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最新BJ4814型晶体管图示仪技术说明说

最新BJ4814型晶体管图示仪技术说明说
最新BJ4814型晶体管图示仪技术说明说

B J4814型晶体管图示

仪技术说明说

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目录

1 概述 (3)

2 工作特性 (3)

3 工作原理 (5)

4使用说明 (5)

5 检查与计量 (13)

1.概述

BJ4814型半导体管特性图示仪是测量半导体器件直流及低频参数的专用仪器,它通过示波管屏幕及标尺刻度,准确的反映器件的特性曲线,其信息量之大是其它类型直流测试设备所达不到的,亦显示出图示仪的独特优势,因此它是半导体器件生产厂家及整机研制部门进行半导体器件的研制,性能改善,电路设计,器件的合

理应用等工作必不可少的理想测试设备。

本仪器功能齐全,测试范围宽, 绝大部分电路实现了集成化,其中集电极扫描

电路实现了电子扫描,大电流测试状态进行了占空比压缩,减小了成本,减小了重量。阶梯部分的大电流测试状态采用了脉冲阶梯输出,减小了被测管的发热。集

电极电流测试新增了电子保护电路提高了反映速度,增加了仪器自身及对外保护

能力,部分功能参考美国Tex-577产品特点,还有部分功能是为方便测试而增设的,因此使本仪器的应用范围得到拓宽,

随着用户对本仪器的不断了解,根据自身需要也可开发新的应用领域,欢迎广

大用户对本仪器的各个方面提出宝贵意见和建议,以促进我们的改进。

2.工作特性

2.1 额定使用条件及规格

A.环境温度: 0 ~ + 40°C

B.相对湿度: + 40°C 20 ~ 90 % RH

C.大气压力: Pb - 106 KPa

D.供电要求: 220V ±10% 50Hz ±5%

E.整机功率: <50VA (非测试状态) <60VA (测试状态)

F.外形尺寸: (E×B×H)mm 480×220×320 (主机) 80×110×40(测试盒件)

G.预热时间: 15分钟

H.整机重量: 15Kg

I.工作时间: 连续工作8小时

J.工作位置: 水平放置或正面仰角小于20°放置

K.外电磁场干扰: 应避免

L.阳光照射: 应避免直射

2.2 技术性能及指标

2.2.1 X轴系统

A.工作方式: 分集电极电压(Vc),基极电压(Vb),二极管电压(Vd)和阶梯信号四类.

B.位移范围: 大于10度

C.集电极电压偏转因数: 20mV/度~ 20V/度. 1-2-5序共10挡误差≤±3%

D.基极电压偏转因数: 20mV/度~ 1V/度. 1-2-5序共6挡误差≤±3%

E.二极管电压偏转因数: 100V/度~ 500V/度. 1-2-5序共3挡误差≤±3%

F.阶梯信号偏转因数: 1阶/度误差≤±5%

2.2.2 Y轴系统

A.工作方式: 分集电极流(Ic),和阶梯信号两类.

B.位移范围: 大于10度

C.集电极电流偏转因数: 1uA/度~ 2A/度. 1-2-5序共20挡误差≤±3%

D.阶梯信号偏转因数: 1阶/度误差≤±5%

2.2.3 阶梯信号源

A.工作方式: 分恒压源和恒流源两类

B:极性: 正或负

C:阶梯电流源: 1 A ~ 200mA/阶 1-2-5序共17挡误差≤±5%

D:阶梯电压源: 20mV/度~ 1V/度 1-2-5序共6挡误差≤±5% (源内阻100Ω)

E:级/族: 1-10 连续步进

2.2.4集电极扫描电源

A:额定电压范围及容量:

0 ~ 20V 20A

0 ~ 200V 0.5A

0 ~ 5000V 0.002A

B.极性: 正或负

C.方式:

0-20v 范围(Y轴 0.001~5mA/度) 100Hz

0-20v 范围 (Y轴 10~50mA/度 ) 500Hz

0-20v范围(Y轴0.1~0.5A/度 ) 100Hz间歇(8mS)扫描

0-20v范围(Y轴1~2A/度) 50Hz间歇(18m)扫描

0-200v范围(Y轴 0.001~5mA/度) 100Hz

0-200v范围(Y轴 10~50mA/度) 100Hz间歇(8mS)扫描

0-5000v范围直流

2.2.5显示系统

A.示波管型号: 13SJ38J

B.有效工作面: 75mm×75mm(标尺)

C.分度: 1度(X)=7.5mm 1度(Y)=7.5mm

2.2.6基本安全要求

A.绝缘要求: ≥ 2MΩ

B.漏电流: ≤ 5mA(峰值)

C.介电强度电压试验: 电源进线相对机壳应能承受1500V(50Hz交流有效值)1分钟试验,不出现击穿和飞弧现象.

