数显卡尺的校验程序-质量计量管理

数显卡尺校正作业指导书引言概述数显卡尺是一种常用的测量工具，用于精确测量物体的长度、宽度和深度。

然而，由于长期使用或不当操作，数显卡尺可能会出现误差。

为了保证测量结果的准确性，我们需要定期对数显卡尺进行校正。

本文将详细介绍数显卡尺校正的步骤和注意事项。

一、校正前的准备工作1.1 检查校正工具的完整性：确保校正工具包含所需的校正块、卡尺夹具等工具，并确保这些工具完好无损。

1.2 清洁卡尺表面：使用干净的布或纸巾擦拭卡尺表面，确保其干净无尘。

1.3 检查电源和电池：如果数显卡尺使用电池供电，确保电池电量充足；如果使用电源供电，确保电源连接正常。

二、校正步骤2.1 准备校正块：根据数显卡尺的量程选择合适的校正块，并确保校正块的表面干净平整。

2.2 安装卡尺夹具：将卡尺夹具固定在工作台上，并确保其稳固可靠。

2.3 校正数显卡尺：将数显卡尺放置在卡尺夹具上，确保其与校正块接触紧密。

按照数显卡尺的使用说明书，调整数显卡尺的校正值，使其与校正块的实际尺寸相匹配。

三、校正后的检验3.1 使用校正块进行检验：在校正完成后，使用不同尺寸的校正块进行检验，确保数显卡尺的测量结果与校正块的实际尺寸相符合。

3.2 检查数显卡尺的显示精度：将数显卡尺与其他测量工具进行比较，检查其显示值与其他工具的测量结果是否一致。

3.3 重复校正步骤：如果校正结果不符合要求，需要重复校正步骤，直到数显卡尺的测量结果准确无误。

四、校正的注意事项4.1 校正环境：校正数显卡尺的环境应保持稳定，避免温度、湿度等因素对校正结果的影响。

4.2 操作规范：在校正过程中，操作人员应按照校正步骤进行操作，避免不必要的误操作。

4.3 校正周期：根据数显卡尺的使用频率和精度要求，制定合理的校正周期，定期对数显卡尺进行校正。

五、结论数显卡尺校正是确保测量准确性的重要步骤。

通过准备工作、校正步骤和校正后的检验，可以保证数显卡尺的测量结果准确可靠。

在校正过程中，要注意校正环境和操作规范，并根据实际情况制定合理的校正周期。

卡尺校验操作规程1.0目的藉由对量规仪器的校验、保养与维护，以确保结果的一致性、可靠性，促使本公司之量规仪器能有效的使用，并更好的管理。

2.0范围：适用于本公司所有内校量规仪器。

3.0权责：3.1品保单位:3.1.1校验规范的制定、增订与修正。

3.1.2依校验计划执行校验工作。

3.1.3随时巡检，发现量规仪器未经校验管制或校验过期，及时处理。

3.1.4量规仪器发生异常时，督促相关部门追查检验的质量，必要时反应给客户。

3.1.5标准件的评估与请购，标准件的保养。

3.2使用单位:3.2.1量规仪器之日常保养及维护。

3.2.2量规仪器异常状况的反映。

3.2.3指派仪器负责人，协助仪校室管理本部门仪器。

3.3PTE单位:产线量规仪器异常的处理及量规仪器内部保养的执行。

4.0定义：4.1校验:定期将量规仪器与标准仪器作一比较，如误差不在本厂『检测设备允收水平』范围时，将其加以调整，使其恢复到规定的范围。

4.2内校:量规仪器之校验由仪校室执行。

4.3标准件:追溯至“国家二级标准”以上之量规仪器，并作为厂内量规仪器之校验依据。

4.4追溯:籍由一步一步的往上与较精确的标准比较、校验以建立量测仪器、标准物质或测量的有效校验观念，通常最终会参考于国际或国家基准。

4.5合格:量规仪器经校验，其误差值完全符合本厂『检测设备允收水平』。

4.6不合格:量规仪器经校验，其误差值不符合本厂『检测设备允收水平』。

4.7限定使用:量规仪器经校验，其误差值仅有小部份不符合本厂『检测设备允收水平』，且所量测之项目不占重点，输出讯号或量测值仅供参考，不影响质量制定，不做数据管制者。

5.0卡尺(Caliper)校验方法:5.1校验项目:5.1.1长度或厚度示值误差5.2标准仪器：块规5.3校验步骤：5.3.1长度或厚度示值误差5.3.1.1确认块规的校验有效期是否过期，过期则不能做标准件使用。

5.3.1.2选取要校验长度值或厚度值所对应的块规，300mm长度以内卡尺选取以下点校验：10mm,20mm,51.2mm,81.5mm,101.2mm,121.8mm,191.8mm,201.5mm,291.8mm。

