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纺织材料测试技术答案

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绪论部分:

1、什么叫光学分析法?光学分析法分为哪两大类。

光学分析法:利用电磁辐射作为“探针”来探测物质的成份、含量、结构和形貌。可分为:光谱法和非光谱法。

2、什么是光谱法?什么是非光谱法?

光谱法:当物质与辐射能作用时,物质内部发生量子化得能级之间的跃迁,并测量由此而产生的发射、吸收或散射的波长和强度。

非光谱法:如果物质同辐射相互作用时不包含能级之间的跃迁,电磁辐射只改变了传播方向、速度或某些物理性质,如偏振面得旋转等。

3、什么是电磁波的干涉和衍射?

电磁波的干涉:电磁波在一定条件下能相互作用,当两个波迭加时所形成的波,它的强度可以增大,也可以减小。

电磁波的衍射:电磁波按照直线方向传播,当光束通过一狭缝或窄孔时,它的一部分会出现在阴影中,光的传播方向似乎发生了弯曲的现象。

4、什么是电磁波的频率和波长?单位?

电磁波的频率:当空间某点的电场(或磁场)每秒钟到达正极大值的次数,等于周期P的倒数。单位:秒1-.

波长:波的相邻两极大或极小间的直线距离。所用单位随着不同的电磁波谱区而不同。最常用的单位有厘米,微米,纳米,埃。

5、普朗克定律是怎么表达的?辐射的光量子能量E与辐射的频率v有什么关系?

普朗克定律:辐射是由不连续的能量微粒所构成的,称光子或量子。把光的波动性与粒子性联系起来。辐射的光量子能量E与辐射的频率v有下列关系:v

=其中:h是普朗克

h

E?

常数,34

?J/sec

.6-

10

63

6、纺织材料分析常用电磁波的波长范围是什么?

波长在1-1000m 核磁共振可以测量纤维分子链段运动特征和纤维的结晶度。

波长在0.76μm-1000μm 红外线可测基团及含量。

波长在0.1-10nm的X射线可以测试纤维微观结构。

X射线衍射部分:

1. X射线是如何产生的?

用某种方法获得自由电子,使在高压电场下加速,加速了的具有一定能量的电子,直接打在阳极靶面上,于是从靶面上发射出来的光即是X射线。

2、X射线谱由哪两部分组成?

连续X射线谱和特征X射线谱。

3、连续X射线谱是如何产生的?什么是短波限?强度最大的X射线在何处?

能量为1eV的电子与阳极靶原子相碰撞,失去能量,一部分以光子形式辐射,每碰撞一次产生一个能量为1hν的光子,这样的光子流即为X射线,单位时间内到达极靶的电子数目是极大量的,有些经过一次碰撞耗尽全部能量,绝大多数电子要经历多次碰撞逐渐损耗自己能量,每个电子每经历一次碰撞产生一个光子,多次碰撞产生多次辐射,多次辐射中各个光子能量不同,即出现一个连续X射线谱。

短波限:当光子能量等于电子能量时,X 射线波长的最小值。在1.50λ处。

4、特征X 射线谱是如何产生的?K α的强度和K β的强度是怎样的关系?

特征X 射线谱由一定波长的若干X 射线谱线组成,是由电子从高能级向低能级跃迁时以光子形式辐射出来的。K α的强度是K β的强度的5倍。 5、特征X 射线取决于什么?

特征X 射线谱的频率和波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构,而与其它的外界因素无关,它

是物质的固有特性。

6、什么是X 射线的吸收?什么光电效应?什么是俄歇效应?

X 射线的吸收:X 射线能量在通过物质时,转变为其他形式的能量。即发生能量的损耗。有时

候也把X 射线的这种能量损耗称为真吸收。

光电效应:以光子激发原子所发生地激发和辐射过程。

俄歇效应:X 射线与物质相互作用,X 射线的部分能量转化为具有能量的俄歇电子能量的过程。 7、什么是K 吸收限?

物质吸收X 射线是使原子中的某些电子改变其量子状态,当X 射线波长加长,X 射线光量子能量下降,当下降到某一数值,不能将物质中原子的K 层电子激发到高能级,这时吸收系数就会突然下降,突然下降的波长称K 吸收限K λ。

8、X 射线衍射用X 射线波长的选择原则是什么?

把靶材元素的特征X 射线的波长大于或远小于样品中各元素的K 吸收限,使产生荧光的几率较小。一般,靶材元素的原子序数应比样品中元素的原子序数大4或5以上。

9、X 射线相干散射的条件是什么?

答:频率相同,方向相同,位相相同或位相差恒定。

10、Thomson 公式的含义是什么?

答:Thomson 公式:

2

2

4

2

402

)

2(cos 1θ+*

***

=R

c m

e I I

p

,其中

2

26

4

2

4

/10

94.7cm c

m

e -?=*,

它表明:一束非偏振的入射x 射线经过电子散射后,其散射强度在空间各个方向上是不相同的。沿原X 射线方向上的散射强度(当2θ=0,或2θ=π时),比垂直于原X 射线方向的强度(当2θ=2

π

时)大一倍。

11、什么是康普顿效应?

答:当x 射线光子作用到物质的原子外围的束缚力不大的外层电子,或自由电子时,会将它们冲撞到另一方向,同时x 射线光子本身也离开原来的方向。由于散射线波长大于入射线波长,并且两波的位相之间没有相互关系,所以是不相干的。

12、理想的晶体是如何定义的?什么是单晶体?什么是多晶体?

答:晶体是由许多质点在三维空间作有规则排列而成的固体物质。单晶体是由同一个空间点阵贯穿于整个晶体,具有规整外形。多晶体是由许多取向机遇不同的单晶体小颗粒聚集而成。

13、晶体具有哪些共同的性质?

答:熔点一定;能自发地形成规则的多面体外形;各向异性;均匀性,即一块晶体各部分的宏观性质相同。

14、晶体有几个晶系?分别写出各个晶系的名称和晶胞特征。

答:根据阵点常数的不同可将晶体分成7个晶系。分别是立方晶系,正方晶系,斜方晶系,菱方晶系,六

方晶系,单斜晶系,三斜晶系。

15、什么是晶面指数?什么是晶面间距?

答:在晶体学中结点平面的空间取向称为晶面指数;晶面间距是指两个相邻的平行晶面的垂直距离。

16、几个常见简单晶系的晶面间距计算。

答:立方晶系的面间距公式为:2

2

2

l

k

h

a

d ++=

;正方晶系2

22

2

2

1

c

l a

k h

d +

+=

斜方晶系2

2

2

1

??

? ??+??? ??+??? ??=

c l b k a h

d ;六方晶系:

d =

菱方晶系()()()

α

ααααcos cos

2)(sin )

(cos 2)(cos 312

2

2

2

2

3

2

-++++++-=hl kl hk l

k

h

a d

17、各个晶体点阵的结点数和结点坐标。

18.什么是等同晶面?

在同一晶体点阵中,有若干组晶面可以通过一定的对称变换重复的晶面叫等同晶面。 19.布拉格定律是如何表达的?满足布拉格定律条件的都能实现X 射线的衍射吗?

布拉格方程:2dsin θ=n λ。布拉格定律是X 射线衍射必须满足的基本条件,而不是充要条件,在晶体中产生衍射的波长是有限度的,有布拉格定律可知,n λ≤2d ,当n 等于0时,无法观测到衍射,所以在可观测的衍射角下,λ<2d 。但波长过小,已难以观察,故通常X 射线的波长范围:2.5~0.5 ?。当波长一定时,晶面距离必须满足d >λ/2。 20.衍射和反射的根本区别是什么?

衍射是波的干涉的结果,反射没有发生干涉。

21.什么是晶体点阵?什么是倒易点阵?晶体点阵和倒易点阵是什么关系?

晶体具有空间点阵式周期性结构,由晶体结构周期规律中直接抽象出来的点阵,称为晶体点阵。倒易点阵是在晶体点阵的基础上按照一定的对应关系建立起来的空间几何图形。 22.如何利用倒易点阵确定衍射线的方向?

当入射X 射线射到晶体上时,若沿X 射线入射方向通过倒易点阵的原点O 画一直线,在直线上找一点为圆心S ,以λ

-1

为半径画一圆,时期和O 点相交,当倒易点阵和点P 和圆周相遇时,圆心S 和P 点的连线

方向即为衍射方向。

23.什么是反射球?产生X 射线的几何条件什么?

见22,以OA 为轴旋转,把平面扩展成一个立体球面,这种球面即为反射球。满足X 射线的几何条件为:sin θ=OP/AO=(1/d hkl )/(2/λ)。

24.X 射线的衍射的方法有哪几种?对纺织纤维材料一般采用什么方法? 粉末法、转动晶体法、X 射线衍射仪法。纺材一般用X 射线衍射仪法。 25.X 射线衍射仪主要有哪几部分组成?

X 射线发生设备、测角仪、计数管以及电子记录设备。

26、X 射线衍射图的纵坐标和横坐标分别是什么?各表示什么含义? 27、简单点阵、体心点阵和面心点阵的结构因素是如何计算的?

