射线检测专业理论复习题(Ⅱ级)
1. 原子序数Z等于原子核中的质子数。√
2. 当原子核的中子数改变时，它就会变成另一种元系。×
3. 原子核中的质子数相同而中子数不同的元素，称之为同位素。√
4. 当原子核的质子数改变时，仍可保持元素的种类不变。×
5. 同能量的γ线和X射线具有完全相同的性质。√
6. 放射线性同位素的比活度越大，其半衰期就越短。×
7. 放射线同位素的当量能量总是高于平均能量。√
8. 连续X射线强度与管电流有关，而与管电压无关。×
9. 在管电流、管电压不变的前提下，将X射线管的靶材由钼改为钨，所发生的射线能量增大。×
10. 光电效应的发生几率随原子序数的增大而增大。√
11. 光电子又称反冲电子。×
12. 对钢、铝、铜等金属材料来说，材料的质量吸收系数值总是小于线吸收系数值。√
13. 连续X射线穿透物质后，强度减弱，线质不变。×
14. 移动式X射线机只能在室内小范围移动，不适宜到野外作业。√
15. 移动式X光机有油冷和气冷两种绝缘介质冷却方式。×
16. 标称千伏值和毫安值相同的X射线机所产生的射线强度、能量必定是相同的。×
17. 所谓“管电流”就是流过X射线管灯丝的电流。×
18. 将一张含有针孔的铅板放在X射线管和胶片之间的中间位置土,可以用来测量X射线管的焦点尺寸。√
19. 胶片卤化银的颗粒度就是显影后底片颗粒度。×
20. 影像颗粒度完全取决于胶片乳剂层卤化银微粒尺寸的大小。×
21. 非增感型胶片的反差系数随黑度增大而增大，增感型胶片的反差系数随黑度增大而减少。×
22. 底片黑度只影响胶片对比度，与主因对比度无关。√
23. “潜影”是指在没有强光灯的条件下不能看到影像。×
24. 射线照象时，若千伏值提高，将会使底片对比度降低。√
25. 射线的能量同时影响(射线)照像对比度、清晰度和颗粒度。√
26. 使用较低能量的X射线可得到较高的主因对比度。√
27. 已知铜的等效系数K＝1.5，则透照同样的钢和铜时，后者的管电压应为前者的1.5倍。×
28. 如果已知等效系数，用X射线曝光曲线来代替γ射线曝光曲线，也能求出曝光参量。×
29. 使用滤板可增大照相宽容度，但滤板最好是放在工件和胶片之间。×
30. 散射线只影响主因对比度，不影响胶片对比度。√
31. 在实际工作中正常使用的焦距范围内，可以认为焦距对散射比没有影响。√
32. 背散射线的存在，会影响到底片的对比度，通常在暗盒背面放置铅字B来验证背散射线是否存在。√
33. 对某一曝光曲线，应使用同一类型胶片，但可更换不同的X光机。×
34. 当被检工件厚度差较大时，就会有“边蚀散射”发生。√
35. 如果显影时间过长，有些未曝光的AgBr也会被还原，从而增大底片的灰雾度。√
36. 定影液中的氢离子浓度越高，定影能力越强。×
37. 因为铜、铁会与显影液发生化学反应，所以不能用铜、铁制作的容器盛放显影液。√
38. 小径管双壁透照的要点是用较高的管电压，较低曝光量，目的是减少胶片反差，扩大检出区域。×
39. 射线照相时，不同的投影角度会使工件上不同部位的特征点在底片上的相对位置政变。√
40. 各种裂纹只发生在焊缝上，不会发生在热影响到区。×
二. 选择题
l. 下列有关射线检测与超声检测的比较，叙述正确的是：
A、厚度129mm的钢工件；
B、射线检测只适用于黑色金属，超声捡测无法进行表面探伤；
C、对体积型缺陷，超声检测不如射线减测灵敏；
D、以上都对。
2. 射线检测的适用对象为：D
A、焊缝；
B、铸件；
C、封闭物体的内部结构；
D、以上都是。
3. 所谓“同位素”错误的是：D
A、具有相同原子序数而原子量不同的元素；
B、质子数相同而中子数不同的元素；
C、质子数相同而质量数不同的元素；
D、质子数相同而电子数不同的元素。
4. 原子核的正电荷数等于：B
A、中子数；
B、原子序数；
C、光子数；
D、原子量。
5. 原子核外电子能级最高的是：A
A、外层电子；
B、中间层电子；
C、内层电子；
D、以上均不是。
6. 射线是一种高速运动的粒子流，在传播过程中其能量的传递：B
A、须依靠弹性介质；
B、依靠粒子流本身；
C、借助空气或流体；
D、以上均不是。
7.下列那种射线不属于粒子辐射？D
A、α射线；
B、β射线；
C、中子射线；D．X射线和γ射线。
8. 某X射线机发出的最短波长为0.124埃，那么其管电压应为：A
A、100kV；
B、124kV；
C、150kV；
D、以上都不是。
9. 下列论述中，正确的是：C
A、放射性同位素的能量减少到原来一半所需的时间称作半衰期；
B、硬X射线比软X射线传播速度快，所以硬X射线具有更高能量；
C、X射线和γ射线都是电磁辐射，而中子射线不是电磁辐射；
D、高速电子与靶原子的轨道电子碰撞发出X射线，这—过程称为韧致辐射。
10. 放射性物质的衰变规律中出现的衰变常数：C
A、随时间增加而增加；
B、随时间增加而减小；
C、不随时间改变；
D、以上部不对。
11. 射线穿透物质时的吸收程度取决于：A
A、材料的原子序数；
B、曝光时间；
C、材料表面的粗糙度；
D、射线强度。
12. 下列元素对中子吸收最大的是：D
A、铅；
B、铁；
C、铝；
D、氢。
13. 活度为80居里，平均能量为0.66MeV的γ射线源，经过3个半衰期后，其平均能量为：D
A、0.0875MeV；
B、0.175MeV；
C、0.33MeV；
D、0.66MeV。
14. 经过5个半衰期后，放射性物质的能量约为原能量的：
A、30％；
B、10％；
C、3％；
D、相同。13和14题：只是居里数会变
15. 韧致辐射是指高速电子与钨靶的 D 相互作用放出电子能量、产生连续X射线的过程。
A、自由电子；
B、原子核；
C、壳层电子；
D、原子核的库伦场。
16. 下列关于特征X射线的叙述中正确的是：D
A、波长与管电压无关；
B、波长仅与靶材有关；
C、同一靶材所辐射的各波长射线强度比不变：D．以上都是。
17. X射线管所发出的X射线总强度与下列哪些因素相关。A
A、与X射线管的管电压和射线管阳极靶的原子序数有关；
B、被检验材料的种类和密度有关；
C、被检验材料的原子序数有关；
D、以上都是。
18. 各种γ射线源的居里数若相同时，下列叙述正确的是：( )
A、放射性活度相同；
B、辐射强度相同；
C、光子能量相同；
D、衰变常数相同。
19. 一般X射线与物质的相互作用是指射线与：B
A、离子的相互作用；
B、原子的相互作用；
C、原子核库伦场的相互作用；D．核外自由电子的相互作用。
20. 下列叙述中那些是描述光电效应过程的？A
A、产生光电子；B发射标识X射线；C、发射二次电子；D、以上部是。
21. 电子对效应发生概率的描述中，正确的是：A
A、电子对效应发生的概率与物质原子序数的平方成正比，近似与光子能量的对数成正比；
B、电子对效应发生的概率与物质原子序数的平方成反比，近似与光子能量的对数成正比；
C、电子对效应发生的概率与物质原子序数成正比，近似与光子能量的对数成反比；
D、电子对效应发生的概率与物质原子序数的平方成反比，近似与光子能量的对数成反比。
22. 瑞利散射的特点是：B
A、与原子的外层轨道电子作用；
B、光子的能量不变，但方向改变：
C、光子的能量改变，方向也改变；
D、产生瑞利散射的可能性随入射光子能量增大而增大。
23. 射线束有窄束和宽束之分，它们的区别是：B
A、窄束是散射线和未散射的射线均到达检测器，宽束射线仅是未散射的射线到达检测器；
B、宽束是散射线和未散射的射线均到达检测器，窄柬射线仅是未散射的射线到达检测器；
C、窄束是能量较弱的射线，宽束是能量较高的射线；
D、窄束射线的源尺寸较小，宽束射线的源尺寸较大。
24. 单色X射线的衰减系数与试件厚度的关系为：D
A、衰减系数随试件厚度增加而单调减少；
B、衰减系数随试件厚度增加而单调增大；
C、衰减系数随试件厚度增加减少，但非单调；
D、衰减系数变化与试件厚度无关。
25. X射线与物质作用的衰减规律，用公式表达为I＝(1＋n)I0eˉμT，它适用于：D
A、单色平行窄束射线；
B、单色平行宽束射线；
C、连续平行窄束射线；
D、连续平行宽束射线。
26. 半值层常用于比较不同条件下射线穿透能力，下列有关对半值层的叙述正确的是：D
A、半值层随射线吸收系数增加而增大；
B、半值层随射线能量减小而增大；
C、半值层随工件原子序数增加而增大；
D、以上均不对。
27. 下列哪种X射线机输出的X射线剂量最大？D
A、自整流X射线机；
