超声相控阵检测教材-第四章-超声检测设备探头及试块
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游乐设施无损检测第12部分:螺栓相控阵超声检测1 范围本文件规定了游乐设施螺栓裂纹等缺陷的相控阵超声检测及结果评定方法。
本文件适用于游乐设施用外径不小于10 mm且不大于100 mm,长度不大于1000 mm的钢制螺栓的检测。
索道用钢制螺栓、索道和游乐设施用轴类和销轴类的相控阵检测可参照执行,其他机械设备和钢结构用钢制螺栓、轴类和销轴类的相控阵检测也可参照执行。
2 规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。
其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 12604.1 无损检测术语超声检测GB/T 20306 游乐设施术语GB/T 34370.1 游乐设施无损检测第1部分:总则GB/T 34370.5 游乐设施无损检测第5部分:超声检测JB/T 11731 无损检测超声相控阵探头通用技术条件3 术语和定义GB/T 12604.1、GB/T 20306、GB/T 34370.1、GB/T 34370.5界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
周向线阵 circumferential linear array同一平面上多个晶片沿周向排列形成一个单层圆形或环形的平面阵列探头,如图1所示。
(a)圆形平面阵列(b)环形平面阵列图1 周向线阵周向扫描 circumferential linear scan激励声束的孔径中心环绕探头中心步进,声束动态聚焦于相应圆柱母线的声束扫描方式。
周向B扫显示 cylindrically B-scan view在与声束平行且与圆柱状被测工件扫查面垂直的圆周剖面所形成的声场图像,以颜色或灰度表示超声信号幅度的显示方式,如图2所示。
图2 周向B扫图像周向C扫显示 annular C-scan view在与螺栓扫查面平行的剖面所形成的声场图像,以颜色或灰度表示预设时间窗内超声信号幅度的显示方式,如图3所示。
无损检测超声检测曲面检测标准试块规范1 范围本文件规定了测量柱曲面斜探头入射点、折射角、零点和材料声速的钢制曲面试块的尺寸、材料及制作要求。
本文件适用于钢制柱曲面标准试块,其他类型的锥、球曲面也可以参考使用。
2 规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。
其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 12604.1 无损检测术语超声检测GB/T 20737 无损检测通用术语和定义GB/T 41114 无损检测超声检测相控阵超声检测标准试块规范3 术语和定义GB/T 12604.1和GB/T 20737界定的术语和定义适用于本文件。
4 制作材质状态试块应采用与被检件相同的钢号制作,制作试块的钢材应具有以下特性:——试块的材质与被检件材料的声学性能一致;——采用被检件同样的热处理工艺;——化学成分符合相应被检件的标准要求;——热处理前粗机加工成接近最终形状和尺寸。
预加工和热处理4.2.1 毛坯凸曲面检测标准试块的轮廓见图1所示,凹曲面检测标准试块的轮廓见图2所示。
在热处理前,曲面检测标准试块粗加工尺寸应留不小于15 mm的加工余量。