卡尺检定规程1. 引言卡尺是一种用于测量线宽、厚度和长度的常用工具。

为了确保测量结果的准确性和可靠性，有必要对卡尺进行定期的检定和校准。

本文将介绍卡尺检定的规程和方法，以确保卡尺在使用过程中的有效性和可信度。

2. 卡尺检定的目的卡尺检定的主要目的是验证卡尺的测量准确性和一致性。

通过检定，可以确定卡尺的误差范围，并为后续的测量工作提供准确的基准。

同时，卡尺检定还可以检测卡尺是否存在损坏或磨损等质量问题，以便及时修复或更换。

3. 检定设备和仪器3.1 尺规尺规是卡尺检定的基本工具，它可以提供一个准确的长度基准。

尺规应具备以下特点： - 材质要求：尺规应采用不易变形和稳定性好的材料制造，如不锈钢。

- 刻度要求：尺规的刻度应清晰、准确、一致，并符合国家标准。

3.2 测量设备在卡尺检定过程中，还需要配备一些常用的测量设备和辅助工具，以确保检定的准确性和可靠性。

常用的测量设备包括游标卡尺、显微镜、相机等。

辅助工具可以包括光源、平台等。

4. 卡尺检定的步骤卡尺检定的步骤可以分为以下几个阶段：4.1 准备阶段在进行卡尺检定之前，需要对检定设备进行校准和准备工作。

校准尺规的刻度，确认其准确性，准备好其他测量设备和辅助工具。

4.2 测量准备在进行卡尺检定之前，需要对卡尺进行清洁和检查，确保其表面干净、平整，并且没有损坏或磨损。

同时，还应检查卡尺的刻度是否清晰、完整，以及活动部件是否灵活。

4.3 初步测量初步测量是通过使用尺规对卡尺进行初步的长度测量，以快速检测卡尺的准确性和一致性。

首先，使用尺规对卡尺的一个固定点进行测量，记录结果。

然后，使用卡尺对尺规进行测量，记录结果，并与尺规的长度进行比较。

4.4 精确测量精确测量是通过使用更加精确的测量设备和方法对卡尺进行详细的测量。

可以使用游标卡尺、显微镜或相机等设备对卡尺的不同部位进行测量，记录结果，并与尺规进行比较。

4.5 结果分析和评估在完成测量后，需要对结果进行分析和评估。

数显卡尺试行检定规程适用于﹑修理后和使用中的分辨率为0.01mm﹐测量范围至500mm 的数显卡尺的检定。

检定项目和检定条件1.数显卡尺的检定项目和主要检定工具列表1.2.检定卡尺的窒内温度为20°±5℃。

检定前﹐应将被检数显卡尺及量块等检定工具同时置于金属平板或木桌上﹐平衡温度的时间不少于表2的规定。

3.检定卡尺的室内相对湿度不超过80%.检定要求和检定方法4.外观4.1要求﹕数显卡尺的表面上不应有锈蚀﹑碰伤或其它缺陷。

数显窗不得倾斜。

玻璃表面应清洁﹑透明﹑无破损和划伤。

表1注﹕表中“+”表示应检定﹔“-”表示可不检定。

表2数显卡尺上应刻有制造厂名(或厂标)﹑出厂编号和各功能按钮的标志。

使用中和修理后数显卡尺不应有影响使用准确度的外观缺陷。

4.2检定方法﹕目力观察5.各部分相互作用5.1要求﹕尺框和微动装置沿尺身移动时应手感平稳﹑无卡住或松动现象。

尺框相对尺身无明显晃动。

制动螺钉的作用应可靠。

深度尺不允许有窜动。

微动装置的空程﹐新制的不应超过1/4转﹐修理后和使用中的应不超过1/2转。

5.2检定方法﹕观察和试验在检定尺框和微动装置沿尺身移动平稳性时﹐如有异议﹐则在尺框上悬挂砝码对尺框和微动装置沿尺身移动时的相对移动力进行检定。

移动力及其变化不大于表3的规定值。

表3检定。

将数显卡尺量爪垂直向上安放﹐并使百分表测头在距离外量爪端面10mm处与外量爪测量接触。

然后在接触点附近正反两方向悬挂砝码。

百分表上示值的变化量即为晃动量。

晃动量应不大于表4的规定值。

表46.显示器6.1要求﹕在全部测量范围内﹐数字显示均应清晰﹑完整﹑无黑斑和闪跳现象。

