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南京大学近代物理实验2014版——椭偏光法测量薄膜的厚度和折射率

南京大学近代物理实验2014版——椭偏光法测量薄膜的厚度和折射率
南京大学近代物理实验2014版——椭偏光法测量薄膜的厚度和折射率

椭偏光法测量薄膜的厚度和折射率

引言

椭圆偏振测量(椭偏术)是研究两媒质界面或薄膜中发生的现象及其特性的一种光学方法,其原理是利用偏振光束在界面或薄膜上的反射或透射时出现的偏振变换。椭圆偏振测量的应用范围很广,如半导体、光学掩膜、圆晶、金属、介电薄膜、玻璃(或镀膜)、激光反射镜、大面积光学膜、有机薄膜等,也可用于介电、非晶半导体、聚合物薄膜、用于薄膜生长过程的实时监测等测量。结合计算机后,具有可手动改变入射角度、实时测量、快速数据获取等优点。

1.实验目的

了解椭偏光法测量原理和实验方法。

熟悉椭偏仪器的结构和调试方法。

测量介质薄膜样品的厚度和折射率。

2.实验原理

在一光学材料上镀各向同性的单层介质膜后,光线的反射和折射在一般情况下会同时存在的。通常,设介质层为n1、n2、n3,φ1为入射角,那么在1、2介质交界面和2、3介质交界面会产生反射光和折射光的多光束干涉,如图(1-1)

图(1-1)

这里我们用2δ表示相邻两分波的相位差,其中δ=2πdn2cosφ2/λ,用r1p、r1s表示光线的p分量、s分量在界面1、2间的反射系数,用r2p 、r2s表示光线的p分、s分量在界面2、3间的反射系数。由多光束干涉的复振幅计算可知:

其中Eip和Eis 分别代表入射光波电矢量的p分量和s分量,Erp和Ers分别代表反射光波电矢量的p分量和s分量。现将上述Eip、Eis 、Erp、Ers四个量写成一个量G,即:

我们定义G为反射系数比,它应为一个复数,可用tgψ和Δ表示它的模和幅角。上述公式的过程量转换可由菲涅耳公式和折射公式给出:

G是变量n1、n2、n3、d、λ、φ1的函数(φ2 、φ3可用φ1表示) ,即ψ=tg-1f,Δ=arg| f |,称ψ和Δ为椭偏参数,上述复数方程表示两个等式方程:

[tgψe iΔ]的实数部分=

的实数部分

[tgψe iΔ]的虚数部分=

的虚数部分

若能从实验测出ψ和Δ的话,原则上可以解出n2和d (n1、n3、λ、φ1已知),根据公式(4)~(9),推导出ψ和Δ与r1p、r1s、r2p、r2s、和δ的关系:

由上式经计算机运算,可制作数表或计算程序。这就是椭偏仪测量薄膜的基本原理。若d

是已知,n2为复数的话,也可求出n2的实部和虚部。那么,在实验中是如何测定ψ和Δ的呢?现用复数形式表示入射光和反射光:

由式(3)和(12),得:

其中:

这时需测四个量,即分别测入射光中的两分量振幅比和相位差及反射光中的两分量振幅比和相位差,如设法使入射光为等幅椭偏光,Eip/Eis = 1,则tgψ=|Erp/Ers|;对于相位角,有:

因为入射光βip-βis连续可调,调整仪器,使反射光成为线偏光,即βrp-βrs=0或(π),则Δ=-(βip-βis)或Δ=π-(βip-βis),可见Δ只与反射光的p波和s波的相位差有关,可从起偏器的方位角算出。对于特定的膜,Δ是定值,只要改变入射光两分量的相位差(βip-βis),肯定会找到特定值使反射光成线偏光,βrp-βrs=0或(π)。

2.1实际检测方法

等幅椭圆偏振光的获得(实验光路如图1-2),平面偏振光通过四分之一波片,使得具有±π/4相位差,使入射光的振动平面和四分之一波片的主截面成45°。

图1-2

2.2 反射光的检测

将四分之一波片置于其快轴方向f与x方向的夹角α为π/4的方位,E0为通过起偏器后的电矢量,P为E0与x方向间的夹角。,通过四分之一波片后,E0沿快轴的分量与沿慢

轴的分量比较,相位上超前π/2。

在x轴、y轴上的分量为:

