（品管工具QC七大手法）品管七大手法讲解
品管七大手法
講解
壹.七大手法簡介:
? A.特性要因圖:尋找因果關係. ? B.柏拉圖:找出“重要的少數”. ? C.直方圖:了解數據分布與制程能力. ? D.層別法:按層分類,分別統計分析. ? E.查檢表:調查記錄數據用以分析. ? F.散布圖:找出兩者的關係. ?
G.管制圖:了解制程變異.
二.品管七大手法所體現的精神:
? 1.用事實與數據說話. ? 2.全面預防.
? 3.全因素、全過程的控制.
? 4.依據PDCA 循環突破現狀予以改善. ?
5.層層分解、重點管理.
三.特性要因圖:
?
對於結果與原因間或所期望之效果與對策間的關係,以箭頭連結,詳細分析原因或對策的壹種圖形稱為特性要因圖,工程魚骨圖或因果圖.
?
它為1952年日本品管權威學者石川馨博士所發明,又稱“石川圖”.
作法:
? 1.4M1E 法:(人、機、料、法、環境)
? 2.5W1H 法:(What 、Where 、When 、Who 、Why 、HOW) ? 3.創造性思考法:希望點例舉法、缺點列舉法、特性列案法. ?
4.腦力激蕩法:“BrainStorming”嚴禁批評、自由奔放.
兩類特性要因圖:
? 1.追求原因型:
?2.追求對策型:
柏拉圖的用途:
? 1.作為降低不良的依據.
? 2.決定改善的攻擊目標.
? 3.確認改善效果.
4.用於發掘現場的重要問題點.
? 5.用於整理報告或記錄.
? 6.可作不同條件的評價.
柏拉圖應用範圍:
? 1.時間管理.
? 2.安全.
? 3.士气.
? 4.不良率.
? 5.成本.
? 6.營業額. ?
7.醫療.
ABC 法應用:
? A.時間管理. ? B.倉務管理. ?
C.其他.
柏拉圖實例:
五.層別法:
定義:為區別各種不同原因對結果之影響,而以個別原因為主體,分別作統計分析
的方法,稱為層別法.
分類:
? 1.時間的層別. ? 2.作業員的層別. ? 3.機械、設備層別. ? 4.作業條件的層別. ? 5.原材料的層別. ?
6.地區的層別等.
0%
10%20%30%40%50%60%70%80%90%100%
實例壹:
結果顯示,周師傅的方法配美國材料良品率最高,為98%.
實例二:
法拉利笼动压成型品质情况日报表
日期：班别：□白班□夜班模号：第壹套□第二套□第三套□
實例三:
某電子廠有批精密零件于下工程裝配時發生困難,經直方圖分析,超出規格甚多,再將此100個數據,按A,B,C三種機種別加以層別,發現A機種的產品低於規格下限的很多,而C機種的產品超出規格上限的很多,B機種的產品完全于規格內.因此,只要針對A,C兩機種著手改善即可.
六.查檢表:
為了便於收集數據,
使用簡單記錄填記並予統計整理,以作進壹步分析或作為核對,
檢查之用而設計的壹種表格或圖表.
作法:
? 1.明確目的. ? 2.決定查檢項目.
? 3.決定檢查方式(抽檢、全檢).
? 4.決定查驗基準、數量、時間、對象等. ?
5.設計表格實施查驗.
查檢表的種類:
?
1.記錄用查檢表:
主要功用于於根據收集之數據以調查不良項目、不良主因、工程分布、缺點位置等情形.必要時,對收集的數據要予以層別.
規 格
規 格
A B
C
規 格
規 格
2.點檢用查檢表:
要功用是為要確認作業實施、機械設備的實施情形,或為預防發生不良或事故,確保安全時使用.這種點檢表能够防止遺漏或疏忽造成缺失的產生.
把非作不可、非檢查不可的工作或項目,按點檢順序列出,逐壹點檢並記錄之. 實例:
设备每日检查表
收集數據應注意的事項:
? 1.收集的數據必須真實,不可作假或修正.