各按钮功能可靠﹑工作稳定。

6.2检定方法﹕观察和试验。

7.测量面的有面粗糙度7.1要求﹕不大于表5的规定。

表 5 (μm)面粗糙检定仪上检定。

8.外量爪测量面的平面度8.1要求﹕不大于0.002mm。

8.2检定方法﹕用2级平晶以干涉法检定﹐或用零级样板直尺以光隙法检定。

数显卡尺校正作业指导书标题：数显卡尺校正作业指导书引言概述：数显卡尺是一种常用的测量工具，但在长期使用过程中，由于各种因素的影响，可能会出现测量误差。

为了保证测量精确性，需要对数显卡尺进行定期校正。

本文将为大家提供一份数显卡尺校正作业指导书，以帮助大家正确进行校正操作。

正文内容：1. 校正前的准备工作1.1 检查数显卡尺的外观和连接线路1.2 清洁数显卡尺的测量面和滑动导轨1.3 确保数显卡尺的电源供应稳定2. 校正数显卡尺的零点2.1 将数显卡尺放置在平稳的工作台上2.2 按照数显卡尺的使用说明书，找到零点校正的操作方法2.3 使用合适的工具，将数显卡尺的测量面与工作台面对齐2.4 按照操作方法进行零点校正3. 校正数显卡尺的线性度3.1 准备一组已知长度的标准物体3.2 按照数显卡尺的使用说明书，找到线性度校正的操作方法3.3 将标准物体放置在工作台上，依次测量其长度3.4 比较测量结果与标准长度的差异，进行线性度校正4. 校正数显卡尺的重复性4.1 准备一组相同长度的标准物体4.2 按照数显卡尺的使用说明书，找到重复性校正的操作方法4.3 依次使用数显卡尺测量标准物体的长度4.4 比较多次测量结果的差异，进行重复性校正5. 校正数显卡尺的滞后误差5.1 准备一组已知长度的标准物体5.2 按照数显卡尺的使用说明书，找到滞后误差校正的操作方法5.3 将标准物体放置在工作台上，依次测量其长度5.4 比较测量结果与标准长度的差异，进行滞后误差校正6. 校正后的检验与记录6.1 使用数显卡尺测量一组已知长度的标准物体6.2 比较测量结果与标准长度的差异，判断校正效果6.3 记录校正前后的测量结果，以备后续参考总结：本文详细介绍了数显卡尺校正的作业指导书，包括校正前的准备工作、校正数显卡尺的零点、线性度、重复性和滞后误差等步骤。

通过正确进行校正操作，可以确保数显卡尺的测量精确性和可靠性。

在校正后，还应进行检验和记录，以便后续参考。

卡尺校验规程1、目的规范卡尺之校准程序,确保其于使用期间能维持其精密度和准确度,以保证产品之测试质量。

2、适用范围本公司各种型号之卡尺均适用之。

3、权责3.1品质部QE：卡尺之校准，仪器异常之处理。

4、定义校准：在规定条件下，为确定测量仪器或测量系统所指示的量值，或实物量具或参考物质所代表的量值，与对应的由校准所复现的量值之间关系的一组操作。

测量准确度：测量结果与被测量真值之间的一致程度。

相对标准偏差：标准偏差与平均值的比值。

5、内容5.1做好卡尺之积尘清洁,上油保养等工作。

卡尺校准前应将标准卡尺和待测卡尺以及选定待测物放置在同一温度环境下两小时左右，进行温度平衡。

检查待测卡尺之外观，应无影响其准确性的损伤。

5.2将卡尺外测量面密合,检视卡尺是否归零,否则调整归零旋钮或数字键来归零。

如归零失效则卡尺应禁用并送修。

5.3外测量爪校准5.3.1校准前应戴上棉纱手套,归零后依次以标准卡尺和待测卡尺分别量测选定待测物,每点测量三次，取其平均值，并记录于校准报告内。

5.3.2外测量爪校准点分别为5mm,10mm,50mm,100mm,150mm。

5.4内测量爪校准5.4.1校准前应戴上棉纱手套,归零后，在待测卡尺上按校准点设定一相应显示值，然后旋紧卡尺上方的紧固螺钉，以标准卡尺量测待测卡尺之内测量爪,每点测量三次，读取显示值并记录于校准报告内。