由于x轴在入射面内,而y轴与入射面垂直,故Ex就是Eip,Ey就是Eis。

图1-3

由此可见,当α=π/4时,入射光的两分量的振幅均为E0 / √2,它们之间的相位差为2P-π/2,改变P的数值可得到相位差连续可变的等幅椭圆偏振光。这一结果写成:

3.实验仪器

椭圆偏振仪有多种型号。随着科学和技术的快速发展,椭偏仪的光路调节和测量数据的处理越来越完善快捷。这里介绍常用的手动型椭圆偏振测厚仪(TP-77型)和自动型椭圆偏振测厚仪(SGC-2型)。手动型椭圆偏振仪采用632.8nm波长的氦氖激光器作为单色光源,入射角和反射角均可在90度内自由调节,样品台可绕纵轴转动,其高度和水平可以调节,样平

台可绕纵轴转动,其高度和水平可以调节。检偏器旁边有一个观察窗,窗下的旋钮用以改变经检偏器出射的光或者射向光电倍增管。为了保护光电倍增管,该旋钮的位置应该经常放在观察窗位置。

SGC-2型自动椭偏仪,其自动化程度高,光路调试完毕后只要装上待测样品,点击计算机上的相应菜单,输入相应的参数,即可自动完成起偏器,检偏器的调节,找出消光点,并直接给出待测样品的d 和2n 的值。该仪器也有会出),(?ψ~),(2n d 曲线和),(?ψ~),(2n d 表格的功能,测出ψ和?值后,可在曲线上或表中查出对应的最佳的2n 和d 值。仪器还适用于测量厚度超过一个周期以上的薄膜样品。测量方法是利用“双角度”功能,设置好二次测量的角度,点击菜单,就可以得出样品的周期数以及样品的总厚度值。对于厚度超过一个周期的薄膜,相应的光程差引起的相位差超过了一个周期360度,这时所得的δ数据应该加上对应的周期数,在计算d 的值。

4. 实验内容

测量硅衬底上二氧化硅,氧化锌或其他薄膜的厚度和折射率。 用自动椭偏仪进行测量,在已经、调试好的仪器样品架上小心地夹上样品,按菜单提示操作,具体操作见仪器适用说明书。

实验数据处理:

入射角为60度时: 快速法 绘图法 建表法 折射率 1.471 1.471 1.471 厚度/nm

162.60

162.57

162.60

入射角为65度时: 快速法 绘图法 建表法 折射率 1.469 1.469 1.469 厚度/nm

162.80

162.78

162.80

入射角为70度时: 快速法 绘图法 建表法 折射率 1.469 1.469 1.469 厚度/nm

162.50

162.46

162.50

求平均值:

结果为 折射率=1.470 薄膜厚度=162.62 nm

5. 注意事项

光路调节要轻缓细心。要注意避免激光损伤眼睛。 样品表面要避免玷污。

6. 思考题

.椭偏参数?ψ和的物理含义是什么?消光时,它们与起,检偏器方位角P ,A 之间有什么样的表达式? 答:

的变化。

表征其相位差(相对振幅变化;波经薄膜系统反射后的波河表征了)tan s p s p δδ-?ψ

消光时,

???<--=?=ψ0

2902270|

A |A P P 当

当A>0

试分析本实验测量中系统误差的来源。 答:薄膜表面不干净会给实验带来系统误差,另外光路调节得不好也会给实验带来一定的系统误差。

参考文献

[1]黄润生,沙振舜,唐涛,近代物理实验,南京大学出版社,2008。

椭偏仪测量薄膜厚度与折射率

椭偏仪测量薄膜厚度和折射率 近代科学技术中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此,能够更加迅速和精确地测量薄膜的光学参数例如厚度和折射率已变得非常迫切。 在实际工作中可以利用各种传统的方法来测定薄膜的光学参数,如布儒斯特角法测介质膜的折射率,干涉法测膜。另外,还有称重法、X 射线法、电容法、椭偏法等等。其中,椭圆偏振测量(椭偏术)是研究两媒质界面或薄膜中发生的现象及其特性的一种光学方法,其原理是利用偏振光束在界面或薄膜上的反射或透射时出现的偏振变换。因为椭偏法具有测量精度高,灵敏度高,非破坏性等优点,已广泛用于各种薄膜的光学参数测量,如半导体、光学掩膜、圆晶、金属、介电薄膜、玻璃(或镀膜)、激光反射镜、大面积光学膜、有机薄膜等,也可用于介电、非晶半导体、聚合物薄膜、用于薄膜生长过程的实时监测等测量。 实验目的 了解椭圆偏振测量的基本原理,并掌握一些偏振光学实验技术。 实验原理 光是一种电磁波,是横波。电场强度E 、磁场强度H 和光的传播方向构成一个右旋的正交三矢族。光矢量存在着各种方位值。与光的强度、频率、位相等参量一样,偏振态也是光的基本量之一。 在一光学材料上镀各向同性的单层介质膜后,光线的反射和折射在一般情况下会同时存在的。通常,设介质层为n 1、n 2、n 3,φ1为入射角,那么在1、2介质交界面和2、3介质交界面会产生反射光和折射光的多光束干涉。 这里我们用2δ表示相邻两分波的相位差,其中222cos /dn δπφλ=,用r 1p 、 r 1s 表示光线的p 分量、s 分量在界面1、2间的反射系数, 用r 2p 、r 2s 表示光线的p 分量、s 分量在界面2、3间的反射系数。 由多光束干涉的复振幅计算可知: 2122121i p p rp ip i p p r r e E E r r e ?δ --+= + (1) 2122121i s s rs is i s s r r e E E r r e ? δ --+=+ (2) 其中E ip 和E is 分别代表入射光波电矢量的p 分量和s 分量,E rp 和E rs 分别代表反射光波电矢量的p 分量和s 分量。现将上述E ip 、E is 、E rp 、E rs 四个量写成一个量G ,即:

古代汉语繁简字南京大学高小方

古代汉语繁简字南京大学 高小方 Written by Peter at 2021 in January

《古代汉语》 南京大学高小方教授 繁简字(一) 繁体字:一个字的笔画较简的形体,如果其合法地位得到了国家有关部门的正式承认,这就是规范的简化字,那笔画较繁的形体,就是它的繁体字。 欢(正)---欢(正体) 懽(异体)讙(异体)驩(异体)第二版的书教材447页(70组繁简字) 繁简字是什么关系? 有些人说繁简字是一正一异的关系。 高小方:繁简字是双正的关系。繁体字里也有正体。 繁体字和简体字的对应关系 1、板---木板板---老板 2、里---里程里---里面 3、表---外表表---钟表 4、别(bie阳平)---分别别(bie去声)---别扭 5、卜(bu上声)---占卜卜(bo轻声)---萝卜,萝卜 6、才---才智才---方才的才有繁体 繁简字(二) 繁体字与简化字(第六组) (1)厂(an阴平)庵的异体字,盫(异体)。 原是一种草名,叫做庵闾,老了之后可以盖屋。 草圆屋谓之庵---《释名·释宫室》 例子戏曲《庵堂相会》。 (2)厰(chang上声)工厂 一个正体往往对应几个异体,如窗(正体)---窻(异体)窓(异体) 同形字:同形而异音异意的字。《影梅厂语》,钵厂。 她---姐的异体; 她---刘半农19世纪20年代造第三人称女性。 繁体字与简化字(第七组) (1)冲:(chong)“冲”是异体字 用开水浇:冲茶、冲鸡蛋;一飞冲天;大盈若冲(空虚);冲龄(幼小) (2)冲:(chong)要冲(交通要道);冲击。 (chong)首冲南方,冲劲儿 繁简字(三)

椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验报告

椭偏仪测量薄膜厚度与折射率实验报告 组别:69组院系:0611 姓名:林盛学号:PB062104 45 实验题目:椭偏仪测量薄膜厚度与折射率 实验目得:了解椭偏仪测量薄膜参数得原理,初步掌握反射型椭偏仪得使用方法。 实验原理: 椭圆偏振光经薄膜系统反射后,偏振状态得变化量与薄膜得厚度与折射率有关,因此只要测量出偏振状态得变化量,就能利用计算机程序多次 逼近定出膜厚与折射率。参数描述椭圆偏振光得P波与S波间得相位差经薄膜系统关系后发生得变化,描述椭圆偏振光相对振幅得衰减。有超越方程: ? 为简化方程,将线偏光通过方位角得波片后,就以等幅椭圆偏振光出射,;改变起偏器方位角就能使反射光以线偏振光出射,,公式化简为: 这时需测四个量,即分别测入射光中得两分量振幅比与相位差及反射光中得两分量振幅比与相位差,如设法使入射光为等幅椭偏光,, 则;对于相位角,有: 因为入射光连续可调,调整仪器,使反射光成为线偏光,即=0或(),则或,可见只与反射光得p波与s波得相位差有关,可从起偏器得方位角算 出、对于特定得膜,就是定值,只要改变入射光两分量得相位差,肯定会 找到特定值使反射光成线偏光, =0或(). 实验仪器:椭偏仪平台及配件、He-Ne激光器及电源、起偏器、检偏器、四分之一波片、待测样品、黑色反光镜等。

实验内容: 1.按调分光计得方法调整好主机. 2.水平度盘得调整。 3.光路调整。 4.检偏器读数头位置得调整与固定. 5.起偏器读数头位置得调整与固定。 6.波片零位得调整。 7.将样品放在载物台中央,旋转载物台使达到预定得入射角70即望远镜转过 40,并使反射光在白屏上形成一亮点。 8.为了尽量减小系统误差,采用四点测量. 9.将相关数据输入“椭偏仪数据处理程序”,经过范围确定后,可以利用逐次逼 近法,求出与之对应得d与n ;由于仪器本身得精度得限制,可将d得误差 控制在1埃左右,n得误差控制在0、01左右. 实验数据: 将表格中数据输入“椭偏仪数据处理程序",利用逐次逼近法,求出与之对 应得厚度d与折射率n分别为: 误差分析: 实验测得得折射率比理论值偏大,厚度比理论值偏小,其可能原因有: 1.待测介质薄膜表面有手印等杂质,影响了其折射率。 2.在开始得光路调整时,没有使二者严格共轴,造成激光与偏振片、1/4波片之 间不就是严格得正入射,导致测量得折射率与理论值存在偏差。 3.消光点并非完全消光,所以消光位置只能由人眼估测,所以可能引入误差。 4.由于实验中需多次转动及调节、安装仪器,会破坏仪器得共轴特性.虽经多次 调节,但还就是会产生误差.

最新古代汉语《左传》选读(南京大学高小方)

《古代汉语》 南京大学高小方教授 《左传》选读(一) 一、《左传》的名称和性质 1、名称:《左传》是简称,它的全称是《左氏春秋》,又叫《春秋左氏传》。 2、性质:存世的第一部叙事详细的编年史(按年月日为顺序来记录历史的书)。 《春秋经》242年历史只用了一万八千字,不能说是叙事详尽。 二、春秋笔法 《春秋》原是鲁国史官所记,后经孔子修订。孔子为达到他“正名”的目的,寓褒贬之意于字里行间,这就是所谓的春秋笔法(也叫“春秋书法”)。 例:《春秋经》微言大义,褒贬或含在字里行间,或有明确的标记词。 《春秋·襄公二十五年》“齐崔杼弑其君光”,用一“弑”字(地位低的人杀地位高的人),就将乱臣崔杼钉在了历史的耻辱柱上。 《春秋·襄公三十一年》“莒人弑其君密州”,虽然同样用“弑”,但主语却用了一集合名词“莒人”(音举),这就连同被弑的君主密州也遭了贬斥:若是个好君主,何至于触犯众怒? 三、《春秋》三传 1、为解释《春秋》经义,左丘明(春秋末鲁史)作《左传》,公羊高(战国时齐人,子夏弟子)作《公羊传》,榖梁赤(战国时鲁人,亦子夏弟子)作《榖梁传》。 2、《左传》左丘明(春秋末鲁史)196845字,多用事实解释《春秋》,与《公羊传》(44075字)、《榖梁传》(14512字)的“空言说经”很不同,是三传中文学价值和史料价值最高的。 3、这三传都不是榖梁赤、公羊高和左丘明他们本人亲自写在竹简上的或丝绸上,而是口耳相传,最后由其弟子记录下来的。师道相传——具有很高的保真度,因为它用一定的调子吟诵,一代一代口耳相传下来,最后记录下来。把散文用一定的调子诵读出来,传授给自己的弟子,一般说出入不会太大。齐、鲁、韩与毛诗(《诗经》)的主要区别就是部分字在字型上可能不同(同音假借)。可见传统的吟诵很重要!吟诵,韵文、散文用一定的调子传授,出入只在部分字形上) 四、《左传》的作者 1、“孔子将修《春秋》,与左丘明乘如周,观书于周史,归而修《春秋》之经,丘明为之传,共为表里。”《孔子家语·观周》。 2、现存《孔子家语》是伪书,西汉至三国失传,三国魏司马昭的岳父王肃做伪 3、这段话来路:西汉大公羊家董仲舒的三传弟子严彭祖《严氏春秋》(出于左传的反对派公羊家)所引。后来又为(南朝陈)沈文阿《左氏义疏》所引。又被(唐)孔颖达疏《春秋左传正义》为西晋杜预《春秋序》写的解释性文字时所引。