简单点阵:每个晶胞只有一个原子a ,其位置在原点上,坐标为(0,0,0),f a 为其原子散射

因素,则其结构因素为:F=f a e 2)

0(i = f a

F2=2

a f 表明

︳F ︳2

与晶面指数无关,所有面均有反射,且具有相同的结构因素。

体心点阵:单位晶胞有两个原子,坐标分别为(0,0,0),(

2

1,

2

1,

2

1)

F= ]1[..f )

()

2

(

2)

0(2l k h i a l k h i a i a e

f e f e

+++++=+πππ

当h+k+l=偶数时, 因为i

e

π2=i

e

π4=i

e

π6=1

所以F= f a (1+1)=2 f a F 2=42

a f 当h+k+l=奇数时, 因为i

e π=i

e

π3=i

e

π5=-1

所以F= f a (1-1)=0 F 2=0 所以(110)(200)(211)(211)……均有反射,(100)(111)(210)(221)……无反射

面心点阵:

28 X 射线的角度因素是如何变化的?什么样的角度衍射最强?

角度因素

θθθcos sin

2co 12

2

s +=

角度因素随着θ角的变化而变化。在中等角度的反射强度比低角度或高角度要弱的多。 29. 多重性因素如何影响X 射线衍射的强度?

多晶体某衍射环的强度与参与衍射的晶粒数成正比,因此,在其他条件相同的情况下,多晶体中某种晶面的等同晶面数目越多,这种晶面获得衍射的机率就越大,对应的衍射线也必然越强。这一影响在X 衍射强度公式中是以多重性因数P 出现的。

I 相对=

A

e

f P M

..cos .sin

2cos 1.

.22

2

2

-+θ

θθ

多重性因数P 的数值,随晶系和晶面指数而变化。

30、常见的纺织纤维如纤维素纤维、蛋白质纤维、聚酯纤维、聚酰胺纤维、聚丙烯纤维等各属于什么晶系?晶胞参数是多少? 纤维素纤维:单斜晶系; 蛋白质纤维: 聚酯纤维:三斜晶系 聚酰胺纤维:三斜晶系

聚丙烯纤维:α为单斜晶系,β为六方晶系 31天然纤维素纤维的结晶度指数是如何测定的? 用segal 公式计算天然纤维素的结晶度指数。 CI=

%100002

m

002?-I I I

CI 是相对结晶度

m I θ2=18°时,无定形衍射强度,即与(101)间最低强度 002

I (002)晶面衍射强度。

32 如何用强度差法求结晶度指数?

用强度差法计算结晶度指数。使用一个结晶度很低的非结晶参比样品和一个结晶度很高的结晶参比样品。

33 如何用X 射线衍射的方法测定纤维的取向度?

原理是:假定微晶粒在纤维试样中的分布,可以用微晶粒中某些晶面族的取向分布来表示,而晶面族在不同方位取向的数量,与该晶面相应的衍射线的强度分布,则可以推求出微晶粒长轴的取向分布和平均取向度。测定取向度,是用单色x 射线,垂直照射伸直平行的纤维束试样,用照相机法和衍射仪法莱记录衍射线。用衍射仪法时,将试样架上的纤维束试样,由垂直到某一角度连续缓慢地转动,测出I(?

)曲线,或用

每转动一定的角

?

测出强度,然后将I 对

?

作图,得到I(

?

)的分布曲线。

34如何用取向度指数表示纤维的取向度?

用强度较高的某一赤道上的反射弧,作为取向度指数的测量。最常用 的取向度指数是取向强度分布曲线I(

?

)曲线中最大强度值的一半处的位相角宽度h 来表示。取向度指数R 可以由以下式求得

R=

π

πh

-

当完全取向时,衍射强度最大值位相角宽度在理论上应该等于零,此时,R=1; 当完全混乱排列而无择优取向时,h=π,则R=0。

紫外和红外分光光谱法部分:

1、构成物质的分子的主要运动有哪些?各属于什么能级?要产生能级跃迁需要能量多少?

分为:1.价电子运动 电子能级 1-20ev 2.分子内原子在其平衡位置附近的振动 振动能级 0.05-1ev 3.分子本

身绕其重心的转动 转动能级 <0.05ev 。 2、什么是分子跃迁的选律?

并非每一个能级都能产生跃迁,跃迁是有一定规律的,分子跃迁的这个规律叫做旋律。亦即,分子跃迁一定要有偶极矩的变化,这一点使观察到的光谱大为简化。 3、什么是电子光谱的谱带系?谱带?谱线?

电子光谱一般包含有若干谱带系,不同的谱带系相当于不同的电子能级的跃迁。 一个谱带系含有若干谱带,不同的谱带相当于不同的振动能级的跃迁。 同一谱带内包含有若干光谱线,每一条线相当于转动能级的跃迁。 4、摩尔吸收系数的计算。

ε:摩尔吸收系数是浓度1mol/l 的溶液在1cm 光路的吸收池中,在一定波长下测得的吸光度,它表示物质

对光能的吸收强度,是各种物质在一定波长下的特征常数,因而是检定化合物的重要数据。

l cl

M

W

A A =

=

ε

5、电子跃迁有哪几种类型?各种电子跃迁所需能量大小次序是怎样的?

1.电子从基态(成键轨道)向激发态(反键轨道)的跃迁。包括*σσ→跃迁和*ππ→跃迁。

2.杂原子未成键电子被激发向反键轨道的跃迁,包括*σ→n 跃迁和*π→n 跃迁。

3.分子中电子逐步激发到各个高能级,然后电离成分子离子的跃迁。

*

σ

σ→>*

σ

→n ≥*ππ→>*

π

→n

6、什么是发色团?什么是助色团?什么是向红移动和向紫移动?

发色团:凡能吸收紫外光或可见光而引起电子跃迁的基团叫做发色团。助色团:能使吸收峰向长波移动的带杂原子的饱和基团,叫做助色团。吸收峰向长波移动的现象称向红移动。吸收峰向短波移动的现象称向紫移动。

7、紫外吸收带一般分为哪几种?它们分别是由什么跃迁产生的吸收带? 1.R 吸收带:由化合物的*π→n 跃迁产生的吸收带。 2.K 吸收带:有共轭的*ππ→跃迁产生的吸收带。

3.B 吸收带:这是芳香族化合物的特征吸收带,出现振动的精细结构的吸收。

4.E 吸收带:也是芳香族化合物的特征吸收带,两个吸收峰,分别为E1带和E2带。 8、紫外吸收光谱有哪些具体的应用?

1.检定物质

2.检查纯度,借紫外吸收光谱能测定化合物中含有微量的具有紫外吸收的杂质。

3.推测化合物的分子结构,主要作用是推测功能团,结构中的共轭关系和共轭体系中取代基的位置、种类和数目等。

4.定量分析,基于比尔-郎伯特吸收定律:l c ??=εA 。即物质在一定波长处的吸光度与它的浓度成正比。 9、什么是红外活性的?什么是非红外活性的?氧气、氮气、二氧化碳、水汽等是否是红外活性的?为什么?

红外光谱中,能引起偶极矩变化的振动成为红外活性的,不能引起偶极矩变化的振动称为非红外活性的。

非极性分子氧气、氮气是非红外活性的,由于正负电荷中心重合,偶极矩为零,在振动时偶极矩保持不变,不能与外加电磁波发生作用,没有红外吸收产生,因此是非红外活性的。

二氧化碳和水正负电荷中心不重合,当分子振动时,原子间距随之变化,因而引起偶极矩改变,所以是红外活性的。

10、已知力常数求波数。 μ

πσk

c

21=

C —光速,k —力常数(键的弹性系数),μ—原子的折合质量

11、什么是基频吸收?什么是倍频吸收?什么是合频吸收?

在正常情况下,分子大都位于基态(n=0)振动,因而分子吸收电磁辐射主要是相应于由基态到第一激发态(n=1)之间的跃迁。由这种跃迁所产生的吸收成为基频吸收。

非线性谐振子,除了基频跃迁外,由基态到第二激发态(n=2)或第三激发态(n=3)之间的跃迁,其对应的谱带称为倍频吸收。

和频和差频统称为合频。和频是指在光谱中所产生的谱带频率是两个基频频率之和。差频吸收的过程是指一个振动模式(v m)由基态跃迁到激发态,另一个振动模式(v n)由激发态回到基态。

12、几个简单分子的简正振动数计算。什么是简并?

含N个原子分子的简正振动数目有可能少于3N-6(非线型)或3N-5(线型)

简正振动中,两种振动完全相同时(振动频率相同),这两种振动在光谱中称为振动的简并。

13、红外吸收带的产生与吸收带的数目与什么有关?

红外吸收带的产生与分子的对称类型有关,红外吸收带的数目与简正振动的简并度有关。

14、什么是基团判别区?什么是分子指纹区?

基团判别区:对高分子物来说,含氢基团和多键原子伸缩振动形成的4000—1300 cm-1 间高频区,其特征性强,与基团振动有较明确关系。分子指纹区:1300—850 cm-1单键骨架的伸缩振动和各种弯曲振动,其力学常数较小,频率较低,受分子其余部分影响很大,相距又极近,谱带与基团之间很少有明确对应关系,但与整个分子的结构特征有关,不同分子在此频率区有不同的吸收特征。用于鉴别结构类似的化合物。

15、几个主要基团的特征吸收带。

16、红外分光光谱法常用的制样方法有哪些?各适用什么试样?

液态试样:密封液槽后进行分析。固态试样中1.卤化物压片法:最广泛使用的是溴化钾压片法。2.糊状法:不适于做定量分析,试样难以回收。3.薄膜法:所选溶剂要易于挥发。4.衰减全反射法:适用于纤维、纺织品和涂层。

17、纺织材料常用什么制样方法?

纺织材料一般使用衰减全反射法制样。

18、几种常用纺织材料的红外吸收光谱图。

P86

电子显微镜部分:

1.光学显微镜的极限分辨率是多少?是根据什么计算得到的?

2000A 左右,根据下式d=αλ

sin n 16.0计算得到。(n 是折射系数,α是透镜孔径角之半) 2.紫外线显微镜的极限分辨率可以达到多少?为什么?

