用迈克尔逊干涉仪测量单层薄膜的厚度和折射率
实验的改进
于海峰 蒋晓冬 韩厚年
（淮阴工学院 淮安 223003）
摘要：迈克尔逊干涉实验是大学物理实验中的一个重要实验，本文对迈克尔逊干涉仪测定薄膜的厚度和折射率实验的传统方法进行了改进，我们对原测量仪器稍做调整,提高了条纹视见度,减少了测量误差，提高了测量精度。
关键词：迈克尔逊干涉仪；光程；薄膜厚度；折射率；等厚干涉;白光干涉
引言
目前测量薄膜厚度和折射率的方法有多种，例如椭偏法、准波导法等等[1][2]。其中在实验室中最常用、最简单方便的方法是利用迈克尔逊干涉方法来进行测量。
迈克尔逊干涉仪是一种典型的分振幅双光束干涉装置,可用于观察光的干涉现象，测定单色光的波长，测定光源的相干长度。附加适当装置后，可以扩大实验范围，其中，用来测量薄膜的厚度和折射率就是其扩展实验之一。
问题提出
用迈克尔逊干涉仪测薄膜的厚度和折射率, 是利用在光程差约等于零时观测白光的彩色等厚干涉条纹。其做法是先调出白光条纹，然后将薄膜放在分光板2G 与反射镜2M 之间(薄膜与光线垂直),或薄
膜贴在2M 镜上，再调出零光程差的彩色干涉条纹,反射镜移动距离d
与薄透明体厚度l 、透明体折射率n 、空气折射率0n 有关系式：
0()d l n n =-
但是，利用上述测量单层薄膜的折射率和厚度[3][4] 的过程中存在着诸多的缺陷，首先要看到较好的等厚干涉条纹，要求单层薄膜本身较平整，以往简单的插入薄膜并不能保证薄膜的平整性，而把薄膜贴在2M 镜上，膜与镜之间也容易产生气泡，影响测量的精确性。再者要求白光等厚干涉条纹的可观测性较强，便于测量。本实验介绍了用迈克尔逊干涉仪方便，简单、清晰的观测等厚干涉条纹，进而用来测量单层薄膜厚度和折射率的方法。
实验原理
用迈克尔逊干涉仪测单层薄膜的厚度和折射率的实验装置如图1
所示。其中反射镜
M、2M和半反射镜1G、补偿板2G构成干涉仪的主
1
体,S为光源，A为一透光性较差的透明膜片，其所产生漫反射可以降低光源在的镜面中的反射，相对增大干涉条纹的亮度，从而增强可观测性。Q为带有十字叉丝的望远镜，其中，实验中采用望远镜的作用主要有以下两点，一是通过该望远镜可以清晰的观察到白光等厚干涉条纹，二是在观测条纹的移动时，可以借助望远镜中的十字叉丝的水平线作为一个基准线，便于测量。为了更方便的观测干涉条纹，实验过程中望远镜与CCD示教仪相连，彩色条纹的可观测性大为改善。P 为放置薄膜的U型插槽，根据测量的需要可以将不同的待测薄膜方便的放入其中，而且可以保证薄膜的平整度，从而减小由于薄膜的非平整度所带来的影响。
图1
我们将待测透明薄膜插在图2所示的灰色区域，
移动
M的位置，观测白光等厚干涉，观测过程中可
1
以明显看到非单一的彩色条纹，各个位置的彩色条
纹各具特点。实验中我们采用的是宽光源，则光束
2在经过
M和待测薄膜后，其反射回来的光束可以
2
归结为以下几种可能性，如图3：
（1）经薄膜上表面反射回来与
M镜反射回来的光
1
束进行干涉的光束A。
（2）经薄膜下表面反射回来与
M镜反射回来的光束进行干涉的光束
1
B。
（3）经
M镜表面反射回来且不经过薄膜层与1M镜反射回来的光束进2
行干涉的光束C。
（4）经
M镜表面反射回来且经过薄膜层与1M镜反射回来的光束进行2
干涉的光束D。
图3
分析以上四种干涉的产生，是由于光程差的不同而引起，通过
M
1
镜的移动可找到各干涉发生时
M镜的位置，我们若以第(1)种干涉发
1
生时
M镜的位置作为参考位置，则第(2)种与第(1)种相比多增加了1
2nl的光程，n为薄膜的折射率，l为薄膜的厚度，即第(2)种干涉发生
时，
M镜与第(1)种干涉发生时1M镜的位置相比其位置移动了n l的距1
离；第(3)种干涉发生时，
M镜与第(1)种干涉发生时1M镜的位置相
1
比移动了l h+的距离，h为该区域薄膜的下表面与平面镜
M的距离；
2
第(4)种干涉发生时，
M镜与第(1)种干涉时1M镜的位置相比移动了
1
+的距离。
nl h
实验步骤
（1）按图1把仪器摆好，首先用He-Ne激光为光源，按调节等倾干涉的调节方法将仪器调整好，并调出等倾干涉条纹。
（2）转动粗动手轮，使圆条纹变宽，当出现1～2个条纹时，用微动手轮再仔细调到条纹消失，即零光程位置。
（3）将光源换成平行的白光光源，可观察到中央为直线黑纹，两旁有对称分布的彩色条纹的白光干涉条纹。此时，以十字叉丝为基准，调节使中央黑纹与十字叉丝基点对齐，记下此时
M镜的位置。
1
（4）此时移动镜
M的位置为1d，将待测薄膜插入U型插槽中（如
1
图2），再次调出白光干涉条纹，仍以十字叉丝为基准，记下此时
M的
1
位置（读数为
d），因为移动镜1M移动引起的光程变化应补偿由于插2
入薄膜而引起的光程变化。在测量过程中如果测定了各干涉发生时平面镜
M镜的位置，则各干涉产生的光程差的关系，可同时得到薄膜1
厚度l、薄膜的折射率n及空气层厚度h。
结论
测量过程表明，本文所提出的实验方法可行，所用器材都是实验室常用设备，使用设备简单，影响测量结果因素少。迈克尔逊干涉仪在测量前校准后不再改变，实验过程中只需调整、更换被测物。另外，
在以上实验的基础上，可以增加CCD进行观测,并还可以对观测到的干涉条纹利用数码相机采集得到，使观测到的现象更加直观。在实验过程中，若使用光学减震平台、光电记数器、采用计算机处理数据，可进一步提高检测精度。
参考文献
[1] 孙香冰，任诠等.测量薄膜折射率的几种方法.量子电子学报，2005.22(1)：13-18
[2]黄佐华，何振江.测量薄膜厚度及其折射率的光学方法.现代科学仪器，2003，4：42-44
[3] 沈朝晖，王晶，马廷军.用迈克尔逊干涉仪测量单层薄膜的厚度和折射率.大学物理实验，1994.3，7(1)：1-3