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用椭偏仪测薄膜厚度与折射率

103 实验十二 用椭偏仪测薄膜厚度与折射率 随着半导体和大规模集成电路工艺的飞速发展,薄膜技术的应用也越加广泛。因此,精确地测量薄膜厚度与其光学常数就是一种重要的物理测量技术。 目前测量薄膜厚度的方法很多。如称重法、比色法、干涉法、椭圆偏振法等。其中,椭圆偏振法成为主要的测试手段,广泛地应用在光学、材料、生物、医学等各个领域。而测量薄膜材料的厚度、折射率和消光系数是椭圆偏振法最基本,也是非常重要的应用之一。 实验原理 由于薄膜的光学参量强烈地依赖于制备方法的工艺条件,并表现出明显的离散性,因此,如何准确、快速测量给定样品的光学参量一直是薄膜研究中一个重要的问题。椭圆偏振法由于无须测定光强的绝对值,因而具有较高的精度和灵敏度,而且测试方便,对样品无损伤,所以在光学薄膜和薄膜材料研究中受到极大的关注。 椭圆偏振法是利用椭圆偏振光入射到样品表面,观察反射光的偏振状态(振幅和位相)的变化,进而得出样品表面膜的厚度及折射率。 氦氖激光器发出激光束波长为632.8nm 的单色自然光,经平行光管变成单色平行光束,再经起偏器P 变成线偏振光,其振动方向由起偏器方位角决定,转动起偏器,可以改变线偏振光的振动方向,线偏振光经1/4波片后,由于双折射现象,寻常光和非寻常光产生π/2的位相差,两者的振动方向相互垂直,变为椭圆偏振光,其长、短轴沿着1/4波片的快、慢轴。椭圆的形状由起偏器的方位角来决定。椭圆偏振光以一定的角度入射到样品的表面,反射后偏振状态发生改变,一般仍为椭圆偏振光,但椭圆的方位和形状改变了。从物理光学原理可 以知道,这种改变 与样品表面膜层厚 度及其光学常数有 关。因而可以根据 反射光的特性来确 定膜层的厚度和折 射率。图1为基本 原理光路。 图2为入射光 由环境媒质入射到单层薄膜上,并在环境媒质——薄膜——衬底的两个界面上发生多次折射和反射。此时,折射角满足菲涅尔折射定律 332211sin sin sin ???N N N == (1)

湿膜厚度仪使用方法

OU3410 湿膜厚度仪使用方法 使用说明书

基本概述 湿膜测厚仪又叫湿膜测厚规、湿膜测试仪、湿膜检测仪、湿膜厚度测量仪、湿膜测厚仪厂家、湿膜测厚仪价格、梳式湿膜测厚仪、湿油漆测厚仪、湿涂层如何检测、湿膜卡、湿膜片、湿膜厚度卡具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

欧谱梳式湿膜厚度规是测量色漆、清漆等各种涂料湿膜涂刷厚度的测量工具,数值以微米(m m)表示。湿膜厚度规适用于平整的基板上,测量精度高。本厚度量程为10~100m m、20~200m m、250~700m m、50~750m m、50~950m m、25~2000m m、25~3000m m七种规格供选择,以适应不同行业的需要。 使用方法: 各种涂料施工后,立即将湿膜厚度规稳定垂直的放在平整的湿膜涂层表面,将湿膜厚度规从湿膜中移出,即可测得湿膜涂层的厚度。湿膜厚度应是在被湿膜浸润的那个最短的齿及邻近那个没有被浸到的齿之间。以同样方式在不同的位置再测取两次,以得到一定范围内的代表性结果。 使用完毕后,将湿膜厚度规洗净、揩干。