B、半波整流X射线机；C．全波整流X射线机；D、恒电势X射线机。
28. 在X射线管中，最常用的释放电子的技术是：B
A、从阳极靶上反射；
B、加热灯丝；
C、用正离子轰击冷阴极；
D、提高千伏值。
29. X射线管应保持高真空度的原因是：( )
A、可使电子聚焦；
B、不受气体分子阻挡，保护灯丝不氧化；
C、提高射线转换效率；
D、可以减少X射线的生物效应。
30. 铍窗口的应用，主要是：( )
A、能把连续射线变为单色；
B、能吸收波长较长的射线；
C、能增加X射线的强度；
D、以上都不是。
31. 从X射线管的阳极特性曲线可知：( )
A、在一定的阴极灯丝电流下，管电压越大，管电流也越大；
B、在一定的阴极灯丝电流下，最初管电流随管电压的增大而增大，当管电压达到一定值后，管电流趋
于饱和；
C、在一定的管电压下，阴极灯丝电流越大，管电流也越大：
D、以上均不对。
32. 要改变X射线管的管电流大小应调节：( )
A、高压发生器次级电压；
B、高压回路内的串联电阻；
C、灯丝变压器次级线圈电流；
D、灯丝变压器初级中的电位器。
33. 大功率X射线管阳极冷却的常用方法是：( )
A、辐射冷却；
B、对流冷却；
C、传导冷却；
D、液体强迫循环冷却。
34. 下列哪种X射线发生器所产生的X射线束锥角最小：( )
A、25MeV；
B、l5MeV；
C、10MeV；
D、2MeV。
35. 选择γ射线机时，首先应考虑源的主要特性是：( )
A、射线能量、放射性比活度、半衰期和源尺寸：
B、射线能量、放射性比活度、半值层和源尺寸；
C、射线能量、放射性比活度、半值层和源类型；
D、射线能量、源类型、源尺寸。
36. 下列放射性同位素中，半衰期最长的是：( )
A、Se－75；
B、Co－60；
C、Ir－192；
D、Cs－137。
37. 中子射线照相中，直接曝光法所使用的转换屏是：( )
A、铅；
B、铁：
C、钨；
D、钆。
38. 底片黑度可用阻光率和透光率来计算，下列叙述中正确的是：( )
A、阻光率为1/10时，黑度为1；
B、透光率为1时，黑度为1；
C、阻光率为1/100时，黑度为2；D．透光率为1/100时，黑度为2。
39. 若底片黑度为0.3，则透过光强度为入射光强度的：( )
A、1/8；
B、1/4；
C、1/3；
D、1/2。
40. 对射线底片黑度没有明显影响的是：( )
A、使用胶片的类型；
B、管电压；C．增感屏；D、胶片尺寸。
41. 若底片黑度为2.8，入射光亮度为12619cd/m2，则透射光亮度为：( )
A、5cd/m2；
B、10cd/m2；
C、20cd/m2；
D、30cd/m2。 1.2619÷102.8
42. 表示胶片受到一系列X射线量照射时，显影后的底片黑度发生变化的曲线是：( )
A、曝光曲线；
B、灵敏度曲线；
C、胶片特性曲线；
D、吸收曲线。
43. 从胶片特性曲线的斜率可判别的是：( )
A、感光度；
B、梯度；
C、灰雾度；
D、以上都是。
44. 下列对胶片梯度的叙述中，错误的是：( )
A、胶片梯度是胶片对不同曝光量在底片上反映出不同黑度差别的固有能力；
B、胶片梯度可用胶片特性曲线上某一点切线的斜率表示：
C．胶片特性曲线上两点连线的斜率用来表示胶片的平均梯度；
D．增感型胶片的梯度值随黑度的增大而增大。
45. 为了比较X射线胶片感光度的差异，往往不固定：( )
A、曝光量；
B、射线能量；
C、底片黑度；
D、显影条件。
46. 胶片中AgBr的颗粒度，决定了胶片的感光度、梯度和清晰度。若AgBr颗粒度大，则胶片：( )
A、感光度高，梯度小，清晰度高；
B、感光度高，梯度小，清晰度差；
C、感光度低，梯度小，清晰度差；
D、感光度低，梯度大，清晰度差。
47. 下列哪种情况要求选用大颗粒的X射线胶片？( )
A、较短的曝光时间；
B、较长的曝光时间；
C、低的黑度；
D、最好的清晰度。
48. 铅箔增感屏的优点是：( )
A、增感系数虽不高，但能吸收散射线；
B、增感系数高，但不能吸收散射线；
C、管电压低于70kV时的使用效率最好；D．以上全是。
49. 在l00KV～300KV范围内，金属增感屏的增感系数随：( )
A、原子序数的增大而增大；
B、原子序数的增大而减小；
C、与原子序数有关，但变化没有规律性；
D、与原子序数无关。
50. 荧光增感屏的增感机理是：( )
A、防止背后散射线，胶片灰雾降低；
B、在射线激发下产生二次射线和电子；
C、在射线激发下产生可见光，有助胶片感光；D．以上都是。
51. 荧光增感屏有较高的增感系数，但其致命的缺点是：( )
A、对比度低；
B、底片黑度太高；
C、底片图象清晰度差；
D、以上都对。
52. 下列有关象质计的叙述中，不正确的是：( )
A、象质计是用来捡查和定量评价射线底片影像质量的器件；
B、象质计的指示值等于被检工件中可发现缺陷的实际尺寸；
C、象质计在底片上的影像可作为透照条件的一种永久性证据；
D、象质计通常用于与被检工件材质相同或对射线吸收性能相似的材料制作。
53. 射线探伤用得最多的方法是：( )
A、射线照相法；
B、射线剂量率测定法；
C、工业电视射线法；D．以上都是。
54. 增大主因对比度的方法是：( )
A、增大源到工件的距离；
B、减小源到工件的距离；
C、增大射线波长；
D、延长显影时间。
55. 下列哪个因素的变化不会改变射线照相的主因对比度：( )
A、试件的材料；
B、射线的能谱；
C、散射线的分布；
D、曝光量。
56. 对母材厚度为16mm的双面焊对接焊缝进行射线照相检测时，在底片上发现直径为0.2mm的象质计金
属丝，其相对灵敏度为：( )
A、1.25％；
B、1.5％；
C、2％；
D、2.5％。
57. 钛对射线的吸收系数小于钢，在透照钛试件时采用钢丝像质计，如果底片上显示的像质指数刚好达到
标准要求，则该底片的灵敏度：( )
A、刚好符合标准要求；
B、达不到标准要求；
C、远远超过标准要求；
D、无法判断。
58. 决定缺陷影像对比度的因素是：( )
A、缺陷本身的性质和尺寸；
B、射线照相的技术因素；
C、被照物本身的性质和尺寸；
D、以上均对。
59. 影响射线照相(底片)对比度的因素是：( )
A、射线的波长和频率；
B、散射线比；
C、由缺陷引起的厚度差；
D、以上都是。
60. 下列哪一参数不被认为是影响裂纹检出的关键因素：( )
A、长度l；
B、开口宽度W；
C、自身高度d；D。裂纹与射线角度θ。
61. 几何因素不适当、胶片和增感屏接触不良、胶片粒度较粗是造成下列哪种情况的原因：( )
A、清晰度不良；
B、底片黑度过高；
C、胶片灰雾度；
D、底片黑度过低。
62. 固有不清晰度：( )
A、随管电流的增大而增大；
B、随管电压的增大而增大；
C、随射线源尺寸增大而增大；
D、以上均对。
63. 胶片与屏结合不紧，会明显影响射线照相的：( )
A、对比度；B：清晰度；C、颗粒度；D、以上都是。
64. 运动、几何因素和增感屏的接触情况，这三种因素影响射线照相的：( )
A、对比度；
B、清晰度；
C、网状皱纹；
D、密度。
65. 采用中心透照法透照材料厚度和成分都较均匀的零件，在底片上显示出：( )
A、被透照零件的对比度高；
B、清晰度低；
C、宽容度大；D．黑度均匀，反差小。
66. 透照厚度差较大的工件时，为了得到黑度和层次比较均匀的底片，一般做法是：( )
A、提高管电流；
B、提高管电压；
C、增加曝光时间；
D、缩短焦距。
67. 能够在底片上充分记录的工件厚度范围称为：( )
A、底片的灵敏度；
B、底片的(厚度)宽容度；
C、底片的精度；
D、源的强度。
68. 射线照相时，透照区的大小应：( )
A、与射线束角度和焦距有关；
B、使边缘区的强度为中心强度的70－90％；
C、与工件厚度有关；
D、以上都是。
69. 在X射线管窗口放置滤光片的目的是：( )
A、产生二次射线以增强X射线束；
B、滤去短波X射线，获得较软X射线；
C、滤去软X射线，使波长较长的X射线被吸收掉；
D、使X射线束强度容易调整。
70. 在射线窗口加滤板，在工件上加补偿块减少厚度差，采用多胶片法，都是为了：( )
A、校正不良的清晰度；
B、校正低黑度；
C、校正低对比度；
D、校正低宽容度。
71. 一次Ⅹ射线通过滤波后的变化是：( )
A、总强度增加，平均能量增加；
B、总强度减少，平均能量减少；
C、总强度增加，平均能量减少；D，总强度减少，平均能量增加。
72. 厚度小于25mm的钢件射线照相时：( )