[4] 栾兰，闪辉，马秀芳，沈元华.迈克耳孙干涉仪测平行玻片折射率实验的进一步研究，2000.11，19(11)：20-23
T o improve the thickness and refractive index of single-layer film measured by Michelson interferometer
Yu Haifeng Jiang Xiaodong Han Hounian
（Huaiyin Institute of Technology Huaian 223003）Abstract: Experimental research on the thickness and refractive index of single-layer film make good use of Michelson interferometer. The paper improved the traditional measuring method, the original optical instrument little adjustment, increased field-of-view, the precision of measurement has been improved.
Keywords: Michelson interferometer; optical distance; film thickness; refractive index; equivalent thickness interference; interference of white light
椭偏仪测量薄膜厚度和折射率 近代科学技术中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，能够更加迅速和精确地测量薄膜的光学参数例如厚度和折射率已变得非常迫切。 在实际工作中可以利用各种传统的方法来测定薄膜的光学参数，如布儒斯特角法测介质膜的折射率，干涉法测膜。另外，还有称重法、X 射线法、电容法、椭偏法等等。其中，椭圆偏振测量（椭偏术）是研究两媒质界面或薄膜中发生的现象及其特性的一种光学方法，其原理是利用偏振光束在界面或薄膜上的反射或透射时出现的偏振变换。因为椭偏法具有测量精度高，灵敏度高，非破坏性等优点，已广泛用于各种薄膜的光学参数测量，如半导体、光学掩膜、圆晶、金属、介电薄膜、玻璃（或镀膜）、激光反射镜、大面积光学膜、有机薄膜等，也可用于介电、非晶半导体、聚合物薄膜、用于薄膜生长过程的实时监测等测量。 实验目的 了解椭圆偏振测量的基本原理，并掌握一些偏振光学实验技术。 实验原理 光是一种电磁波，是横波。电场强度E 、磁场强度H 和光的传播方向构成一个右旋的正交三矢族。光矢量存在着各种方位值。与光的强度、频率、位相等参量一样，偏振态也是光的基本量之一。 在一光学材料上镀各向同性的单层介质膜后，光线的反射和折射在一般情况下会同时存在的。通常，设介质层为n 1、n 2、n 3，φ1为入射角，那么在1、2介质交界面和2、3介质交界面会产生反射光和折射光的多光束干涉。 这里我们用2δ表示相邻两分波的相位差，其中222cos /dn δπφλ=，用r 1p 、 r 1s 表示光线的p 分量、s 分量在界面1、2间的反射系数， 用r 2p 、r 2s 表示光线的p 分量、s 分量在界面2、3间的反射系数。 由多光束干涉的复振幅计算可知： 2122121i p p rp ip i p p r r e E E r r e ?δ --+= + (1) 2122121i s s rs is i s s r r e E E r r e ? δ --+=+ (2) 其中E ip 和E is 分别代表入射光波电矢量的p 分量和s 分量，E rp 和E rs 分别代表反射光波电矢量的p 分量和s 分量。现将上述E ip 、E is 、E rp 、E rs 四个量写成一个量G ，即：
实验三干涉显微镜测量薄膜厚度 一、实验目的 1． 掌握干涉显微镜的工作原理及使用方法； 2． 用干涉显微镜测量薄膜厚度。 二、实验说明 2.1 实验原理 把显微镜和光波干涉仪结合起来设计而成的显微镜为干涉显微镜。干涉显微镜的类型很多，常用的干涉显微镜是以迈克耳逊干涉仪为原型，其原理却都是以劈尖干涉为基础的，下图1为劈尖干涉的示意图： 若在两块平面玻璃间垫一细丝，即形成一个空气劈尖（为便于说明问题图中夸大了细丝的直径）。当一束单色光射入时，则在空气劈尖（n=1）上下两表面所引起的反射光线将相互干涉。若这两束光的光程差恰为半波长的奇数倍时，则发生相消干涉而呈现暗色条纹；若光程差为半波长的偶数倍时，发生加强干涉而得到明亮条纹。一定的明暗条纹对应一定的厚度，所以这些干涉条纹也叫等厚条纹。条纹间的距离l ，随劈尖的夹角而变化，越小，l 越大。 在迈克耳逊干涉仪中，只要某一光程差发生变化，就要引起干涉场中条纹移动，光程差每改变半个波长()，则干涉条纹移动一个条纹间距。故待测样品表面若存在局部不平, 结果会导致干涉条纹发生弯曲, 条纹弯曲的程度是样品表面微观凹凸不平程度的反映, 只要测出条纹的弯曲量就可以求出样品表面的凹凸量。根据这一原理, 可借助该仪器来测量镀膜膜层的厚度. 设M 1、M 2是两个不严格垂直的理想平面，则得到等厚干涉直线条纹。若表面M 2上有沟槽，干涉条纹将发生弯曲或断折，如图2所示。沟槽的深度h 由式（4—1）决定。 （4—1） θθ2λe H h ?= 2λ 图 1 劈尖干涉的示意图图2表面沟槽及干涉条纹的形状图3薄膜与其干涉条纹的形状