图1 凸曲面检测标准试块的轮廓图图2 凹曲面检测标准试块的轮廓图4.2.2 热处理为获得细晶组织和良好的材质均匀性,在最终机加工前应将试块毛坯按以下要求进行热处理:a)热处理操作期间试块采用隔层摆放;b)若“淬火+回火”,淬火冷却结束至入炉回火的间隔时间小于2小时;——加热至奥氏体化相变点温度以上30℃~50℃,保温2h ;——淬火液中快速冷却(淬火);——加热至相应回火温度,保温2h(回火);——在静止空气中冷却。
c)若“正火”,加热至奥氏体化相变点温度以上30℃~80℃,保温2h,静置空冷。
注:若采用Q355C,则奥氏体化温度为770℃,淬火温度为800℃~820℃,回火温度为580℃~700℃,正火温度为800℃~850℃。
如何快速调校AUT全自动超声波相控阵检测试块发布时间:2021-09-16T03:47:44.297Z 来源:《科学与技术》2021年14期5月作者:杨平[导读] 通过对AUT全自动超声波相控阵检测试块调校的方法,如根部、热焊、钝边、填充区、盖面通道、体积通道、等调校方法进行阐述,并在调校过程中易出现的问题进行分析以及解决办法。
杨平河北方圆工程检测有限公司河北任丘 062550摘要:通过对AUT全自动超声波相控阵检测试块调校的方法,如根部、热焊、钝边、填充区、盖面通道、体积通道、等调校方法进行阐述,并在调校过程中易出现的问题进行分析以及解决办法。
关键字: 全自动超声波相控阵调校试块 AUT全自动超声波相控阵检测(简称AUT检测)技术在我国长输管道应用已经有十余年的历史,近一年随着全自动焊接的大面积推广使之与其匹配的全自动超声波相控阵检测得到大规模应用。
传统χ射线探伤仪的优点,超声波相控阵探伤仪也拥有,而且还有更多优点。
1)AUT检测可以拥有聚焦功能,而常规超声波一般没有(除了聚焦探头外),所以相控阵检测的灵敏度和分辨率都比常规超声检测高。
2)AUT检测可以同时拥有B扫、D扫、S扫和C扫描,可以通过建模,建立一个三维立体图形,缺陷显示非常直观,哪怕不懂NDT的人都能看明白,而常规超声波只能通过波形来分辨缺陷。
3)AUT检测可以检测复杂工件,比如可以检测涡轮叶片的叶根,常规超声波检测因为探头声束角度单一,存在很大的盲区,造成漏检。
而相控阵可以快速,直观的检测。
4)AUT检测采用S扫,即同时可以拥有许多角度的超声波,就相当于拥有多种角度的探头同时工作,所以相控阵无需锯齿扫查,只要沿着焊缝挪动探头即可,检测效率更高。
适用于自动化生产,和批量生产。
全自动超声波相控阵检测系统是超声波技术与计算机技术相结合的一种检测技术,具有检测效率高、检测结果准确及相对直接的显著特点,而全自动超声波相控阵检测准确性及检测速度70%取决于全自动超声试块的调节。
使用相控阵进行超声检测的常规步骤2006.5.1制作者:马克.戴维斯美国无损检测学会超声三级奥林巴斯无损检测免责条款使用这个程序之前仔细阅读下面的内容,你确信可以接受下面所有的条款和条件。
1.这个程序没有进行任何形式的授权,提供给客户的仅仅是一个最基本的原理,使用此程序的全部风险和后果由消费者和最终用户承担,奥林巴斯无损检测和戴维斯不能做出明确的和含蓄的保证,但是不包括商业上的承诺,要尊重此程序。
2.无论使用这个程序所产生的任何直接的、间接的和附带的损害结果,奥林巴斯无损检测和戴维斯不承担任何责任,包括商业利益的损失、商业中断、商业信息的丢失等等,在这个程序派生出来的其他技术,在这个协议之外或者不能使用这个程序,奥林巴斯已经考虑到这个损害的可能性。
目录1.0 目的2.0 范围3.0 参考书目4.0 超声相控阵检测设备5.0 相控阵设备的线性6.0 相控阵探头可操作确认7.0 相控阵系统校准8.0 表面处理9.0 扫查覆盖和扫查方法10.0 记录评价标准和波幅判断11.0 检测后的清理12.0 文件附录1 相控阵术语学附录2 相控阵内不可用晶片的评价指导方针附录3 超声信号的缺陷定性附录4 相控阵确定缺陷的尺寸1.0目的1.1这个程序提供了手动和带编码器的相控阵检测焊缝和母材的必要条件。