由于紫外线的波长只能限于2500到2000之内,因此极限分辨率为1000A 3.X 射线能否作为电子显微镜的光源?为什么?电子波长是由什么决定的? 不能,因为找不到能使X 射线汇聚的透镜。电子的波长取决于他们的速度。 4.什么是磁透镜?电子透镜的物距,像距,焦距和放大倍数之间有什么关系?

能产生旋转对称非均匀磁场的磁极装置叫做磁透镜。关系:当透镜像距L2一定时,透镜像的放大倍数与焦距f 成反比;当透镜物距L1≥2f 时,透镜像放大倍数M ≤1;当透镜物距f <L1<2f 时,透镜像放大倍数M >1。

5.电磁透镜的放大倍数可以通过什么来调节? 可以通过透镜电源电子线路的调节来改变放大倍数。

6.什么是球差,象差和色差?

球差是由于电磁透镜中心区域和边缘区域对电子会聚能力不同而造成的;像散是由于透镜的磁场轴向不对称所引起的一种像差;色像差(色差)是由于电子能量不同而引起的。 7.引起电子束能量变化的主要原因是什么?如何减小色差?

引起电子束能量变化的原因主要有两个:一是电子加速电压不稳定,使得电子束能量相应发生变化。二是当电子书照射试样时,和试样相互作用,一部分电子发生非弹性散射,致使电子能量发生变化。使用薄试样和用小孔光阑将散射角大的非弹性散射电子束挡掉,有助于减小色差。 8.电子显微镜光阑的最佳尺寸是如何确定的?

光阑的最佳尺寸应该是球差和衍射两者所限定的分辨距离彼此相等的值。 9、什么是电子透镜的场深和焦深?

所谓场深是指在保持像清晰度的前提下,试样在物平面上沿镜轴可移动的距离,或者说试样超越物平面所允许的厚度。

所谓焦深是指在保持像清晰度的前提下,像平面沿镜轴可移动的距离,或者说观察屏或照相底板沿镜轴所允许的移动距离。

10、透射电镜一般有哪几部分组成? 1.电子光学系统

照明部分:电子枪、阳极、聚光镜

成像放大部分:试样室、物镜、中间镜、投影镜 显像部分:观察室、观察屏、照相装置(电视装置) 2.真空系统;3.供电系统

11、为什么电子显微镜必须抽真空?

为了保证电子在整个通道只与试样发生相互作用,整个电子通道(从电子枪至照相底片盒)都必须置于真空系统之内。一般真空为10-4—10-6陶。 如果真空度不够,就会出现下列问题:

1.电子与空气分子碰撞发生散射,出现空间电荷效应,导致通常所说的“高压加不上去”;

2.电子与空气分子碰撞,影响成像衬度;

3.控制极与阳极间空气分子因高压电离,导致极间放气;

4.使炽热钨丝迅速氧化,缩短寿命。

12、电子束穿透固体样品的能力主要取决于什么?

电子束穿透固体样品的能力,主要取决于加速电压(或电子能量)和样品物质原子序数。 13、什么是弹性散射?什么是非弹性散射?什么是散射截面?

电子束在半径为r 的圆上遇到核力场,在圆周上便产生偏转。偏转的大部分可视为弹性散射,无能量变化;少部分受非弹性散射,产生连续的X 射线谱。

14、总散射截面与图象衬度有什么关系?如何提高电镜象的衬度?

)

(1B B A A t Q t Q B

A e

I I ---=?

制备复型的材料总散射截面Q 值越大,复型图像衬度越高。

由于投影金属或电子染色中较多金属渗入的部分,其散射截面Q A 总是比复型材料(塑料或碳)大得多,所以经过投影的复型图像衬度要比由单一材料制成的复型图像衬度高得多。 15、纺织材料的透射电镜试验一般采用什么方法制样?

目的:1.使所提供的式样能得到成像的讯号。2.使图像获得足够的衬度。 方法:1.纤维表面复型法;2.超薄切片法

16、为什么透射电镜需要超薄切片?超薄切片包括哪几项工作?

超薄切片法事对样品内部结构观察的最直接方法。用于透射电子显微镜的切片厚度必须在2000A 以下。 原因:1.因为电子穿透物质的能力非常弱。2.电子显微镜的场深大,若切片超出一定厚度,图像相互重叠,无法观察到内部结构。

超薄切片方法包括:包埋、切片和电子染色等工作内容。

17、与光学显微镜和透射电镜相比,扫描电子显微镜有什么优点?

光学显微镜虽可观察较大试样,但分辨率低,放大倍数与景深小;透射电镜虽有高分辨率和放大倍数,但对样品厚度要求苛刻。而扫描电镜弥补了二者不足,具有样品制备简单、分辨率较高、场深大、放大倍数连续可调等优点。

18、扫描电子显微镜的工作原理与透射电子显微镜有什么不同?

扫描电镜的工作原理:扫描电镜的主要组成包括:电子光学系统(电子枪、电磁透镜和样品室等),扫描系统(扫描信号发生器、放大控制器等电子线圈等),信号检测放大系统,图像显示和记录系统,真空系统以及电源系统等。

19、扫描电子显微镜的分辨率与透射电镜的分辨率有什么不同?

扫描电镜的分辨率有两重意义:对微区成分分析而言,它是指能分析的最小区域;对成像而言,它是指能分辨两点之间的最小距离。这两者主要取决于入射电子束的直径,但是不直接等于直径。 20、扫描电镜的放大倍率是如何计算的?

扫描电镜的发达倍率M 取决于显像管荧光屏尺寸S2和入射束在试样表面扫描距离S1之比,及

M=S2/S1

S2是固定的,放大倍率的变化是通过改变电子在试样表面扫描距离S1来实现的。 21、什么是扫描电镜的场深?扫描电镜适合何种试样的观察?

场深是指一个沿轴向的距离,当物改变这个距离时图像没有显著地模糊。 扫描电镜比光学电镜的场深大得多,特别适合用于粗糙表面的观察和分析。

22、扫描电子显微镜有哪几种工作方式?适用什么场合?最常用的是什么工作方式?

1.发射方式,适于表面形貌观察;

2.反射方式,显示表面形貌和现实元素分布状态以及不同成分区的轮廓;

3.吸收方式,显示试样表面元素分布状态和式样表面形貌,尤其试样裂缝内部的微观形貌;

4.透视方式,透射电子成像和显示成分分布;

5.俄歇电子方式,适合表层分析;

6.X 射线方式,波普仪或能谱仪进行微区元素定量分析;

7.阴极发光方式,有些物质在高能电子束轰击下便会发光;

8.感应信号方式,显示半导体绝缘体的表面形貌,晶体缺陷,P-N 结等。 最常用的是二次电子像。

23、扫描电子显微镜的试样是如何制备的?

1.真空镀膜法;

2.溅射镀膜法。

24、扫描电子显微镜形貌像的衬度是如何形成的?

表面形貌衬度是利用样品表面形貌变化敏感的信号作为调制信号得到的一种像衬度。

核磁共振部分:

1、 核磁共振用的电磁波波长范围是多少?这种电磁波与物质起什么作用?

答:范围约106 ~109μm ,是用频率为兆赫兹数量级的波长很长、能量很低的电磁波照射分子的,这相当于射频区,这是不会引起振动或转动能级的跃迁,更不会引起电子能级的跃迁,但这种电磁波能与暴露在强磁场中的磁性原子核相互作用,引起磁性的原子核在外磁场中发生磁能级的共振跃迁,从而产生吸收信号。

2、 自旋角动量P 值由什么决定?自旋量子数I 值有什么规律?

答:自旋角动量P 值由自旋量子数I 值决定。I=n/2,其中n 可以是零或整数。

1) 凡是原子序数与原子质量数两者都是偶数的核,其自旋量子数I=0。如

126

C ,168O ,

3216

S 等都是没有自旋的。因此没有核磁共振现象。

2)

原子序数是奇数的,而质量数是偶数的核,其自旋量子数为整数。如2

1H ,

147

N

等I=1。 3) 质量数是奇数的核,不问其原子系数是奇数还是偶数,其自旋量子数均为半整数。如1

1H 、13

6C 、15

7N 、19

9F 、31

15P 、等的I=1/2,而7

3L i 的I=3/2,17

8O 的I=5/2

3.什么是原子核的核磁矩,核磁矩与核磁共振有什么关系?

答:两磁极间的磁偶极的大小(即磁性大小)称为核磁矩,是一个矢量,方向与P 重合。 4. 从量子力学的观点看,发生核磁共振的条件是什么?观察核磁共振的现象有哪几种方法?

答:发生核磁共振的条件是:v=rH/2π

观察核磁共振的方法有扫频法和扫场法,一个是固定磁场强度H 而改变频率v ,一个是把电磁波的频率v 固定而改变磁场强度H 。

5.什么是弛豫过程?什么是纵向弛豫、横向弛豫?

答:弛豫现象是指在兆赫频率范围内,高能态的核回到低能态是通过非辐射的途径的过程。 纵向弛豫是自旋核与周围分子(固体的晶格,液体则为周围的同类分子或溶剂分子)交换能量的过程。

横向弛豫核与核之间进行能量交换的过程。

6.化学位移是如何产生的?化学位移有什么应用?化学位移用什么表示?化学位移是怎么测定的?

