ＯＰＥＮ／ＳＨＯＲＴ测试原理
对于ＩＣ测试来说，Open/Short测试都是必须的，而且在所有测试Item来说，都是最先的，所以要开始学习测试原理，就要从Ｏpen/Short 开始学起。
１O/S的意义
O/S测试是验证是否有其他的pin与所测的pin有短路现象，或者所测pin是否开路。O/S测试可以节省测试时间，因为如果一颗IC如果已经O/S，就没有意义在进行下面的功能或参数测试了
２测试的方法
大家都应该知道，其实O/S的测试原理是每一个pin为了保护IC，对GND和VDD都有一个保护二极管，所以测试出来的电压值就是保护二极管的管压降
测试的原理：1测试对VDD二极管压降，就是给所测pin加100uA电流，其他的pin 全部给零电位，或者直接接到GND pin，二极管导通后，测试该pin的电压，通常典型值0.65V, 范围是0.2-1.5V
2测试对GND二极管压降，就是给所测pin加-100uA电流，其他的pin 全部给零电位，或者直接接到GND pin，二极管导通后，测试该pin的电压，通常典型值-0.65V, 范围是-0.2V-(-1.5V)
３测试出现的问题
如果测到的值小于0.2或大于-0.2,则为short,如果测到的值小于-1.5或大于1.5则为open,当然有的时候测到的值非常的临界，则有可能是电压电流源连接到所测试的pin接触电阻比较大，电流留过去的时候造成电压较大，所以接触问题，是测试O/S最大的问题