5.4.2内测校准点分别为10mm,50mm。

5.5深度杆校准5.5.1校准前应戴上棉纱手套,归零后，依次以标准卡尺和待测卡尺分别量测选定待测物,每点测量三次，取其平均值，并记录于校准报告内。

5.5.2深度杆校准点分别为10mm,50mm。

5.6.阶面高度校准5.6.1校准前应戴上棉纱手套,归零后，依次以标准卡尺和待测卡尺分别量测选定待测物,每点测量三次，取其平均值，并记录于校准报告内。

5.6.2深度杆校准点分别为10mm,50mm。

5.7允许误差±0.02mm为合格。

数显卡尺校正作业指导书一、引言数显卡尺是一种常用的测量工具，广泛应用于制造业和实验室等领域。

为了保证测量结果的准确性，定期对数显卡尺进行校正是非常重要的。

本文将提供数显卡尺校正的详细指导，包括校正前的准备工作、校正步骤、校正记录和注意事项。

二、准备工作1. 校正仪器和设备：校正仪、标准块、校正记录表。

2. 校正环境：确保校正环境干净、无尘、无振动，并保持适宜的温湿度。

3. 校正人员：校正人员应具备一定的技术知识和操作经验，熟悉校正方法和流程。

三、校正步骤1. 校正前检查：a. 检查数显卡尺的外观是否完好，如有损坏或异常现象应及时报修。

b. 检查数显卡尺的电池电量，确保电池电量充足。

c. 清洁数显卡尺的测量面和刻度线，确保无污垢和杂质。

2. 校正仪器准备：a. 将校正仪置于稳定的平台上，确保不会发生晃动或滑动。

b. 将标准块放置在校正仪的测量范围内，确保标准块的尺寸符合要求。

3. 校正操作：a. 打开数显卡尺的电源，确保数显卡尺处于正常工作状态。

b. 将数显卡尺的测量面与标准块的平面接触，轻轻旋转卡尺，确保接触均匀。

c. 读取数显卡尺显示的数值，并记录在校正记录表中。

d. 重复以上步骤，至少进行三次测量，取平均值作为最终的校正结果。

四、校正记录1. 校正日期：记录校正的日期，以便后续追溯和比对。

2. 校正人员：记录进行校正的人员姓名或工号，以便责任追究和沟通。

3. 校正数值：记录每次校正的数值，包括测量数值和平均值。

4. 备注：记录校正过程中的特殊情况或异常现象，以便后续分析和处理。

五、注意事项1. 定期校正：根据使用频率和环境条件，制定定期校正计划，确保数显卡尺的准确性。

2. 校正间隔：根据数显卡尺的精度和使用要求，合理确定校正的时间间隔。

3. 校正记录保存：校正记录应妥善保存，以备日后的查阅和证明。

4. 校正结果分析：根据校正记录进行结果分析，及时发现和解决数显卡尺的异常问题。

六、总结数显卡尺的校正是确保测量结果准确性的重要步骤，通过本文提供的指导，您可以按照标准的流程和方法进行校正操作。

数字显示卡尺操作规程
一、目的
为规范数显卡尺的操作、保证质检员正确使用数显卡尺，确保其测量数据的准确性和一致性。

二、适用范围
用来测量长度、外径、内径、高度（深度）、台阶高度等尺寸。

三、操作程序
1、操作前必须认真阅读《数显式游标卡尺使用说明》。

2、松开卡尺的紧固螺钉，拉开卡尺，用干净的白纸或布条把卡尺测
量面及表面擦拭干净。

3、用手指轻轻推动尺框，使其沿尺子来回移动，手感平稳，不应
有阻滞或松动
4、各个按键要灵活、卡尺框在任意位置时液晶屏显示数值要稳定，清
楚，无闪烁。

5、每次使用前先将测量面擦干净。

按“on/off”键开机，确认显示
屏显示为“0”。

如不为零，则按下“origin”（归零键），使液晶显示屏清零。

6、反复推拉3-5次，每次推紧量爪后显示屏均显示“0”。

7、用50mm的量块对数显卡尺进行校验。

卡尺的测量值应该在50±
0.02mm之间。

量块取用时必须带上手套，且轻拿轻放。

8、根据图纸的技术要求进行测量，读得的数据认真、如实填写在相
关记录表单中。

四、使用注意事项
1、测量产品时,卡尺的测量面不可倾斜，用力要均匀。

2、卡尺的液晶显示处不可碰油、碰水。

3、使用时,必须轻拿轻放,不可掉到地上。

4、使用后及时关闭电源，并擦拭干净，放入专用盒内，置于干燥处。

5、卡尺使用后要定期进行消磁。

6、计量器具检验专用不许外用、外借。

数显卡尺试行检定规程(JJG526-88)
本规程适用于新制的﹑修理后和使用中的分辨率为0.01mm﹐测量范围至500mm的数显卡尺的检定。

一、概述
数显卡尺是用容栅(或光栅等)测量系统和数字测量显示器进行读数的一种长度计量器具。

二、检定项目和检定条件
1.数显卡尺的检定项目和主要检定工具列表1.
2.检定卡尺的窒内温度为20°±5℃。

检定前﹐应将被检数显卡尺及量块等检
定工具同时置于金属平板或木桌上﹐平衡温度的时间不少于表2的规定。

3.检定卡尺的室内相对湿度不超过80%.
三、检定要求和检定方法
4.外观
4.1要求﹕数显卡尺的表面上不应有锈蚀﹑碰伤或其它缺陷。

数显窗不得倾
斜。

玻璃表面应清洁﹑透明﹑无破损和划伤。

表1。

1 目的为有效管理本公司卡尺的使用、保养及维护，使生产能顺利运行，并延长其使 用寿命，保持卡尺的准确度，以确保产品质量。

2 范围本规程适用于公司所有卡尺的首次检定、后续检定和使用中检查。

3 定义卡尺：卡尺是利用带有量爪（或基准面）的尺框在尺身上相对运动，通过游标、 指示表或数显形式显示尺身和尺框上两量爪（或测量面）之间的平行间 距，用于测量外尺寸、内尺寸和深度尺寸以及盲孔、阶梯形孔及凹槽等 相关尺寸的计量器具。

