许多单位带来了难题。
此条的修订就解决了这个难题在仪表方面，控制、监控和记录仪表的标准有放宽，原为1.1℃，现在放宽为1.1℃或读数的0.2％中的最大值。
但是这条放宽意义不大，数字仪表的精度通常很高，很少需要用到读数的0.2％。
（4）SAT方面最值得注意的是关于SAT误差的计算，E版强调被测系统的读数应该是包含修正的，在列举SAT误差计算的范例时，将最近一次的SAT补偿数值与TUS补偿均作为需要内容列举了出来，并明确TUS补偿应当在计算时排除。
AMS2750E中文版
A M S2750E高温测定法5年一次的更新，复查并重审了该规范以提高其使用量，技术革新导致了使用的变化。
变化范围较大并且没有做标记。
目录1.范围 (3)2.引用文件 (3)2.1ASTM出版物 (3)2.2定义 (3)3.技术要求 (8)3.1温度传感器 (8)3.2仪表(见表3,4,和表5) (12)3.3热处理设备: (16)3.4系统精度测试(SATs) (18)3.5炉温均匀性测试(TUS) (23)3.6实验室炉子 (33)3.7记录 (33)3.8取舍 (33)4.质量保证条款 (33)4.1检验职责 (33)5.交货准备 (42)6.接收 (42)7.拒收 (42)8.注释 (43)图1负载传感器的使用和重新校检 (13)图2不同类型炉子的炉温均匀性范围 (16)图3仪表类型要求 (17)图4每个区域最少传感器支数 (18)图5固定的SAT传感器与在500℉(260℃)以上温度测试的传感器的允许组合 (19)图6系统精度测试（SAT）计算的实例 (21)表1传感器和传感器校检 (34)表2热电偶和补偿导线 (35)表3使用仪器及校准 (36)表4炉子记录图表的确定要求 (38)表5记录器打印图表及速度 (38)表6零件所用炉子分类、仪表类型以及SAT校验周期 (39)表7原材料炉所用炉子分类、仪表类型以及SAT校验周期 (40)表8零件所用炉子分类、仪表类型以及和TUS校验周期 (41)表9原材料炉所用炉子分类、仪表类型和TUS校验周期 (41)表10校验或试验间隔延长的容许值 (42)表11TUS传感器数量要求 (42)附录A:E版与D版变更内容说明 (42)1.范围1.1本规范涵盖了热处理过程中用到的热处理设备的高温测量要求，包括温度传感器，仪器仪表，热处理设备，系统精度测试和温度均匀性测量。
这些对于确保零部件或原材料的热处理符合适用规范要求是很有必要的。
1.2本规范不适用于加热或中间热处理，除非在材料或工程规范中具体引用了该标准。
SAE AMS 2750D-2005 中文版 高温检测
航空用材料说明书测高温1. SCOPE:1.1该规范涵盖热处理过程中的热处理设备。
他包括温度传感器、仪器使用、热处理设备、系统精确度测试以及温度均一性测量。
因此有必要保证不同的原材料在热处理过程中选用合适的规范。
1.2除非特别要求否则该分类不适用于加热或者中间热处理过程。
1.3实验室用炉的标准详见3.6。
2.适用性文件2.1 ASTM 发行：购买可联系ASTM, 100 Barr Harbor Drive, P.O. Box C700, West Conshohocken, PA 19428-2959 或。
ASTM E 207 热电元件材料与参比热电元件在相似的电动势－稳定性能下进行热电动势测试。
ASTM E 220 比较法校准热电偶ASTM E 230 标准化热电偶的标准说明书及温度－电动势表ASTM E 608 矿务绝缘，金属屏蔽贱金属热电偶。
ASTM E 1129 热电偶连接器的标准说明书ASTM MNL 7 数据及控制绘图分析表述ASTM MNL 12 温度测量用热电偶3.技术要求目录3.1温度传感器............................................................... . (4)3.1.1通用传感器知识...................................................... .. (4)3.1.1.1传感器适用性的认证 (4)3.1.1.2温度与电压的转换 (4)3.1.1.3热电偶校准要求.................................................................. (4)3.1.1.4热电偶使用 (4)3.1.1.5扩展导线 (4)3.1.1.6导线圈－刻度校准要求 (4)3.1.1.7导线圈－最大允许长度 ........................................................................ (5)3.1.1.8 K和E型热电偶以二级标准或SAT传感器的再利用...................................... . ..5 3.1.1.10可损耗贱金属热电偶测试“U”公式. (5)3.1.2参比标准传感器 ..................................................................................... .5 3.1.3一级标准传感器..................................................................................... . .5 3.1.4二级标准传感器 ..................................................................................... .6 3.1.5温度均一测试传感器............................................................................... . .6 3.1.6系统精确度测试传感器 ............................................................................ .6 3.1.7控制、监控以及记录传感器. (6)3.1.8载荷传感器........................................................................................... . 6 3.2使用仪器 ................................................................................................. .7 3.2.4控制、监视以及记录仪器 .. (8)3.2.5仪器的校准（参见表3） (8)3.2.6仪器的记录........................................................................................... . .9 3.2.7仪器的电子记录 .. (9)3.3热处理设备 (10)3.3.1炉子分级（参见表6和表7）.......... .. (10)3.3.1.1 A型仪器......................................................................................... . .10 3.3.1.2 B型仪器 . (11)3.3.1.3 C型仪器......................................................................................... . .11 3.3.1.4 D型仪器.... .. (11)3.3.1.5 E型仪器......................................................................................... . . .12 3.3.1.6.1仪器-冷却设备............................................................................... . .12 3.3.1.6.2仪器-淬火系统................................................................................ . 12 3.4系统准确度测试（SAT’s） (12)3.4.2系统准确度测试频率（参见表6及表7） (12)3.4.3系统准确度测试失效（失败） (13)3.4.4系统准确度测试步骤............................................................................ .. 13 3.4.4.2.1常驻测试传感器......................................................................... (13)3.4.4.8可选系统准确度测试步骤................................................................... . (15)3.4.5系统准确度测试仪器（参见表1及表3） (16)3.4.6系统准确度测试之记录......................................................................... .. 15 3.5炉温均一性测试................................................................................ . (16)3.5.2多重认证操作温度区间...................................................................... . (16)3.5.5起始TUS测温 (17)第2页/共37页3.5.6 TUS测温周期 ...................................................................................... .17 3.5.7 TUS频率（参见表8及表9）................................................................... . .17 3.5.8 TUS过程中的炉参数 ............................................................................. .17 3.5.9插入TUS传感器时的炉温度..................... .. (18)3.5.10加载条件............................................................ .. (18)3.5.11气氛炉TUS测温................................................................................... ..18 3.5.12真空炉TUS测温............................................................................. .. (18)3.5.13批处理炉、盐浴炉、温度可控液态化浴炉及流态化 (18)3.5.13.1 TUS传感器数目（参见表11） (18)3.5.13.2 TUS传感器定位 (18)3.5.13.3 TUS测温数据采集 (19)3.5.13.4盐浴炉、温度可控液态化浴炉及流态化床的可选探头测试法 (19)3.5.14连续及半连续炉...................... . . . (20)3.5.14.1体积法－TUS传感器的数量及定位................... (20)3.5.14.2平面法－TUS传感器的数量............................... . (20)3.5.14.3平面法－TUS传感器的定位...................... . . . . .. (20)3.5.14.4 TUS测温数据采集 (20)3.5.15连续炉或半连续炉或蒸器炉或马沸炉的可选TUS测试法. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ..21 3.5.15.1探头探测法.......... . . (21)3.5.15.2性能测试 (21)3.5.16 TUS测温传感器失效............................................................. . (21)3.5.17 TUS测温通过及失效技术要求.......... . (22)3.5.18 A类或C类设备的冷热记录传感器位置变换.......... . (22)3.5.19 TUS测试失效 (23)3.5.20 TUS测温设备（参见表1及表3） (23)3.5.21 TUS 报告............................... . . . . (23)3.5.22 本说明出版前的TUS测试 (24)3.5.23辐射测试 (24)3.6 试验室用炉 (24)3.7记录 (24)4.0品质保证规定................... (25)表1 热电偶及热电偶校准...................... (25)表2 热电偶及扩展导线............................ . (26)表3 设备及设备校准 ................ (27)表4 炉子绘图记录仪解决方案............................... (28)表5 记录仪打印及绘图速率 (28)表6 炉子等级、设备型号、SAT测试间隔 (28)表7 原材料炉子等级、设备型号、SAT测试间隔 (29)表8 炉子等级、设备类型及温度均匀性间隔 (30)表9 原材料炉子分类、设备类型及温度均匀性间隔 (30)表10 允许的校准/测试间隔延展期 (31)表11 TUS传感器需要数量....... (31)8.1 注释............................................ . . . . . (32)8.2 表中专用名词释义 (32)3.1温度传感器：温度传感器必须遵守表1以及下列要求。
一AMS2750D
一、ams2750d《高温测量》规范中所包含的温度传感器的主要内容（1）ams2750d《高温测量》规范对温度传感器进行了总体的要求，其中包含如下内容：对温度传感器合格证的规定与要求、对度 -毫伏之间的相互转换的规定与要求、对温度传感器校验的规定与要求、对温度传感器使用的规定与要求、对温度传感器的补偿导线的规定与要求、对温度传感器偶丝的丝卷进行校验的规定与要求、对温度传感器偶丝的丝卷的最大允许长度的规定与要求、作为二级标准或系统精度校验温度传感器的k型和e型温度传感器的重复使用的规定与要求、对温度传感器重复使用的规定与要求、易耗型廉金属测试温度传感器的“u”公式、对测试温度传感器重新校验的规定与要求。
（2）对基准标准传感器的规定与要求。
（3）对一级标准传感器的规定与要求。
（4）对二级标准传感器的规定与要求。
（5）对温度均匀性测试传感器的规定与要求。
（6）对系统精度校验传感器的规定与要求。
（7）对控制、监测、记录传感器的规定与要求。
（8）对载荷传感器的规定与要求。
二、ams2750d《高温测量》规范中对温度传感器的总体要求1.总体要求温度传感器应符合表1要求。
对于特殊应用情况的温度传感器应按相应的规定执行。
应使用ams2750d《高温测量》规范规定的温度传感器，或使用具有相同或更好精度（最大允许误差）的其他温度传感器来测量温度。
温度传感器可以由裸偶丝或者有包覆层的偶丝制成，也可以由mims（陶瓷绝缘包套、金属包套+绝缘材料）有包覆层的偶丝制造。
校验方法应遵照astm e 220、astm e 207或其他国家标准执行。
温度传感器的初次校验或后续校验所得到的修正值（修正系数），可以用于改善温度的准确度（修正温度精度），并在ams2750d《高温测量》规范规定需要采用时使用。
2.分析与讨论为了获得温度或连续测量一个温度变化的过程，正确的选择和维护温度传感器（热电偶）是该过程控制成功的基本保证。
温度传感器的形式和功能很简单，但是需要非常仔细地选择与使用才能获得最佳的结果与精度。
AMS2750D
3.1.7 控制、报警及 记录传感 器 9 ·························································· 3.1.8 负载传感器 9 ·················································································
有特别规定，供应商应使用最新修订版本。当被引用文件已经删除和没有
后续文件时，就使用最后出版的版本。
2．1 ASTM 出版物
可通过以下方式与 ASTM 出版商联系:100 Bar r Harbor Drive, P. o.
Box C700, West Conshohocken, PA194282959 网址：www. astm. Org。
AMS 2750D
3.3 热处理设备 14 ······················································································ 3.3.1 炉子等级(见表 6 和 7) 14 ······························································ 3.3.1.1 A 型仪表 14 ··················································································· 3.3.1.2 B 型仪表 15 ··················································································· 3.3.1.3 C 型仪表 15 ··················································································· 3.3.1.4 D 型仪表 16 ··················································································· 3.3.1.5 E 型仪表 16 ··················································································· 3.3.1.6.1 制冷设备 使用的仪 表 16 ··························································· 3.3.1.6.2 淬火设备 使用的仪 表 16 ·························································· 3.4 系统精度测试(SAT’s) 16 ·································································· 3.4.2 系统精度测试 周期(见表 6 和 7) 17 ··············································· 3.4.3 系统精度测试 免测 17 ······································································ 3.4.4 系统精度测试 程序 18 ······································································ 3.4.4.2.1 固定的测 试传感器 18 ······························································ 3.4.4.8 系统精度测 试程序的 替换 21 ······················································ 3.4.5 系统精度测试使用的仪表(见表 1 和表 3) 21 ································ 3.4.6 系统精度测试 记录 21 ······································································ 3.5 炉子的温度均匀 性测量 (TUS) 22 ····················································· 3.5.2 具有多个工作 温度范围 的规定 22 ·················································· 3.5.5 初次 TUS 温度 23 ············································································· 3.5.6 定期的 TUS 温度 24 ·········································································· 3.5.7 TUS 周期(见表 8 和 9) 24 ······························································· 3.5.8 TUS 期间的炉子 参数 24 ··································································· 3.5.9 TUS 传感器插入 时的炉子 温度 24 ··················································· 3.5.10 装载的 条件 24 ················································································