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https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 表面粗糙度仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 粗糙度测量仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 粗糙度测试仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 喷砂粗糙度仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 光洁度仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 便携式粗糙度仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 粗糙度仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 粗糙度检测仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 附着力测试仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 漆膜划格器https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 百格刀测试https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 百格刀 https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, LED观片灯https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 黑白密度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 光泽度仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 工业观片灯https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 黑度仪 https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 黑度计 https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 无损检测 https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 无损检测仪器https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 无损123https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 网站目录https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 达高特https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 达高特测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, MX3测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, PX7测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 狄夫斯高https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 数字式粘度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 油漆粘度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 粘度仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 无损检测https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 百格刀https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 笔式硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 透光率仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 硬度测量仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 数显硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 台式硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 林格曼黑度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 显微硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 维氏硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 钳式硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 镀层硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 漆膜硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 涂层硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 玻璃钢硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 塑料硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 钢材硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 光泽度测试仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 油漆光泽度仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 便携式布氏硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 便携式洛氏硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 硬度块https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 硬度计试块https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 中国硬度计网https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 中国测厚仪网https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 中国探伤仪网https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 中国粘度计网https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 中国粗糙度仪网https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 中国涂层测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, EPK测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, minitest测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, Positest附着力https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, positector测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, Dm5e测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, Mikrotest测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 电火花测漏仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 手持式粗糙度仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 超声波检测仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 数显邵氏硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 数显巴氏硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 数显韦氏硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 数显布氏硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 数显洛氏硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 数显里氏硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 便携式里氏硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 尼克斯https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 旋转粘度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 分类目录https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 石墨硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 邵氏橡胶硬度计https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 铸铁测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 湿膜厚度规https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 钢结构测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 薄膜测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 铸件探伤仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 容器探伤仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 管道探伤仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 涂层厚度仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 涂料测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 镀铬测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, reseto测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html, 镀镍测厚仪https://www.doczj.com/doc/bb14600951.html,

中国近现代史习题总结

下面是今年南大中国近现代史的部分考题 中国近代史 一. 名词解释:(5分*10个) 古德诺公车上书租界“进北攻南” “重点进攻” 胡适国民参政会《中国之命运》二二八起义国粹派 二. 论述题:(20分*5个) 1. 列强干涉中国近代政治的主要方式。 2. 1927-1937南京国民政府对日政策的脉络及其影响。 3. 抗战到解放时期中国土地政策的演变及其影响。 4. 1854-1861太平军与湘军争夺天京上游的主要阶段及战局特征。 5. 以戊戌变法和辛亥革命为例,分析改革与革命对中国现代化的影响。世界近代史(记不太全了) 考试科目:中国近代史 科目代码:451 一,名词解释(48) 买办、《资政新篇》、《马关条约》、时务学堂、袁世凯、整理国故、第三党、凇沪会战 二,材料解析题(18) 说明:1,标点2,根据材料分析洋务运动产生的原因3,结合所学知识和所列材料分析其历史局限性 材料1,窃思敌国外患正动心忍性之资居安思危乃制治保邦之要……古人抚驭四夷之法未款之先当有以杜其窥伺既款之后当有以绝其觊觎英法诸国自换约以来相安无事……惟念夷情叵测反复靡常利器精兵百倍中国其所以逞其贪纵者不过恃有长技耳长技为何一在战舰之精也一在机器之利也然彼有其战具我非不可以购求彼有其机巧我非不可以学习 《同治三年陈廷经奏》 材料2,洋人所图我者利也势也非真欲夺我土地也自周秦以后驭外之法征战者后必不继羁縻者事必久长今之各国又岂有异惟练兵制器相去太远正须苦做下学功夫做到那处说到那处吾师弟在位一日不得不于此致力一日耳 李鸿章《复曾相》 材料3,至谓鄙人喜闻谈洋务之言以致冒险负谤处今日喜谈洋务乃圣之时人人怕谈厌谈事至非张皇即卤莽鲜不误国公等可不喜谈鄙人若亦不谈天下赖何术以支持耶中国日若弱外人日骄此岂一人一事之咎过此以往能自强者尽可自立若不强则事不可知 李鸿章《复刘仲良中丞》 三,问答题(84) 1,试论晚清十年资产阶级民族民主运动的发生、发展对中国社会的影响 2,结合史实对1946年召开的政治协商会议做一述评 3,简析新中国成立后中国共产党对知识分子政策的变化 考试科目:中国近代史 科目代码:482 一,名词解释(5分一个) 洋行、天朝田亩制度、轮船招商局、三国干涉还辽、东南互保、中国通商银行 二,标点下列材料并进行评析(35) 惟念发捻炽于北发炽于南饷竭兵疲夷人乘我虚弱而为其所制如不胜其忿而与之为仇则有旦