1.2这个程序也对相控阵的以下几个方面很有用1.2.1 探测1.2.2 定性1.2.3 缺陷长度1.2.4 缺陷位置:距离上表面或者下表面1.2.5 缺陷尺寸:向内表面或者外表面延伸的连接裂纹2.0 应用范围2.1 此程序可以用于一般的相控阵检测,也可以用于炭钢和不锈钢的焊缝和母材的检测2.2 这个程序可应用在0.5到1英寸的厚度上,为了和程序保持一致,有效的范围要乘以0.5到1.5倍(举个例子:最小的尺寸是0.25英寸,和最小的一样最大的尺寸是1 .5英寸)。
2.3 当需要一个标准的时候,此程序的设计论证了奥林巴斯无损检测相控阵系统Omniscan是符合美国机械工程师协会的标准。
第四章超声相控阵检测设备、探头及试块4.1 相控阵检测的设备4.1.1 相控阵检测设备概述1、设备的作用相控阵检测设备时超声波相控阵检测的主体设备,它的作用是通过改变相控阵探头晶片的激发接受延迟产生超声波,同时将探头送回的电信号进行放大,通过一定图像方式显示出来,从而得到被检测工件内部有无缺陷及缺陷位置和大小等信息。
2、相控阵检测设备系统结构超声相控阵检测设备主要包括超声发射部分和接收部分,目前国内外大型超声检测设备的系统设设计方案主要有三种:发射与接收分离系统;发射与接收集成且发射与接收板集成和发射与接收集成但是发射与接收板级分离。
它们的优缺点如下所示。
数字相控阵超声成像检测系统是一个复杂的系统,通道数多,而且通道之间一致性要求很高,为了较高的综合指标,采用发射与接收集成但是发射与接收板级分离的方案。
板卡之间通过总线相连。
总线的带宽对于系统的性能也有着较大的影响,也是系统设计的关键之一。
目前仪器系统中采用的总线主要有PXI总线和VXI总线。
表4-1 PXI总线与VXI总线对比PXI VXI 总线宽度32/64b32b数据交换能力132/328Mb/s40/80Mb/s 集成度高高接口开发方便方便价格低高4.1.2 数字相控阵超声成像检测硬件系统数字相控阵超声成像检测的硬件系统,其内容包括相控阵超声发射和接收电路、前置放大与阻抗转换、程控放大、滤波与检波、A/D转换、同步与相位延迟控制、程控与逻辑控制等硬件。
图4-1 数字相控阵超声成像检测硬件系统4.1.2.1 数字相控阵超声发射电路(1)发射电路有较高的发射效率。
原因是相控阵超声系统的通道数比较多,系统的发射功率和散热是一个非常重要的问题。
相关研究表明,当探头的激励脉冲宽度为探头中心频率对应周期的一半时,发射电路的发射效率较高。
由于检测不同的工件需要使用不同频率的探头,为保证系统较高的发射效率,在设计相控阵超声发射电路时,需要所设计的发射电路能够调节激励脉宽。
(2)由于相控很超声检测对通道之间的一致性要求比较高,因此要求发射电路通道间一致性好,易于模块化,便于系统的调试与维护。
(3)可以用聚焦扫描成像,可以实时成像。
系统的重复频率是决定系统的诚心想最高速度的因素之一,因此发射电路的最高重复频率也是衡量发射电路的重要指标之一。
为了充分利用相控阵高效的电子扫描特点,要求相控阵发射电路具有较高的重复频率,以提高成像检测的速度。
(4)具有发射时间控制和激励脉宽的全数字化控制。
4.1.2.2 数字相控阵超声接收电路(1)前置放大器前置放大器要求输入阻抗与阵列换能器的输出阻抗相匹配。
前置放大器的输入阻抗大于压电晶片的输出阻抗,前置放大器获得的输入信号电压就基本上等于超声换能器压电芯片的空载输出信号电压,信号电压的损失很小。
另一方面,前置放大器的输出阻抗要小,即在敖征输出信号电压不降低的条件下,能输出较大的信号电流,后级放大电路可以采用低输入阻抗的设计,这话总设计有利于抑制噪声,提高系统的信噪比。
(2)主放大器主放大器在前置放大器后面。