4 职责4.1 校正实验室负责卡尺校正作业细则的制定及卡尺的定期校正； 4.2 检测中心负责卡尺校正规程的审核； 4.3 品质管理处经理负责卡尺校正规程的核准。

5 内容5.1 计量性能要求5.1.1 标尺标记的宽度和宽度差5.1.1.1 游标卡尺的主标尺和游标尺的标记宽度和宽度差应符合 表1的规定。

表1 标尺标记的宽度和宽度差 mm5.1.1.2 带表卡尺的主标尺标记和圆标尺标记宽度及指针末端宽 度应为（0.10—0.20mm ），宽度差应不超过0.05mm 。

5.1.2 测量面的表面粗糙度测量面的表面粗糙度应符合表2的规定。

分度值 标尺标记宽度 标尺标记宽度差0.02 0.08—0.18 0.020.05 0.03 0.100.05表2 测量面的表面粗糙度分度值（分辨力）/mm表面粗糙度R a/μm外量爪测量面内量爪测量面深度卡尺的尺框测量面和尺身测量面深度测量杆的测量面0.01， 0.02 0.20.4 0.20.80.05， 0.10 0.4 0.45.1.3 测量面的平面度测量面的平面度应不超过表3的规定。

表3 测量面的平面度 mm测量范围外量爪测量面的平面度深度卡尺的尺框测量面和尺身测量面在同一平面时的平面度0<L≤1000 0.003 0.0051000<L≤2000 0.005 0.006注：测量面边缘0.2mm范围内允许塌边。

5.1.4 圆弧内量爪的基本尺寸偏差和平行度两量爪合并时，圆弧内量爪基本尺寸，首次检定的一般为10mm或20mm整数，其偏差应符合表4的规定；后续检定的基本尺寸允许为0.1mm的整倍数，保证使用的情况下可为卡尺分度值的整数倍，并在证书内页上注明。

数显游标卡尺校准方法《数显游标卡尺校准秘籍》嘿，朋友们！今天我要给你们分享一个超级厉害的数显游标卡尺校准方法，这可是我的独家秘籍哦！听我慢慢道来，保证让你轻松搞懂。

首先呢，咱得把工具准备好，就像战士上战场得拿好家伙事儿一样。

你得有标准量块，这可是校准的关键宝贝，就好比是卡尺的“校准导师”。

然后呢，把数显游标卡尺拿出来，嘿，这卡尺就像是你的小助手，你得让它好好听话。

第一步，把卡尺擦干净咯，可别让灰尘啥的捣乱。

你想啊，要是卡尺脏兮兮的，就像一个人满脸泥巴，还能好好工作吗？那肯定不行啊！第二步，把标准量块放那儿，就像给卡尺摆了个小目标。

这时候卡尺就像个好奇宝宝，要去量一量这个“小目标”啦。

第三步，轻轻推动卡尺，让它和量块来个亲密接触。

哎呀，就像谈恋爱一样，要温柔点哦，可别粗鲁地对待它们。

第四步，看看卡尺显示的数值。

嘿，这数值就像是卡尺给你的小报告。

如果数值不对，那咱就得调整啦。

我跟你们说，我以前有一次校准的时候，就像个二愣子似的，急急忙忙的，结果数值差得老远。

后来我才知道，我那是没把卡尺擦干净，就像让一个没睡醒的家伙去工作，能行吗？哈哈！调整的时候也得注意哦，别调得太过火了，就像炒菜放盐一样，得恰到好处。

还有啊，校准的时候要多测几次，别测一次就觉得万事大吉了。

就像你考试，不得多检查几遍啊？校准完了之后，你就会发现，哇塞，这卡尺变得可准啦，就像有了火眼金睛一样。

总之呢，数显游标卡尺校准不难，只要你按照我说的步骤来，肯定没问题。

记住哦，准备好工具，擦干净卡尺，温柔对待量块，仔细看数值，调整要适度，多测几次保准度。

好啦，朋友们，快去试试吧！让你的数显游标卡尺变成最厉害的测量小能手！加油哦！哈哈！。

卡尺校验程序1.0目的为了保证公司内部用于生产和测试中通过用卡尺的准确性，使其性能满足测量及测试要求，2．0范围本规范选用于公司内部的分度值（游标类和表类）或分辨力（数显类）为0.01mm,0.02mm,0.05mm 和0.10,测量上限至2000mm通用卡尺的校准。