答:化学位移是由屏蔽作用引起的共振时磁场强度移动而产生的。

应用:根据化学位移的大小来了解氢核所处的化学环境,即了解有机化合物的分子结构。 化学位移用位移常数δ表示:()6

10

p p m -?=

?=

?6

υ

υ

υδ10υ

振荡器频率

式中:样

υ

、标

υ

分别是样品中氢核与标准物中氢核的吸收频率;

?υ表示吸收频率之差,即样品峰与标准峰之间的差距。

大多数质子的峰值在1~20ppm

化学位移的测定:一是扫频:()()

6

6

12121010

r H r H σπσπ

σσσσσ=-=---=

?=

?≈-?样

样标

6

标样

标样标

υ

υ

υ

υ

δ10()υ

1-

二是扫场:6

6

2r )2r )

1010

H H H H H πσπσσσσσσ=

=

--=

?=

?≈-?样样标标6

标样

标样

标样标

υ(1-υ(1-δ10()1-

7.什么是自旋裂分?有什么规律?偶合相互作用的一般规律是什么?

答:由自旋偶合引起的谱线增多的现象叫做自旋裂分。

8.核磁共振仪一般由那几部分组成的?一般采用什么工作方法? 答:核磁共振仪一般有磁铁、射频发生器、接收器(放大,检波)、按线性方式扫描的磁场、记录器等组成。一般采用扫场的工作方式。

9.如何解释核磁共振谱线,什么是屏蔽和反屏蔽效应?积分曲线与什么有关?

答:

图上有两条曲线,下面是共振曲线,上面是阶梯式曲线是积分曲线。

共振谱线是以高频能量的吸收强度作为磁场强度的函数标绘的。在谱图中,右边是高磁场,左边是低磁场,信号从左边移到右边叫做抗磁性位移,而这个效应叫做屏蔽效应;信号从右边移到左边,叫做顺磁性位移,而这个效应叫做发屏蔽效应。 积分曲线用来表示信号面积,而信号面积与各质子的数目成正比。 10、高聚物的核磁共振普有什么特点?如何反映是否有结晶区?

答:高聚物其组成中1H 占有重要的地位,由于1H 的磁性强,天然丰度高,因而用核磁共振法测定时灵敏度高。

11、核磁共振在纤维材料的研究中有哪些应用?

答:一是测量纤维分子链段运动特征;二是测量纤维的结晶度。

热分析技术部分:

1 纤维材料常用的热学分析技术有哪些?各测量什么物理量?

常用的主要有DTA,DSC,DMA,和TG技术

DTA,差热分析,测量物质与参比物的温度随程控温度变化的技术

DSC,差示扫描量热法,测量输入到物质和参比物之间的功率差随程控温度的变化的技术

DMA,动态热机械分析,测量物质在静载荷下长生的形变随温度变化的技术。

TG,热重法,测量物质质量随温度变化的技术

2 什么是差热分析?有什么应用?

差热分析是测量物质与参比物的温度随程控温度变化的技术,可用于纤维以下性能测试:

高聚物的玻璃化温度,在玻璃化转变时,由于热容改变使DTA的曲线平移,可以用作图得到交点的方法得到玻璃化温度;多重转变温度,在玻璃化温度以上,存在晶区部分的晶型转变和结晶动力学,这些可以通过DTA曲线出现峰值或曲线形态来反映;晶体熔点,可以从DTA曲线中的熔融峰顶温度直接得到;纤维分子的取向度。

3什么是差动分析法?有什么应用?

测量输入到物质和参比物之间的功率差随程控温度的变化的技术。可用于纤维以下性能测试:

高聚物的玻璃化温度,在玻璃化转变时,由于热容改变使DSC的曲线平移,可以用作图得到交点的方法得到玻璃化温度;多重转变温度,在玻璃化温度以上,存在晶区部分的晶型转变和结晶动力学,这些可以通过DSC曲线出现峰值或曲线形态来反映;晶体熔点,可以从DSC曲线中的熔融峰顶温度直接得到;结晶熔融热和结晶度,可从DSC测到的熔融峰面积直接得到;热物理性质参数,纤维材料的导热系数,可根据所测得DSC谱计算;纤维分子的取向度;鉴别纤维和混合比测量,在热分析图中熔融峰的不同位置,确定性能相近的两种纤维存在。并可根据熔触吸热峰或结晶放热峰的面积计算相应组分所占的比例而得到混合比。

4.什么是静态热机械分析法?什么是动态热机械分析法?有什么应用?

静态热机械分析法是测量物质在静载荷下长生的形变随温度变化的技术。可以测量高聚物的玻璃化温度,采用压缩式形变-温度曲线,以基线和转折线切线的交点来确定玻璃化温度。

动态热机械分析是测量物质在静载荷下长生的形变随温度变化的技术。可以用于测量高聚物的玻璃化温度,

在动态学普曲线中用tan 峰顶或最大斜率点的温度来确定玻璃化温度。

5 热重分析法的原理是什么?有什么应用?

热重分析法事测量物质质量W变化和温度T的关系,如果在程序升温的条件下不断记录试样质量的变化,即可得到典型热重分析曲线。一般可以观察到两到三个台阶。第一个台阶往往发生在100°以下。第二个阶段往往是试样内添加的小分子助剂。第三个阶段发生在高温是属于试样本体的分解,为主要阶段。为观察到每个阶段的失重速度和起始变化点,经常采用微分热重曲线分析。对于分解不完全的物质还有残留物。应用:热重法是评价纤维热稳定性的重要手段。分析纤维热稳定性的常用方法是测量纤维在等温条件下限位失重与时间的关系和测量温度逐渐升高时的失重率,动态测量时,纤维加热过程中的各个参数,如纤维的质量、升温速度以及周围大气条件等应为固定,才能加以比较。更为有效的是高解析热重分析技术。

(纺织行业)纺织品检测

纺织品检测 ========== 纺织品作为时尚产品的代表,虽然凭借时尚的概念可以轻易引起不理性的消费,但产品的质量、各项性能和遵守相关法规也是产品成功的重要因素。 宁波捷通提供纺织品的各项检测服务,出具ITS天祥/ TUV莱茵国际权威检测报告,为您的产品出口提供有力的保障! 检测服务专线:0574-******** 宁波捷通认证/ 邹小姐 【织物可燃性测试项目】 1. 普通织物的燃烧性能ASTM D1230,US CPSC 16 CFR PART 1610 ,CAN/CGSB-4.2 No. 27.5 2. 布料的燃烧速率(45度角)JIS L 1091 Method C,FTMS-191 Method 5908 3. 布料易燃性ISO 6941 EN 1103 4. 英国睡衣安全测试BS 5722,BS 5438 ,SI 1985 No. 2043 5. 澳洲儿童睡衣AS/NZS 1249 6. 瑞典成衣燃烧性能KOVFS 1985:5 7. 儿童睡衣DOC FF 3 US CPSC 16 CFR Part 1615,DOC FF 5 US CPSC 16 CFR Part 1616 8. 儿童睡衣燃烧性能EN 14878 9. 家具填充物防火测试California Technical Bulletin 117 10. 英国家具(防火及安全)条例SI 1988 No. 1324 ,BS 5852-2:1979,BS 5852-2:1982 11.家具—装潢家具可燃性的评价EN 1021-1, 2 12.地毯表面燃烧测试DOC FF 1 US CPSC 16 CFR Part 1630,DOC FF 2 US CPSC 16 CFR Part 1631 13.帐篷CPAI 84 14.毛毯ASTM D4151 15.汽车座垫防火测试FMVSS 302 ,GB 8410 16.汽车内饰防火测试ECE 44-Annex 4 17.美国带垫家具行动委员会UFAC Test Standard 18.床上用品燃烧性能BS EN ISO 12952-1, 2 ,EN ISO 12952-1, 2 ,NF EN ISO 12952-1, 2 19.表面燃烧BS 4569 20.非家用的衬垫类家具的阻燃性测试BS 7176:2007 21.窗帘及帘用织物的防火测试BS 5867:2008 22.防护衣防火测试BS EN ISO 15025:2002,BS EN 531 Code Letter A 23.聚乙烯塑料膜的燃烧测试CPSC 16 CFR 1611 24.美国加州床上用品填充物的阻燃测试California Technical Bulletin 604 (Draft) 25.睡袋的阻燃测试CPAI 75 ,ASTM F 1955 26.窗帘的防火性EN 1101 ,EN 1102 27.纺织品垂直方向试样易点燃性的测定ISO 6940,GB/T 8746 28.纺织品燃烧性能垂直方向火焰蔓延性能的测定ASTM D6413,GB/T 5456 29.服装织物燃烧性能测定EN 1103 30.纺织品和薄膜的燃烧性能测试(窗帘)NFPA 701:1989 31.帐篷织物燃烧性能测试BS 6341