主放大器的功能是将超声回波信号放大到适用于后面A/D 转换芯片的输入模拟电压范围。
主放大器大都采用增益由计算机控制的程控放大器。
程控放大器接在前置放大器之后,为使超声波检测仪器具有足够的灵敏度,能够接受到微弱的超声回波信号,一般超声接收通道的总增益设计为120dB,又为了让信号幅值较高的超声信号也能进入接收通道并数字化,主放大器还应有-40dB的负放大(就是缩小信号幅值)功能。
(3)滤波器滤波器在接收通道的作用是滤去超声信号频率带宽以外的信号,以提高超声接收信号的信噪比。
数字仪器的特点就是信号处理(包括滤波、去除噪声以及检波等)都在模拟信号经A/D转换成数字信号后进行,数字滤波由数字信号处理器完成,实现更窄的带通滤波。
接收信号的检波处理也是有数字信号处理器完成,可以实现正半波、负半波和全波检波。
(4)A/D转换电路A/D转换电路是接收通道中重要的组成部分,将超声回波的模拟信号经放大和初步滤波后转换成数字信号,随后进行信号存储、进一步信号处理、信号成像、信号及图像显示等操作。
一般A/D转换器的输入阻抗不高,以抑制噪声,所以事先采用运算放大器结成阻抗变换电路,用正端输入,以提高输入阻抗,输出为有源输出,阻抗低。
一般接收信号中的噪声都是在接收通道的模拟信号途径中混入的,A/D转换电路部分尤其容易混入噪声。
在进行A/D转换电路设计时可采用一些措施减少噪声的混入,如可在电源部分采用电感去耦等就是减少噪声混入的措施之一。
(5)缓冲存储器一般数字超声成像检测系统的缓冲存储器采用静态随机存储器(static random access memory,SRAM),其作用是暂时存储经过A/D转换后的数字化超声接收信号,以被进行下一步信号处理或直接被送入计算机内存进行进一步处理。
(6)数字信号传输逻辑控制数字信号传输的逻辑控制包括A/D转换,将数字信号送往缓冲存储器,或送往信号处理器等都要经过一定的逻辑过程才能完成,控制这个过程的是采用复杂可编程逻辑器件。
4.1.3 相控阵超声成像检测系统的同步与相位控制4.1.3.1 相控阵超声成像检测系统的同步相控阵超声成像检测时,通过控制超声阵列换能器各个阵元的发射/接收相位,实现对检测声束的片准、聚焦控制。
系统的同步是实现系统各阵元相位控制的基准,只有保证系统稳定可靠的同步,才能实现系统的精确相位控制。
系统同步方案主要有局部同步和全局同步方案,其优缺点如表4- 2所示。
表4-2局部同步与全局同步优缺点对比局部同步方案的系统同步信号只有同步触发信号,没有同步时钟信号,不同板卡内部有各自独立的时钟。
这种方案时钟间的误差会累计并扩散,因此不适合同步要求较高的系统。
全局同步方案中系统同步信号包括同步触发信号和同步时钟信号,不同板卡使用相同的时钟。
全局只有一个时钟信号,不存在误差的累计与扩散,因此同步精度较高。
由于相控阵超声成像检测系统要求严格相位控制,系统的同步性要求高,而且工业检测尤其是在线检测时,系统需要长时间运行,时钟误差的积累可能导致相位控制的失败,因此相控阵超声成像检测系统适用于采用全局同步方案。
4.1.3.2相控阵超声成像检测系统的相位控制(1)相控阵超声成像检测系统时间延迟控制精度相控阵超声检测系统的时间延迟控制精度对系统检测分辨率有重要影响,是衡量系统的重要指标之一。
这是因为由于相位控制是通过时间延迟实现的,时间延迟控制精度决定了系统的相位控制精度。
1)时间延迟精度与系统对比度分辨率关系相控阵超声成像检测系统的声束延迟控制不是连续的,而是离散的,存在截断误差。
D.K.Peterson等人的研究表明,系统的时间延迟控制误差将会产生相位控制误差,而相位误差将导致声束产生误差旁瓣,从而影响系统的对比度分辨率。