A、Co－60源比250kV X射线机得到的灵敏度高；
B、250kV X射线机比Co－60源得到的灵敏度高；
C、用荧光增感屏比用铅箔增感屏得到的射线照相质量好；
D、用铅箔增感屏比用荧光增感屏需要的曝光时间短。
73. 采用一个新的60Co γ半衰期5.3年射线源进行射线照相，可得到满意的底片，半年后使用该源对同一工件按
照相同条件射线照相，为得到同样底片，曝光时间为：n=0.5/5.3=0.094 , 2n=1.067 , (1.067-1)×100%=6.8%
A、不变；
B、约延长6.8％；
C、约延长30％；
D、以上都不是。
74. 用半衰期为5.3年的Co－60源在一定的曝光条件下透照工件，可得到满意的底片，如果其他条件不变，
两年后对同一工件透照，为得到同样底片，曝光时间：计算方法同上
A、不变；
B、约延长10％；
C、约延长30％；
D、约延长60％－100％。
75. 对能量为100KV的X射线，铝的等效系数为0.08，那么对25mm厚的铝试件进行射线照相时，需要采
用相当于多厚的钢的曝光量？( )
A、25mm；
B、2mm；
C、20mm；
D、0.3 mm。
76. 下列关于双壁双影直透法的叙述中，哪些说法是不正确的：( )
A、透照外径D0小于20mm，焊缝宽度大于8mm的管子环缝照相时，一般采用直透法；
B、直透法比斜透法更易于操作；
C、直透法比斜透法更易于有利于检测出根部未熔合和未焊透：
D、直透法比斜透法更易于有利于判断缺陷在焊缝中的位置。
77. 对小口径薄壁管采用双壁双影透照时，有效透照长度：( )
A、与焦距成正比；
B、与焦距成反比；
C、与焦距基本无关；
D、与直径无关。
78. 下列有关产生散射线的叙述中，正确的是：( )
A、散射线产生于受照射的任何物体，包括空气；
B、只有固体物质受射线照射时，才会产生散射线；
C、液体受到射线照射时，不会产生散射线：
D、以上都对。
79. 穿过较薄试件截面的射线会在相邻厚截面下产生散射，从而对厚截面的影像产生影响，这种影响称为：
( )
A、康谱顿效应；B：瑞利散射；C、边蚀效应；D、固有不清晰度。
80. 显影液中的抑制剂通常采用：( )
A、亚硫酸钠；
B、溴化钾；
C、菲尼酮；
D、碳酸钠。
81. 在显影过程中应翻动胶片或搅动显影液，其目的是：( )
A、保护胶片，使其免受过大压力；
B、使胶片表面显影液更新；
C、使胶片表面上未曝光的银粒子敞开；D。防止产生网状皱纹。
82. 显影速度慢、反差小、灰雾度增大，引起上述现象的原因可能是：
A、显影温度过高；
B、显影时间过长；
C、显影时搅动不足；
D、显影液老化。
83. 符合评定要求的底片，至少应：( )
A、达到规定的灵敏度和黑度；
B、无划痕和水迹；
C、透照标记完整和正确；
D、以上都是。
84. 底片上显示的焊缝缺陷，下列说法不正确的是：( )
A、夹渣总是呈现条状不规则的黑色影像；
B、裂纹通常是两端细中间粗的黑色线条；
C、气孔通常是中心比边缘黑度更大的黑色影像；
D、未焊透通常呈现连续条状黑色影像。
85. 对含有大裂纹的零件进行射线照相时，裂纹在射线照片上的影象是：( )
A、一条断续或连续的黑线；
B、一条不规则的亮线；
C、黑线或亮线：
D、射线照片上的一个灰雾区。
86. 产生显影斑痕的原因的原因是：( )
A、显影液浓度不均匀，部分药膜显影过度；
B、显影液过期失效；
C、显影液温度波动过大，显影时搅动不均匀；
D、以上均是。
87. 射线底片产生网状皱纹的原因可能是：( )
A、曝光后使胶片卷曲；
B、胶片处理时温度变化急剧；
C、胶片处理前溅上水或显影液；
D、物体到胶片距离过大。
88. 静电斑纹在底片上的形态是：( )
A、树枝状斑纹；
B、冠状斑纹；
C、点状斑纹；
D、以上都是。
89. 同剂量照射时，下列各种射线中对相对生物效应人体最大的是：( )
A、X射线和γ射线；
B、α粒子；
C、β粒子；
D、质子。
90. 加大与射线源的距离是防护方法之—，主要因为：( )
A、射线只能在限定范围内存在；B．空气吸收辐射使强度降低：
C、光子与空气作用迅速减少；D．辐射强度与距离平方成反比。
91. 下列叙述中，描述随机效应特点的是：( )
A、效应的发生率与剂量呈线性无阈关系；
B、剂量越大效应越严重；
C、只要限制剂量就可以限制效应的发生：
D、以上都不是。
92. 人体各部分组织受X射线或γ射线过量照射均会受到伤害，其中特别敏感的是：( )
A、血液；
B、眼球；
C、内脏；
D、以上都是。
三. 问答题
1. 什么叫放射性同位素的半衰期？它在射线检测中有何作用？
2. 射线检测的基本原理是什么？
3．试述X射线机训练的目的和原理。
4. 简述影响X射线管使用寿命的因素？
5．写出射线照相ΔT为平板时的射线照相对比度和金属丝像质计金属丝的射线照相对比度公式及符号的意义。它们有何区别？
6. 何谓射线照相不清晰度？产生的原因是什么？
7．何谓固有不清晰度。固有不清晰度大小与哪些因素有关？
8. 常用控制散射线的方法有哪些？
四. 计算题
1. 当管电压为150KV时，产生的X射线最短波长为多少nm？假如连续X射线最大强度所对应的波长为
最短波长的1.5倍，求最大强度处光子能量为多少keV？
2. 设曝光量增大到2.5倍，底片黑度增大1，求胶片的反差系数。若用同样照度的观片灯观片，黑度差为
l的的两个部位，黑度较小的与黑度较大的相比，透过的光强度大多少倍？为使透过的可见光强度相等，应将观片灯亮度提高多少倍来观察黑度大的部位？
3. 透照厚度20mm的钢焊缝，有气孔和无气孔部位的底片黑度分别为1.1和1.0，若延长曝光时间后，无
气孔部位的底片黑度增大至1.4，则此时有气孔部位的底片黑度为多少？（设黑度在0.5～2.5范围内，胶片反差系数G与黑度D成正比增加）
4. 透过厚钢板后平行窄束X射线再透过屏蔽好的12mm厚的钢板，若透过的射线的照射率为透过12mm
厚的钢板前的1/16，则钢对该X射线的半价层和吸收系数各为多少？
5. 采用同种胶片在相同的条件下曝光，无增感时需要8分钟，底片黑度为1.2；有增感时需曝光2分钟，
底片黑度1.5。设胶片无增感时，在黑度为1.0～3.0范围内，反差系数为常数，且G＝3。此增感屏在黑度1.5时的增感系数？
6. 透照厚度为34mm的双面焊对接焊缝，焊缝两侧余高各为2mm。射线源尺寸为2×2mm，焦距为600mm，
透照管电压为200kV，若固有不清晰度为U i=0.111。试计算像质计放置于射线源侧的几何不清晰度和总不清晰度。
7. 用尺寸为φ3×3mm的Ir192γ射源透照板厚50mm的双面焊，焊缝余高2mm，求其几何不清晰度U g及
最小焦距F min。
8. 用焦点尺寸为φ4×4mm的Ir192源透照厚度50mm的双面焊对接焊缝，焊缝余高为2mm，欲使Ug≤
0.2mm，求射源至胶片的最小距离。
9. 用Ir192γ射源透照板厚20mm的工件，其半值层厚度为10mm，焦距为1m，已知距放射源1m处的照
射量率为18R/h，要使底片黑度达到要求，需250mR的照射量。求所需曝光时间。
10. 在距Co60源1m处测的照射率为18伦/时，在此位置放胶片对T A＝20mm的工件进行透照拍片，已知
该射线在工件中的半价层为10mm，为了获得适当的黑度时需要250亳伦的照射量，求每张胶片的曝光时间应为多少？
X射线探伤机检测知识、原理及应用范围射线的种类很多，其中易于穿透物质的有X射线、γ射线、中子射线三种。这三种射线都被用于无损检测，其中X射线和γ射线广泛用于锅炉压力容器焊缝和其他工业产品、结构材料的缺陷检测，而中子射线仅用于一些特殊场合。射线检测最主要的应用是探侧试件内部的宏观几何缺陷(探伤)。按照不同特征(例如使用的射线种类、记录的器材、工艺和技术特点等)可将射线检测分为许多种不同的方法。射线照相法是指用X射线或γ射线穿透试件，以胶片作为记录信息的器材的无损的检测方法。该方法是最基本的，应用最广泛的一种射线检测方法。 一、射线照相法原理 X射线是从X射线管中产生的，X射线管是一种两极电子管。将阴极灯丝通电使之白炽电子就在真空中放出，如果两极之间加几十千伏以至儿百千伏的电压(叫做管电压)时，电子就从阴极向阳极方向加速飞行、获得很大的动能，当这些高速电子撞击阳极时。与阳极金属原子的核外库仑场作用，放出X射线。电子的动能部分转变为X射线能，其中大部分都转变为热能。电子是从阴极移向阳极的，而电流则相反，是从阳极向阴极流动的，这个电流叫做管电流，要调节管电流，只要调节灯丝加热电流即可，管电压的调节是靠调整X射线装置主变压器的初级电压来实现的。 利用射线透过物体时，会发生吸收和散射这一特性，通过测量材料中因缺陷存在影响射线的吸收来探测缺陷的。X射线和γ射线通过物质时，其强度逐渐减弱。射线还有个重要性质，就是能使胶片感光，当X射线或γ射线照射胶片时，与普通光线一样，能使胶片乳剂层中的卤化银产生潜象中心，经过显影和定影后就黑化，接收射线越多的部位黑化程度越高，这个作用叫做射线的照相作用。因为X射线或γ射线的使卤化银感光作用比普通光线小得多，所以必须使用特殊的X射线胶片，这种胶片的两面都涂敷了较厚的乳胶，此外，还使用一种能加强感光作用的增感屏，增感屏通常用铅箔做成把这种曝过光的胶片在暗室中经过显影、定影、水洗和干燥，再将干燥的底片放在观片灯上观察，根据底片上有缺陷部位与无缺陷部位的黑度图象不一样，就可判断出缺陷的种类、数量、大小等，这就是射线照相探伤的原理。