ams2750d《高温测量》规范对热电偶的规定
温度均 匀性测 试(TUS)
பைடு நூலகம்
廉金属 或类型 B、R 和 S贵金 属
系统 精度 测 试(SAT)
廉金属 或类型 B、R 和 S贵金 属
控 制、记 录和监 控
廉金属 或类型 B、R 和 S贵金 属
负载
廉金属 或类型 B、R 和 S贵金 属
第 一次使 用前。 重新校 验：
类型B、 R和 S：6 个月 类型J 和N：3个 月 其他 廉金属 不允许
参考标 准
±0. 6℃或 ±0.1 %
二级 标准
廉金 属或类 型R和S 贵金属
第 一次使 用前。 重新校 验：
类 型R和S: 2年 廉 金属:1年
一级标 准
廉金 属： ±1. 1℃或 ±0.4 %
贵金 属： ±0. 6℃或 ±0.1 %
类型B 贵金属
第 一次使 用前。 重 新校验 ：2年
±0.6 ℃或± 0.2 5%
识出用于追溯nist和其他认可的国家标准的校验6由已校准且满足表2要求的线卷制造数据源公称测试温度实际测试的温度读数的热电偶可以替代单独校验的热电偶
第 33 卷 第 2 期 201 2年6 月
哈 尔 滨 轴 承 JOURNAL OF HARBIN BEARING
Vol.33 No.2 Jun. 2 0 1 2
第 一次使 用前。 重新校 验：
类型B、 R和 S：6 个月 类型J 和N：3个 月 其他 廉金属 不允许
第 一次使 用前。
第 一次使 用前。 重新校 验：
类型B、 R和 S：6 个月 廉 金属不 允许
一级 或二级 标准 一级 或二级 标准 一级 或二级 标准 一 级或二级 标准
±2.2 ℃或± 0.7 5%
航标2750D
1. 1. 范围：范围：范围：1.1 本规范适用于热处理设备高温测量中涉及的温度传感器、检测仪表、热处理设备、系统精度校验和温度均匀性检测的相关内容。
应确保零件或原材料的热处理符合现行规范的要求。
1.2 本技术规范不适用于加热或者中间热处理，除非材料或工艺规程引用了本规范。
1.3 在3.6中的实验炉适用于本规范。
2. 2. 适用文件：适用文件：适用文件：下列出版物在订货单签订日期有效的版本，在本规范规定的范围内构成了本规范的一部分。
供应商应该执行现行的版本，除非指定了规定的文件。
当参考的文件被删除并且没有可以替代的文件时，应当采用最后一次发行的版本。
2.1 ASTM 2.1 ASTM 出版物：出版物：出版物：可以从位于West Conshohocken, PA 19428-2959 100 Barr 港口C700信箱ASTM （美国材料试验协会）或 获取。
ASTM E 207 利用与相似电动势－温度特性的参考热电偶对比的结果，对单支热电偶材料进行热电动势的测试ASTM E 220 利用比较技术对热电偶进行校准ASTM E 230 标准化热电偶的标准规范和温度-电动势（EF ）对照表ASTM E 608 金属皮绝缘，普通金属热电偶标准规格ASTM E 1129 热电偶连接器标准规范ASTM MNL 7 数据的表示和解析质量评估图ASTM MNL 12 温度测量中热电偶的使用3.3.技术要求技术要求技术要求目 录录章节 标题 页数3.1 温度传感器 (3)3.1.1 一般的传感器信息 (3)3.1.1.1 传感器认证规范 ..................................................................... (3)3.1.1.2 毫伏转变的读数 ..................................................................... (3)3.1.1.3 热电偶的校验要求 (3)3.1.1.4 热电偶的使用 (3)3.1.1.5 补偿导线 .............................................................................. (4)3.1.1.6 线材轧辊-校验规范 ............................................................... (4)3.1.1.7 线材轧辊-最大允许长度 ......................................................... . (4)3.1.1.8 K 或E 型测试热电偶用作二等标准或SAT 传感器时的重复使用 (4)3.1.1.10 可消耗的普通金属测试热电偶U 系数 (4)3.1.2 基准传感器 ………………………………………………………………… ..4AMS 2750D 版航空材料规范 发布日期：1980年4月 修改日期：2005年9月取代：AMS 2750C高 温 测 定 法3.1.4 二级标准传感器..................................................................... ..4 3.1.5 温度均匀性测试传感器............................................................ ..4 3.1.6 系统精确测试传感器............................................................... ..4 3.1.7 控制，监测，和记录传感器...................................................... ..5 3.1.8 负载传感器........................................................................... ..5 3.2 仪表.............................................................................. . (5)3.2.4 控制，监测或记录仪器............................................................ ..6 3.2.5 仪器校准（参看表3）............................................................... ..6 3.2.6 仪器记录.............................................................................. ..6 3.2.7 电子记录仪器. (7)3.3 热处理设备 (7)3.3.1 炉子等级（参看表6和7）......................................................... ..7 3.3.1.1 A型使用仪器..................................................................... .. (7)3.3.1.2 B型使用仪器..................................................................... .. (7)3.3.1.3 C型使用仪器..................................................................... .. (7)3.3.1.4 D型使用仪器........................................................................ .. (8)3.3.1.5 E型使用仪器 (8)3.3.1.6.1 冷却设备的仪器............................................................... .. (8)3.3.1.6.2 淬火系统的仪器............................................................... .. (8)3.4 系统精度校验(SAT’S) (8)3.4.2 系统精度校验频率（参看表6和7）............................................. ..8 3.4.3 系统精度校验免除.................................................................. ..8 3.4.4 系统精度校验程序.................................................................. ..9 3.4.4.2.1 固定测试传感器..................................................................... (9)3.4.4.8 可选择的系统精度校验程序 (10)3.4.5 系统精度校验仪表（参看表1和3） (10)3.4.6 系统精度校验记录............................................................ (10)3.5 炉温均匀性检测（TUS） (10)3.5.2 多重限定工作温度范围 ......................................................... ..10 3.5.5 初始TUS温度.. (11)3.5.6 周期TUS温度........................................................................ .11 3.5.7 TUS频率(参看表8和9) ............................................................ ..11 3.5.8 TUS中的使用炉参数............................................................... .11 3.5.9 插入TUS传感器时的炉温......................................................... .11 3.5.10 负载情况.............................................................................. (12)3.5.11 TUS的炉子环境..................................................................... .12 3.5.12 TUS下的炉子真空级别............................................................... .12 3.5.13 批量热处理炉，盐浴炉，控温液池以及流化态炉........................... (12)3.5.13.1 TUS传感器数量（参看表11）...................................................... ..12 3.5.13.2 传感器位置........................................................................... (12)3.5.13.3 TUS数据收集........................................................................... ..12 3.5.13.4 盐浴的可选择探测方法，液浴温度控制以及流化态炉 (13)3.5.14 连续和半连续炉 (13)3.5.14.1 TUS传感器位置及数量－测定体积的方法.................................... ..13 3.5.14.2 TUS传感器数量－水平方法...................................................... ..13 3.5.14.3 TUS传感器位置－水平方法......................................................... ..13 3.5.14.4 TUS数据收集........................................................................... ..13 3.5.15 连续炉、半连续炉或马弗炉、闭式炉的选择TUS方法........................ .13 3.5.15.1 探测方法.............................................................................. (14)3.5.15.2 性能测试.............................................................................. (14)3.5.17 TUS 验收/不合格情况 ……………………………………………………… .143.5.18 对于A 或C 级别仪器热或冷记录传感器的重新设置 (14)3.5.19 TUS 失效 (15)3.5.20 TUS 仪器（参看表1和3） (15)3.5.21 TUS 报告.............................................................................. (15)3.5.22 TUS 再版 (15)3.5.23 辐射测试 …………………………………………………………………… ..153.6 实验室用加热炉 …………………………………………………………… .163.7 记录 ………………………………………………………………………… .164.0 质量保证条款 ……………………………………………………………… .16表1 传感器和传感器校准 (16)表2 热电偶和补偿导线 (18)表3 使用仪器及校准 (18)表4 炉子记录图表的确定要求 (19)表5 记录器打印图表及速度 (20)表6 零件所用炉子分类、仪表类型以及SAT 校验周期 (20)表7 原材料炉所用炉子分类、仪表类型以及SAT 校验周期 (21)表8 零件所用炉子分类、仪表类型以及和TUS 校验周期 (21)表9 原材料炉所用炉子分类、仪表类型和TUS 校验周期 (22)表10 校验或试验间隔延长的容许值 …………………………………………… .22表11 TUS 传感器数量要求 (22)8.1 注释 (23)8.2 定义 (23)3.1 3.1 温度传感器温度传感器温度传感器必须满足表1及以下要求，在后面的章节中列出的用于特殊用途的除外。
SAE AMS-2750E 高温测定法(中英文对照版)介绍
A EROSPACEMA TERIA L SPECIFICATION 航空航天材料规范A MS2750REV. E发行1980-04修订2012-07替代 AMS2750D(R)高温测定法5 年一次的更新，复查并重审了该规范以提高其使用量，技术革新导致了使用的变化。
变化范围较大并且没有做标记。
目录1. SCOPE范围 (3)2. APPLICABLE DOCUMENTS引用文件 (3)2.1 ASTM PublicationsASTM 出版物 (3)2.2 Definitions定义 (4)3. TECHNICAL REQUIREMENTS技术要求 (12)3.1 Temperature Sensors温度传感器 (12)3.2 Instrumentation (See Tables 3, 4, and 5)仪表(见表3, 4, 和表5) (17)3.3 Thermal Processing Equipment热处理设备 (25)3.4 System Accuracy Tests (SATs)系统精度测试(SATs) (29)3.5 Furnace Temperature Uniformity Surveys (TUS)炉温均匀性测试(TUS) (36)3.6 Laboratory Furnaces实验室炉子 (52)3.7 Records记录 (52)3.8 Rounding取舍 (52)4. QUALITY ASSURANCE PROVISIONS质量保证条款 (52)4.1 Responsibility for Inspection检验职责 (52)5. PREPARATION FOR DELIVERY交货准备 (70)6. ACKNOWLEDGEMENT接收 (70)7. REJECTIONS8. NOTES注释 (70)FIGURE 1 REUSE AND RECALIBRATION OF TEST AND LOAD SENSORS (20)图1 负载传感器的再使用和重新校检 (21)FIGURE 2 FURNACE CLASS UNIFORMITY RANGES图2 不同等级炉子的炉温均匀性范围 (26)FIGURE 3 INSTRUMENTATION TYPE REQUIREMENTS图3 仪表类型要求 (27)FIGURE 4 MINIMUM SENSORS REQUIRED PER ZONE图4 每个区域最少传感器支数 (28)FIGURE 5 ALLOWABLE COMBINATIONS OF RESIDENT SAT SENSOR WITH SENSOR BEING TESTED FOR TEMPERATURES OVER 500 °F (260 °C)图5 固定的SAT传感器与在500℉(260℃)以上温度测试的传感器的允许组合 (31)FIGURE 6 SAT CALCULATION EXAMPLES图6 系统精度测试（SAT）计算的实例 (33)TABLE 1 SENSORS AND SENSOR CALIBRATION表1 传感器和传感器校检 (54)TABLE 2 THERMOCOUPLES AND EXTENSION WIRE表2 热电偶和补偿导线 (56)TABLE 3 INSTRUMENTS AND INSTRUMENT CALIBRATION表3 使用仪器及校准 (57)TABLE 4 RESOLUTION REQUIREMENTS FOR CHART RECORDERS表4 炉子记录图表的确定要求 (60)TABLE 5 PROCESS RECORDER PRINT AND CHART SPEEDS表5 记录器打印图表及速度 (61)TABLE 6 PARTS FURNACE CLASS, INSTRUMENT TYPE, AND SAT INTERVAL (62)表6 零件加热炉等级、仪表类型和SAT校验周期 (63)TABLE 7 RAW MATERIAL FURNACE CLASS, INSTRUMENT TYPE, AND SAT INTERVAL (64)表7 原材料加热炉等级、仪表类型和SAT校验周期 (65)TABLE 8 PARTS FURNACE CLASS, INSTRUMENT TYPE, AND TUS INTERVAL表8 零件加热炉等级、仪表类型和TUS校验周期 (66)TABLE 9 RAW MATERIAL FURNACE CLASS, INSTRUMENT TYPE, AND TUS INTERVAL表9 原材料加热炉等级、仪表类型和TUS校验周期 (67)TABLE 10 PERMITTED CALIBRATION/TEST INTERVAL EXTENSION表10 校验或试验间隔延长的容许值 (68)TABLE 11 NUMBER OF TUS SENSORS REQUIRED表11 TUS传感器数量要求 (69)附录A：E版与D版变更内容说明 (71)1.SCOPE范围1.1This specification covers pyrometric requirements for thermal processing equipment used for heat treatment. Itcovers temperature sensors, instrumentation, thermal processing equipment, system accuracy tests, and temperature uniformity surveys. These are necessary to ensure that parts or raw materials are heat treated in accordance with the applicable specification(s).本规范涵盖了热处理过程中用到的热处理设备的高温测量要求，包括温度传感器，仪器仪表，热处理设备，系统精度测试和温度均匀性测量。
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AMS 2750E高温测定法5 年一次的更新，复查并重审了该规范以提高其使用量，技术革新导致了使用的变化。
变化范围较大并且没有做标记。