式中，Ｈ为干涉条纹曲折量，e 为条纹的间距。若用白光照明，e 是指两根接近黑色的干涉条纹中心间的距离。这时λ取540nm （绿光λ=0.53μm=5300?）。若被测件的部分表面镀有厚度为h 的薄膜，则只要测量出干涉条纹间距e 和因镀膜而引起的干涉条纹位移量Ｈ，就可算出该薄膜的厚度。如图3所示。 2.26JA 型干涉显微镜的光学系统及构造 2.2.1 6JA 型干涉显微镜的光学系统 本实验用的是6JA 型干涉显微镜, 其光学系统如图1所示, 属于双光束干涉系统。光源1发出的光经聚光镜2投射到孔径光阑4平面上, 视场光阑5不在照明物镜6的前焦面上, 光经分光板7, 被分成两部分: 一部分反射, 另一部分透射. 被反射的光经物镜8射向标准反射镜M1, 再由M1 反射, 射向目镜14; 而从分光板上透射的光线通过补偿板9、物镜10射向工件表面M2, 再由M2反射, 射向目镜14. 在目镜分划板13上两束光产生干涉. 从目镜中可以观察到干涉条纹. 若样品表面平滑,则干涉条纹是平直的. 图五 6JA 型干涉显微镜构造 11a 5b 5a 105 131113 2 2a 2b 2c 14897a 44a 3 15 8 7 16 1b 1c 图4 6JA 型干涉显微镜光学系统 1-光源 2-聚光镜 3,11,15-反光镜 4-孔径光阑 5-视场光阑 6-照明物镜 7-分光板 8,10-物镜 9-补偿板 12-转向棱镜 13-分划板 14-目镜 16-摄影物镜
椭偏法测薄膜厚度和折射率 摘要 本实验通过椭圆偏振光法测量了氟化镁(MgF2)、氧化锆(ZrO2)及二氧化钛(TiO2)等介质薄膜的厚度和折射率，以及Cu和Al金属薄膜的厚度和消光系数。 关键词 椭圆偏振光法介质薄膜金属薄膜椭偏参数复折射率消光系数 一、引言 椭圆偏振测量（椭偏术）是研究两媒质界面或薄膜中发生的现象及其特性的一种光学方法，其原理是利用偏振光束在界面或薄膜上的反射或透射时出现的偏振变换。椭圆偏振测量的应用范围很广，如半导体、光学掩膜、圆晶、金属、介电薄膜、玻璃(或镀膜)、激光反射镜、大面积光学膜、有机薄膜等，也可用于介电、非晶半导体、聚合物薄膜、用于薄膜生长过程的实时监测等测量。结合计算机后，具有可手动改变入射角度、实时测量、快速数据获取等优点。 二、实验原理 在一光学材料上镀各向同性的单层介质膜后，光线的反射和折射在一般情况下会同时存在的。通常，设介质层为n1、n2、n3，φ1为入射角，那么在1、2介质交界面和2、3介质交界面会产生反射光和折射光的多光束干涉，如图(1-1) 图(1-1)
这里我们用2δ表示相邻两分波的相位差，其中δ=2πdn2cosφ2/λ，用r1p、r1s表示光线的p分量、s分量在界面1、2间的反射系数，用r2p 、r2s表示光线的p分、s分量在界面2、3间的反射系数。由多光束干涉的复振幅计算可知： 其中Eip和Eis 分别代表入射光波电矢量的p分量和s分量，Erp和Ers分别代表反射光波电矢量的p分量和s分量。现将上述Eip、Eis 、Erp、Ers四个量写成一个量G，即： 我们定义G为反射系数比，它应为一个复数，可用tgψ和Δ表示它的模和幅角。上述公式的过程量转换可由菲涅耳公式和折射公式给出： G是变量n1、n2、n3、d、λ、φ1的函数(φ2 、φ3可用φ1表示) ，即ψ=tg-1f，Δ=arg| f |，称ψ和Δ为椭偏参数，上述复数方程表示两个等式方程： [tgψe iΔ]的实数部分= 的实数部分 [tgψe iΔ]的虚数部分= 的虚数部分 若能从实验测出ψ和Δ的话，原则上可以解出n2和d (n1、n3、λ、φ1已知)，根据公式(4)~(9)，推导出ψ和Δ与r1p、r1s、r2p、r2s、和δ的关系：
OU3410 湿膜厚度仪使用方法 使用说明书
基本概述 湿膜测厚仪又叫湿膜测厚规、湿膜测试仪、湿膜检测仪、湿膜厚度测量仪、湿膜测厚仪厂家、湿膜测厚仪价格、梳式湿膜测厚仪、湿油漆测厚仪、湿涂层如何检测、湿膜卡、湿膜片、湿膜厚度卡具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
欧谱梳式湿膜厚度规是测量色漆、清漆等各种涂料湿膜涂刷厚度的测量工具，数值以微米(m m)表示。湿膜厚度规适用于平整的基板上，测量精度高。本厚度量程为10～100m m、20～200m m、250～700m m、50～750m m、50～950m m、25～2000m m、25～3000m m七种规格供选择，以适应不同行业的需要。 使用方法： 各种涂料施工后，立即将湿膜厚度规稳定垂直的放在平整的湿膜涂层表面，将湿膜厚度规从湿膜中移出，即可测得湿膜涂层的厚度。湿膜厚度应是在被湿膜浸润的那个最短的齿及邻近那个没有被浸到的齿之间。以同样方式在不同的位置再测取两次，以得到一定范围内的代表性结果。 使用完毕后，将湿膜厚度规洗净、揩干。
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焊缝探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 超声波探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 超声波探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 金属探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 便携式探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 钢结构探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 磁粉探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 