二、选择题 1.1 原子的主要组成部分是（）。 A.质子、电子、光子 B.质子、重子、电子 C.光子、电子、X射线 D.质子、中子、电子 1.2 电磁波的频率(f)，速度(c)和波长(λ)之间的关系可用（）表示。 A.f=λ·c B.c=f·λ C.λ=f·c D.λ=f/c 1.3 原子核的质子数等于（）。 A.中子数 B.原子序数 C.光子数 D.原子量 1.4 质子和中子的区别是中子没有（）。 A.电荷 B.质量 C.自旋 D.半衰期 1.5 当几种粒子和射线通过空气时，其电离效应最高的是（）。 A.α粒子 B.β粒子 C.中子 D.X和γ射线 1.6 在射线探伤中应用最多的三种射线是（）。 A.X射线，γ射线和中子射线 B.α射线、β射线和γ射线 C.X射线，γ射线和β射线 D.X射线，γ射线和α射线 1.7 原子核外电子能级量高的是（）。 A.外壳层 B.中间壳层 C.内壳层 D.以上均不是 1.8 同位素是指（）。
A.质量数相同而中子数不同的元素； B.质量数相同而质子数不同的元素； C.中子数相同而质子数不同的元素； D.质子数相同而质量数不同的元素。 1.9 X射线、γ射线和α粒子有一个共同点，即它们都是（）。 A.均质粒子辐射 B.电磁辐射 C.微波辐射 D.电离辐射 1.10在射线检验中采用的能量范围（约100K e V o-10M e V）射线穿过钢铁强度衰减的最主要原因是（）。 A.光电效应 B.汤姆逊效应 C.康普顿效应 D.电子对效应 1.11光子能量的数学表达式是（）。 A.E=h/v B.E=λ/hc C.E=hv D.E=hv2 1.12强度为Ⅰ的单色射线通过厚度为ΔX的材料后，强度减弱ΔI，其关系式为ΔI=μIΔX，此式表示下列哪种现象？（） A.光电效应 B.康普顿散射 C.吸收 D.半价层厚度 1.13通常所说的200KVX射线指（）。 A.最大能量为0.2MeV的“白色”X射线 B.平均能量为0.2MeV的连续射线 C.能量为0.2MeV的连续射线 D.有效能量为0.2MeV的连续射线 1.14单色射线是指（）。 A.标识X射线 B.工业探伤γ源产生的射线
无损检测RT专业测试题 一、是非题（在括号内正确的画“O”，错误的画“×”） 1、放射性同位素的半衰期是指放射性元素的放射强度变为原来一半所需要的时间。（） 2、底片黑度D=2，即意味着透射光强为入射光强的1/100。（） 3、光电效应发生几率随原子序数的增大而增加。（） 4、胶片的梯度与射线的能量有关，射线的能量越高，胶片的梯度越小。（） 5、显影时间延长，将会使胶片特性曲线变陡，且在坐标上的位置向右移。（） 6、当X射线通过三个半值层后，其强度仅为初始值的六分之一。（） 7、同一型号的X光机可以使用同一曝光曲线。（） 8、在X射线管和胶片距离一半处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板，这是用来测定 焦点的大致尺寸。（） 9、显影液呈碱性，定影液呈酸性。（） 10、铅箔增感屏的表面划伤在底片上会产生黑色条纹。( ) 11、底片不清晰度包括几何不清晰度和固有不清晰度，固有不清晰度随着射线能量的 增加而连续递增。（） 12、一般来说，对厚度差较大的工件，应使用较低能量的射线透照，其目的是降低对比度， 提高宽容度。（） 13、散射线只影响胶片对比度，与主因对比度无关。（） 14、采用源在外单壁透照方式，如K值不变，则焦距越大，一次透照长度L3就越大。（） 15、对Φ50×8mm、焊缝宽度为13mm的小径管环缝作双壁双影法倾斜透照时，椭圆成像开口 宽度应在13mm左右。（） 16、AB级射线照相曝光量推荐值为15mA·min,焦距为700mm,如焦距改为900mm,则曝光量 推荐值应不少于20mA·min。（） 17、定影液老化和水洗不彻底都会导致底片长期保存后出现泛黄的现象。（） 18、形状缺陷不属于无损检测范畴，但对于目视检查无法进行的场合和部位进行射线照相， 则应对内凹、烧穿、咬边等形状缺陷评定。（） 19、在放射防护中，随即性效应的发生几率与剂量的大小有关。（） 20、实际探伤中使用的射线是宽束连续射线，工件的吸收系数和工件内部的吸收系数 差别越大，缺陷越容易被发现。（）
射线检测原理 射线在穿透物体过程中会与物体发生相互作用，因吸收和散射而使其强度减弱。强度衰减程度取决于物体的衰减系数和射线在物体中穿越的厚度。如果被透照物体的局部存在缺陷，且构成缺陷的物体的衰减系数又不同于试件，该局部区域的透过射线强度就会与周围产生差异。把胶片放在适当位置使其在透过射线的作用下感光，经暗室处理后得到底片。底片上各点的黑化程度取决于射线曝光量，由于缺陷部位和完好部位的射线强度不同，底片上相应部位就会出现黑度差异。底片上相邻区域的黑度差定义为“对比度”。把底片放在观片灯光屏上借助透过光线观察，可以看到由对比度构成的不同形状的影像，评片人员据此判断缺陷情况并评价试件质量。 射线检测主要优点是：它能得到物体内部状况的二维图像，根据这一图像可以直观地分析物体内部的缺陷和组织结构。物体二维图像的形成主要是由于X射线穿过物体后强度的衰减。但在底片上所呈现的图像与物体内部的实际结构并非完全相同。由于焦点、焦距和缺陷位置等因素的影像在底片上产生的投影图像，有可能放大、畸变、影像重叠等情况。因此要从图像上客观地分析出物体内部的真实情况必须了解其原理。 强度衰减成像原理 X射线强度衰减公式 I= I0 e-uT 代入公示后可得 I = I0 e-kρz3T Ρ是物体的密度，Z是物体的原子序数，λ是入射X射线的波长，T使物体的厚度，k是系数。X射线管的电压确定后，k和λ都是常熟，因此穿过物体后的射线强度I与T、Z等有关。 射线检测原理 射线在穿透物体过程中会与物体发生相互作用，因吸收和散射而使其强度减弱。强度衰减程度取决于物体的衰减系数和射线在物体中穿越的厚度。如果被透
照物体的局部存在缺陷，且构成缺陷的物体的衰减系数又不同于试件，该局部区域的透过射线强度就会与周围产生差异。把胶片放在适当位置使其在透过射线的作用下感光，经暗室处理后得到底片。底片上各点的黑化程度取决于射线曝光量，由于缺陷部位和完好部位的射线强度不同，底片上相应部位就会出现黑度差异。底片上相邻区域的黑度差定义为“对比度”。把底片放在观片灯光屏上借助透过光线观察，可以看到由对比度构成的不同形状的影像，评片人员据此判断缺陷情况并评价试件质量。 射线检测主要优点是：它能得到物体内部状况的二维图像，根据这一图像可以直观地分析物体内部的缺陷和组织结构。物体二维图像的形成主要是由于X射线穿过物体后强度的衰减。但在底片上所呈现的图像与物体内部的实际结构并非完全相同。由于焦点、焦距和缺陷位置等因素的影像在底片上产生的投影图像，有可能放大、畸变、影像重叠等情况。因此要从图像上客观地分析出物体内部的真实情况必须了解其原理。 强度衰减成像原理 X射线强度衰减公式 I= I0 e-uT 代入公示后可得 I = I0 e-kρz3T Ρ是物体的密度，Z是物体的原子序数，λ是入射X射线的波长，T使物体的厚度，k是系数。X射线管的电压确定后，k和λ都是常熟，因此穿过物体后的射线强度I与T、Z等有关。 I1 I2 如果物体的密度和成分是均匀的，而且管电压恒定不变，那么I1和I2值完全取决于厚度的变化则有I1 ＞I ＞I2 在钢焊缝中经常会产生金属和非金属夹杂，如钨夹杂和熔渣。由于非金属熔渣的主要成分的原子序数核密度都小于基体金属，因而在X射线底片上形成黑点或长条形不规则黑