目录1.范围 (3)2.引用文件 (3)2.1 ASTM 出版物 (3)2.2 定义 (3)3.技术要求 (8)3.1温度传感器 (8)3.2 仪表(见表3, 4, 和表5) (12)3.3 热处理设备: (16)3.4 系统精度测试(SATs) (18)3.5 炉温均匀性测试(TUS) (23)3.6 实验室炉子 (33)3.7 记录 (33)3.8 取舍 (33)4. 质量保证条款 (33)4.1 检验职责 (33)5. 交货准备 (42)6. 接收 (42)7. 拒收 (42)8. 注释 (43)图1 负载传感器的使用和重新校检 (13)图2 不同类型炉子的炉温均匀性范围 (16)图3 仪表类型要求 (17)图4 每个区域最少传感器支数 (18)图5固定的SAT传感器与在500℉ (260℃)以上温度测试的传感器的允许组合 (19)图6 系统精度测试（SAT）计算的实例 (21)表1 传感器和传感器校检 (34)表2 热电偶和补偿导线 (35)表3 使用仪器及校准 (36)表4 炉子记录图表的确定要求 (38)表5 记录器打印图表及速度 (38)表6 零件所用炉子分类、仪表类型以及SAT校验周期 (39)表7 原材料炉所用炉子分类、仪表类型以及SAT校验周期 (40)表8 零件所用炉子分类、仪表类型以及和TUS校验周期 (41)表9 原材料炉所用炉子分类、仪表类型和TUS校验周期 (41)表10 校验或试验间隔延长的容许值 (42)表11 TUS传感器数量要求 (42)附录A:E版与D版变更内容说明 (42)1.范围1.1 本规范涵盖了热处理过程中用到的热处理设备的高温测量要求，包括温度传感器，仪器仪表，热处理设备，系统精度测试和温度均匀性测量。
这些对于确保零部件或原材料的热处理符合适用规范要求是很有必要的。
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AMS 2750E高温测定法5 年一次的更新，复查并重审了该规范以提高其使用量，技术革新导致了使用的变化。
变化范围较大并且没有做标记。
目录1.范围 (3)2.引用文件 (3)2.1 ASTM 出版物 (3)2.2 定义 (3)3.技术要求 (8)3.1温度传感器 (8)3.2 仪表(见表3, 4, 和表5) (12)3.3 热处理设备: (16)3.4 系统精度测试(SA Ts) (18)3.5 炉温均匀性测试(TUS) (23)3.6 实验室炉子 (33)3.7 记录 (33)3.8 取舍 (33)4. 质量保证条款 (33)4.1 检验职责 (33)5. 交货准备 (42)6. 接收 (42)7. 拒收 (42)8. 注释 (43)图1 负载传感器的使用和重新校检 (13)图2 不同类型炉子的炉温均匀性范围 (16)图3 仪表类型要求 (17)图4 每个区域最少传感器支数 (18)图5固定的SAT传感器与在500℉ (260℃)以上温度测试的传感器的允许组合 (19)图6 系统精度测试（SA T）计算的实例 (21)表1 传感器和传感器校检 (34)表2 热电偶和补偿导线 (35)表3 使用仪器及校准 (36)表4 炉子记录图表的确定要求 (38)表5 记录器打印图表及速度 (38)表6 零件所用炉子分类、仪表类型以及SA T校验周期 (39)表7 原材料炉所用炉子分类、仪表类型以及SA T校验周期 (40)表8 零件所用炉子分类、仪表类型以及和TUS校验周期 (41)表9 原材料炉所用炉子分类、仪表类型和TUS校验周期 (41)表10 校验或试验间隔延长的容许值 (42)表11 TUS传感器数量要求 (42)附录A:E版与D版变更内容说明 (42)1.范围1.1 本规范涵盖了热处理过程中用到的热处理设备的高温测量要求，包括温度传感器，仪器仪表，热处理设备，系统精度测试和温度均匀性测量。
这些对于确保零部件或原材料的热处理符合适用规范要求是很有必要的。
热处理AMS-2750D-2005-中文版
航空用材料说明书测高温1. SCOPE:1.1该规范涵盖热处理过程中的热处理设备。
他包括温度传感器、仪器使用、热处理设备、系统精确度测试以及温度均一性测量。
因此有必要保证不同的原材料在热处理过程中选用合适的规范。
1.2除非特别要求否则该分类不适用于加热或者中间热处理过程。
1.3实验室用炉的标准详见3.6。
2.适用性文件2.1 ASTM 发行：购买可联系ASTM, 100 Barr Harbor Drive, P.O. Box C700, West Conshohocken, PA 19428-2959 或。
ASTM E 207 热电元件材料与参比热电元件在相似的电动势－稳定性能下进行热电动势测试。
ASTM E 220 比较法校准热电偶ASTM E 230 标准化热电偶的标准说明书及温度－电动势表ASTM E 608 矿务绝缘，金属屏蔽贱金属热电偶。
ASTM E 1129 热电偶连接器的标准说明书ASTM MNL 7 数据及控制绘图分析表述ASTM MNL 12 温度测量用热电偶3.技术要求目录3.1温度传感器............................................................... . (4)3.1.1通用传感器知识...................................................... .. (4)3.1.1.1传感器适用性的认证 (4)3.1.1.2温度与电压的转换 (4)3.1.1.3热电偶校准要求.................................................................. (4)3.1.1.4热电偶使用 (4)3.1.1.5扩展导线 (4)3.1.1.6导线圈－刻度校准要求 (4)3.1.1.7导线圈－最大允许长度 ........................................................................ (5)3.1.1.8 K和E型热电偶以二级标准或SAT传感器的再利用...................................... . ..5 3.1.1.10可损耗贱金属热电偶测试“U”公式. (5)3.1.2参比标准传感器 ..................................................................................... .5 3.1.3一级标准传感器..................................................................................... . .5 3.1.4二级标准传感器 ..................................................................................... .6 3.1.5温度均一测试传感器............................................................................... . .6 3.1.6系统精确度测试传感器 ............................................................................ .6 3.1.7控制、监控以及记录传感器. (6)3.1.8载荷传感器........................................................................................... . 6 3.2使用仪器 ................................................................................................. .7 3.2.4控制、监视以及记录仪器 .. (8)3.2.5仪器的校准（参见表3） (8)3.2.6仪器的记录........................................................................................... . .9 3.2.7仪器的电子记录 .. (9)3.3热处理设备 (10)3.3.1炉子分级（参见表6和表7）.......... .. (10)3.3.1.1 A型仪器......................................................................................... . .10 3.3.1.2 B型仪器 . (11)3.3.1.3 C型仪器......................................................................................... . .11 3.3.1.4 D型仪器.... .. (11)3.3.1.5 E型仪器......................................................................................... . . .12 3.3.1.6.1仪器-冷却设备............................................................................... . .12 3.3.1.6.2仪器-淬火系统................................................................................ . 12 3.4系统准确度测试（SAT’s） (12)3.4.2系统准确度测试频率（参见表6及表7） (12)3.4.3系统准确度测试失效（失败） (13)3.4.4系统准确度测试步骤............................................................................ .. 13 3.4.4.2.1常驻测试传感器......................................................................... (13)3.4.4.8可选系统准确度测试步骤................................................................... . (15)3.4.5系统准确度测试仪器（参见表1及表3） (16)3.4.6系统准确度测试之记录......................................................................... .. 15 3.5炉温均一性测试................................................................................ . (16)3.5.2多重认证操作温度区间...................................................................... . (16)3.5.5起始TUS测温 (17)3.5.6 TUS测温周期 ...................................................................................... .17 3.5.7 TUS频率（参见表8及表9）................................................................... . .17 3.5.8 TUS过程中的炉参数 ............................................................................. .17 3.5.9插入TUS传感器时的炉温度..................... .. (18)3.5.10加载条件............................................................ .. (18)3.5.11气氛炉TUS测温................................................................................... ..18 3.5.12真空炉TUS测温............................................................................. .. (18)3.5.13批处理炉、盐浴炉、温度可控液态化浴炉及流态化 (18)3.5.13.1 TUS传感器数目（参见表11） (18)3.5.13.2 TUS传感器定位 (18)3.5.13.3 TUS测温数据采集 (19)3.5.13.4盐浴炉、温度可控液态化浴炉及流态化床的可选探头测试法 (19)3.5.14连续及半连续炉...................... . . . (20)3.5.14.1体积法－TUS传感器的数量及定位................... (20)3.5.14.2平面法－TUS传感器的数量............................... . (20)3.5.14.3平面法－TUS传感器的定位...................... . . . . .. (20)3.5.14.4 TUS测温数据采集 (20)3.5.15连续炉或半连续炉或蒸器炉或马沸炉的可选TUS测试法. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ..21 3.5.15.1探头探测法.......... . . (21)3.5.15.2性能测试 (21)3.5.16 TUS测温传感器失效............................................................. . (21)3.5.17 TUS测温通过及失效技术要求.......... . (22)3.5.18 A类或C类设备的冷热记录传感器位置变换.......... . (22)3.5.19 TUS测试失效 (23)3.5.20 TUS测温设备（参见表1及表3） (23)3.5.21 TUS 报告............................... . . . . (23)3.5.22 本说明出版前的TUS测试 (24)3.5.23辐射测试 (24)3.6 试验室用炉 (24)3.7记录 (24)4.0品质保证规定................... (25)表1 热电偶及热电偶校准...................... (25)表2 热电偶及扩展导线............................ . (26)表3 设备及设备校准 ................ (27)表4 炉子绘图记录仪解决方案............................... (28)表5 记录仪打印及绘图速率 (28)表6 炉子等级、设备型号、SAT测试间隔 (28)表7 原材料炉子等级、设备型号、SAT测试间隔 (29)表8 炉子等级、设备类型及温度均匀性间隔 (30)表9 原材料炉子分类、设备类型及温度均匀性间隔 (30)表10 允许的校准/测试间隔延展期 (31)表11 TUS传感器需要数量....... (31)8.1 注释............................................ . . . . . (32)8.2 表中专用名词释义 (32)3.1温度传感器：温度传感器必须遵守表1以及下列要求。
AMS2750D中文版
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3.4.4.8 3.4.5 3.4.6 3.5 3.5.2 3.5.5 3.5.6 3.5.7 3.5.8 3.5.9 3.5.10 3.5.11 3.5.12 3.5.13
可替代的系统精度测试程序 系统精度测试仪器（也见表 1 和 3） 记录-系统精度测试 炉子温度均匀性检测（TUS） 多点鉴定操作温度范围 最初的 TUS 温度 定期的 TUS 温度 TUS 频率（也见表 8 和 9） 在 TUS 中的炉子参数 在 TUS 传感器插入时的炉子温度 装载情况 TUS 中的炉子气氛 TUS 中的炉子真空水平 批生产炉、盐浴炉、可控的温度液体浴和流体 床炉
2
3.1.6 3.1.7 3.1.8 3.2 3.2.4 3.2.5 3.2.6 3.2.7 3.3 3.3.1 3.3.1.1 3.3.1.2 3.3.1.3 3.3.1.4 3.3.1.5 3.3.1.6.1 3.3.1.6.2 3.4 3.4.2 3.4.3 3.4.4 3.4.4.2.1
系统精度测试传感器 控制、监控和记录传感器 负载传感器 仪器 控制、监控和记录仪表 仪表校验（也见表 3） 仪器记录 电子记录-仪器 热处理设备 炉子类别（也见表 6 和 7） A 类装置 B 类装置 C 类装置 D 类装置 E 类装置 装置-冰冷设备 装置-淬火系统 系统精度测试 系统精度测试频率（也见表 6 和 7） 取消系统精度测试 系统精度测试程序 长置测试传感器
3.1.2.1 应使用参考标准传感器和初级标准仪器校验初级标准传感 器。
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3.1.3 初级标准传感器应符合表 1。 3.1.3.1 应使用初级标准传感器和初级标准仪器校验次级标准传感 器。 3.1.4 次级标准传感器用符合表 1。 3.1.4.1 仅限于对温度均匀性、系统精度、控制、监控、记录和负载 传感器的校验。 3.1.5 温度均匀性传感器应符合表 1。 3.1.5.1 除了 3.1.5.2 的规定外，温度均匀性检测传感器应用初级或次 级标准仪器和一个初级或次级标准传感器按表 1 进行校验。 对热电偶 的再次使用的限制见 3.1.1.8 和 3.1.1.9。禁止对暴露在 500℉（260℃） 以上温度的 K 型和 E 型热电偶重新校验。 3.1.5.2 那些在测试中或在测试间保留在一个架子上并被保护（1）仅 在 1200℉（650℃）以下使用， （2）被标识， （3）储存/防护以避免损 伤（例如卷曲、过度的潮气接触、腐蚀等）的一次性贱金属 TUS 电 偶，可以在 3.1.1.9 和 3.1.1.10 的限制内再次使用。装在架子上并仅在 1200℉（650℃）以下使用的非一次性贱金属 TUS 电偶，其使用不超 过 90 次或 3 年，以先到的为准。 3.1.6 系统精度测试传感器应符合表 1。 3.1.6.1 SAT 传感器应用初级或次级标准仪器和一个初级或次级标准 3.1.1.9 传感器按表 1 进行校验。 对热电偶的再次使用的限制见 3.1.1.8、 和 3.1.1.10。禁止对暴露在 500℉（260℃）以上温度的 K 型和 E 型热 电偶重新校验。
3.4.4.8 3.4.5 3.4.6 3.5 3.5.2 3.5.5 3.5.6 3.5.7 3.5.8 3.5.9 3.5.10 3.5.11 3.5.12 3.5.13
可替代的系统精度测试程序 系统精度测试仪器（也见表 1 和 3） 记录-系统精度测试 炉子温度均匀性检测（TUS） 多点鉴定操作温度范围 最初的 TUS 温度 定期的 TUS 温度 TUS 频率（也见表 8 和 9） 在 TUS 中的炉子参数 在 TUS 传感器插入时的炉子温度 装载情况 TUS 中的炉子气氛 TUS 中的炉子真空水平 批生产炉、盐浴炉、可控的温度液体浴和流体 床炉
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3.1.6 3.1.7 3.1.8 3.2 3.2.4 3.2.5 3.2.6 3.2.7 3.3 3.3.1 3.3.1.1 3.3.1.2 3.3.1.3 3.3.1.4 3.3.1.5 3.3.1.6.1 3.3.1.6.2 3.4 3.4.2 3.4.3 3.4.4 3.4.4.2.1
系统精度测试传感器 控制、监控和记录传感器 负载传感器 仪器 控制、监控和记录仪表 仪表校验（也见表 3） 仪器记录 电子记录-仪器 热处理设备 炉子类别（也见表 6 和 7） A 类装置 B 类装置 C 类装置 D 类装置 E 类装置 装置-冰冷设备 装置-淬火系统 系统精度测试 系统精度测试频率（也见表 6 和 7） 取消系统精度测试 系统精度测试程序 长置测试传感器
3.1.2.1 应使用参考标准传感器和初级标准仪器校验初级标准传感 器。
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3.1.3 初级标准传感器应符合表 1。 3.1.3.1 应使用初级标准传感器和初级标准仪器校验次级标准传感 器。 3.1.4 次级标准传感器用符合表 1。 3.1.4.1 仅限于对温度均匀性、系统精度、控制、监控、记录和负载 传感器的校验。 3.1.5 温度均匀性传感器应符合表 1。 3.1.5.1 除了 3.1.5.2 的规定外，温度均匀性检测传感器应用初级或次 级标准仪器和一个初级或次级标准传感器按表 1 进行校验。 对热电偶 的再次使用的限制见 3.1.1.8 和 3.1.1.9。禁止对暴露在 500℉（260℃） 以上温度的 K 型和 E 型热电偶重新校验。 3.1.5.2 那些在测试中或在测试间保留在一个架子上并被保护（1）仅 在 1200℉（650℃）以下使用， （2）被标识， （3）储存/防护以避免损 伤（例如卷曲、过度的潮气接触、腐蚀等）的一次性贱金属 TUS 电 偶，可以在 3.1.1.9 和 3.1.1.10 的限制内再次使用。装在架子上并仅在 1200℉（650℃）以下使用的非一次性贱金属 TUS 电偶，其使用不超 过 90 次或 3 年，以先到的为准。 3.1.6 系统精度测试传感器应符合表 1。 3.1.6.1 SAT 传感器应用初级或次级标准仪器和一个初级或次级标准 3.1.1.9 传感器按表 1 进行校验。 对热电偶的再次使用的限制见 3.1.1.8、 和 3.1.1.10。禁止对暴露在 500℉（260℃）以上温度的 K 型和 E 型热 电偶重新校验。
SAE_AMS_2750D-2005
SAE AMS 2750D1980年4月发布航天材料规范2005年9月修订代替AMS 2750C高温测量1. 范围：1.1 本规范覆盖了用于热处理的热工艺设备的高温测量要求。
它包括温度传感器、仪表、热工艺设备、系统精度测试和温度均匀性测试。
这些都是确保零件和原材料按适用的规范进行热处理所必须的。
1.2 除非被某一材料和工艺规范特别引用，否则本规范不适用于加热和中间热工艺。
1.3 本规范适用于在第3.6节中规定的范围内的实验炉。
2. 适用的文件：下列出版物在发出订单之日的有效版本将在此处所规定的范围内形成本规范的一部分。