超声波探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 便携式硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 便携式硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 洛氏硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 轧辊硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 手持式硬度计 https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 里氏硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 铅笔硬度计 https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 便携硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 钢管硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 韦氏硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 轧辊硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 巴氏硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 模具硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 超声波硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 洛氏硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 金属硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 硬度测试仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 布氏硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 布氏硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 肖氏硬度计 https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 铸件硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 钢板硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 硬度仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 铝合金硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 邵氏硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 橡胶硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 橡胶硬度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 电火花检测仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 电火花检测仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 电火花检漏仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 防腐层检测仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 防腐层检漏仪 https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 表面粗糙度仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 粗糙度测量仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 粗糙度测试仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 喷砂粗糙度仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 光洁度仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 便携式粗糙度仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 粗糙度仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 粗糙度检测仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 附着力测试仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 漆膜划格器https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 百格刀测试https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 百格刀 https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, LED观片灯https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 黑白密度计https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 光泽度仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 工业观片灯https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 黑度仪 https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 黑度计 https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 无损检测 https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 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《测量玻璃的折射率》学习材料 【教学目的】 1．测定一块玻璃砖的折射率； 2．验证光的折射定律。 【实验器材】 1块矩形玻璃砖、刻度尺、量角器、1张8开白纸、4枚大头针、1块木板、铅笔 【实验原理】 用两面平行的玻璃砖来测定玻璃的折射率。当光线斜入射进入两面平行的玻璃砖时，从玻璃砖射出的光线的传播方向是不变的，出射光线跟入射光线相比只有一定得侧移。只要我们找出跟某一入射光线对应的出射光线，就能求出在玻璃中对应的折射光线，从而求出折射角。再根据折射定律，就可以求出玻璃的折射率n=sin i /sin r 。 插针法确定光路的基本原理：当后两枚大头针与前两枚大头针在玻璃中的虚像处于同一视线上时，四枚大头针处于同一光路上。 【实验步骤】 1、把白纸用图钉固定在木板上。 2、在白纸上画一条直线aa '作为界面(如图所示)，过aa '上一点O 作垂直于aa '的直线NN ′作为法线，过O 点画一条入射光线AO ，使入射角i 适当大些。 3、在AO 线上竖直地插两枚大头针1P 、2P ，在白纸上放上被测玻璃砖，使玻璃砖的一个面与aa '重合。 4、沿玻璃砖的另一侧面画一条直线bb '。 5、在玻璃砖的bb '一侧白纸上竖直地立一枚大头针3P ，调整视线，同时移动3P 的位置，使3P 恰好能同时挡住1P 、2P 的像，把大头针3P 竖直插在此时位置。
6、同样，在玻璃砖bb '一侧再竖直地插一枚大头针4P ，使4P 能挡住3P 本身，同时也挡住1P 、2P 的像。 7、移去玻璃砖，拔去大头针，过3P 、4P 做一条直线BO '交bb '于O '点，连接OO '， OO '就是入射光线AO 在玻璃砖内的折射光线，折射角为r 。 8、用量角器量出入射角i 和折射角r 的大小。 9、改变入射角i ，重复上面的步骤再做三、四次。 10、算出不同入射角时，n =sin i /sin r 的值，求出几次实验中n 的平均值就是玻璃的折射率。（或图像法求折射率:用sin i 表示纵坐标，用sin r 表示横坐标，则图线的斜率就是玻璃的折射率。） 注：遇到通过作图判断两个量的关系的方法（不是线性关系的，化成线性关系）； 【记录数据】 数项值 次数 1 2 3 入射角i 折射角r sin i sin r n =sin i /sin r 【注意事项】 1、玻璃砖应选择宽度较大的(一般要求5cm 以上)，以减小确定光路方向时出现的误差，提高测量的准确度。 2、操作时不要用手触摸玻璃砖的光滑光学面，更不能把玻璃砖界面当尺子画界线，以免损坏玻璃砖的光学表面。（先在白纸上画直线作为玻璃砖的界面，再画玻璃砖的另一界面时，对齐玻璃砖的另一长边，用大头针确定两点，并以此两点画直线bb '作为玻璃砖的另一界面。） 3、大头针应垂直地插在纸上，同侧两针之间的距离要稍大些；
课程论文 题目：对玻璃折射率测定方法的探究 班级：2010级物理学本科班 姓名： 学号： 指导老师： 对玻璃折射率测定方法的探究
摘要：通过不同的方法测定玻璃的折射率，在对实验现象观察的同时，比较不同的方法之间的区别，并将实验结果与真实值比较。 关键词：玻璃，分光计，顶角，偏向角，折射率。 引言：运用钠灯灯光或激光照射玻璃，通过观察折射或反射光的性质来确定玻璃的折射率。 实验方法： （一） 最小偏向角法： 1. 实验仪器与用具：分光计，玻璃三棱镜，钠灯。 2. 实验原理： （1）将待测的光学玻璃制成三棱镜，可用最小偏向角法测其折射率n ．测量原理见图1，光线α代表一束单色平行光，以入射角i 1投射到棱镜的AB 面上，经棱镜两次折射后以i 4角从另一面AC 射出来，成为光线t .经棱镜两次折射，光线传播方向总的变化可用入射光线α和出射光线t 延长线的夹角δ来表示，δ称为偏向角．由图1可知δ＝(i 1－i 2)＋(i 4－i 3)＝i 1＋i 4－A ．此式表明，对于给定棱镜,其顶角 A 和折射率n 已定，则偏向角δ随入射角i 1而变，δ是i 1的函数. （2）用微商计算可以证明，当i 1＝i 4或i 2＝i 3时，即入射光线a 和出射光线t 对称地“站在”棱镜两旁时，偏向角有最小值，称为最小偏向角，用δm 表 示.此时，有i 2＝A /2， i 1＝(A ＋δm )/2，故2 2m A A n sin sin δ+=。用分光计测出棱 镜的顶角A 和最小偏向角δm ,由上式可求得棱镜的折射率n ． 3.实验内容： 3.1棱镜角的测定 图1