2016年南京大学硕士研究生入学考试《中国近现代史基础》真题及标准答案

2016年南京大学硕士研究生入学考试 《中国近现代史基础》真题 (总分:100.00,做题时间:180分钟) 一、名词解释(总题数:7,分数:35.00) 1.五口通商(分数:5.00) _________________________________________________________________________________ _____________________________________________________________________________________ _____________________________________________________________________________________ _____________________________________________________________________________________ 正确答案:( 根据中英《南京条约》规定英国强迫中国在沿海开放的5处通商口岸,包括广州、厦门、上海、宁波、福州。根据1842年中、英《南京条约》签订辟为通商口岸。后又制定《中英五口通商章程》进一步规定通商相关事宜。在英国之后美国、法国等也订立条约取得同样的权利,即《望厦条约》和《黄埔条约》。 ) 2.二次革命(分数:5.00) _________________________________________________________________________________ _____________________________________________________________________________________ _____________________________________________________________________________________ _____________________________________________________________________________________ _____________________________________________________________________________________ 正确答案:( 1913年孙中山发动的反对袁世凯独裁统治的战争。又称讨袁之役、赣宁之役、癸丑之役。1913年初,宋教仁准备组织内阁。袁世凯为阻止国民党执政,派人暗杀了宋教仁。不久,宋案真相大白,孙中山动员起兵讨袁。袁世凯与五国银行团达成善后借款准备发动内战,消灭南方革命力量。李烈钧于江西湖口成立讨袁军,拉开了二次革命的序幕,江苏等地也相继独立,加入讨袁行列。结果讨袁军战败,二次革命宣告失败。 ) 3.学衡派(分数:5.00) _________________________________________________________________________________ _____________________________________________________________________________________ _____________________________________________________________________________________ _____________________________________________________________________________________ _____________________________________________________________________________________ 正确答案:( 1922年出现的反对新文化运动的文化保守主义学派。因1922年在东南大学创办《学衡》月刊而得名。其主要成员有东南大学教师吴宓、梅光迪及胡先骑等人,他们都曾有过赴欧美留学的经历,故以"学贯中西,博古通今"相标榜,自称其刊物以"昌明国粹,融化新知"为宗旨。20世纪30年代初随着《学衡》杂志的停刊,该派最终解体。 ) 4.《时务报》(分数: 5.00) _________________________________________________________________________________ _____________________________________________________________________________________ _____________________________________________________________________________________

椭偏仪测折射率和薄膜厚度

物理实验报告 实验名称:椭偏仪测折射率和薄膜厚度 学院:xx 学院专业班级:xxx 学号:xxx 学生姓名:xxx 实验成绩 预习题(一空一分,共10 分) 1.(单选题)起偏器和检偏器的刻度范围为多少?(B) A.0 ° ~180° B.0 ° ~360° 2.(单选题)黑色反光镜在仪器调整中起什么作用?

实验预习题成绩: (B) A. 确定起偏器的方位 B. 确定检偏器的方位 C.确定波片的方位 3.(单选题)在椭偏仪实验中坐标系是选在待测薄膜的(B)上。 A 入射面 B 表面 4.(单选题)椭偏仪的数据处理方法有三种,即查图法、查表 法、迭代法解非线性超越方程,本实验中使用(B) A 查图法 B 查表法 5.(填空题))调整椭偏仪光路的步骤是,首先使激光光线与分光计仪器主轴垂直,并通过载物台中心,然后确定(C)的0 刻度位置,这要利用(A)的布鲁斯特角特性,然后再确定(B)0 刻度位置,最后调整1/4 波片,使其快轴与(C)成± 45° 选择答案: A 黑色反光镜 B 检偏器 C 起偏器

