1.正态分布
X~N(μ，σ2)
z=x?μ
σ
P(a σ ?? a?μ σ P(|x| E(x)=1 n ∑x i n i=1 v ar(x)= 1 n?1 ∑(x i?x?)2 n i=1 E(x+b) = E(x)+b V ar(x+b)=Var(x) E(a x) = a E(x) V ar(ax)=a2Var(x) 2.二项分布 B(n,p) p(x)=C n x p x(1?p)n?x E(x)=np var(x)=np(1?p) 3.泊松分布 页脚内容8 λ=D∕U p(x)=λx x! ??λ E(x)=var(x)= λ 4.超几何分布 X~H(n,N,M) n,样本量；N,批量；M,批不合格品数；x,样本不合格数 p(x)=C N?M n?x C m x C N n / p(x)=C N N?x C N M E(x)= nM N var(x)= n(N?n) N?1 M N (1? M N ) 5.均匀分布 X~U(a,b) p(x)= 1 b?a ,a E(x)= a+b 2 页脚内容8 var(x)=(b?a)2 12 6.指数分布 x~E(λ) p(X≤x)=1???λx E(x)= 1 var(x)=1 λ2 7.C p=% P V? % P T? 8.C pkA A ΔA=μA?μ0 9. 2 pk pm k ) ( 1 σ μ - + = M C C pm = C 页脚内容8 10.p(d)=?(3C pk?6C p)+?(?3C pk) 11.分辨力Unit 测量值最小间距 ?n?t≤m i n(6σ 10 , UsL?LsL 10 ) n dc=?1.41?σp ms ?=?√ 2σp2 m S 2 ? 12.P图控制限 UCL=p?+3√p?(1?p?) √n LCL=p?? 3√p?(1?p?) √n 13.C图控制限 UCL=C+3√c? LCL=0 14.过程分布中心/偏移量 2|M?μ| T =1? C pk C p 页脚内容8 页脚内容 8 M ：均值；μ：规格中心 15.二项分布概率 C n x =n!() P (x )=C n x p x (1?p )n?x 16.决定系数/相关系数 R 2=ss A ss T R a ?j 2=1?SS E ?(n ?1) SS T ?(n ?m ) n ：样本数 m ：自变量数 17.卡方分布 期望值=（行和*列和）/总和 χ2=∑(f 0?f e )2e g j=1 f 0：观测值 f e ：期望值 18.T值 t=x??μσ √n ? 19.中心值 M。=（XH + XL）/2 半间距 D =（XH - XL）/2 代码值K =（Xi –M。）/D 代码值Kbefore = Kafter / D 20.泰勒科学管理方法、职能化组织 费希尔方差分析、试验设计理论 休哈特 SPC、PDCA（贝尔实验室过程控制组） 1）变异不可避免 2）单一的观测几乎不能构成客观决策的依据 道奇和罗米格抽样检验（贝尔实验室产品控制组） 费根堡姆全面质量管理TQC 克劳斯比零缺陷明确需求、做好预防、一次做对、科学衡量 朱兰帕累托原理pareto 质量三部曲质量策划、质量控制、质量改进 戴明 8/2原则、质量管理14要点 石川馨因果图、质量控制圈QCC 田口线外质量控制（技术开发、产品设计、工艺设计）或（系统 设计、参数设计、容差设计） 线内质量控制（工序的诊断和调节、预测与校准、检测与处 理、售后服务） 计量管理技术、实验设计技术 页脚内容8 质量损失函数 Placett-Burman 筛选设计（部分因子，没有交互效应） BOX-Behncen 曲面响应设计（实验点在棱边中点；与CCD比实 验次数少 21.Ⅰ型浪费（muda）：生产中不创造价值，但现有技术与生产条件下不可避免 的作业内容，如在线检测、物料运输 Ⅱ型浪费（muda）：不创造价值且可立即去掉的作业内容，如等待、多余 动作、不必要的审批 首先消除Ⅱ型浪费（muda） 22.精益生产的核心理念： 1）以消除浪费为核心思想 2）暴露问题、解决问题 23.精益思想的五项基本原则 1）正确的确定价值 2）识别价值流value stream mapping 3）流动flow 4）拉动pull 5）尽善尽美perfection 24.亲和图头脑风暴后，对想法进行分类和整理 关联图/关系图按原因—结果或目的—手段，理清复杂问题的关系、范围或边界。确认关键因素，拟定措施。 页脚内容8
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