现代材料测试技术期末测试题汇总

《材料现代分析测试技术》思考题 1.电子束与固体物质作用可以产生哪些主要的检测信号?这些信号产生的原理是什么?它们有哪些特点和用途? (1)电子束与固体物质产生的检测信号有:特征X射线、阴极荧光、二次电子、背散射电子、俄歇电子、吸收电子等。 (2)信号产生的原理:电子束与物质电子和原子核形成的电场间相互作用。 (3)特征和用途: ①背散射电子:特点:电子能量较大,分辨率低。用途:确定晶体的取向,晶体间夹角,晶粒度及晶界类型,重位点阵晶界分布,织 构分析以及相鉴定等。 ②二次电子:特点:能量较低,分辨率高。用途:样品表面成像。 ③吸收电子:特点:被物质样品吸收,带负电。用途:样品吸收电子成像,定性微区成分分析。 ④透射电子:特点:穿透薄试样的入射电子。用途:微区成分分析和结构分析。 ⑤特征X射线:特点:实物性弱,具有特征能量和波长,并取决于被激发物质原子能及结构,是物质固有的特征。用途:微区元素定 性分析。 ⑥俄歇电子:特点:实物性强,具有特征能量。用途:表层化学成分分析。 ⑦阴极荧光:特点:能量小,可见光。用途:观察晶体内部缺陷。 ①电子散射:当高速运动的电子穿过固体物质时,会受到原子中的电子作用,或受到原子核及周围电子形成的库伦电场的作用,从而 改变了电子的运动方向的现象叫电子散射 ②相干弹性散射:一束单一波长的电子垂直穿透一晶体薄膜样品时,由于原子排列的规律性,入射电子波与各原子的弹性散射波不但 波长相同,而且有一定的相位关系,相互干涉。 ③不相干弹性散射:一束单一波长的电子垂直穿透一单一元素的非晶样品时,发生的相互无关的、随机的散射。 ④电子衍射的成像基础是弹性散射。 3.电子束与固体物质作用所产生的非弹性散射的作用机制有哪些? 非弹性散射作用机制有:单电子激发、等离子激发、声子发射、轫致辐射 ①单电子激发:样品内的核外电子在收到入射电子轰击时,有可能被激发到较高的空能级甚至被电离,这叫单电子激发。 ②等离子激发:高能电子入射晶体时,会瞬时地破坏入射区域的电中性,引起价电子云的集体振荡,这叫等离子激发。 ③声子发射:入射电子激发或吸收声子后,使入射电子发生大角度散射,这叫声子发射。 ④轫致辐射:带负电的电子在受到减速作用的同时,在其周围的电磁场将发生急剧的变化,将产生一个电磁波脉冲,这种现象叫做轫 致辐射。 1)二次电子产生:单电子激发过程中,被入射电子轰击出来并离开样品原子的核外电子。应用:样品表面成像,显微组织观察,断口形貌观察等 2)背散射电子:受到原子核弹性与非弹性散射或与核外电子发生非弹性散射后被反射回来的入射电子。应用:确定晶体的取向,晶体间夹角,晶粒度及晶界类型,重位点阵晶界分布,织构分析以及相鉴定等。 3)成像的相同点:都能用于材料形貌分析成像的不同点:二次电子成像特点:(1)分辨率高(2)景深大,立体感强(3)主要反应形貌衬度。背散射电子成像特点:(1)分辨率低(2)背散射电子检测效率低,衬度小(3)主要反应原子序数衬度。 5.特征X射线是如何产生的,其波长和能量有什么特点,有哪些主要的应用? 特征X-Ray产生:当入射电子激发试样原子的内层电子,使原子处于能量较高的不稳定的激发态状态,外层的电子会迅速填补到内层电子空位上,并辐射释放一种具有特征能量和波长的射线,使原子体系的能量降低、趋向较稳定状,这种射线即特征X射线。 波长的特点:不受管压、电流的影响,只决定于阳极靶材元素的原子序。 应用:物质样品微区元素定性分析

材料分析测试技术-习题

第一章 1.什么是连续X射线谱?为什么存在短波限λ0? 答:对X射线管施加不同的电压,再用适当的方法去测量由X射线管发出的X射线的波长和强度,便会得到X射线强度与波长的关系曲线,称之为X射线谱。在管电压很低,小于20kv时的曲线是连续的,称之为连续谱。大量能量为eV的自由电子与靶的原子整体碰撞时,由于到达靶的时间和条件不同,绝大多数电子要经过多次碰撞,于是产生一系列能量为hv的光子序列,形成连续的X射线谱,按照量子理论观点,当能量为eV的电子与靶的原子整体碰撞时,电子失去自己的能量,其中一部分以光子的形式辐射出去,在极限情况下,极少数的电子在一次碰撞中将全部的能量一次性转化为一个光量子,这个光量子具有最高的能量和最短的波长,即λ0。 2.什么是特征X射线?它产生的机理是什么?为什么存在激发电压Vk? 答:当X射线管电压超过某个临界值时,在连续谱的某个波长处出现强度峰,峰窄而尖锐,这些谱线之改变强度,而峰位置所对应的波长不便,即波长只与靶的原子序数有关,与电压无关,因为这种强度峰的波长反映了物质的原子序数特征,故称为特征X射线,由特征X射线构成的X射线谱叫做特征X射线谱。 它的产生是与阳极靶物质的原子结构紧密相关当外来的高速粒子(电子或光子)的动能足够大时,可以将壳层中的某个电子击出,或击到原子系统之外,击出原子内部的电子形成逸出电子,或使这个电子填补到未满的高能级上。于是在原来位置出现空位,原子系统处于激发态,高能级的电子越迁到该空位处,同时将多余的能量e=hv=hc/λ释放出来,变成光电子而成为德特征X射线。 由于阴极射来的电子欲击出靶材的原子内层电子,比如k层电子,必须使其动能大于k 层电子与原子核的结合能Ek或k层的逸出功Wk。即有eV k=1/2mv2〉-Ek=Wk,故存在阴极电子击出靶材原子k电子所需要的临界激发电压Vk。 3、X射线与物质有哪些互相作用? 答;X射线的散射:相干散射,非相干散射 X射线的吸收:二次特征辐射(当入射X射线的能量足够大时,会产生二次荧光辐射); 光电效应:这种以光子激发原子所产生的激发和辐射过程;俄歇效应:当内层电子被击出成为光电子,高能级电子越迁进入低能级空位,同时产生能量激发高层点成为光电子。 4、线吸收系数μl和质量吸收系数μm的含义 答:线吸收系数μl:在X射线的传播方向上,单位长度的X射线强度衰减程度[cm-1](强度为I的入射X射线在均匀物质内部通过时,强度的衰减率与在物质内通过的距离x成正步-dI/I=μdx,强度的衰减与物质内通过的距离x成正比)。与物质种类、密度、波长有关。质量吸收系数μm:他的物理意义是单位重量物质对X射线的衰减量,μ/P=μm[cm2/g]与物质密度和物质状态无关,而与物质原子序数Z和μm=kλ3Z3,X射线波长有关。 5、什么是吸收限?为什么存在吸收限? 答:1)当入射光子能量hv刚好击出吸收体的k层电子,其对应的λk为击出电子所需要的入射光的最长波长,在光电效应产生的条件时,λk称为k系激发限,若讨论X射线的被物质吸收时,λk又称为吸收限。 当入射X射线,刚好λ=λk时,入射X射线被强烈的吸收。当能量增加,即入射λ〉λk时,吸收程度小。

材料分析测试技术A卷

一、选择题(每题1分,共15分) 1、X射线衍射方法中,最常用的是() A.劳厄法 B.粉末多晶法 C.转晶法 2、已知X射线定性分析中有三种索引,已知物质名称可以采用() A.哈式无机相数值索引 B.无机相字母索引 C.芬克无机数值索引 3、电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中能用于测试1nm厚度表层成分分 析的信号是() A. 背散射电子 B.俄歇电子 C.特征X射线 4、测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用的方法是() A.外标法 B.内标法 C.直接比较法 D.K值法 5、下列分析方法中分辨率最高的是() A.SEM B.TEM C. 特征X射线 6、表面形貌分析的手段包括() A.SEM B.TEM C.WDS D. DSC 7、当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将 另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生() A.光电子 B.二次电子 C.俄歇电子 D.背散射电子 8、透射电镜的两种主要功能() A.表面形貌和晶体结构 B.内部组织和晶体结构 C.表面形貌和成分价键 D.内部组织和成分价键 9、已知X射线光管是铜靶,应选择的滤波片材料是() A.Co B.Ni C.Fe D.Zn 10、采用复型技术测得材料表面组织结构的式样为() A.非晶体样品 B.金属样品 C.粉末样品 D.陶瓷样品 11、在电子探针分析方法中,把X射线谱仪固定在某一波长,使电子束在样品表面 扫描得到样品的形貌相和元素的成分分布像,这种分析方法是()

A.点分析 B.线分析 C.面分析 12、下列分析测试方法中,能够进行结构分析的测试方法是() A.XRD B.TEM C.SEM D.A+B 13、在X射线定量分析中,不需要做标准曲线的分析方法是() A.外标法 B. 内标法 C. K值法 14、热分析技术不能测试的样品是() A.固体 B.液体 C.气体 15、下列热分析技术中,()是对样品池及参比池分别加热的测试方法 A.DTA B.DSC C.TGA 二、填空题(每空1分,共20分) 1、由X射线管发射出来的X射线可以分为两种类型,即和。 2、常见的几种电子衍射谱为单晶衍射谱、、、高级劳厄带斑 点、。 3、透射电镜的电子光学系统由、、和四部分组成 4、今天复型技术主要应用方法来截取第二相微小颗粒进行分析。 5、扫描电子显微镜经常用的电子信息是、和 6、德拜照相法中的底片安装方法有、和 7、产生衍射的必要条件是 8、倒易点阵的两个基本特征是和 9、透射电镜成像遵循原理 三、名词解释(每题5分,共20分) 1、X射线强度 2、结构因子 3、差热分析