置光源于准直管的狭缝前，将待测棱镜的折射棱对准准直管，由准直管射出的平行光束被棱镜的两个折射面分成两部分。在棱镜的另外两侧分别找到狭缝像与竖直叉丝重合，分别记录此时分光计的读数''1212,,,V V V V ，望远镜的两位置所对应的游标读数之差为棱镜角A 的两倍。 3.2最小偏向角的测定 （1）将待测棱镜放置在棱镜台上，转动望远镜使能清楚地看见钠光经棱镜折射后形成的黄色谱线。 （2）刻度内盘固定。缓慢转动载物台，改变入射角，使谱线往偏向角减小的方向移动，用望远镜跟踪谱线观察。 （3）当载物台转到某一位置，该谱线不再移动，如继续按原方向转动载物台，可看到谱线反而往相反的方向移动，即偏向角变大。该谱线偏向角减小的极限位置即为最小偏向角位置。 （4）反复实验，找出谱线反向移动的确切位置。固定载物台，微动望远镜，使叉丝中间竖线对准谱线中心，记录此时分光计的读数12,V V 。 （5）转动载物台，使光线从待测棱镜的另一光学面入射，转动望远镜至对称位置，使光线向另一侧偏转，同上找出对应谱线的极限位置，相应的游标读数为 ' ' 12V V 和。同一游标左右两次数值之差是最小偏向角的2 倍，即 '' 1122()/4m V V V V δ=-+- 4.实验数据记录 表2：最小偏向角
东南大学材料科学与工程 实验报告 学生姓名班级学号实验日期2014.9.5 批改教师 课程名称电子信息材料专业方向大型实验批改日期 实验名称台阶仪测试薄膜厚度实验报告成绩 一、实验目的： 掌握测试薄膜厚度原理和方法，了解台阶仪操作技术。 二、实验原理： LVDT是线性差动变压器的缩写，为机电转换器的一种。利用细探针扫描样品表面，当检测到一个高度差别则探针做上下起伏之变化，此变化在仪器内部的螺旋管先圈内造成磁通量的变化，再有内部电子电路转换成电压讯号，进而求出膜厚。LVDT线性位置感应器，可测量的位移量小到几万分之一英寸至几英寸。 LVDT的工作原理是由振荡器产生一高频的参考电磁场，并内建一支可动的铁磁主轴以及两组感应线圈，当主轴移动造成强度改变由感应线圈感应出两电压值，相比较后即可推算出移动量。三、实验步骤： （1）开机准备 （2）放置样品 （3）参数设置 （4）扫描结果分析 （5）数据保存 四、实验内容： Si基底上沉积金属Cr薄膜的厚度的测量 五、实验结果与分析： 样品：硅片上镀铬薄膜； 实验参数：长度1000μm；持续时间40s；针压力3mg；表面轮廓是Hills and Valleys.
由实验曲线及数据，可得薄膜厚度约为（868.8-617.0）=251.8μm。 六、思考题： 1、对于用台阶仪对非完美薄膜的厚度测量，Step Hight的M和R Cursor点 的选择？ 两个点分别选在图线中的拐点处，这样倾斜的曲线会水平，比较容易得到薄膜的厚度 2、怎么样才能得到一个比较shape的台阶？ 在制备时在衬底上覆盖一个形状规则比如长方形的陪片，且覆盖片要尽量薄，边缘应整齐，这样产生的台阶才会陡峭，方便测量
椭偏仪测量薄膜厚度与折射率实验报告 组别：6９组院系:０６11 姓名:林盛学号：PB06２104 ４5 实验题目：椭偏仪测量薄膜厚度与折射率 实验目得：了解椭偏仪测量薄膜参数得原理，初步掌握反射型椭偏仪得使用方法。 实验原理: 椭圆偏振光经薄膜系统反射后,偏振状态得变化量与薄膜得厚度与折射率有关,因此只要测量出偏振状态得变化量,就能利用计算机程序多次 逼近定出膜厚与折射率。参数描述椭圆偏振光得P波与S波间得相位差经薄膜系统关系后发生得变化，描述椭圆偏振光相对振幅得衰减。有超越方程: ? 为简化方程，将线偏光通过方位角得波片后，就以等幅椭圆偏振光出射，；改变起偏器方位角就能使反射光以线偏振光出射，,公式化简为: 这时需测四个量，即分别测入射光中得两分量振幅比与相位差及反射光中得两分量振幅比与相位差，如设法使入射光为等幅椭偏光,， 则;对于相位角，有: 因为入射光连续可调,调整仪器,使反射光成为线偏光，即=0或()，则或，可见只与反射光得p波与s波得相位差有关,可从起偏器得方位角算 出、对于特定得膜，就是定值,只要改变入射光两分量得相位差,肯定会 找到特定值使反射光成线偏光, =０或（）. 实验仪器:椭偏仪平台及配件、He-Nｅ激光器及电源、起偏器、检偏器、四分之一波片、待测样品、黑色反光镜等。
实验内容： 1.按调分光计得方法调整好主机. 2.水平度盘得调整。 3.光路调整。 4.检偏器读数头位置得调整与固定. 5.起偏器读数头位置得调整与固定。 6.波片零位得调整。 7.将样品放在载物台中央,旋转载物台使达到预定得入射角７0即望远镜转过 40，并使反射光在白屏上形成一亮点。 8.为了尽量减小系统误差，采用四点测量. 9.将相关数据输入“椭偏仪数据处理程序”，经过范围确定后,可以利用逐次逼 近法，求出与之对应得d与n ；由于仪器本身得精度得限制,可将d得误差 控制在１埃左右，ｎ得误差控制在0、01左右. 实验数据: 将表格中数据输入“椭偏仪数据处理程序",利用逐次逼近法,求出与之对 应得厚度d与折射率ｎ分别为: 误差分析: 实验测得得折射率比理论值偏大,厚度比理论值偏小，其可能原因有： 1.待测介质薄膜表面有手印等杂质，影响了其折射率。 2.在开始得光路调整时,没有使二者严格共轴,造成激光与偏振片、1/４波片之 间不就是严格得正入射,导致测量得折射率与理论值存在偏差。 3.消光点并非完全消光，所以消光位置只能由人眼估测,所以可能引入误差。 4.由于实验中需多次转动及调节、安装仪器,会破坏仪器得共轴特性.虽经多次 调节，但还就是会产生误差.