根据他们的研究,当时,该误差旁瓣与声束主瓣幅值之比可以用式(4-1)描述(式4-1)式中N----实际检测时超声阵列换能器的阵元数目;----中心频率所对应一个周期与延迟控制精度之比。
图4-2是超声阵列换能器阵元数8、16、32、64、128时,由于相位控制误差产生的误差旁瓣与相位控制精度的关系图。
从图中可以看出:在相位控制精度相同的情况下,随着N增加,误差旁瓣逐渐减小;在N相同的情况下,随着相位控制精度的提高,误差旁瓣逐渐降低。
因此在实际系统设计中,必须保证系统的时间延迟控制误差产生的误差旁瓣低于系统要求的对比度分辨率。
图4-2相位控制精度与误差旁瓣的关系2)时间延迟精度与系统空间分辨率关系系统时间延迟控制精度还与系统的空间分辨率密切相关,因为时间延迟控制精度直接影响声束的偏转和聚焦控制。
①时间延迟精度与系统焦点控制精度关系系统的时间延迟控制精度会影响系统焦点的控制,包括焦点在纵向的控制分辨率和系统的最大焦距。
焦点在纵向的控制分辨率是指系统所能聚焦的最远距离,如图4-3所示。
系统的最大焦距是指系统所能聚焦的最远距离,如图4-4所示。
在有效聚焦区域内,由于系统时间延迟控制精度限制,有可能在焦点之间会出现焦点盲区,从而影响该区域的检测效果,影响了系统的空间分辨率。
最大焦距则限制了系统最大聚焦检测能力,从而影响系统的检测范围,它也是衡量检测系统的指标之一。
图4-3焦点在声束方向控制分辨率示意图4-4声束控制原理根据相关研究,声束在图4-4所示的P点聚焦时,以探头中心为参考点,当实际使用的阵元数N为奇数时,各阵元相对参考点的延迟时间(式4-2)式中,c----声速;F----焦距;θ----偏转角度;d----探头阵元间距;n----第n个阵元,n=0,,1,﹒﹒﹒,±当阵元数为偶数时,式(4-2)中的n应该为(n+0.5)如果不考虑声束偏转的影响,式(4-2)可以简化成(式4-3)考虑到实际系统中通常选取探头中心作为参考点,聚焦于最远处(最大聚焦处)时,要求离探头中心最远的阵元相对于探头中心的时间差等于时间延迟控制精度。
因此当N为奇数时,可以推导出时间延迟控制精度与最大焦距的关系为(式4-4)图4-5是根据式4-4计算得到的,在钢种声速c=5920m/s,N=15,d=1.0mm时,最大焦距与最低时间延迟控制精度的关系图。
从图中可以看出,当最大焦距为400mm时,系统时间延迟控制误差不大于10ns。
图4-5最大焦距与系统延迟控制精度的关系若选取探头中心作为参考点,当离探头中心最远的阵元相对于探头中心的时间差在数值上等于时间延迟控制精度,可以求得系统时间延迟控制精度与焦点纵向分辨率的关系。
对式4-3两边分辨对时间和焦距F微分,得(式4-5a)当阵元数为奇数时,将离探头中心最远的阵元的位置参数n=(N-1)/2带入式4-5a,得到系统时间延迟控制精度与焦点在纵向分辨率的关系(式4-5b)式4-5b表明系统时间延迟控制精度将影响焦点间距:由于系统的时间延迟控制精度有限,焦点之间并不连续,相邻焦点之间的间隔与实际使用的阵元数N、阵元间距d、焦距F 以及时间延迟控制精度有关。
当N、d、F一定时,相邻焦点的间隔与时间延迟控制精度成正比关系。
图4-6是根据4-5b在系统不同时间延迟控制精度的情况下,相邻焦点间距(焦点分辨率)与焦距关系,图中其他参数为:材料为钢(c=5920m/s),N=15,d=1.0mm。
从图中可以看出当=10ns,焦距为100mm时,相邻焦点的距离大约为17mm。
图4-6时间延迟精度不同时,焦距与相邻焦点间距的关系因此,在设计系统时,需要根据实际系统需要扫查的区域,结合焦深的大小,设计合适的时间延迟精度,以保证检测区域内可以实现任意点聚焦检测。
②时间延迟精度与声束偏转精度的关系声束偏转是通过相邻阵元施加心相同的延迟时间实现,相邻阵元的延迟时间与偏转角度θ和阵元间距d有关(式4-6)式中,c为声速。