3．0责任3.1 全公司的计量工作在制造部的直接领导下，由计量室实施统一监督、管理。

3.2 组建和完善计量管理体系。

3.3 建立企业计量标准，配备计量器具和测试设备。

3.4 统一管理计量器具，完善公司量值传递系统。

编制计量标准器、工作计量器具的周期检定计划，组织开展计量、测试、技术服务工作。

制定检定方法，确保计量器具受检率达到要求，保证计量器具准确可靠。

3.5 统一管理计量工作原始记录和技术档案及计量检测数据。

3.6 负责对计量器具购置计划和监督审核和调整工作。

3.7 计量器具由配备到报废的全过程，由计量室实施，集中统一管理。

4.0 定义通用卡尺是用来测量内尺寸和外尺寸、盲孔，階梯形孔及凹槽等相关尺寸的量具。

其主要结构形式分别为游标卡尺、电子数显卡尺、带表卡尺等。

5.0 流程图（见下图）6.0 程序6.1 概述为利用可校正卡尺量具对待校卡尺的标准性。

6.2条件6.2.1 标准件：卡尺量块、平面平台。

6.2.2 环境条件：温度25±5℃、相对湿度55±20﹪RH。

6.2.3 校正过程：需经相关记录6.3 外观6.3.1 卡尺表面应镀层均匀、标尺标记应清晰，表面透明清洁。

不应有锈蚀、碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划痕，无目力可见的断线或粗细不匀等以及影响外观质量的其它缺陷。

6.3.2卡尺上必须有制造厂名或商标、分度值和出厂编号。

6.3.3 使用中和修理后的卡尺，允许有不影响使用准确度的外观缺陷。

6.4 各部分相互作用6.4.1 沿尺口身移动应手感平稳、不应有阻滞或松动现象。

数字显示应清晰、完整，无黑斑和闪跳现象。

各按钮功能稳定、工作可靠。

数显卡尺校正作业指导书标题：数显卡尺校正作业指导书引言概述：数显卡尺是一种精密测量工具，常用于工业生产中的尺寸测量。

为了确保数显卡尺的测量准确性，需要进行定期的校正。

本文将详细介绍数显卡尺校正的作业指导书，帮助读者正确进行校正操作。

一、校正前准备1.1 清洁数显卡尺表面：使用干净的软布擦拭数显卡尺表面，确保表面干净无尘。

1.2 检查电池电量：确保数显卡尺电池电量充足，以免在校正过程中出现中断。

1.3 准备校正工具：准备好校正所需的校正块、校正器等工具，确保工具的准确性和完整性。

二、校正步骤2.1 设置校正块：将校正块放置在平整的工作台上，确保校正块与工作台平行。

2.2 开启数显卡尺：按照数显卡尺的使用说明书操作，将数显卡尺打开并将其放置在校正块上。

2.3 进行校正：根据数显卡尺的校正方法，调整数显卡尺的显示数值，使其与校正块上的标准数值一致。

三、校正后验证3.1 多次测量：校正完成后，进行多次测量，确保数显卡尺的测量结果稳定准确。

3.2 检查误差：使用其他测量工具对数显卡尺进行验证，检查其测量误差是否在允许范围内。

3.3 记录校正结果：将校正前后的数据记录下来，以备日后参考和比对。

四、校正周期4.1 定期校正：建议每个月对数显卡尺进行一次校正，以确保其测量准确性。

4.2 特殊情况校正：在数显卡尺受到外部冲击或长时间不使用后，需要进行特殊情况的校正。

4.3 校正记录：建立数显卡尺的校正记录表，记录每次校正的时间、结果和操作人员，以便追溯和管理。

五、注意事项5.1 避免过度力量：在使用数显卡尺时，避免使用过度力量，以免损坏其内部零件。

5.2 防止水和灰尘：避免数显卡尺接触水和灰尘，以保持其正常工作状态。

5.3 定期维护：定期对数显卡尺进行清洁和维护，延长其使用寿命并保持准确性。

结语：数显卡尺的校正是确保其测量准确性的重要步骤，正确的校正操作可以提高工作效率和产品质量。

希望本文的作业指导书能帮助读者正确进行数显卡尺的校正操作，保证测量结果的准确性和可靠性。

1.1.1依据所使用的外校合格、且在有效期内的数显卡尺作为标准件,及要求使用单位提供受检之设备。

L2备妥清洁用布和《量检具内校记录表》1.3外观要求，数显卡尺表面不应有锈迹、碰伤、镀层脱落及其他影响质量的缺陷，数字显示应清晰、完整，无黑斑和闪跳现象，各按钮功能可靠，工作稳定。

1.4示值误差检测：外测量爪示值误差，用标准件进行检测，各点示值误差以该点读数值与标准件尺寸，之差确定，检定结果不应大于下表的规定，一般检测三点。

下表为一般推荐检测点：1.5依1-41.6校验合格后，数显卡尺校验周期为一年2.操作要求1.1钢卷尺必须按规定程序进行检定2.2在使用时发现故障，使用人必须立即报告，并停止使用，退回仓库联系专人修理3.3使用人员必须保持量具的清洁，按规定要求进行维护保养，并妥善保管4.4要轻拿轻放，防止猛烈碰撞、跌落5.5测量前应把卡尺擦干净，检查卡尺的两个测量面和测量刃口是否平直无损，把两个量爪紧密贴合时，应无明显的间隙，数显框显示为0,这个过程称为校对游标卡尺的零位2.6移动尺框时，活动要自如，不应有过松或过紧，更不能有晃动现象,在移动尺框时，不要忘记松开固定螺钉，亦不宜过松以免掉了2.7当测量零件的外尺寸时：卡尺两测量面的联线应垂直于被测量表面，不能歪斜。