三、问答题 ３、1 什么就是射线照相灵敏度？绝对灵敏度与相对灵敏度得概念又就是什么？ 3、2 简述像质计灵敏度与自然缺陷灵敏度得区别与联系？ 3、3 什么就是影响射线照相影像质量得三要素？ ３、４什么叫主因对比度？什么叫胶片对比度？它们与射线照相对比度得关系如何? 3、5 写出透照厚度差为△X得平板底片对比度公式与像质计金属丝底片对比度公式,说明公式中 各符号得含义,并指出两个公式得差异? 3、６就像质计金属丝得底片对比度公式讨论提高对比度得主要途径，并说明通过这些途径提高 对比度可能会带来什么缺点? 3、7 何谓固有不清晰度? 3、８固有不清晰度大小与哪些因素有关？ 3、9 何谓几何不清晰度？其主要影响因素有哪些？ 3、10实际照相中，底片上各点得U g值就是否变化？有何规律? 3、１1试述U g与Ｕｉ关系以及对照相质量得影响。 ３、12试述底片影像颗粒度及影响因素。 3、１3什么叫最小可见对比度?影响最小可见对比度得因素有哪些？ 3、14为什么射线探伤标准要规定底片黑度得上、下限? ３、15采用源在外得透照方式比源在内透照方式更有利于内壁表面裂纹得检出，这一说法就是否正确，为什么? 3、1６在底片黑度,像质计灵敏度符合要求得情况下，哪些缺陷仍会漏检? 3、17为什么裂纹得检出率与像质计灵敏度对应关系不好？ 问答题答案 3、１答：射线照相灵敏度就是评价射线照相影像质量得最重要得指标,从定量方面来说,就是指在射线底片上可以观察到得最小缺陷尺寸或最小细节尺寸；从定性方面来说,就是指发现与识别细小影像得难易程度。 绝对灵敏度就是指在射线照相底片上所能发现得沿射线穿透方向上得最小缺陷尺寸。 相对灵敏度就是指该最小缺陷尺寸与射线透照厚度得百分比。
姓名：_______________班级：_______________分数：_______________ 一、选择题。（每题3分） 1、如图,小华的家在A处,书店在B处,星期日小华到书店去买书,他想尽快地赶到书店,请你帮助他选择一条最近的路线( ) 题1 题2 A.A→C→D→B →C→F→B →C→E→F→B →C→M→B 2、如图,林林的爸爸只用两枚钉子就把一根木条固定在墙上,下列语句能解释这个原理的( ) A.木条是直的 B.两点确定一条直线 C.过一点可以画无数条直线 D.一个点不能确定一条直线 3、如右图是一条射线，一条线段和一条直线，则它们的交点的个数有（）个. 4、下列四个图中的线段(或直线、射线)能相交的是( ) A.(1) B.(2) C.(3) D.(4) 5、 A、3cm B、4cm C、5cm D、6cm
6、如图，把弯曲的河道改直，能够缩短航程.这样做根据的道理是 （） A.两点之间，线段最短 B.两点确定一条直线 C.两点之间，直线最短 D.两点确定一条线段 题6 题7 题9 7、．如图，C、D是线段AB上两点，D是线段AC的中点，若AB=10cm,BC=4cm,则AD的长等于( ) A． 2 cm B． 3 cm C． 4 cm D． 6 cm 8、平面内有三个点,过任意两点画一条直线,则可以画直线的条数是( ) 条条条条或3条 9、如图3,图中有( ) 条直线条射线条线段 D.以上都不对 10、如图，C、D是线段AB上的两个点，CD＝3cm，M是AC的中点，N是DB的中点，MN＝，那么线段AB的长等于 A． B． C．8cm D． 二、填空题。（每题3分） 11、已知线段AB=6cm,点C是它的三等分点之一,则线段AC= cm. 12、如图,将射线OA反向延长得射线,线段CD向延长得直线CD. 12题 14题
二、选择题 4.1 按照“高灵敏度法”的要求，Ir192γ射线适宜透照钢的厚度范围是（） A.20-80mm； B.30-100mm； C.6-100mm； D.20-120mm。 4.2 大约在哪一厚度上，Ir192射线配合微粒胶片照相的灵敏度与X射线配合中粒胶片照相的灵敏 度大致相当（） A.10-20mm B.20-30mm C.40-50mm D.80-90mm 4.3 射线透照工艺条件的选择包括：（） A.射线源和能量的选择 B.焦距的选择 C.曝光量的选择 D.以上都是 4.4 Χ射线能量的选择应考虑：（） A.在保证穿透力的前提下，选择较低能量 B.合适的透照厚度宽容度 C.适当的曝光量 D.以上都是 4.5 双壁双影直透法一般多用于：（） A.Φ≤100mm的管子环焊缝的透照 B.Φ＞100mm的管子环焊缝的透照 C.T（壁厚）＞8mm或g（焊缝宽度）＞Do/4的管子环焊缝的透照
D.以上都可以 4.6 以相同的条件透照一工件，若焦距缩短20%，曝光时间可减小多少？（） A.64%； B.36%； C.20%； D.80% 4.7 用半衰期为75天的Ir192源在某时间对某工件透照时的曝光时间为40分钟；5个月后，用该源对同一工件透照，为得到同样黑度的射线底片，曝光时间应为：（） A.40分钟； B.2小时； C.2小时40分； D.4小时。 4.8 若散射线忽略不计，当透照厚度的增加量相当于1/2半价层时，则胶片接受的照射量将减少多少？（） A.25%； B.70%； C.41%； D.30%。 4.9 曝光因子表达式表达了：（） A.射线能量、胶片类型和暗室处理之间的关系； B.射线强度、曝光时间和焦距之间的关系； C.射线源种类、增感屏种类和曝光时间的关系； D.射线强度、增感屏种类和曝光时间的关系。 4.10对于厚度差较大的工件进行透照时，为了得到黑度和层次比较均匀的底片，一般做法是（） A.提高管电流； B.提高管电压； C.增加曝光时间； D.缩短焦距。 4.11在同一个暗盒中装两张不同感光速度的胶片进行曝光的主要目的是( ） A.为了防止暗室处理不当而重新拍片； B.为了防止探伤工艺选择不当而重新拍片； C.为了防止胶片上的伪缺陷而重新拍片； D.用于厚度差较大工件的射线探伤，这样在不同厚度部位都能得到黑度适当的底片。 4.12用双胶片进行射线照相，要装两张不同感光速度的胶片，其选片原则是：两种胶片的特性曲线：（）
“我是技能王”射线照相技术理论培训试卷 一判断题15道，每题2分，共30分，对的打√ ,错的打×。 1.X射线和γ射线具有辐射生物效应，能够杀伤生物细胞，破坏生物组织。(√) 2.阴极电子以很高的动能飞向阳极，绝大部分能量转换为X射线，仅有一小部分转变为热能。(×) 3.射线照相法的最大优点是可以获得缺陷的直观图像，缺陷定性容易。(√) 4.便携式X射线机体积小，重量轻，便于困难位置作业。(√) 5.X射线管必须具有足够的真空度、足够的绝缘强度和良好的热传导能力。(√) 6.X射线机的技术参数中所列出的焦点尺寸通常是指实际焦点尺寸。(×) 7.像质计是用来检查和评价射线底片影象质量的工具。(√) 8.评价射线照相影像质量最重要的指标是射线照相灵敏度。(√) 9.γ射线源体积小、重量轻、不用电、不用水，特别适合野外作业。(√) 10.训机的目的是吸收X射线管内的气体，提高X射线管的真空度。(√) 11.使用铅增感屏是减少散射线最方便,最经济也是最常用的方法。(√) 12.外径小于等于89mm，壁厚小于等于8mm的小径薄壁管，一般采
用双壁单影法透照。(×) 13.水洗不充分的底片，长期保存后会出现发黄现象。(√) 14.显影时间的长短对底片的黑度和反差不会造成太大的影响。(×) 15.显影温度与配方有关，手工处理的显影配方推荐的显影温度多在18℃—22℃。(√) 二．选择题（单选）共15道，每题2分，共30分。 1．下列哪种材料的靶产生X射线的效率最高？（B ） A、低原子序数材料 B、高原子序数材料 C、低硬度材料 D、高硬度材料 2．射线的生物效应与下列哪些因素有关？（D） A、射线的性质和能量 B、射线的照射量 C、肌体的照射量 D、以上都是 3．射线检测人员每年允许接受的最大射线剂量为：（B ） A、50雷姆 B、5雷姆 C、0.5雷姆 D、以上都不对 4.X射线管的有效焦点是指：（C）。 A、阳极靶面积 B、电子流轰击的几何尺寸 C、电子流轰击的几何尺寸在透照方向上的正投影尺寸 D、阴极面积 5．显影时，哪一条件的变化会导致影像颗粒粗大？（D） A、显影液活力降低 B、显影液搅动过度 C、显影时间过长 D、显影温度过高 6．胶片的银盐颗粒粗时：（A ） A、感光度高 B、清晰度高 C、对比度高 D、灵敏度高
