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设备试题题-第六章 数字X线设备

设备试题题-第六章数字X线设备

1、IP的基本组成结构不包括

A.CR层

B.荧光层

C.支持层

D.背衬层

E.保护层

2、关于CR的叙述,下列哪项描述是错误的

A.CR以IP代替胶片作为介质

B.IP不能重复使用

C.IP感光后的潜影经激光扫描后,转换为数字信息

D.数字影像经后处理系统处理,可在一定范围内调节图像

E.数字图像可用磁盘、光盘保存

3、CR系统可记录与读出X线影像信息的载体是

A.胶片

B.磁盘

C.lP

D.荧光屏

E.平板探测器

4、用于读出lP影像信息的光线类型是

A.可见光

B.红外线

C.紫外线

D.激光

E.电子线

5、DR使用的X线探测器是()

A.影像板

B.影像增强器

C.平板探测器

D.电离室

E.光电管

6、CR经X线照射后在影像板存留的是()

A.模拟影像

B.数字影像

C.黑白影像

D.彩色影像

E.电信号

7、CR系统具有的动态范围是()

A.1:10

B.1:100

C.1:1000

D.1:10000

E.1:10000

8、CR的全称是()

A.计算机扫描摄影

B.计算机X线摄影

C.计算机体层摄影

D.直接X线摄影

E.计算机横断面体层扫描

9、DR的全称是()

A.计算机扫描摄影

B.计算机X线摄影

C.计算机体层摄影

D.数字X线摄影

E.计算机横断面体层扫描

10、CR系统的空间分辨力为()

A.(l~2)Lpun

B.(2~4)Lp/mm

C.(4~5)Lp/mm

D.(5~6)Lp/mm

E.6Lp/mm以上

11、CR性能的检测项目不包括()

A.IP暗噪声、IP一致性、IP通过量检验、擦除完全性

B.照射量指示器校准、激光束功能

C.滤线栅效应

D.空间分辨力、空间距离准确性

E.X线剂量

12、IP的一致性和重复性检测,对同-IP所得照片的平均密度值与每一个象限测量密度值误差在()

A.±1%内

B.±5%内

C.±10%内

D.±20%内

E.±30%内

13、IP的使用寿命一般在()

A.1000次曝光

B.5000次曝光

C.10000次曝光

D.20000次曝光

E.30000次曝光

14、非晶硒平板型探测器储存信息的元件是()

A.TFT

B.a-Se

C.CSI

D.A/D转换器

E.储能电容

15、CSI闪烁晶体直径为()

A.6μm左右

B.1μm左右

C.2μm左右

D.5μm左右

E.3μm左右

16、非晶硒DR设备对环境温度要求最高不能超过()

A.22℃

B.27℃

C.37℃

D.40℃

E.50℃

17、能将X线直接转换成电信号的是()

A.胶片

B.影像板

https://www.doczj.com/doc/c79873150.html,D探测器

D.非晶硒平板探测器

E.非晶硅平板探测器

18、与CR摄影比较,DR的最大优势是()

A.数字图像

B.激光打印

C.网络传输

D.图像后处理

E.曝光后立即出像

19、为了使IP的残留信息消失,必须采用()

A.弱光照射

B.X线照射

C.紫外线照射

D.强光照射

E.红光照射

20、关于IP的叙述正确的是:()

A.IP的潜影不会消退

B.利用PSL现象

C.IP的潜影会立即消退

D.对天然辐射不敏感

21、关于CR的叙述错误的是:

A.CR以lP代替胶片作为介质

B.lP感光后的潜影经激光扫面后转换为数字信息

C.lP不能重复使用

D.数字图像可用磁盘、光盘保。

22、CR系统可记录与读出X线影像信息的载体是:

A.胶片

B.平板探测器

C.荧光屏

D.lP

23、IP的基本组成结构不包括:

A.反射层

B.荧光层

C.支持层

D.保护层

24、用于读出lP影像信息的光线类型是:

A.红外线

B.紫外线

C.激光

D.可见光

25、为使IP得残留信息消失,必须采用:

A.红光照射

B.强光照射

C.紫外线照射

D.弱光照射

26、DR中,对X线直接敏感的介质是:

A.气体电离室

B.非晶硒

C.非晶硅

https://www.doczj.com/doc/c79873150.html,D

27、非晶硅平板探测器中,为减少光散射,碘化铯晶体形状加工成

A.针状

B.扁平状

C.颗粒状

D.圆柱状

28、下列对IP不能产生显著影响的是:

A.电磁波

B.X射线

C.粒子射线

D.紫外线

29、关于DSA装置的X线管叙述错误的是:

A.有较高的散热率

B.阳极多为固定结构

C.具有大小焦点

D.有较高的热容量

30、DSA中管电压在两种能量之间进行高速切换的是哪种方式?

A.能量减影方式

B.混合减影方式

C.常规方式

D.脉冲方式

31、关于滤线栅栅比的叙述下列哪项是错误的?

A.栅比亦称栅曝光系数

B.是滤线栅的几何特性之一

C.栅比越大消除散射线作用越好

D.是栅条高度与栅条间隔之比

32、非晶硅FPD中,非晶硅光电二极管的作用是:

A.产生荧光

B.将电子转换成光子

C.将电信号转换为数字信号

D.将光转换成光电子

33、以下设备不属于数字X线设备的是

A.DF

B.DSA

C.DR

D.CR

E.MRI

34、计算机X线摄影是哪一年研制成功的

A.1972年

B.1982年

C.20世纪90年代

D.1978年

E.1979年

35、数字X线成像和传统的屏一片系统比较,不具备的优点是

A.对比度分辨率高

B.辐射剂量小

C.成像质量高

D.可进入PACS

E.空间分辨率高

36、在影像板中,能够产生光激励发光的物质是

A.PSL

B.CsI

C.PLS

D.GdZnS

E.以上都不是

37、关于影像板的说法错误的是

A.影像板形成的潜影和胶片形成的潜影相类似

B.影像板受激光扫描时,其发光的强度依赖于第一次激发的X线量

C.由于影像板影像的消退现象,其影像最好在第一次激发后的8小时内读出

D.影像板对X线敏感度低于胶片,可以不用注意其屏蔽的问题

E.影像板出现灰尘,应该需要用专用清洁液清洁

38、关于影响计算机X线摄影影像质量的因素说法错误的是

A.读出装置激光点直径越小,图像质量越好

B.影像板以及光电倍增管都会产生噪声,影响图像质量

C.数字转换会产生相应的量化噪声和伪影

D.散射线,会使计算机摄影图像的清晰度提高

E.信号的数字化,会使图像的空间分辨率下降

39、对于非晶硒探测器的说法错误的是

A.X线影像转换成数字影像的过程中,没有可见光的产生

B.硒层的主要作用是接收X线的照射,产生电子一空穴对

C.在该平板探测器中,薄膜晶体管(TFT)起开关作用,每个TFT控制一个影像像素

D.TFT像素尺寸的大小,直接决定图像的分辨率

E.在平板探测器扫描电路未清除硒层中的潜影和电容上的电荷时,可

以继续使用

40、对于非晶硅型平板探测器说法正确的是

A.该平板探测器在影像的转换过程中,没有可见光的产生

B.同样使用薄膜晶体管来接收电信号

C.与非晶态硒型平板探测器最大的区别是在影像的转换中有可见光产生

D.它使用光电二极管来接收可见光信号,两个二极管相当于一个像素

E.以上说法都正确

41、关于数字减影血管造影对X线发生器的要求错误的是

A.要求X线管能承受连续脉冲曝光的负荷量

B.要求高压发生器能产生稳定的直流电流

C.要求X线的管电压波形要平滑

D.高压的控制一般采用高质量的继电器控制

E.数字减影血管造影的曝光和图像的采集是同步的,对控制时序要求高

42、与CR相比DR的优势是

A.数字图像

B.激光打印

C.网络传输

D.图像后处理

E.直接数字成像

43、简述IP的结构。

44、简述硒型FPD的工作原理。

45、简述硅型FPD的工作原理。

46、DDR与CR比较具有哪些优点?

47、简述DSA的组成。

48、试述IP的结构、成像原理和使用注意事项。

49、试述DSA的组成及对设备的特殊要求。

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