测量时可以轻轻摇动卡尺，放正垂直位置，先把卡尺的活动量爪张开使量爪能自由地卡进工件把零件贴靠在固定量爪上，然后移动尺框，用轻微的压力使活动量爪接触零件使量爪接触零件并读取尺寸。

决不可把卡尺的两个量爪调节到接近甚至小于所测尺寸，把卡尺强制的卡到零件上去。

这样做会使量爪变形，或使测量面过早磨损，使卡尺失去应有的精度编写: 日期: 审批:日期:。

数显卡尺校正作业指导书一、任务概述数显卡尺是一种常用的测量工具，用于测量物体的长度、宽度和深度等尺寸。

为了确保测量结果的准确性，需要对数显卡尺进行定期的校正作业。

本文将详细介绍数显卡尺校正的步骤和注意事项。

二、校正步骤1. 准备工作a. 确保数显卡尺处于关闭状态，没有任何测量物体。

b. 准备一根已经校准好的标准尺，用于校正数显卡尺的测量准确度。

2. 零位校正a. 打开数显卡尺电源，待数显屏显示出“0.000”时，按下“零位”按钮进行校正。

b. 使用标准尺的一端对准数显卡尺的测量面，确保两者紧密贴合。

c. 按下“零位”按钮，数显卡尺将自动校正，显示出“0.000”。

3. 线性误差校正a. 将标准尺的另一端对准数显卡尺的测量面，确保两者紧密贴合。

b. 依次测量标准尺上的不同刻度，记录下数显卡尺的测量结果和标准尺上的实际值。

c. 计算每个刻度的线性误差，即数显卡尺测量结果与标准尺实际值之间的差值。

d. 根据线性误差的大小，调整数显卡尺的校准参数，使测量结果更加准确。

4. 非线性误差校正a. 使用标准尺对数显卡尺进行多个不同长度的测量，记录下测量结果和标准尺上的实际值。

b. 计算每个测量点的非线性误差，即数显卡尺测量结果与标准尺实际值之间的差值。

c. 根据非线性误差的大小，调整数显卡尺的校准参数，使测量结果更加准确。

5. 重复性误差校正a. 使用标准尺对数显卡尺进行多次重复测量，记录下每次测量的结果。

b. 计算每次测量结果之间的差值，即重复性误差。

c. 根据重复性误差的大小，调整数显卡尺的校准参数，使测量结果更加稳定一致。

6. 完成校正a. 根据校正过程中的记录数据，对数显卡尺的校准参数进行最终调整。

b. 关闭数显卡尺电源，完成校正作业。

三、注意事项1. 校正过程中，应避免外界干扰，确保测量环境的稳定性。

2. 校正前应检查数显卡尺的外观是否完好，如有损坏应及时更换。

3. 校正时应使用已经校准好的标准尺，确保校正的准确性。

计测器具内校管理规范一、目的根据本公司实际情况，大部分计量器具送检外校，其中对部分没有送外校、或无法外校的、或外校后使用频繁的器具进行不定期的内部校准，确保其准确度和适用性，以保持完好。

二、范围适应于游标卡尺、电子秤、温湿度计、万用表等的内部校准。

三、校准基准：外校合格的游标卡尺、电子秤、温湿度计、万用表等。

四、校准步骤：4.1、卡尺内校程序：4.1.1 卡尺的类型4.1.1.1游标卡尺：由尺身、尺框和深度三部分组成。

其刀口内量爪用于测量内尺寸，外量爪用于测量外尺寸，尺身背面沟槽中装有深度尺用于测量孔或槽的深度。

（如图1）4.1.1.2带表卡尺该卡尺的尺身有毫米刻线并装有高精度齿条，以齿条为基准带动百分表转动，由此代替游标装置进行读数。

我司带表卡尺的百分表分度值为0.01mm（如图2）4.1.1.3数显卡尺该卡尺尺身装有高精度齿条，齿条运动带动圆形栅格片转动，用光电脉冲计数原理，将卡尺量爪的位移量转变为脉冲讯号，通过计数器和显示器将测量尺寸用数字显示在屏幕上。

（如图3）图1图2图34.1.2校准原理：利用主尺刻线间距与游标刻线间距之差来进行小数部分读数，整数部分由游标尺的零刻线所对应的主尺刻线确定。

4.1.3校准基准：①、外校合格的标准件。

②、选用外校合格的平台。

4.1.4 校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期为6个月。

4.1.5校准步骤：4.1.6 判定标准：表示值误差不超过下表所列的标准即为合格：4.1.7 注意事项：4.1.7.1掌握好测力测量力对于卡尺来说是一个影响测量准确度的重要因素，测量时要掌握好量爪与工件表面接触时的压力，测量面与工件接触后，量爪应能沿工件表面滑动，但不能有松动，跌落的手感，有微动装置的卡尺应使用微动装置。