158 第三篇 常用无损检测技术 第15章 射线照相检测技术 15.1射线照相检测技术概述（Ⅱ级人员仅要求本节内容） 射线是具有可穿透不透明物体能力的辐射，包括电磁辐射（X 射线和γ射线）和粒子辐射。在射线穿过物体的过程中，射线将与物质相互作用，部分射线被吸收，部分射线发生散射。不同物质对射线的吸收和散射不同，导致透射射线强度的降低也不同。检测透射射线强度的分布情况，可实现对工件中存在缺陷的检验。这就是射线检测技术的基本原理。射线照相检测技术，利用射线对胶片可以产生感光作用的原理，采用胶片记录透射射线强度，在底片上形成不同黑度的图像，完成检验。图15—1显示了射线照相检测技术的基本原理。 射线照相检测的基本过程为准备、透照、暗室处理、评片，从底片上给出的图像，判断缺陷性质、分布、尺寸，完成对工件的检验。 图15-1 射线照相检测技术基本原理 图15-2 光电效应示意图 射线照相检验技术可应用于各种材料（金属材料、非金属材料和复合材料）、各种产品缺陷的检验。检验技术对被检工件的表面和结构没有特殊要求。检验原理决定了，这种技术最适宜检验体积性缺陷，对延伸方向垂直于射线束透照方向（或成较大角度）的薄面状缺陷难于发现。射线照相检验技术特别适合于铸造缺陷和熔化焊缺陷的检验，不适合锻造、轧制等工艺缺陷检验。现在它广泛应用于航空、航天、船舶、电子、兵器、核能等工业领域。 射线照相检测技术直接获得检测图像，给出缺陷形貌和分布直观显示，容易判定缺陷性质和尺寸。检测图像还可同时评定检测技术质量，自我监控工作质量。这些为评定检测结果可靠性提供了客观依据。 射线照相检测技术应用中必须考虑的一个特殊问题是辐射安全防护问题。必须按照国家、地方、行业的有关法规、条例作好辐射安全防护工作，防止发生辐射事故。 15.2射线照相检测技术基础 15.2.1 射线与物质的相互作用 射线按其特点分为二类：电磁辐射和粒子辐射，以下仅讨论Ｘ射线与γ射线（电磁辐射）。 Ｘ射线、γ射线与物质的相互作用是光量子和物质的相互作用。包括光量子与原子、原子核、原子的电子及自由电子的相互作用。主要的作用是：光电效应、康普顿效应、电子对效应和瑞利散射。图15—2、图15—3、图15—4是光电效应、康普顿效应、电子对效应作用示意图。
三、问答题 4.1 试述射线源的选择原则。 4.2 X 射线线质的选择需要考虑哪些因素？ 4.3 选择透照焦距时应考虑哪些因素？
4.4 何谓曝光量？X、
射线的曝光量分别指什么？
4.5 何谓曝光因子？何谓平方反比定律？ 4.6 何谓互易定律失效？它对射线照相有何影响？ 4.7 从提高探伤质量的角度比较各种透照方式的优劣？ 4.8 计算一次透照长度时，公式中的外径 Do 是否计入焊缝余高? 4.9 计算搭接长度时，公式中的工件表面至胶片距离 L2 是否要考虑焊缝余高? 4.10 计算几何不清晰度 Ug 时，公式中的工件表面至胶片距离 L2 是否要计入焊缝余高? 4.11 曝光曲线有哪些固定条件和变化参量。 4.12 为什么说不同的 X 射线机的曝光曲线各不相同？ 4.13 试述散射线的实际来源和分类。 4.14 影响射线照相质量的散射线是如何产生的？ 4.15 散射比的影响因素有哪些？ 4.16 常用控制散射线的方法有哪些？ 4.17 焊缝透照的基本操作包括哪些内容？ 4.18 焊缝余高对 X 射线照相质量有什么影响？ 4.19 透照有余高焊缝应注意哪些事项？ 4.20 透照余高磨平的焊缝怎样提高底片灵敏度？ 4.21 大厚度比试件透照采取的特殊技术措施有哪些？ 4.22 指出小口径管对接焊缝射线照相对缺陷检出的不利因素，并提出改进措施。
4.23 计算小径管透照平移距离时，公式中的工件表面至胶片距离 L2 是否要计入焊缝余高？ 4.24 射线照相实际透照时，为什么一般并不采用最小焦距值？ 4.25 什么是优化焦距 Fopt？射线检测中选择优化焦距的目的是什么？
问答题答案 4.1 答：射线源选择的原则： （1）对轻合金和低密度材料，最常用的射线源是 X 射线； （2）透照厚度小于 5mm 的钢（铁素体钢或高合金钢），除非允许较低的探伤灵敏度，也要选择 X 射线； （3）大批量的工件实施射线照相，选择 X 射线，因为曝光时间较短； （4）透照厚度大于 150mm 的钢，宜选择兆伏级的高能 X 射线； （5）对于厚度为 50mm～150mm 的钢，选择 X 射线和 γ 射线可得到几乎相同的探伤灵敏度； （6）对于厚度为 15mm～50mm 的钢，选择 X 射线可获得较高的灵敏度；选用 γ 射线则应根据具体厚度 和所要求的探伤灵敏度，选择 Ir-192 或 Se-75，并应考虑配合适当的胶片类型； （7）对某些条件困难的现场透照工件，宜选择 γ 射线； （8）在满足几何不清晰度 Ug 的情况下，透照环焊缝尽量选择圆锥靶周向 X 射线机作周向曝光，以提高工 效和影像质量。 4.2 答： （1）适用的射线能量范围主要根据试件的材质和厚度确定，以保证能穿透试件为射线能量的下限， 以保证足够的灵敏度为射线能量的上限。 （2）具体管电压数值主要根据底片对比度要求而确定，当被检区域厚度变化较小时，需增大对比度，应采 用较低管电压；当被检区域厚度变化较大时，需兼顾宽容度，适当降低对比度，应采用较高管电压。 （3）射线能量不仅影响底片对比度，而且影响固有不清晰度和散射比，这些都应在选择射线能量时加以考 虑。 4.3 答：（1）焦距的选择应满足几何不清晰度的要求； （2）焦距的选择还应保证在满足透照厚度比 K 的条件下，有足够大的一次透照长度 L3； （3）为减少因照射场内射线强度不均匀对照相质量的影响，焦距取大一些为好。 （4）由于射线强度与距离平方成反比，焦距的增加必然使曝光时间大大延长，因此焦距也不能过大。
射线检测原理 屠耀元 华东理工大学无损检测教研室 1997.10---2009.8 第一节原子与原子结构 * 学习原子和原子核结构理论了解射线产生的机理 一原子 1 原子的概念: * 定义：组成单质和化合物分子的最小微粒，由原子核和核外电子构成。 2 原子的构成: * 原子是由原子核和核外电子所构成。 * 电子围绕原子核作行星运动；电子在一定轨道上饶核运动。 * 原子是有质量、有尺寸的一种粒子。 （1）质量：几乎集中在原子核内，核的密度非常大！如果：把核集中在 1cm3 的体积内，那么：这1cm3的体积内核的总重量为 108吨！（一万万吨！）# （2）大小：原子半径 10-8 cm 数量级。原子核半径 10-13cm 数量级。如果：核的半径为 1cm 核（1cm）电子 * ------------------------------*（约1000米） / 10-8/10-13 = 100000 倍 （3）电荷：原子核带正电；电子带负电；原子为中性。 （4）构成：原子核（质子 + 中子）+电子 数量关系：原子量 = 质子数 + 中子数 A = Z + N 例：60钴 60 = 27 + 33 质子数Z=核的正电荷数=电子数=原子序数 3 原子结构理论---玻尔理论（玻尔模型） * 20世纪初二种不同的原子结构模型 1903年：汤姆森假设：核子与电子在原子内均匀分布 # 1911年：卢瑟福模型：行星分布图11 * α散射实验否定了汤姆森假设肯定了卢瑟福模型 * 卢瑟福模型不完善，1913年玻尔提出了完善的原子结构模型 ---玻尔模型. 玻尔理论（玻尔模型）的要点： （1）原子只能存在一些不连续的稳定状态，这些稳定状态各有一定的能量E1、E2、E3.....En。处于稳定状态中运动的电子虽然有加速度，但不发生能量辐射。能量的改变，由于吸收或放射辐射的结果或由于碰撞的结果。 （2）原子从一个能量为En的稳定状态过度到能量为Em的稳定状态时，它发射（或吸收）单色的辐射，其频率υ决定于下列关系式（称为玻尔频率条件）： hυ=En-Em En、Em分别为较高、较低能级的能量值。稳定状态的改变（或能量的改变）是不连续的。 4 玻尔理论中的几个概念： * 基态：原子处于最低能量的状态称为基态，是稳定状态； * 激发态：电子获得能量从低能级轨道进入高能级轨道，该过程称为激发；此时原子处于高能量状态，称为激发态，激发态是不稳定的状态； * 原子的状态特性：任何不稳定状态的原子必将自动的回到稳定状态即回到基态；该过程将释放出原子高