物理实验报告 实验名称：椭偏仪测折射率和薄膜厚度 学院：xx 学院专业班级：xxx 学号：xxx 学生姓名：xxx 实验成绩 预习题（一空一分，共10 分） 1.（单选题）起偏器和检偏器的刻度范围为多少？（B） A.0 ° ~180° B.0 ° ~360° 2.（单选题）黑色反光镜在仪器调整中起什么作用？
实验预习题成绩： （B） A. 确定起偏器的方位 B. 确定检偏器的方位 C.确定波片的方位 3.（单选题）在椭偏仪实验中坐标系是选在待测薄膜的（B）上。 A 入射面 B 表面 4.（单选题）椭偏仪的数据处理方法有三种，即查图法、查表 法、迭代法解非线性超越方程，本实验中使用（B） A 查图法 B 查表法 5.（填空题））调整椭偏仪光路的步骤是，首先使激光光线与分光计仪器主轴垂直，并通过载物台中心，然后确定（C）的0 刻度位置，这要利用（A）的布鲁斯特角特性，然后再确定（B）0 刻度位置，最后调整1/4 波片，使其快轴与（C）成± 45° 选择答案： A 黑色反光镜 B 检偏器 C 起偏器
6.（填空题）将起偏器套在平行光管上，使0°位置朝上，从载物台上取下黑色反射镜，将检偏器管转到共轴位置，整体调节起偏器使检流计（A），固定起偏器螺钉。此时起偏器与检偏器通光方向（C）。选择答案： A 光强最小 B 光强最大 C 平行 D 垂直
原始数据记录 成绩： 1/4 玻片起偏器角度检偏器角度+45°（＞ 90°）103.4 91.7 +45°（＜ 90°）21.2 51.6 -45 °（＞ 90°）106.5 98.6 -45 °（＜ 90°）21.2 51.6 薄膜厚度： 110.0000 折射率： 1.4800
Filmetrics光学膜厚测量仪 产品名称: Filmetrics光学膜厚测量仪 产品型号: F20、F30、F40、F50、F70、F10-RT、PARTS 产品展商: 岱美有限公司 简单介绍 美国Filmetrics光学膜厚测量仪，测量膜层厚度从1nm到3.5mm。利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。 Filmetrics光学膜厚测量仪的详细介绍 其可测量薄膜厚度在1nm到1mm之间，测量精度高达1埃，测量稳定性高达0.7埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovolt aics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。 通过Filmetrics膜厚测量仪最新反射式光谱测量技术,最多4层透明薄膜厚度、n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如: 半导体工业: 光阻、氧化物、氮化物。 LCD工业: 间距(cell gaps)，ito电极、polyimide 保护膜。 光电镀膜应用: 硬化镀膜、抗反射镀膜、过滤片。 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择: F20 : 这简单入门型号有三种不同波长选择(由220nm紫外线区至1700nm近红外线区)为任意携带型，可以实现反射、膜厚、n、k值测量。 F30:这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。
OU3500 涂层厚度测量仪 使用说明书
附表一： 功能OU3500F OU3500N OU3500FN 测量原理磁性涡流磁性/涡流测量范围标准配置探头（F1/N1)：0 1250μm 测量精度±（3%H+1）μm（零点校准）±（1%H+1）μm（二点校准） 统计量平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV) 存贮和统计500个测量值 零点校准√√√二点校准√√√删除功能√√√自动关机√√√蜂鸣声提示√√√错误提示√√√ 标准配置主机、F1探头、基 体、校准片、说明 书、包装箱 主机、N1探头、 基体、校准片、说 明书、包装箱 F1(N1)探头、基 体、校准片、说明 书、包装箱 选配件F400、N400、 F1/90、F10、 CN02 F400、N400、 F1/90、F10、 CN02 F400、N400、 F1/90、F10、 CN02、打印机、 通讯软件
一、概述 本仪器根据探头类型的不同，分别运用磁感应和涡流原理测量覆层厚度，并符合以下工业标准： JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 1.1 应用 本仪器是便携式、快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。 配置不同的探头，适用于不同场合。 1.2 测量原理 本仪器根据探头类型的不同，采用了磁性法和涡流法两种测厚方法。 F型探头采用磁性法，可测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)。 N型探头采用涡流法，可测量非铁磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)和奥氏体不锈钢上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。 1.3 仪器配置 1.3.1 标准配置 主机 ---------------------------------------1台 探头（F1或N1） -----------------------1支 基体 ---------------------------------------1块 标准片 ------------------------------------5片 9V碱性电池------------------------------1节 使用说明书 ------------------------------1本 1.3.2 可选件 其他型号探头 ---------------------------（适用于OU3500） 打印机 ------------------------------------1台(适用于OU3500B) 通讯电缆 ---------------------------------1条(适用于OU3500B) - 1 -
路面标线厚度测定仪 产品名称：OU3300标线测厚仪 ?产地：中国销售：沧州欧谱 ?OU3300标线厚度测定仪是专为生产、质量监督、工程施工和 监理等单位测量标线厚度而设计和生产的。标线厚度测定仪 符合我国标线技术标准GB/T16311-2005的要求 ? 一、产品特点： OU3300标线厚度测定仪是专为生产、质量监督、工程施工和监理等单位测量标线厚度而设计和生产的。具有结构合理、操作简单、适用性广、测量精度高、数字保持功能、测量安全及可靠性好等特点。 OU3300标线厚度测定仪符合我国标线技术标准GB/T16311-2005的要求。 二、技术指标 测量范围：0~12mm 测量精度：0.01mm 三、结构组成 OU3300标线厚度测定仪主要由数字式高精度百分表头、测厚度机构和百分表锁止螺钉组成。 四、操作步骤 1. 准备：将测量底座和移动平块（测厚度机构）处于同一水平上，再将数字式高精度百分表头置入测厚度机构的安装座内，然后调紧螺钉。 2. 显示屏读数清零：将数字式高精度百分表头显示屏清零。 3. 测量：将测量底座置于待测标线上面，使其与移动块的接合处的边缘与标线边缘平行，移动块能够自由落下或下移即可测量标线的厚度。为便于读数可按数字式高精度百分表头的保持按钮，提起标线厚度测定仪读取并记录数值。