除非指定了某个特定的文件版本，供应商应按该文件的后续版本进行工作。
当引用的文件已被废止而未规定替代文件时，则该文件的最后一版是适用的。
2.1 ASTM出版物：可从ASTM, 100 Barr Harbor Drive, West Conshohocken, PA 19428-2959或处获取。
ASTM E 207 通过与具有类似电势－温度特性的标准热电元件进行比较实现的单极热电元件材料的热电势测试ASTM E 220 通过比较法进行的热电偶校准ASTM E 230 用于标准热电偶的标准规范和温度－电势（EF）表ASTM E 608 矿物绝缘的金属铠装贱金属热电偶ASTM E 1129 热电偶连接器的标准规范ASTM MNL 7 数据显示和控制表分析ASTM MNL 12 热电偶在温度测量中的应用3. 技术要求：目录节主题页次3.1 温度传感器 (6)3.1.1 传感器的一般信息 (6)3.1.1.1 传感器合格证的要求 (7)3.1.1.2 度－毫伏的转换 (7)3.1.1.3 热电偶校准要求 (7)3.1.1.4 热电偶的用途 (7)3.1.1.5 补偿线 (7)3.1.1.6 偶丝卷－校准要求 (8)3.1.1.7 偶丝卷－最大允许长度 (8)3.1.1.8 作为二级标准或系统精度测试传感器的 (9)K型和E型热电偶的重复使用3.1.1.10 易耗型贱金属测试热电偶的“U”公式 (9)3.1.2 参考标准传感器............................... .. (9)3.1.3 一级标准传感器............................... .. (9)3.1.4 二级标准传感器............................... .. (10)3.1.5 温度均匀性测试传感器 (10)3.1.6 系统精度测试传感器 (10)3.1.7 控制、检测和记录传感器 (10)3.1.8 载荷传感器............................... .. (11)3.2 仪表............................... .. (12)3.2.4 控制、检测和记录仪表 (13)3.2.5 仪表校准（亦见表3） (14)3.2.6 仪表记录............................... .. (15)3.2.7 电子记录－仪表............................... .. (16)3.3 热工艺设备............................... .. (16)3.3.1 炉子等级............................... .. (16)3.3.1.1A型仪表............................... .. (17)3.3.1.2B型仪表............................... .. (17)3.3.1.3C型仪表............................... .. (18)3.3.1.4D型仪表............................... .. (18)3.3.1.5E型仪表............................... .. (18)3.3.1.6.1仪表－冷藏设备............................... . (19)3.3.1.6.2仪表－淬火系统............................... .. (19)3.4 系统精度测试（SAT） (19)3.4.2 系统精度测试频次（亦见表6和表7） (20)3.4.3 系统精度测试放弃............................... .. (20)3.4.4 系统精度测试程序............................... .. (21)3.4.4.2.1固定的测试传感器............................... .. (21)3.4.4.8可供选择的系统精度测试程序 (24)3.4.5 系统精度测试仪表（亦见表1和表3） (24)3.4.6 记录－系统精度测试 (24)3.5 炉温均匀性测试（TUS） (25)3.5.2 多个合格的工作温度范围 (25)3.5.5 初次温度均匀性测试的温度 (27)3.5.6 周期性温度均匀性测试的温度 (27)3.5.7 温度均匀性测试的频次（亦见表8和表9） (28)3.5.8 温度均匀性测试期间的炉子参数 (28)3.5.9温度均匀性测试传感器插入时的炉温 (28)3.5.10载荷状态............................... . (28)3.5.11温度均匀性测试期间的炉子气氛 (29)3.5.12温度均匀性测试期间的炉子真空度水平 (29)3.5.13分室炉、盐浴炉、温度受控的液体槽和流化床炉 (29)3.5.13.1温度均匀性测试传感器的数量（亦见表11） (29)3.5.13.2温度均匀性测试传感器的位置 (29)3.5.13.3温度均匀性测试的数据采集 (30)3.5.13.4对于盐浴炉、温度受控液体槽和流化床炉可选用的探测方法 (31)3.5.14连续和半连续炉............................... .. (32)3.5.14.1温度均匀性测试传感器的数量和位置－空间法 (32)3.5.14.2温度均匀性测试传感器的数量－平面法 (32)3.5.14.3温度均匀性测试传感器的位置－平面法 (33)3.5.14.4温度均匀性测试的数据采集 (33)3.5.15对于连续和半连续炉或有罐式炉膛和马弗炉膛的 (34)炉子可选用的温度均匀性测试方法3.5.15.1探测方法 (34)3.5.15.2特性测试 (34)3.5.16温度均匀性测试传感器故障 (35)3.5.17温度均匀性测试合格/不合格要求 (36)3.5.18A类或C类热或冷记录传感器的重新定位 (36)3.5.19温度均匀性测试失败 (37)3.5.20温度均匀性测试仪表（亦见表1和表3） (38)3.5.21温度均匀性测试报告 (38)3.5.22发布前温度均匀性测试 (39)3.5.23辐射测试 (39)3.6 实验炉 (40)3.7 记录 (40)4.0 质保条款 (40)表1 传感器和传感器校准 (42)表2 热电偶和补偿线 (44)表3 仪表和仪表校准 (45)表4 炉子图形记录仪的分辨率要求 (47)表5 过程记录仪打印和走纸速度 (48)表6 零件炉的等级、仪表类型和系统精度测试间隔 (49)表7 原材料炉等级、仪表类型和系统精度测试间隔 (50)表8 零件炉的等级、仪表类型和温度均匀性测试间隔 (51)表9 原材料炉等级、仪表类型和温度均匀性测试间隔 (52)表10允许的校准/测试间隔延长量 (53)表11要求的温度均匀性传感器的数量 (54)8.1 注意事项 (55)8.2 定义 (55)3.1 温度传感器：温度传感器应符合表1及以下要求。
2750d航空材料规范标准
1. SCOPE:.1.1 This specification covers pyrometric requirements for thermal processing equipment used for heat treatment. It coverstemperature sensors, instrumentation, thermal processing equipment, system accuracy tests, and temperatureuniformity surveys. These are necessary to ensure that parts or raw materia l s are heat treated in accordance with theapplicable specificatio n s).1.1 该规范包括了热处理所用设备的高温测量要求。
其中有温度传感器、测量仪器、热处理设备、系统精度检测和温度均匀性检验方法，以确保零件或原材料的热处理符合相应规范。
1.2 This specification is not applicable to heating, or to intermediate thermal processing unless specifically referencedby a material or process specification.1.2 除非材料或工艺规范专门引用，本规范不适用于加热或中间热处理。
1.3 This specification applies to laboratory furnaces to the extent specified in 3.6.2. APPLICABLE1.3 该规范适用于3.6.2中所规定的实验室炉。
2 APPLICABLE DOCUMENTS:2 适用文件The issue of the fo l lowing documents in effect on the date of the purchase order forms a part of this specification to the extent specified herein. The supplier may work to a subsequent revision of a document unless a specific documentissue is specified. When the referenced document has been cance l ed and no superseding document has beenspecified, the last published issue of that document shall apply.下述文件的有效版本从订货日期起构成本规范规定内容的一部分。
AMS2750E中文版
AMS 2750E高温测定法5 年一次的更新，复查并重审了该规范以提高其使用量，技术革新导致了使用的变化。
变化范围较大并且没有做标记。
目录1.范围 (3)2.引用文件 (3)2.1 ASTM 出版物 (3)2.2 定义 (3)3.技术要求 (8)3.1温度传感器 (8)3.2 仪表(见表3, 4, 和表5) (12)3.3 热处理设备: (16)3.4 系统精度测试(SA Ts) (18)3.5 炉温均匀性测试(TUS) (23)3.6 实验室炉子 (33)3.7 记录 (33)3.8 取舍 (33)4. 质量保证条款 (33)4.1 检验职责 (33)5. 交货准备 (42)6. 接收 (42)7. 拒收 (42)8. 注释 (43)图1 负载传感器的使用和重新校检 (13)图2 不同类型炉子的炉温均匀性范围 (16)图3 仪表类型要求 (17)图4 每个区域最少传感器支数 (18)图5固定的SAT传感器与在500℉ (260℃)以上温度测试的传感器的允许组合 (19)图6 系统精度测试（SA T）计算的实例 (21)表1 传感器和传感器校检 (34)表2 热电偶和补偿导线 (35)表3 使用仪器及校准 (36)表4 炉子记录图表的确定要求 (38)表5 记录器打印图表及速度 (38)表6 零件所用炉子分类、仪表类型以及SA T校验周期 (39)表7 原材料炉所用炉子分类、仪表类型以及SA T校验周期 (40)表8 零件所用炉子分类、仪表类型以及和TUS校验周期 (41)表9 原材料炉所用炉子分类、仪表类型和TUS校验周期 (41)表10 校验或试验间隔延长的容许值 (42)表11 TUS传感器数量要求 (42)附录A:E版与D版变更内容说明 (42)1.范围1.1 本规范涵盖了热处理过程中用到的热处理设备的高温测量要求，包括温度传感器，仪器仪表，热处理设备，系统精度测试和温度均匀性测量。