? 2.收集的數據應能獲得層別的情報.
? 3.查檢項目基準需壹致.
? 4.樣本數需有代表性.
? 5.明確測定、檢查的方法.
? 6.明確查驗樣本的收集方法、記錄方式、符號代表意義.
?7.慎用他人提供的數據.
七.散布圖:
為研究兩個變量間的相關性,而搜集成對二組數據(如溫度與濕度或海拔高度與濕度等),于方格紙上以點來表示出二個特性值之間相關情形的圖形,稱之為“散布圖”.
關係的分類:
? A.要因與特性的關係.
? B.特性與特性的關係.
? C.特性的兩個要因間的關係.
散布圖的判讀:
?
1.強正相關:
X 增大,Y 也隨之增大,稱為強正相關. Y
? 3.強負相關:
X 增大時,Y 反而減小,
? 5.曲線相關: X 開始增大時,Y 也隨之增大,但達到某壹值后,當X 增大時,Y 卻減小.
散布圖判讀注意事項? 1.注意有無異常點. ? 2.见是否有層別必要?
3.是否為假相關.
? 4.?
5.數據太少,SPC---StatisticalProcessControl.
統計制程管制.
☆由制程調查來改進制程能力,不斷降低產品品質變異性,而提升產品品質的壹種方法.
☆七十年代風行於日本,以至於仍有不少日本人至今仍深信其功效,而抵觸ISO9000的導入. ☆它的主要工具為管制圖.
質量有兩大特性:
? 11.規律性
? 22.波動性:正常波動、異常波動
管制圖的功效:
? aA.及時掌握異常波動,克服影響因素,維持制程穩定.
Y X
?
2.弱正相關:
X 增大,Y 也隨之增大,但增大的幅度不顯著. 4.弱負相關:
X 增大時
,Y 反而減小,但幅度並不顯著.
Y
Y
X
?bB.了解制程能力.(Cpk、Ca、Cp)
?cC.應客戶的要求,提供給客戶作為質量控制的依據.
管制圖與直方圖的區別:
?1.管制圖控制時間段,直方圖控制時間點.
?2.管制圖反映的Cpk是動態的Cpk,直方圖反映的Cpk是靜態的Cpk.
?3.“直方圖是管制圖的基礎,管制圖是直方圖的升華.”
八.直方圖:
?直方圖是將所收集的測定值或數據之全距分為幾個相等的區間作為橫軸,並將各區間內之測定值所出現次數累積而成的面積,用柱子排起來的圖形.
製作步驟:
? 1.製作次數分配表:
A.由全體數據中找到最大值與最小值.如:200個數據中之170和124.
B.求出全距(最大值與最小值之差).全距=170-124=46
C.決定組數,壹般為10組左右,不宜太少或太多.
參照下表進行分組:
附表:
D.決定組距:組距=全距/組數
E.決定各組之上下組界.
1.最小壹組的下組界=最小值-測定值之最小位數/2
2.最小壹組的上組界=下組界+組距=12
3.5+4=127.5依此類推. F.作次數分配表.(如附表)
附表:
?
2.製作直方圖:畫出短形方塊及規格的上限及下限.(如附表)
? 1.
?
? 4.
?
A.?
B.: :?
5.?
6.?
7.?
1.測知制程能力,作為制程改善依據. 標準差S 愈小愈好,平均值越接近規格中限越好.
標準值S=
規格中心
(u)
規格上下限
Cp==
?
C.精確度Cpk(制程能力指數):
Cpk=(1-Ca)*Cp=或之最小值
制程能力指數判定表:
? 3.調查是否混入兩個之上不同群體: 兩個不同操作者,兩台不同機器,兩種不同材料,兩條不同生產線者. ? 4.測知有無假數據:有無因測定誤差或檢查錯誤導致之假數據(絕壁型). ? 5.測知分配型態,了解制程有無異常.
6.藉以訂定規格界限:如為常態分布,壹般來說,X+45為規格上限,X-45為規格下限.