4.1.7.2注意减少测量孔径的误差用内量爪测孔径时，应先将固定量爪接触孔壁，再移动活动量爪找出最大尺寸，这样的测得值才是孔径尺寸，否则，测得值是弦长或其他尺寸。

数显卡尺校正作业指导书一、背景介绍数显卡尺是一种用于测量物体尺寸的仪器，具有高精度和便捷的特点。

为了确保测量结果的准确性，定期进行数显卡尺的校正是必要的。

本作业指导书旨在提供详细的数显卡尺校正方法和步骤，以确保校正过程的准确性和一致性。

二、校正前准备1. 工具准备：校正块、螺丝刀、校正记录表。

2. 环境准备：确保校正环境干燥、无尘、温度稳定。

三、校正步骤1. 校正前准备：a. 将数显卡尺放置在稳定的水平台上。

b. 清洁数显卡尺的测量面和刻度尺，确保无灰尘和污渍。

2. 校正零点：a. 将校正块放置在数显卡尺的测量面上。

b. 用螺丝刀调整数显卡尺的零点，使其显示与校正块的厚度相等。

c. 确认数显卡尺的零点校正成功，并记录在校正记录表中。

3. 校正线性度：a. 准备一系列已知长度的校正块，涵盖数显卡尺的测量范围。

b. 将每个校正块依次放置在数显卡尺的测量面上，并记录显示的数值。

c. 将测量值与已知长度进行比较，计算误差。

d. 绘制校正曲线，以显示数显卡尺的线性度情况。

e. 根据校正曲线，进行线性度的校正调整，确保测量结果的准确性。

4. 校正重复性：a. 选择一个已知长度的校正块。

b. 连续多次测量该校正块的长度，并记录每次的测量值。

c. 计算每次测量值的差异，评估数显卡尺的重复性。

d. 如果差异超过预定的标准范围，进行适当的调整或维修。

5. 校正稳定性：a. 将数显卡尺放置在恒定温度环境中，等待一段时间。

b. 进行多次测量，记录每次的测量值。

c. 计算测量值的平均值和标准偏差，评估数显卡尺的稳定性。

d. 如果标准偏差超过预定的标准范围，进行适当的调整或维修。

6. 校正完毕：a. 检查校正记录表，确保所有步骤的数据和结果都已记录完整。

b. 清理数显卡尺的测量面和刻度尺，确保无灰尘和污渍。

c. 将数显卡尺放回原位，妥善保管。

四、校正频率数显卡尺的校正频率应根据使用情况和精度要求来确定。

通常建议每6个月或每1000次测量进行一次校正。

1.目的本规程规定了公司自行校准的卡尺校准方法、接受标准及校准周期。

2.适用范围适用于普通、指针式表盘以及数显游标卡尺的内部校准。

3.职责品质管理部负责此标准的执行 4． 参照标准JJG 30-2012《通用卡尺检定规程》 5． 通用技术要求5.1 外观5.1.1 卡尺表面应镀层均匀、标尺标记应清晰，表蒙透明清洁。

不应有锈蚀、碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划痕，无目力可见的断线或粗细不匀等，以及影响外观质量的其他缺陷。

5.1.2 卡尺上必须有制造厂名或商标、分度值和出厂编号。

5.1.3 使用中和后续检定的卡尺，允许有不影响使用的外观缺陷。

5.2 各部分相互作用5.2.1 尺框沿尺身移动应手感平稳，不应有阻滞或松动现象。

数字显示应清晰、完整，无黑斑和闪跳现象。

各按钮功能稳定，工作可靠。

5.2.2 各紧固螺钉和微动装置的作用应可靠。

5.2.3 主尺尺身应有足够长度裕量，以保证在测量范围上限时尺框及微动装置在尺身之内。

5.3 各部分相对位置5.3.1 游标尺刻线与主标尺应平行，无目力可见倾斜。

5.3.2 游标尺标记表面棱边至主标尺标记表面的距离应不大于0.30mm 。

5.3.3 卡尺两外量爪合并时，应无目力可见的间隙。

6． 检定条件6.1 检定室内温度20±5℃。

6.2 检定室内相对湿度不大于80%。

6.3 检定前，应将被检卡尺及量块等检定用设备置于平板或木桌上，其平衡温度时间见下表1的规定。

表1 平衡温度时间表6.4 校准基准6.4.1 标准量块（外校合格的标准量块） 6.4.2 选用外校合格平台7. 检定方法及判定标准各点示值误差以该点读数值与量块尺寸之差确定。

e = L- L o式中：e —卡尺的示值误差L —卡尺的读数值L o —量块的长度8. 检定结果处理8.1 检定为合格卡尺，由检定人员填写《卡尺内校记录表》并提交相关人员审核后，贴上校准合格标签。

8.2 检定不合格卡尺，在《卡尺内校记录表》里注明不合格项目，并标示不合格标签，停止使用。