1、最短波长公式：min min λνhc h eV == V 4.12m in =λ (能量公式）h 普朗克常数 2、连续谱中最大强度对应的波长与最短波长之间近似有下述关系: min 5.1λλ=IM 3、连续谱射线的总强度I ：2ZiV K I i T = Ki 为比例常数、Z 靶原子序数、i 管电流/管电压 4、连续谱X 射线的转换效率η; ZV K i =η 5、放射性原子核的衰变公式：T e N N λ-=0 λ衰变常数T 时间 6、半衰期公式：(重要公式）放射性原子核数目因衰变减少至原来数目一半时所需的时间 λ 693 .02 1= T 2 1 /0 2 T T N N = 2 1T/T 0)2 1(N N =λ为衰变常数 N 为剩余的原子核数N0为原有原子核数 T 为所用时间 7：单色窄束射线的衰减规律：T e I I μ-=0 T 为透照厚度 I 为穿透后辐射强度 0I 为原辐射强度 8、线衰减系数μ：3 3λρμZ K = T I I ) /l n (0= μ T 为透照厚度 I 为穿透后辐射强度 I 为原辐射强度 K 康普顿系数、ρ混合物密度、Z 原子序数 9、半价层： μ μ 693 .02 ln 2 1= = T μ为线衰减系数 10、半价层计算公式：穿过物体后的射线强度为入射强度一半时的穿透厚度 11、影响半值层T1/2的因素: 3 32 1693.02 ln λρμ Z K T = = K 康普顿系数、ρ混合物密度、Z 原子序数 12、宽束多色射线强度衰减规律：T e n I I μ-+=)1(0 n 为散射比 I 透射强度、I0初始强度μ为平均衰减系数T 厚度 13、主因对比度公式：n T I I +?=?1μ散射比n= I s / I p 主因对比度跟透照厚度、衰减系数和散射比有关 14、胶片梯度G 公式 ：E D E E D tga G lg /' 1lg 1lg 1 '??=-== D1黑度值、E1为对应曝光量、E1’切线与横轴交点曝光量G 为梯度或反差系数 15、黑度D ：照射光强度与穿过底片的透射光强之比常用对数值D L L 100= L L D 0lg = L 透射光强L0照射光强 宽容度L ：L=10lgE2-lgE1=E2/E1 E1、E2相对曝光量 相对灵敏度K ：K=d/T*100% d 射线可认到最细线直径、T 被检工件穿透厚度 16、射线照相对比度公式：ΔD=-0.434 G μΔT/（1 + n ），G 梯度μ衰减系数ΔT 缺陷尺寸n 散射比 17、射线照相几何不清晰度：Ug = df ×L2／L1=df ×L2/(F-L2) df 焦点尺寸、L1焦点至工件表面距离、L2工件表面至胶片距离、F 焦距 固有不清晰度：Ui=0.0013(kV)0.79 焦距F =L1+L2 L1为交点、L2为透照厚度。 18、X 射线曝光量：E=it γ射线曝光量：E=At 19、平方反比定律：从一点源发出的辐射，强度I 与距离F 的平方成反比 I1/I2=(F2/F1)2 20、X 射线照相的曝光因子：Ψ=i t/F 2= i 1t 1/F 11= i 2t 2/F 22=……= i n t n /F n 2 i 为管电流、F 为焦距t 为曝光时间 γ射线照相的曝光因子：Ψ=A t/F 2= A 1 t 1/F 12= A 2t 2/F 22=……= A n t n /F n 2曝光因子与强度、曝光时间和焦距有关 19、透照厚度比K ：K 值与横向裂纹检出角θ的关系：K=1/Cos θ θ=cos -1(1/K) 20 、一次透照长度L 3: L 3= 2L 1tan θ L1为焦距 21、直缝单壁单影: 底片的有效评定长度： L eff =L 3+ΔL 搭接长度ΔL =L2L3/L1 L2为工件表面到胶片距离 纵缝作双壁单投影：底片的有效评定长度应为：leff=ΔL+L3′+ΔL L3′胶片侧焊缝等分长度 22、环缝单壁外照法Ｎ＝360218000 αα = α=θ-η θ=cos-1 [ 1120 +-()K T D K ] η= sin-1( D D L 0 01 2+sin θ ) K=1.1 θ=cos-1 [ 1.121.0D D T +] 当D ０＞＞T 时，θ≈cos －１Ｋ－１ K=1.1 θ=24.62 L3=πD0/N ； Ｌ＇3＝π*DI/N ΔL ≈2T ·tan θ Ｌeff ＝ΔL ／２＋Ｌ３＋ΔL ／２ α:与ＡＢ／２对应的圆心角； θ:最大失真角或横裂检出角； η- -有效半辐射角； Ｋ- 透照厚度比； Ｔ- 工件厚度； Ｄ０--- 容器外直径 Di －容器内直径 23、利用曝光曲线求非钢材的曝光量 射线等效系数（φm 表示）是指在一定管电压下，达到相同射线吸收效果（或者说获得相同底片黑度）的基准材料厚度To 与被检材料厚度Tm 之比，即： φm=T 0/T m 24、椭圆成像法偏心距 L 0=（b ＋q ）L 1/ L 2=(F-D 0-Δh)(b+q)/( D 0+Δh)=[焦距-(外径+焊缝余高)]×(焊缝宽度+开口 n I I )2 1 (0=2 1 T T n = 2 1 )2 1(0T T I I =2 1 ) 2 1(0T T I I =
实验一射线检测的原理及过程 一、实验目的 1、掌握X射线检测的基本原理和方法； 2、了解射线检测的特点和适用范围； 3、了解射线检测缺陷等级的评定。 二、实验设备器材 1、XXQ－2005携带式变频充气X射线探伤机 本机由控制器和管头（X射线发生器）及电源电缆、连接电缆等组成（控制器面板和管头结构分别如图8-1、图8-2所示）。 控制器采用可控硅单相桥式整流电路，整流后的电压经LC滤波回路滤波后变为平滑的直流电压，该电压经可控硅变频回路斩成频率可变的单向脉冲，送至高压脉冲变压器作为管头的电源。毫安稳定单元可以随X射线管灯丝电压的提高或降低改变单向脉冲的频率，以保证X射线管电流的稳定。千伏调节单元可以连续调节管电压，以适用不同厚度材料的拍片要求。 数字计时器为预置数字电子式，可按不同要求选择曝光时间，计时准确，误差小，显示直观。如果在曝光期间有保护单元动作，计时器将显示当前时间，不归零。重新开机，可继续曝光至预置时间，因而可节省胶片。 当电源电压波动时，控制器本身能自动调节，自动稳定X射线管电压和管电流，以保证获得稳定的X射线束。管电压和曝光时间均可预置，而管电流不能设置，为恒定的5毫安。 管头为组合式，X射线管、高压变压器（包括X射线管灯丝绕组）与绝缘气体一同封装在铝壳内。管头一端装有风扇和散热器，为冷却之用。绝缘气体为SF6，具有良好的介电性能。管头系完全防电击式，X射线管阳极接地，承受单向脉冲电压，设有温度保护装置，当管头温度达到规定值的±5℃时，温度继电器动作，切断高压，以确保机器安全。管头的两端环可使其立放或横卧，在搬运及工作时可做把手用。
图8-1 控制器主面板及侧面板 1.电源指示灯 2.延时指示灯 3.高压指示灯 4.电流指示灯 5.保险丝 6.曝光计时器 7.曝光时间设定拨码盘8.电源接头9.接地线接头10.控制线连接电缆接头 11.电源开关12.高压关按钮13.曝光电压调节旋钮14.高压开按钮 图8-2 管头结构示意图X射线管结构示意图 1、把手 2、风扇 3、阳极体 4、主体套1、玻璃管壳2、聚焦杯3、阴极灯丝 5、X射线 6、遮蔽铝 7、阴极射线4、阳极罩5、窗口6、阳极靶 8、高压变压器9、阴极体10、铝壳7、阳极体 11、气压表12、控制线连接电缆接头 2、其它辅助器材及耗材 黑度计、射线胶片、金属箔增感屏、线型像质计、暗盒、铅字、屏蔽铅板、中心指示器、卷尺、钢印、观片灯 ℃ 黑度计用于检查射线底片的黑度，要求在国家标准规定的范围内。 ℃ 射线胶片用于显示和记录保存，底片质量必须符合标准要求。 ℃ 金属箔增感屏用来增强胶片的感光效果，加快感光速度，减少透照时间，提高效率和底片质量。 ℃ 线型像质计用来检查和确定底片影像质量，按标准选取。 ℃ 暗盒用来放置胶片和增感屏。 ℃ 铅字用于记录探伤范围、日期、透照工件编号和透照时的中心点。 ℃ 屏蔽铅板用于防止透照时的背散射，提高底片质量。 ℃ 中心指示器用于透照时，探伤机头与透照工件的对中。
1、最短波长公式： (能量公式） 2、连续谱中最大强度对应的波长与最短波长之间近似有下述关系: 3、连续谱射线的总强度I： 4、连续谱X射线的转换效率η; 5、放射性原子核的衰变公式： 6、半衰期公式：(重要公式）放射性原子核数目因衰变减少至原来数目一半时所需的时间 7：单色窄束射线的衰减规律： 8、线衰减系数μ： 9、半值层： 10、半值层计算公式：穿过物体后的射线强度为入射强度一半时的穿透厚度(重要公式） 11.影响半值层T1/2的因素: 12、宽束多色射线的强度衰减规律： 13、主因对比度公式：