6.(填空题)将起偏器套在平行光管上,使0°位置朝上,从载物台上取下黑色反射镜,将检偏器管转到共轴位置,整体调节起偏器使检流计(A),固定起偏器螺钉。此时起偏器与检偏器通光方向(C)。选择答案: A 光强最小 B 光强最大 C 平行 D 垂直

原始数据记录 成绩: 1/4 玻片起偏器角度检偏器角度+45°(> 90°)103.4 91.7 +45°(< 90°)21.2 51.6 -45 °(> 90°)106.5 98.6 -45 °(< 90°)21.2 51.6 薄膜厚度: 110.0000 折射率: 1.4800

椭偏测厚仪主要参数与工作原理

“椭偏测厚仪”有关情况介绍 一、引言: 1、椭偏法是一种测量光在样品表面反射后偏振状态改变的广西方 法,它可以同时测得样品薄膜的厚度和折射率。由于此法具有非接触性、非破坏性以及高灵敏度、高精度等优点,鼓广泛用于薄膜厚度及材料的光学常数的测定。 2、椭偏法测量数据可在短时间快速采集,可对各类薄膜的生长和工 艺过程进行实时监测,故已成为半导体行业重要的在线监测设备之一。 3、纳米技术是当今科技的发展热点,能精确测得纳米级薄膜厚度和 折射率的椭偏测量技术受到人们的高度重视和关注。 二、椭偏测厚仪发展概况: 1、椭偏测厚仪在我国起步较晚,70年代我国自行设计生产的椭偏 测厚仪只有“TP-77型椭偏测厚仪”和“WJZ型椭偏测厚仪”。基本上是手动测量,仅配一种入射角和衬底材料的薄膜(n,d)~(Ψ,Δ)函数表(如SiO2,70°入射角,波长632.8nm)。 2、 90年代末,华东师大学研制并生产了“HST-1型”和“HST-2型” 多功能智能椭偏测厚仪。该仪器使用计算机技术,利用消光法自动完成,测量薄膜的厚度和折射率。 3、进入二十一世纪,国生产自动椭偏测厚仪的厂家逐渐多起来。如: 天津港东科技发展生产的“SGC-1型椭圆偏振测厚仪”、“SGC-2型自动椭圆偏振测厚仪”。天津拓普仪器生产的“TPY-1型椭圆偏振测厚

仪”和“TPY-2型自动椭圆偏振测厚仪”等。 现将目前国生产的几种自动椭圆偏振测厚仪,其性能指标等参数列表如下,供参考: 国几种“椭圆偏振测厚仪”的性能参数 三、消光法测量薄膜和折射率的计算公式:

1. 在椭偏法测量中,为了简便,通常引入两个物理量——Ψ,Δ来 描述反射光偏振态的变化,它们与总反射系数p R (p 分量,在入射面),s R (s 分量,在垂直于入射面)之间的关系,定义如下: tan Ψi e ?=p R /s R ————————— 偏振方程 ○ 1 式中:Ψ,Δ —— 椭偏参数(均为角度度量) Ψ —— 相对振幅衰减 Δ —— 相位移动之差 在固定实验条件下:~ 1n 和~ 3n 为已知,则Ψ=Ψ(d ,~ 2n ), Δ=Δ(d ,~ 2n ) 2122121i p p p i p p r r e R r r e δδ--+?= +??,2122121i s s s i s s r r e R r r e δ δ --+?=+?? 式中:2δ——相邻两光束的相位差,设膜厚为d ,光波长为λ, 则有: 122~~~22221122()d n Cos d n n Sin ππ δ??λλ =???=??-?——— ○2 若:P-起偏角,A-检偏角 则:Ψ=A ,Δ=k ×180°+90°-2p (当0°≤p ≤135°时,k=1;当 135°≤p ≤180°时,k=3) 综上:通过测得起偏角P 和检偏角A ,即可求得Ψ,Δ,还可反求 d ,~ 2n 。 1) 对于透明膜,~ 2n 只有实部,上述椭偏方程(复数方程)只有d , ~ 2n 两个未知数,由两个已知实测的Ψ,Δ原则上可解出d , ~ 2n ,

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