五、注意事项 1. 为了保障测量结果的准确度，在测量前应尽量调整好标线厚度测量仪的零值。 2. 为了确保移动块的移动应在试验前应注意调整好其与标线的相对位置。 3. 测量时应注意解除数字式高精度百分表头的保持功能，一般连续按保持按钮3次即可，让标线厚度测定仪处于测量状态。 4. 注意防止仪器在测量过程的跌落，以免仪器的损坏。长时间没有测量任务时应取出数字式高精度百分表的电池，以延长其使用寿命。 5. 本仪器知识产权归本公司所有，严禁仿制；否则，本公司将终止履行相关维修义务，并保留法律的权利。 6. 对本使用说明书如有疑惑欢迎赐教。 七、贮存条件 测定器及其附件应存放在干燥、清洁、无振动、无易燃、易腐蚀物品的环境条件下。 资料来源： 测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 超声波测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 钢板测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 金属测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 管道测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 钢管测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 厚度测量仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 超声测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 高温测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 壁厚测量仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 超声波测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 铸铁测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 膜厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 涂层测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 涂层测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 镀层测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 油漆测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 油漆测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 漆膜测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 薄膜测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 锌层测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 防腐层测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 磁感应测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 涡流测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 膜厚测试仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 覆层测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 电镀层测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 涂镀层测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 镀锌层测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 电解测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 氧化膜测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 磁性测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 干膜测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 湿膜测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 镀铬测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 标线测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 磷化膜测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 湿膜厚度规https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 钢结构测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 镀铬测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 涂层厚度仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 涂料测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 镀镍测厚仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 管道探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 超声探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 磁粉探伤机https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 焊缝探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 超声波探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 超声波探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 钢轨探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 金属探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 便携式探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 钢结构探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 磁粉探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 超声波探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 超声波检测仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 铸件探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html, 容器探伤仪https://www.doczj.com/doc/cd15271803.html,