? 7.與規格或標準值比較: A.合乎規格: a.理態型:(附圖) b.壹側無余裕:(附圖)
c.
d.余裕太多
B.a.b.
c.?
8.T 規格容許差 6r
6倍標準偏差
3a
應採取緊急措施,改善品質並追究原因,必要時規格再作檢討.
非常不足
Sl Su
0.67>Cp 5 產品有不良品產生,需作全數遷別,制程有妥善管
理及改善之必要.
不足 Sl Su 1.00>Cp ≧0.67 4 使制程保持於管制狀態否則產品隨時有發生不良品的危險,需注意. 警告 Sl Su 1.33>Cp ≧1.00 3 理想狀態,繼續維持 合格 Sl Su 1.67>Cp ≧1.33 2 制程能力太好,可酌情縮小規格,或考慮化管理與
降低成本.
太佳 Sl Su
Cp ≧1.67 1 處
制程能力判斷 分布與規格之關係 Cp NO. s
s
s
s s
317400 45500 2700 63 0.57 0.002
68.26 95.45 99.73 99.9937 99.999943 99.9999998 ±1r ±2r ±3r ±4r ±5r ±6r 百萬分缺點數 百分比(%) ±Kr
-6r -5r -4r -3r
-2r +6+1r +2r +3r +4r +5r 規格下限 規格上限
常態分配
(規格中心不偏移) 697700 308700 66810 6210 233 3.4 30.23 69.13 93.32 99.3790 99.97670 99.999660 ±1r ±2r ±3r ±4r ±5r ±6r
百萬分缺點數
百分比(%)
±Kr 下限
6r-PPM 制程介紹: ? 1.何謂6r 制程:(零缺陷的質量管理).
制程精密度Cp=2.0、制程能力指數Cpk ≧1.5、即:規格範圍為數據分布範圍的2倍. ? 2.以6r 訂為品質缺點的基準理由:
于無制程變異情況下(Cp=Cpk=2.0),產生之缺點n 率為0.002PPM(10億分之2).
于制程無法消除變異情況下,Cp=2.0,Cpk=1.5產生之缺點n 率為3.4PPM(百万分之3.4).
附圖:
九.管制圖:
?
“品質管制始於管制圖,終於管制圖”.
管制圖,是壹種以實際產品品質特性與根據過去經驗所判明的制程能力的管制界限比較,而以時間順序用圖形表示者.
E.最大值與最小值管制圖(L-SChart).?
2.計數據管制圖:管制圖所依據的數據均屬於以單位計數者.(如缺點數、不良數
5月10日
25
20 15 10
5 0 77.2 78.2 79.2 80.2 81.2 82.2 83.2 84.2 次
數
規格下限
規格上限
x
n=100
x=80.16(ms)
S=1.01(ms)
改善前
動作時間(ms)
-3r -2r -1r +1r +2r +3r
等).
A.不良率管制圖(PChart).
B.不良數管制圖(PnChart).
C.缺點數管制圖(CChart).
D.單位缺點數管制圖(UChart).
管制圖依用途分:
? 1.管制用管制圖:用於控制制程之品質,如有點子跑出界限時,立即采取如下措施.
A.追查不正常原因.
B.迅速消除此原因.
C.研究采取防止此項原因重復發生的措施.
?2.解析用管制圖:
A.決定方針用.
B.制程解析用.
C.制程能力研究用.
D.制程管制之準備用.
1.管制用管制圖先有管制界限,后有數據. (Processcontrolchart)
2.解析用管制圖先有數據,后才有管制界限.
(Set-upchart)
于計量值管制圖中,X-R管制圖系最常用的壹種,所謂平均值與全距管制圖,系平均值管制圖(XChart)與全距管制圖(RChart)二者合並使用.
平均值管制系管制平均值的變化,即分配的集中趨勢變化;全距管制圖則管制變異的程度,即分配的離散程度的狀況.