Ⅰ=Ⅰs+Ⅰp=Ⅰp（1+n) 散射比n= I s / I p 14、胶片对比度公式： 15、射线照相对比度公式：ΔD=-0.434 GμΔT /（ 1 + n ） 16、黑度D：照射光强度与穿过底片的透射光强之比的常用对数值 17、射线照相几何不清晰度： Ug = df×L2／L1=d f×L2／（F-L2) 18、X射线曝光量：E=it γ射线曝光量：E=At 19、平方反比定律：从一点源发出的辐射，强度I与距离F的平方成反比 I1/I2=（F2/F1）2 20、X射线照相的曝光因子：Ψ=i t/F2= i1 t1/F11= i 2t2/F22=……= i 2 n t n/F n γ射线照相的曝光因子：Ψ=A t/F2= A1 t1/F12= A 2t2/F22=……= A 2 n t n/F n 19、K值与横向裂纹检出角θ的关系：K=1/Cosθ θ=cos-1(1/K) 20、一次透照长度L3: L3= 2L1tanθ 21、直缝单壁单影: 底片的有效评定长度： L eff=L3+ΔL 纵缝作双壁单投影：底片的有效评定长度应为：l eff=ΔL+L3′+ΔL 22、环缝单壁外照法Ｎ＝α=θ-η θ=cos-1 [] η= sin-1( ) K=1.1 θ=cos-1 [] 当D０＞＞T时，θ≈cos－１Ｋ－１K=1.1 θ=24.62 L3=Ｄ０／Ｎ； Ｌ＇3＝．Ｄｉ／Ｎ ΔL≈2T·tanθ Ｌeff＝ΔL／２＋Ｌ３＋ΔL／２ α:与ＡＢ／２对应的圆心角； θ:最大失真角或横裂检出角； η- -有效半辐射角； Ｋ- 透照厚度比； Ｔ- 工件厚度； Ｄ０---容器外直径 D i－容器内直径 23、环缝单壁内照法 1）F＜R的偏心法
射线检测Ⅱ级人员开卷笔试练习题 一、相关法规、规范 1）判断题 1.《特种设备无损检测人员考核规则》规定考核范围内的无损检测方法包括射线（RT）、超声（UT）、磁粉（MT）、渗透（PT）、声发射（AE）和涡流（ECT）六种。 2.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，特种设备《检测人员证》的有效期为4年。 3.《特种设备无损检测人员考核规则》要求报考的检测人员至少单眼或者双眼的裸眼或者矫正视力不低于《标准对数视力表》的5.0级。 4.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，各级人员笔试和实际操作考试的合格标准均为70分。 5.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，年龄65周岁以上（含65周岁）人员的换证申请不再予以受理。 6.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，换证分为考试换证和审核换证两种方式，审核换证应当在取证后首次换证时实施，以后采取考试换证与审核换证交替实施，不得连续实施审核换证。 7.《锅炉安全技术监察规程》适用于符合《特种设备安全监察条例》范围内的固定式承压蒸汽锅炉、承压热水锅炉、有机热载体锅炉、以及以余热利用为主要目的的烟道式、烟道与管壳组合式余热锅炉。8.《锅炉安全技术监察规程》规定，锅炉受压元件及其焊接接头质量检验，包括外观检验、通球试验、化学成份分析、无损检测、力学性能检验、水压试验等。 9.《锅炉安全技术监察规程》规定，当选用超声衍射时差法（TOFD）时，应当与脉冲回波法（PE）组合进行检测，检测结论应进行分别判定。
10.锅炉受压部件无损检测方法应当符合NB/T47013（JB/T4730）《承压设备无损检测》的要求。管子对接接头实时成像应符合相应技术规定。 11.GB150－2011《压力容器》规定，第Ⅲ类容器的对接焊接接头应进行100%射线或超声波检测。 12.GB150－2011《压力容器》规定，对于进行局部射线或者超声波检测的压力容器，其公称直径D N ≥250mm的接管与长颈法兰、接管与接管对接连接的焊接接头应进行100%射线或超声波检测。 13.GB150－2011《压力容器》规定，进行局部检测的焊接接头，发现有不允许的缺陷时，应在该缺陷两端的延长部位增加检测长度，增加的长度为该焊接接头长度的10%，且两侧均不少于250mm。 14.GB150－2011《压力容器》规定，压力容器无损检测档案应完整，保存时间不得少于容器设计使用寿命。 2）选择题 1.《特种设备无损检测人员考核规则》规定的超声检测方法项目为。 A.脉冲反射法超声检测。 B.衍射时差法超声检测。 C.超声检测（自动）。 D.以上都是。 2.以下哪一条不是《特种设备无损检测人员考核规则》规定的对Ⅱ级人员的能力要求？ A.调试和校准检测仪器。 B.编制或者审核无损检测报告。 C.编制和审核无损检测工艺规程。
射线判断题 1、原子核的半径约为原子半径的万分之一，其体积只占原子体积的几千亿分之一。（ T ） 2、X射线、γ射线、β粒子都属于电磁辐射。（ F ） 3、X射线由连续X射线和标识X射线组成。（ T ） 4、连续X射线的转换效率随阳极靶物质的原子序数越高、射线管的管电压越低而升高。（ F ） 5、Bq（贝可）是γ射线放射性活度的单位，Ci（居里）是γ射线放射性衰变的单位。（ T ） 6、中等能量的光子对物质作用时，电子对效应是主要的。（ F ） 7、对于相同能量的射线，透射的物质原子序数越大。物质的密度越大，衰减越大。（ T ） 8、射线穿透同一物体时，能量越低的射线衰减越弱。（ F ） 9、X射线管的阳极靶应该是耐高温的高原子序数的金属钨。（ T ） 10、X射线机常采用的冷却方式有油循环冷却、水循环冷却和辐射散热冷却三种方式。（ T ） 11、X射线机训机的过程是按照一定的程序，从低电压、低管电流逐步升压，直到达到X射线机的工作所需的最高工作电压。（ T ） 12、工业射线胶片和普通胶片没有什么差别。（ F ） 13、电子与质子的电荷基本相等，符号相同。（ F ） 14、放射性同位素的放射性活度是指其在单位时间内的原子衰变数。（ T ） 15、X射线和γ射线都是电磁辐射，而中子射线不是电磁辐射。（ T ） 16、当射线能量大于1.02MeV至2MeV时，与物质相互作用的主要形式是电子对效应。（ F ） 17、被照体离焦点越近，Ug值越大。（ T ） 18、硬X射线与软X射线传播的速度相同,但硬X射线的能量比软X射线高。（ T ） 19、新的或长期不用的Χ射线机，使用前要进行“训练”，其目的是提高射线管的真空度。（ T ） 20、X和γ射线虽然产生机理不同，但它们的传播速度相同。（ T ） 21、钴60比铱192具有较长的半衰期和较高的能量。（ T ） 22、射线会受电磁场的影响。（ T ）
射线检测复习题(第7章含答案) 一、是非题 7.1 暗室内的工作人员在冲洗胶片的过程中，会受到胶片上的衍生的射线照射，因而白血球 也会降低。（×） 7.2 一个射线工作者怀疑自己处在高辐射区域,验证的最有效方法是看剂量笔上的读数是否 也增加。（×） 7.3 热释光胶片剂量计和袖珍剂量笔的工作原理均基于电离效应。（×） 7.4 照射量单位“伦琴”只使用Χ射线或γ射线，不能用于中子射线。（√） 7.5 当Χ或γ射源移去以后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残留极低的辐射。（×） 7.6 即使剂量相同，不同种类辐射对人体伤害是不同的。（√） 7.7 小剂量，低剂量率辐射不会发生随机性损害效应。（×） 7.8 只要严格遵守辐射防护标准关于剂量当量限值的规定，就可以保证不发生辐射损伤。 （×） 7.9 从Χ射线机和γ射线的防护角度来说，可以认为1戈瑞=1希沃特。（√） 7.10 焦耳/千克是剂量当量单位，库仑/千克是照射量单位。（√） 7.11 剂量当量的国际单位是希沃特，专用单位是雷姆，两者的换算关系是1希沃特=100 雷姆。（√） 7.12 Χ射线比γ射线更容易被人体吸收，所以Χ射线对人体的伤害比γ射线大。（×） 7.13 当照射量相同时，高能Χ射线比低能Χ射线对人体的伤害力更大一些。（√） 7.14 辐射损伤的确定性效应不存在剂量阀值，它的发生几率随着剂量的增加而增加。 (×) 7.15 照射量适用于描述不带电粒子与物质的相互作用，比释动能适用于描述带电粒子与物 质的相互作用。(×) 7.16 在辐射防护中，人体任一器官或组织被Χ和γ射线照射后的吸收剂量和当量剂量在数 值上是相等的。(√) 7.17 吸收剂量的大小取决于电离辐射的能量，与被照射物体本身的性质无关。 (×) 7.18 辐射源一定，当距离增加一倍时，其剂量或剂量率减少到原来的一半。 (×) 二、选择题 7.1 收剂量的SI单位是( B ) A.伦琴(R) B.戈瑞(Gy) C.拉德(rad) D.希沃特(Sv)