纺织品测试

纺织品检测 AOV 实验室通过 ILAC-MRA 协议,得到了世界上 40 多个国家实验室的互认,其中包括美国、 日本、加拿大、巴西和欧盟成员国等。 AOV实验室能根据行业的标准、规则和客户需求,为产品、原料及附件提供全面的检测服务,帮助客户最大限度减少贸易风险和保护生产商与消费者双方的利益。实验室以其专业的检测服务赢得了众多知名品牌、零售商和买家的认可。除了检测和验证服务,我们还提供各种培训服务,包括举办各类技术研讨会和有关产品标准、基本纺织 & 鞋 & 皮革知识、纺织品标签 & 鞋 & 皮革的研讨会等,与客 户共同分享最新的技术和检测标准的信息。 随着消费者绿色环保和健康安全意识的不断提高,越来越多的客户要求提供符合环保和健康安全要求的产品,特别是与皮肤或口腔直接接触的产品,如内衣、服装、毛巾、床上用品、鞋袜及其他卫生用品等。世界各地包括欧美发达国家和发展中国家都对此类产品制定出相当严格的国家标准及地区标准! AOV 凭借专业的技术人才及实验室设备,对产品进行检测、认证及咨询服务,针对不同的产品类型、出口国家及客户需求等,为客户提供全面的、优质的“ 一站式服务” 。 AOV纺织品检测产品范围有:纤维与纱线、织物面料、羽绒产品、成衣、防晒衣服、功能性衣 服、服装辅料、皮革、鞋类、其它检测等。

检测标准 Testing Standards:

纺织品物性检测: 纤维成分分析FIBER COMPOSITION ANALYSIS 1、 纤维定性分析Fiber Qualitative Analysis 2、 纤维定量分析Fiber Quantitative Analysis 3、 成衣成分分析Garment Composition Analysis 4、 水份含量Moisture Content/Regain 色牢度检测COLOR FASTNESS TESTS 1、 耐洗色牢度Washing 2、 摩擦色牢度Rubbing/Crocking 3、 汗渍色牢度Perspiration 4、 干洗色牢度Dry cleaning 10、 耐干热色牢度Dry heat 11、 耐酸斑色牢度Acid spotting 12、 耐碱斑色牢度Alkaline spotting 13、 耐水斑色牢度Water spotting

材料分析测试技术》试卷(答案)

《材料分析测试技术》试卷(答案) 一、填空题:(20分,每空一分) 1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。 2. X射线透过物质时产生的物理效应有:散射、光电效应、透射X射线、和热。 3. 德拜照相法中的底片安装方法有:正装、反装和偏装三种。 4. X射线物相分析方法分:定性分析和定量分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。 5. 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。 6. 今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。 8. 扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。 二、选择题:(8分,每题一分) 1. X射线衍射方法中最常用的方法是( b )。 a.劳厄法;b.粉末多晶法;c.周转晶体法。 2. 已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是(b)。 a.Co ;b. Ni ;c. Fe。 3. X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用(c )。 a.哈氏无机数值索引;b. 芬克无机数值索引;c. 戴维无机字母索引。4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(b)。 a.第二聚光镜光阑;b. 物镜光阑;c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。 a.球差;b. 像散;c. 色差。 6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是(a)。 a.高阶劳厄斑点;b. 超结构斑点;c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是(b)。 a.背散射电子;b.俄歇电子;c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是(c)。 a.以物镜光栏套住透射斑;b.以物镜光栏套住衍射斑;c.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、问答题:(24分,每题8分) 1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么 答:X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小 适中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一 个最佳厚度(t =

《材料分析测试技术》试卷答案

《材料分析测试技术》试卷(答案) 一、填空题:(20分,每空一分) 1.X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。 2.X射线透过物质时产生的物理效应有:散射、光电效应、透射X 射线、和热。 3.德拜照相法中的底片安装方法有: 正装、反装和偏装三种。 4. X射线物相分析方法分: 定性分析和定量分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。 5.透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。 6.今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。 8.扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。 二、选择题:(8分,每题一分) 1.X射线衍射方法中最常用的方法是( b )。 a.劳厄法;b.粉末多晶法;c.周转晶体法。 2. 已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是(b)。 a.Co;b. Ni;c.Fe。 3.X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用( c )。 a.哈氏无机数值索引;b. 芬克无机数值索引;c. 戴维无机字母索引。 4.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(b)。 a.第二聚光镜光阑;b.物镜光阑;c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。 a.球差; b. 像散; c. 色差。 6.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是( a)。 a.高阶劳厄斑点;b.超结构斑点;c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是(b)。 a.背散射电子; b.俄歇电子;c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是(c)。 a.以物镜光栏套住透射斑;b.以物镜光栏套住衍射斑;c.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、问答题:(24分,每题8分) 1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么? 答: X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小适 中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一个 最佳厚度(t =

纺织材料测试参考题

经漂染整理后的织物称为色织布。 [参考答案] 错误 [我的答案] 正确 试题2 纱织物是指织物的经纬其中之一用了单纱。 [参考答案] 错误 [我的答案] 错误 试题3 织物中经纬纱相互交织的规律和形式称为织物组织。 [参考答案] 正确 [我的答案] 正确 试题4 平纹组织是机织物三原组织中文错次数最多的组织。 [参考答案] 正确 [我的答案] 正确 试题5 织物密度是用来比较不同特(支)数纱线构成的织物紧密程度。 [参考答案] 错误 [我的答案] 错误 试题6 针织物的未充满系数可表示纱线粗细不同时针织物的稀密程度;此值越小,针织物越稀疏。[参考答案] 错误 [我的答案] 错误 试题7 针织物的密度用10cm内针织物的线圈数表示。 [参考答案] 错误 [我的答案] 错误 试题8 用两种或两种以上纤维混纺的纱线交织的织物称为混纺织物。 [参考答案] 正确 [我的答案] 正确 试题9 罗纹组织较纬平针组织的纬编针织物易脱散。 [参考答案] 错误 [我的答案] 错误 试题10 经平组织的针织物当纱线断裂后织物可纵向分离。 [参考答案] 正确 [我的答案] 正确 试题1 用uster均匀度仪测得的纱线不匀率是真正反映纱线的实际不匀率。 [参考答案] 错误 [我的答案] 错误 试题2

当纱线的线密度偏差为正值时,即为所纺纱线偏粗。 [参考答案] 正确 [我的答案] 正确 试题3 在棉纱特(号)数测定中,缕纱长度为1oom,缕纱的平均干重为G。棉纱公定回潮率为8.5%时,则缕纱实际特(号)数为10.85G。 [参考答案] 正确 [我的答案] 错误 试题4 当纱线的重量偏差为负值时,表示纱线实际重量大于设计重量。 [参考答案] 错误 [我的答案] 错误 试题5 纤维愈细,纱线的随机不匀率愈小。 [参考答案] 正确 [我的答案] 正确 试题6 当股线捻向与单纱捻向相反时,则股线的性质为结构稳定,手感较柔软,光泽较好。 [参考答案] 正确 [我的答案] 正确 试题7 混纺纱中纤维长度长而细的纤维向纱内转移。 [参考答案] 正确 [我的答案] 正确 试题8 随着纱线捻度不断增加,纱线强度也不断增加。 [参考答案] 错误 [我的答案] 错误 试题9 用定长制表示纱线细度时,一定长度的质量(特克斯、旦尼尔)值越大,纱线越细。 [参考答案] 错误 [我的答案] 错误 试题10 捻回角越大,纱线加捻程度越大。 [参考答案] 正确 [我的答案] 正确 试题11 捻系数越大,纱线加捻程度越大。 [参考答案] 错误 [我的答案] 正确 试题12 标准重量是指公定回潮率下的重量。 [参考答案] 正确 [我的答案] 正确

(完整版)材料分析测试技术部分课后答案

材料分析测试技术部分课后答案 太原理工大学材料物理0901 除夕月 1-1 计算0.071nm(MoKα)和0.154nm(CuKα)的X-射线的振动频率和能量。 ν=c/λ=3*108/(0.071*10-9)=4.23*1018S-1 E=hν=6.63*10-34*4.23*1018=2.8*10-15 J ν=c/λ=3*108/(0. 154*10-9)=1.95*1018S-1 E=hν=6.63*10-34*2.8*1018=1.29*10-15 J 1-2 计算当管电压为50kV时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能. E=eV=1.602*10-19*50*103=8.01*10-15 J λ=1.24/50=0.0248 nm E=8.01*10-15 J(全部转化为光子的能量) V=(2eV/m)1/2=(2*8.01*10-15/9.1*10-31)1/2=1.32*108m/s 1-3分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么? (1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射; (2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;

(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。 答:根据经典原子模型,原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上,在稳定状态下,每个壳层有一定数量的电子,他们有一定的能量。最内层能量最低,向外能量依次增加。 根据能量关系,M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差,K、L层之间的能量差大于M、L层能量差。由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差,所以K?的能量大于Ka 的能量,Ka能量大于La的能量。 因此在不考虑能量损失的情况下: CuKa能激发CuKa荧光辐射;(能量相同) CuK?能激发CuKa荧光辐射;(K?>Ka) CuKa能激发CuLa荧光辐射;(Ka>la) 1-4 以铅为吸收体,利用MoKα、RhKα、AgKαX射线画图,用图解法证明式(1-16)的正确性。(铅对于上述Ⅹ射线的质量吸收系数分别为122.8,84.13,66.14 cm2/g)。再由曲线求出铅对应于管电压为30 kv条件下所发出的最短波长时质量吸收系数。 解:查表得 以铅为吸收体即Z=82 Kαλ3 λ3Z3 μm Mo 0.714 0.364 200698 122.8 Rh 0.615 0.233 128469 84.13 Ag 0.567 0.182 100349 66.14 画以μm为纵坐标,以λ3Z3为横坐标曲线得K≈8.49×10-4,可见下图 铅发射最短波长λ0=1.24×103/V=0.0413nm λ3Z3=38.844×103 μm = 33 cm3/g 1-5. 计算空气对CrKα的质量吸收系数和线吸收系数(假设空气中只有质量分数80%的氮和质量分数20%的氧,空气的密度为1.29×10-3g/cm3)。 解:μm=0.8×27.7+0.2×40.1=22.16+8.02=30.18(cm2/g) μ=μm×ρ=30.18×1.29×10-3=3.89×10-2 cm-1 1-6. 为使CuKα线的强度衰减1/2,需要多厚的Ni滤波片?(Ni的密度为8.90g/cm3)。1-7. CuKα1和CuKα2的强度比在入射时为2:1,利用算得的Ni滤波片之后其比值会有什么变化? 解:设滤波片的厚度为t 根据公式I/ I0=e-Umρt;查表得铁对CuKα的μm=49.3(cm2/g),有:1/2=exp(-μmρt) 即t=-(ln0.5)/ μmρ=0.00158cm 根据公式:μm=Kλ3Z3,CuKα1和CuKα2的波长分别为:0.154051和0.154433nm ,所以μm=K