这些对于确保零部件或原材料的热处理符合适用规范要求是很有必要的。
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成都艾特公司 Chengdu Aerotech 普惠文件 P&W Specification 文件号 No: AMS 2750 版次 Rev: D 批准Approved By:高温测定法1.范围1.1本规范适用于热处理使用的热处理设备的高温测量要求,它适用于温度传感器,仪器,热处理设备,系统精度试验和温度均匀性调查,这些都是保证零件或原材料按照适用的规范热处理必须的.1.2除非材料或工艺规范专门引用,本规范不适用于加热或中间热处理.1.3本规范在3.6条规定的范围内,适用于实验室炉子.2适用文件:下列文件的订单之日有效的版本,在本规范规定的范围内构成本规范的一部分,除非规定具体的文件版本,供应商可按文件后来的版本加工,当参考文件取消后没有规定替代文件时,该文件最近出版的版本适用.2.1ASTM 出版物ASTM E207 单一热敷元件材料的热电动势试验,通过与类似电动势-温度性能的参考热敏元件比较ASTE E220 用比较法校准热电偶ASTM E230 标准化热电偶的标准规范和温度-电动势表ASTM E608 矿物绝缘的金属铠袋贱金属热电偶ASTM E1129 热电偶连接器标准规范ASTM MNL7 数据和控制图表分析说明ASTM MNL12 使用热电偶测量温度3技术要求目录3.1 温度传感器3.1.1 传感器的一般信息3.1.1.1 传感器合格证要求3.1.1.2 度与豪伏的换算3.1.1.3 热电偶校准要求3.1.1.4 热电偶的使用3.1.1.5 延长线3.1.1.6 线卷校准要求3.1.1.7 线卷最大允许长度3.1.1.8 K型和E型热电偶作为辅助标准或SAT传感器的重新使用3.1.1.10 可耗式贱金属试验热电偶”U”公式3.1.2 参考标准传感器3.1.3 基本标准传感器3.1.4 辅助标准传感器3.1.5 温度均匀性检测传感器3.1.6 系统精度试验传感器3.1.7 控制,监控和记录传感器3.1.8 负载传感器3.2 仪器3.2.4 控制,监控和记录仪器3.2.5 仪器校准(也见表3)3.2.6 仪器记录3.2.7 电子记录仪器3.3 热处理设备3.3.1 炉子类型(也见表6和表7)3.3.1.1 A型仪器3.3.1.2 B型仪器3.3.1.3 C型仪器3.3.1.4 D型仪器3.3.1.5 E型仪器3.3.1.6.1致冷设备仪器3.3.1.6.2淬火系统仪器3.4 系统精度试验(SAT’s)3.4.2 系统精度试验频率(也见表6和表7)3.4.3 放弃系统精度试验3.4.4 系统精度试验程序3.4.4.2.1常驻试验传感器3.4.4.8 替换的系统精度试验程序3.4.5 系统精度试验仪器(也见表1和表3)3.4.6 系统精度试验记录3.5 炉子温度均匀性检测(TUS)3.5.2 多个合格的工作温度范围3.5.5 首次炉子温度均匀性检测(TUS)温度3.5.6 定期炉子温度均匀性检测(TUS)温度3.5.7 炉子温度均匀性检测(TUS)频率(也见表8和表9)3.5.8 温度均匀性检测时的炉子参数3.5.9 插入炉子温度均匀性检测(TUS)传感器时的炉子温度3.5.10 负荷条件3.5.11 温度均匀性调查时的炉子气氛3.5.12 温度均匀性调查时的炉子真空度3.5.13 分批处理炉,盐槽,受控温度液体槽和流体床炉3.5.13.1 炉子温度均匀性检测(TUS)传感器的数量(也见表11)3.5.13.2 炉子温度均匀性检测(TUS)传感器的位置3.5.13.3 炉子温度均匀性检测(TUS)数据收集3.5.13.4 分批处理炉,盐槽,受控温度液体槽和流体床炉的替代探测方法3.5.14 连续和半连续热处理炉3.5.14.1 炉子温度均匀性检测(TUS)传感器的数量和位置-体积方法3.5.14.2 炉子温度均匀性检测(TUS)传感器的数量-平面方法3.5.14.3 炉子温度均匀性检测(TUS)传感器的位置-平面方法3.5.14.4 炉子温度均匀性检测(TUS)数据收集3.5.15 连续或半连续处理炉或蒸馏炉或隔焰炉的替代温度均匀性检测(TUS)方法 3.5.15.1 探测方法3.5.15.2 性能检测3.5.16 温度均匀性检测(TUS)传感器故障3.5.17 温度均匀性检测(TUS)通过/未通过要求3.5.18 A类或C类仪器的热或冷记录传感器重新定位3.5.19 温度均匀性检测(TUS)故障3.5.20 温度均匀性检测(TUS)仪器(也见表1和表3)3.5.21 温度均匀性检测(TUS)报告3.5.22 本版发布前的温度均匀性检测(TUS)3.5.23 辐射调查3.6 实验室炉3.7 记录4.0 质量保证条款表1 传感器和传感器校准表2 热电偶和延长线表3 仪器和仪器校准表4 炉子图表记录器的分辨率要求表5 过程记录器的打印和绘图速度表6 零件炉类别,仪器类型和系统精度试验的间隔时间表7 原材料炉类别,仪器类型和系统精度试验的间隔时间表8 零件炉类别,仪器类型和温度均匀性检测的间隔是时间表9 原材料炉类型,仪器类型和温度均匀性检测的间隔时间表10 允许的校准/试验间隔时间延长表11 要求的温度均匀性检测(TUS)传感器数量8.1 注释8.2 定义3.1 温度传感器：温度传感器应符合表1和下述要求。
具体应用的例外列在下述各条中。
3.1.1 温度应用本文规定的热电偶或精度（允许的最大误差）相当或更好的其他热电偶或温度传感器进行测量。
热电偶可用裸线、被覆线或矿物绝缘的金属铠装电缆制作。
除非专门说明，要求适用于所有的传感器材料。
本规范中使用的“传感器”等同于“温度传感器”。
从初始或后续的校准得到的传感器校正系数，可以用来改善温度精度，本规范要求时应使用。
3.1.1.1 校准：传感器应有合格证，合格证应标明校准数据来源，公称(名义上的)试验温度、实际的试验温度读数、校准技术和可以追溯到NIST或其他公认的国家标准的每一校准温度的校正系数。
校准技术应符合ASTME220，ASTME207 或其他的国家标准。
3.1.1.2 从毫伏到度或从度到毫伏的换算，按照ASTME230或其他国家标准进行。
3.1.1.3 温度传感器应在使用的温度范围内校准。
所有热电偶的校准温度间距不应超过2500F（1400C），但按照ASTM MNL12 或其他国家标准在固定点校准的热电偶除外。
K 型和E 型热电偶在5000F （2600C ）以上的温度使用后禁止重新校准。
推断高于最高校准温度和低于最低校准温度的校准校正系数是禁止的。
3.1.1.4 热电偶及其使用：热电偶只应在ASTM MNL12 表3.1 （推荐的保护热电偶上温度极限）或3.5（推荐的保护热电偶上温度极限）、ASTM E230 表6（建议的保护热电偶上温度极限）、ASTME608 表1（建议的铠装热电偶上温度极限）或其他的国家标准和传感器供应商列出的范围的使用。
使用不符合这些建议的热电偶，应根据本文表1要求的校准和重新校准间隔时间。
3.1.1.4.1 本文件规定的热电偶校准时间间隔，不管是根据时间、使用次数还是温度，都是允许的最大限度。
然而，遵循这些间隔要求并不能免除用户的职责，用户仍应保证在特定的暴露条件（环境、时间和温度）下不发生过度的漂移。
用户应有支持数据，包括但不限于SAT、TUS 和控制热电偶更换的重新校准数据和书面程序，根据使用情况，包括最大寿命极限和/或使用次数。
3.1.1.5 新设备（本版本发布后一年）中的延长线应符合ASTM E230或相当的国家标准。
延长线不能铰接。
允许使用接头、插头、插座和接线条。
如果是兼容类型，即热电偶性能与相应的热电偶类型的特征一致， ASTM E1129 可以用作圆角接头的指南。
热电偶成分和延长线要求见表2。
3.1.1.6 用标准线卷制作的热电偶，可以用来代替个别校准的热电偶。
长度1000英尺（305 米）以内的线卷可在一端取样（见3.1.1.1）。
如果来自每一端的个别校正系数都在表１的合格极限内，使用以线卷两端计算得到的平均校正系数。
3.1.1.6.1 如果样品热电偶在任何校准温度下的最大和最小校准读数之差，根据情况超过3.1.1.6.2 或3.1.6.3 的要求，超过1000英尺（305 米）的线卷不应使用线卷校准方法。
3.1.1.6.2 基准和辅助标准热电偶，10F（0.60C）3.1.1.6.3 系统精度试验、温度均匀性试验、控制、监测、记录和载荷热电偶20F（1.1 0 C）3.1.1.6.4 不符合3.1.1.6.2 或3.1.1.6.3 要求的线卷3.1.1.6.4.1 允许把线卷分成满足3.1.1.6.2 或3.1.1.6.3 中规定的端头到端头公差的较短长度线卷。
3.1.1.6.4.2 如果按照表1校准，允许使用来自线卷的个别热电偶。
3.1.1.7 校准时线卷中最大量的电线/电缆如下：基准标准传感器------------------------ 200 英尺（60米）其他贵金属传感器---------------------- 2000 英尺（610 米）贱金属辅助标准传感器------------------ 2000 英尺（610 米）所有其他贱金属传感器------------------ 5000 英尺（1525 米）3.1.1.8 K型和E 型热电偶在5000F（2600 C）以上再次使用时，插入深度应等于或大于任何以前使用得插入深度。
3.1.1.9 除非绝缘保持完整无损并且包括热端的金属丝没有损坏，禁止再次使用任何热电偶。
如果修整去除不合格的部分（包括K 型和E 型热电偶暴露于5000F （2600C）以上的部分，重新制作热端并且重新校准热电偶，允许修理损坏的热电偶。
如果修理的热电偶来自校准的线卷，可以用原来的线卷校准代替重新校准。
修理前的使用次数应包括进热电偶的使用总数内。
3.1.1.10 禁止重新校准任何可耗式賎金属试验热电偶（SAT或TUS）。
只要下述公式中的“U”不超过30，允许再使用。
试验热电偶的“使用”定义为热电偶的一个加热和冷却循环。
U= 在12000F（6500C）以下的使用次数 + 12000F（6500C）和18000F（9800C）之间的使用次数的两2倍。
可耗式賎金属试验热电偶在高于18000F（9800C）时应限制到一次使用。
3.1.1.11 多次使用的贱金属E 型和K型热电偶用在5000F（2600C）以下时， J型、N 型和所有贵金属热电偶（SAT或TUS），它们的重新校准按表1进行。
3.1.2 参考标准传感器应符合表1的要求。
3.1.2.1 参考标准传感器和基准标准仪器一起用来校准基准标准传感器。