表面的高分辨电子显微平面像的模拟
李树有
【期刊名称】《电子显微学报》
【年(卷),期】1997(000)003
【摘要】本文全面讨论了多层法用于表面的高分辨电子微平面像模拟计算中的各种影响因素以及需要注意的技术细节。
【总页数】1页(182)
【关键词】高分辨;电子显微学;表面正面成像法;成像条件
【作者】李树有
【作者单位】中国科学院金属研究所;中国科学院金属研究所
【正文语种】中文
【中图分类】TN16
【相关文献】
1.高分辨电子显微学的新进展——走向亚埃电子显微时代 [J], 李建奇
2.CoSi2薄膜与Si(001)界面的高分辨电子显微镜观察[J], 邢辉; 周鸥; 孙坚; 黄红伟
3.蓝宝石-硅(SOS)界面的高分辨电子显微象 [J], 褚一鸣
4.Bi系超导体中界面的高分辨电子显微术研究 [J], 姜建功
5.化学气相沉积金刚石薄膜/硅衬底界面的高分辨电子显微学研究 [J], 张泽
以上内容为文献基本信息,获取文献全文请下载