机械工程测试技术基础(第三版)试卷及答案集

机械工程测试技术基础(第三版)试卷集. 一、填空题 1、周期信号的频谱是离散的,而非周期信号的频谱是连续的。 2、均方值Ψx2表示的是信号的强度,它与均值μx、方差ζx2的关系是¢x2=H x2+óx2。 3、测试信号调理电路主要有电桥、放大、调制解调电路。 4、测试系统的静态特性指标有非线性度、灵敏度、回程误差。5、灵敏度表示系统输出与输入之间的比值,是定度曲线的斜率。 6、传感器按信号变换特性可分为组合型、一体型。 7、当Δó〈〈ó0时,可变磁阻式电感传感器的输出和输入成近似线性关系,其灵敏度S 趋于定值。 8、和差特性的主要内容是相临、相反两臂间阻值的变化量符合相邻相反、相对相同的变化,才能使输出有最大值。 10、系统动态特性在时域可用传递函数来描述,在复数域可用频率函数来描述,在频域可用脉冲响应来描述。 11、高输入阻抗测量放大电路具有高的共模抑制比,即对共模信号有抑制作用,对差模信号有放大作用。 12、动态应变仪上同时设有电阻和电容平衡旋钮,原因是导线间存在分布电容。 13、压控振荡器的输出电压是方波信号,其频率与输入的控制电压成线性关系。 14、调频波的解调又称鉴频,其解调电路称为鉴频器。 15、滤波器的通频带宽和响应时间成反比关系。 16、滤波器的频率分辨力主要由其带宽决定。 17、对于理想滤波器,滤波器因数λ=1。 18、带通滤波器可由低通滤波器(f c2)和高通滤波器(f c1)串联而成(f c2> f c1)。 19、测试系统的线性度和滞后度是由系统误差引起的;而重复性误差是

由 随机 误差引起的。 7、信号分析的过程主要包括: 信号加工 、 信号变换 。 9、在数据采集系统中,常采用 程序控制 放大器。 10、根据载波受调制的参数的不同,调制可分为 调频 、 调幅 、 调相 。 16、用滤波的方法从信号提取的频率成分越窄,即带宽越小,需要的时间就越 长 。 17、如信号的自相关函数为Acos ωη,则其均方值Ψx 2= A 。 18、低通滤波器对阶跃响应的建立时间T e 带宽B 成 反比 、,或者说它们之间的乘机是 常数 。 8、信号程选择性 决定着滤波器对带宽外频率成分衰阻的能力 1、周期信号的频谱是 离散 的,而非周期信号的频谱是连续的。 2、周期信号可按三角函数分解成下列形式: ) cos cos ()(001 0t n b t n a a t x n n n ωω++ =∑∞ = , ; sin )(;cos )(; )(2 /2 /022 /2/022 /2/1 0? ?? ---= = =T T T n T T T n T T T tdt n t x b tdt n t x a dt t x a ωω 8.周期信号()x t 的傅氏三角级数展开式中:n a 表示 余弦分量的幅值 ,n b 表示 正弦分量的幅值 ,0a 表示直流分量。 3、使信号中特定的频率成分通过,而衰减其他频率成分的电路称 滤波器 。 4、信号可分为确定性信号和 随机信号 ,也可分为模拟信号和 数字信号 。 5、滤波器的品质因素Q 与带宽B 的关系是 f Q B = 。 6、金属应变片是根据 应变效应 原理工作的。 7、当把石英等晶体置于电场中,其几何尺寸将发生变化,这种由于外电场作用 导致物质机械变形的现象称为 逆电压效应 。 8、矩形窗函数的频谱是 sin c 或sinx/x 函数。 9、两个时域函数1()x t 、2()x t 的卷积定义为 12()()x t x t d ττ-? 。

材料分析测试技术期末考试重点知识点归纳

材料分析测试技术复习参考资料(注:所有的标题都是按老师所给的“重点”的标题,) 第一章x射线的性质 射线的本质:X射线属电磁波或电磁辐射,同时具有波动性和粒子性特征,波长较为可见光短,约与晶体的晶格常数为同一数量级,在10-8cm左右。其波动性表现为以一定的频率和波长在空间传播;粒子性表现为由大量的不连续的粒子流构成。 2,X射线的产生条件:a产生自由电子;b使电子做定向高速运动;c在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。 3,对X射线管施加不同的电压,再用适当的方法去测量由X射线管发出的X射线的波长和强度,便会得到X射线强度与波长的关系曲线,称为X射线谱。在管电压很低,小于某一值(Mo阳极X射线管小于20KV)时,曲线变化时连续变化的,称为连续谱。在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λo,称为短波限,在高速电子打到阳极靶上时,某些电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子,这个光量子便具有最高的能量和最短的波长,这波长即为λo。λo=V。 4,特征X射线谱: 概念:在连续X射线谱上,当电压继续升高,大于某个临界值时,突然在连续谱的某个波长处出现强度峰,峰窄而尖锐,改变管电流、管电压,这些谱线只改变强度而峰的位置所对应的波长不变,即波长只与靶的原子序数有关,与电压无关。因这种强度峰的波长反映了物质的原子序数特征、所以叫特征x射线,

由特征X射线构成的x射线谱叫特征x射线谱,而产生特征X射线的最低电压叫激发电压。 产生:当外来的高速度粒子(电子或光子)的动aE足够大时,可以将壳层中某个电子击出去,或击到原于系统之外,或使这个电子填到未满的高能级上。于是在原来位置出现空位,原子的系统能量因此而升高,处于激发态。这种激发态是不稳定的,势必自发地向低能态转化,使原子系统能量重新降低而趋于稳定。这一转化是由较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁的方式完成的,电子由高能级向低能级跃迁的过程中,有能量降低,降低的能量以光量子的形式释放出来形成光子能量,对于原子序数为Z的确定的物质来说,各原子能级的能量是固有的,所以.光子能量是固有的,λ也是固有的。即特征X射线波长为一固定值。 能量:若为K层向L层跃迁,则能量为: 各个系的概念:原于处于激发态后,外层电子使争相向内层跃迁,同时辐射出特征x射线。我们定义把K层电子被击出的过程叫K系激发,随之的电子跃迁所引起的辐射叫K系辐射,同理,把L层电子被击出的过程叫L系激发,随之的电子跃迁所引起的辐射叫L系辐射,依次类推。我们再按电子跃迁时所跨越的能级数目的不同把同一辐射线系分成几类,对跨 越I,2,3..个能级所引起的辐射分别标以α、β、γ等符号。电子由L—K,M—K跃迁(分别跨越1、2个能级)所引起的K系辐射定义为Kα,Kβ谱线;同理,由M—L,N—L电子跃迁将辐射出L系的Lα,Lβ谱线,以此类推还有M线系等。 莫赛莱定律:特征X射线谱的频率或波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构,

材料分析测试技术试卷A-答案

山东科技大学2010—2011学年第二学期 《材料分析测试技术》考试试卷(A卷)答案及评分标准 一、选择题(每空1分,共15分) 1-5、BBBCB 6-10、ACBCA 11-15、CDCCB 二、填空题(每空1分,共20分) 1、连续X射线和特征X射线。 2、多晶电子衍射谱、多次衍射谱、菊池线。 3、光学系统、样品室、放大系统、供电和真空系统 4、萃取复型 5、二次电子和背散射电子、吸收电子、特征X射线(任填3个) 6、正装法、反装法(倒装法)、45℃法(不规则法) 7、满足布拉格定律 8、H(hkl)垂直于正点阵(hkl)面;H(hkl)=1/d(hkl) 9、阿贝成像原理 三、名词解释(每题5分,共20分) 1、X射线的强度 X射线的强度是指行垂直X射线传播方向的单位面积上在单位时间内所通过的光子数目的能量总和。常用的单位是J/cm2.s。 2、结构因子 结构因子是指一个单胞对X射线的散射强度,由于衍射强度正比于结构因子模的平方,消光即相当于衍射线没有强度,因此可通过结构因子是否为0来研究消光规律 3、差热分析 在程序控制温度条件下,测量样品与参比的基准物质之间的温度差与温度关系的一种热分析方法。 4、衍射衬度 衍射衬度是指试样中由于各处晶体取向不同和(或)晶体结构不同,满足布拉格条件的程度不同,使得对应式样下表面处有不同的衍射效果,从而在下表面形成一个随位置而异的衍射振幅分布而形成的衬度,它是由于晶体取向差异和(或)晶体结构造成的。 四、简答题(每题5分,共20分) 1、阐述特征X射线产生的物理机制 答当外来电子动能足够大时,可将原子内层(K壳层)中某个电子击出去,于是在原来的位置出现空位,原子系统的能量因此而升高,处于激发态,为使系统能量趋于稳定,由外层电子向内层跃迁。由于外层电子能量高于内层电子能量,在跃迁过程中,其剩余能量就要释放出来,形成特征X 射线。 2、简述扫描电镜的结构。 扫描电镜包括以下几个部分: (1)电子光学系统由电子抢、电磁透镜、光阑、样品室等部件组成。 (2)信号收集和显示系统 二次电子和背反射电子收集器是扫描电镜中最主要的信号检测器。