R
X
X4
X3 X2
X1 S A M P L E
TIME 4/24
4/21 4/20 4/18 4/17 4/14 4/13 4/12
4/11
4/10 4/7 4/6 DATE SAMPLING FREQUENCY:
LCL
S/S:
DIE#:
INSPECTOR:
CL SPEC: REV: M/C#: UCL PRODUCT UNIT: P/N: PERIOD: R CHART
X CHART
QUALITY CHARACTERISTIC:
DESCRIPTION:
TYPE: □ SET UP CHART □ PROCESS CONTROL CHART
CHART
23.95
23.93
23.91
R
CHART 0.05
0.02
0.00.
? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?
? ? ? ? ?
? ?? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?
?
? ? ? ? ? ? ?
x-RControlChart 繪制步驟:
? 11.Setupchart (解析用管制圖).
a.選定管制項目(工標作出規格).
b.收集數據(x 1、x 2、x 3、x 4).
c.計算各組平均值:x=
d.計算極差:R=Xmax-Xmin
e.計算總平均值:x=
f.計算极差平均值:R=
g.計算管制界限及繪出x 管制圖:
中線CLx=x 上線UCLx=x+A 2R 下線LCLx=x-A 2R R 管制圖 中線CLR=R 上線UCLR=D 4R
下線LCLR=D 3R
☆A 2、D 4、D 3由系統表查得. h.點圖:
將數據點繪管制圖上,相鄰兩點用直線連接. i.管制界限確定.
j.將計算出之管制界限確定為“processcontrolchart”(管制用管制圖)之管制界限.
? 2.ProcessControlChart:
a.繪入Setupchart 之管制界限.
b.其余作法與Setupchart 相同.
c.管制狀態判讀.
d.有異常狀態時,采取措施. f.采取措施后,管制界限重新計算.
_
_
_
_ _
管制圖界限的計算
?1.“Setupchart”階段:
如繪制管制界限后,發現有點子超界,則視為正常,無須改善.
?2.“ProcessControlChart”階段:
如Cpk壹直于1.5之上,有必要提出建議制工更改管制規格,取消原管制,因
Cpk=1.5時,不良率為3.4DPPM.
?3.不可將規格的上下限直接作為管制界限,將規格的中心值作為管制圖的中心線.
管制圖的判讀:
滿足下列條件,即可認為制程是于管制狀態:
?1.多數之點子集中于中心線附近.
?2.少數之點子落于管制界限附近.
?3.點之分布呈隨機狀態,無任何規則可循.
?4.沒有點子超出管制界限之外.
非管制狀態:
?1.點于管制界限的線外(誤判率為0.27%)
?2.點雖于管制界限內,但呈特殊排列.
(見附圖)
3.管制圖上的點雖未超出管制界限,但點的出現有下列法時,就判斷有異常原因發生.
(a)點于中心線的單側連續出現7點之上時
(b)出現的點連續11點中有10點,14點中有12點,17點中14點,20點中16點出現于中心線的單側時
(d)出現的點,連續3點中有2點,7點中有3點,10點中有4點出現于管制界限近旁(2δ線外)時
(e)出現的點,有周期性變動時
(f)3點中有2點于A 區或A 區以外者 (g)5點中有4點于B 區或B 區以外者
(h)有8點于中心線之兩側,但C 區並無點子者 (i)連續14點交互著壹升壹降者
(j)連續15點于中心線上下兩側之C 區者
(k) 有1點在A 區以外者 ? 1.品管開具制程異常聯絡單. ? 2.會簽品工、制工、模修相關人員分析原因及給出對策. ? 3.品管人員將詳細資料寫入<<改善行動記錄>>表中. ? 4.QE 依會簽結論作改善跟蹤. ?
5.品管重新量測,描點在管制狀態才可繼續生產 FORMULA
RESULT
VERIFICATION
ROOT
CAUSE
DATE
X= ￡ Xi/n
R= ￡ Ri/n UCL x= X+A2R
LCL x=X-A2R UCL r=D4R
LCLr=D3R
r=R/d2
CPK=
MIN{(UCL-X)/3r,
(X-LCL)/3r}
_ =
_
_ _