纺织材料测试

一、单项选择题 (A )1.采用显微镜观察法,得知某纤维的特征为:纵向有天然转曲。推测该纤维最有可能是()。 A 棉纤维 B 毛纤维 C 麻纤维 D 蚕丝纤维 (C )2.公制支数的单位是()。 A Tex B Den C Nm D Ne (B )3.按原料来源分,天然纤维可分为()、动物纤维和矿物纤维。 A 合成纤维 B 植物纤维 C 无机纤维 D 长丝 (D )4.黄麻纤维的公定回潮率大约为()。 A 4.5% B 8.5% C 10% D 14% (B )5.化学纤维中涤纶的代号是()。 A PA B PET C PP D PVC (C )6.粘胶纤维的横向截面形态特征是()。 A 腰园形,有中腔 B 多角形,有较小中腔 C锯齿形,有皮芯结构 D 三角形或半椭圆形 (D )7.茧丝的形态结构特征是两根丝素被()包覆。 A 氨基酸 B 蛋白质 C 丝朊 D 丝胶 (C )8.采用手感目测法,得知某纤维的特征为:粗、硬,很难区分出单根纤维,大多为黄灰色。推测该纤维最有可能是()。 A 棉纤维 B 毛纤维 C 麻纤维 D 蚕丝纤维 (A )9.化学纤维中,耐磨性最好的是()。 A、锦纶 B、丙纶 C、维纶 D、涤纶 (B )10.易燃纤维包括棉纤维、麻纤维、再生纤维素纤维和()等。 A 石棉纤维 B 腈纶 C 涤纶 D 羊毛 (D )12.棉纤维的纵向形态特征是()。 A 表面有细沟槽 B 表面平滑 C 表面如树干状,粗细不匀 D 扁平带状,有天然转曲 (C )13.按原料来源分,化学纤维可分为再生纤维、合成纤维和()。 A 天然纤维 B 短纤维 C 无机纤维 D 长丝 (B )16.采用燃烧法,得知某纤维的特征为:有烧毛发的味道。推测该纤维最有可能是()。 A 棉纤维 B 毛纤维 C 麻纤维 D 腈纶 (C )18.纤维在拉伸时会产生三种变形,即急弹性变形、缓弹性变形和()。 A 弹性变形 B 弯曲变形

材料分析测试技术期末考试重点知识点归纳

材料分析测试技术复习参考资料 1、透射电子显微镜 其分辨率达10-1 nm ,扫描电子显微镜 其分辨率为Inmo 透射电子显微镜放大倍数大。 第一章x 射线的性质 2、X 射线的本质:X 射线属电磁波或电磁辐射,同时具有波动性和粒子性特征,波长较为可见光短,约与 晶体的晶格常数为同 一数量级,在 10-8cm 左右。其波动性表现为以一定的频率和波长在空间传播;粒子性 表现为由大量的不连续的粒子流构成。 即电磁波。 3、 X 射线的产生条件:a 产生自由电子;b 使电子做定向高速运动;c 在电子运动的路径上设置使其突然减 速的障碍物。X 射 线管的主要构造:阴极、阳极、窗口 。 4、 对X 射线管施加不同的电压,再用适当的方法去测量由 X 射线管发出的X 射线的波长和强度,便会得到 X 射线强度与波长的关系曲线,称为 X 射线谱。在管电压很低,小于某一值( Mo 阳极X 射线管小于20KV ) 时,曲线变化时连续变化的,称为 连续谱。在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值入 o ,称为短波 限,在高速电子打到阳极靶上时,某些电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子,这个光量 子便具有最高的能量和最短的波长,这波长即为入 0。入o=1.24/V 。 5、 X 射线谱分连续X 射线谱和特征X 射线谱。 * 6、特征X 射线谱: 概念:在连续X 射线谱上,当电压继续升高,大于某个临界值时,突然在连续谱的某个波长处出现强度峰, 峰窄而尖锐,改变管电流、管电压,这些谱线只改变强度而峰的位置所对应的波长不变,即波长只与靶的 原子序数有关,与电压无关。因这种强度峰的波长反映了物质的原子序数特征、所以叫特征 x 射线,由特 征X 射线构成的x 射线谱叫特征x 射线谱,而产生特征 X 射线的最低电压叫激发电压。 产生:当外来的高速度粒子(电子或光子)的动aE 足够大时,可以将壳层中某个电子击出去,或击到原于系 统之外,或使这个电子填到未满的高能级上。于是在原来位置出现空位,原子的系统能量因此而升高,处 于激发态。这种激发态是不稳定的,势必自发地向低能态转化,使原子系统能量重新降低而趋于稳定。这 一转化是由较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁的方式完成的,电子由高能级向低能级跃迁的过程中, 有能量降低,降低的能量以光量子的形式释放出来形成光子能量,对于原子序数为 各原子能级的能量是固有的,所以?光子能量是固有的,入也是固有的。即特征 能量:若为K 层向L 层跃迁,则能量为: &口 = Av = hcfX 各个系的概念:原于处于激发态后,外层电子使争相向内层跃迁,同时辐射出特征 x 射线。我们定义把 K 层电子被击出的过程叫 K 系激发,随之的电子跃迁所引起的辐射叫 K 系辐射,同理,把 L 层电子被击出的 过程叫L 系激发,随之的电子跃迁所引起的辐射叫 L 系辐射,依次类推。我们再按电子跃迁时所跨越的能 级数目的不同把同一辐射线系分成几类,对跨 越I , 2, 3..个能级所引起的辐射分别标以a 、B 、丫等符号。电子由 L —K , M — K 跃迁(分别跨越1、2个 能级)所引起的K 系辐射定义为K a, K B 谱线;同理,由 M- L , N — L 电子跃迁将辐射出 L 系的L a, L p 谱 线,以此类推还有 M 线系等。 7、X 射线与物质的相互作用: 散射、吸收、透射。X 射线的散射有相干散射和非相干散射。 第二章X 衍射的方向 1,相干条件:两相干光满足频率相同、振动方向相同、相位差恒定(即n 的整数倍)或波程差是波长的整 数倍。 & X 衍射和布拉格方程 波在传播过程中,在波程差为波长整数倍的方向发生波的叠加,波的振幅得到最大程度的加强,称 为衍射,对应的方向为衍射方向,而为半整数的方向,波的振幅得到最大程度的抵消。 Z 的确定的物质来说, X 射线波长为一固定值。

机械工程测试技术基础试题及答案

《机械工程测试技术基础》课后答案 章节测试题 第一章 信号及其描述 (一)填空题 1、 测试的基本任务是获取有用的信息,而信息总是蕴涵在某些物理量之中,并依靠它们来 传输的。这些物理量就是 ,其中目前应用最广泛的是电信号。 2、 信号的时域描述,以 为独立变量;而信号的频域描述,以 为独立变量。 3、 周期信号的频谱具有三个特 点: , , 。 4、 非周期信号包括 信号和 信号。 5、 描述随机信号的时域特征参数有 、 、 。 6、 对信号的双边谱而言,实频谱(幅频谱)总是 对称,虚频谱(相频谱)总是 对 称。 (二)判断对错题(用√或×表示) 1、 各态历经随机过程一定是平稳随机过程。( ) 2、 信号的时域描述与频域描述包含相同的信息量。( ) 3、 非周期信号的频谱一定是连续的。( ) 4、 非周期信号幅频谱与周期信号幅值谱的量纲一样。( ) 5、 随机信号的频域描述为功率谱。( ) (三)简答和计算题 1、 求正弦信号t x t x ωsin )(0=的绝对均值μ|x|和均方根值x rms 。 2、 求正弦信号)sin()(0?ω+=t x t x 的均值x μ,均方值2x ψ,和概率密度函数p(x)。 3、 求指数函数)0,0()(≥>=-t a Ae t x at 的频谱。 4、 求被截断的余弦函数???≥<=T t T t t t x ||0 ||cos )(0ω的傅立叶变换。 5、 求指数衰减振荡信号)0,0(sin )(0≥>=-t a t e t x at ω的频谱。 第二章 测试装置的基本特性 (一)填空题 1、 某一阶系统的频率响应函数为121 )(+=ωωj j H ,输入信号2 sin )(t t x =,则输出信号)(t y 的频率为=ω ,幅值=y ,相位=φ 。 2、 试求传递函数分别为5.05.35.1+s 和222 4.141n n n s s ωωω++的两个环节串联后组成的系统的 总灵敏度。 3、 为了获得测试信号的频谱,常用的信号分析方法有 、 和 。 4、 当测试系统的输出)(t y 与输入)(t x 之间的关系为)()(00t t x A t y -=时,该系统能实现 测试。此时,系统的频率特性为=)(ωj H 。 5、 传感器的灵敏度越高,就意味着传感器所感知的 越小。 6、 一个理想的测试装置,其输入和输出之间应该具有 关系为最佳。 (二)选择题 1、 不属于测试系统的静特性。 (1)灵敏度 (2)线性度 (3)回程误差 (4)阻尼系数 2、 从时域上看,系统的输出是输入与该系统 响应的卷积。 (1)正弦 (2)阶跃 (3)脉冲 (4)斜坡

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