3. 工作原理

整机原理方框图见(图1)

XJ4810晶体管特性图示仪 说明书

XJ4810晶体管特性图示仪说明书 晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础,以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管(NPN型和PNP型)的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性;测试各种反向饱和电流和击穿电压,还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。 图A-23 XJ4810型半导体管特性图示仪 7.1 XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍 XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示: 1. 集电极电源极性按钮,极性可按面板指示选择。 2. 集电极峰值电压保险丝:1.5A。 3. 峰值电压%:峰值电压可在0~10V、0~50V、0~100V、0~500V之连续可调,面板上的标称值是近似值,参考用。 4. 功耗限制电阻:它是串联在被测管的集电极电路中,限制超过功耗,亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。 5. 峰值电压范围:分0~10V/5A、0~50V/1A、0~100V/0.5A、0~500V/0.1A四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时,须先将峰值电压调到零值,换挡后再按需要的电压逐渐增加,否则容易击穿被测晶体管。 AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描,以便能同时显示器件正反向的特性曲线。 6. 电容平衡:由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容,都将形成电容性电流,因而在电流取样电阻上产生电压降,造成测量误差。为了尽量减小电容性电流,测试前应调节电容平衡,使容性电流减至最小。 7. 辅助电容平衡:是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称,而再次进行电容平衡调节。 8. 电源开关及辉度调节:旋钮拉出,接通仪器电源,旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。 9. 电源指示:接通电源时灯亮。 10. 聚焦旋钮:调节旋钮可使光迹最清晰。 11. 荧光屏幕:示波管屏幕,外有座标刻度片。 12. 辅助聚焦:与聚焦旋钮配合使用。 13. Y轴选择(电流/度)开关:具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。 14. 电流/度×0.1倍率指示灯:灯亮时,仪器进入电流/度×0.1倍工作状态。 15. 垂直移位及电流/度倍率开关:调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出,放大器增益扩大10倍,电流/度各挡I C标值×0.1,同时指示灯14亮. 16. Y轴增益:校正Y轴增益。 17. X轴增益:校正X轴增益。 18.显示开关:分转换、接地、校准三挡,其作用是: ⑴转换:使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换,便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。 ⑵接地:放大器输入接地,表示输入为零的基准点。 ⑶校准:按下校准键,光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度,以达到10度校正目的。 19. X轴移位:调节光迹在水平方向的移位。 20. X轴选择(电压/度)开关:可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换,共17挡。 21. “级/簇”调节:在0~10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。 22. 调零旋钮:测试前,应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后,按下测试台上选择按键“零电压”,观察光点停留在荧光屏上的位置,复位后调节零旋钮,使阶梯信号的起始级光点仍在该处,这样阶梯信号的零电位即被准确校正。 23. 阶梯信号选择开关:可以调节每级电流大小注入被测管的基极,作为测试各种特性曲线的基极信号源,共22挡。一般选用基极电流/级,当测试场效应管时选用基极源电压/级。 24. 串联电阻开关:当阶梯信号选择开关置于电压/级的位置时,串联电阻将串联在被测管的输入电路中。 25. 重复--关按键:弹出为重复,阶梯信号重复出现;按下为关,阶梯信号处于待触发状态。 26. 阶梯信号待触发指示灯:重复按键按下时灯亮,阶梯信号进入待触发状态。 27. 单簇按键开关:单簇的按动其作用是使预先调整好的电压(电流)/级,出现一次阶梯信号后回到等待触发位置,因此可利用它瞬间作用的特性来观察被

中海达测深仪说明书

一.HDMAX相对HD370功能提升 1、硬件平台 HDMAX采用全新的硬件平台,内部电路和结构设计更加合理。其1.6GHZ双核CPU,1G内存、16G固态硬盘以及17寸高清显示屏都是行业顶配。采用完整电脑系统,系统运行更加稳定。其采用的高强度聚乙烯塑料外壳,坚固耐用防水,其超强的工业化设计为水深测量提供了坚实的保障! 2、人性化设计 HDMAX测深仪在主机增加了VGA接口,可进行测量分屏显示;测深仪前面板增添数字输入键和常用快捷按键,用户直接操作快捷按键,即可完成测量大部分操作。其设计的可旋转支架,主机可以任何角度显示,极大提高操作的便利性。 3、测深性能 HD MAX在HD370测深基础之上,对测深模块进行全新优化,在底层回波控制方面进行了全新设计,使得HDMAX测深数据稳定性得到了极大提升,最浅水深可以达到0.2米,且性能稳定。同时HD‐MAX测深仪根据声纳在水中的传输特性设计出完美的 TVG 曲线,优化了测深性能,并有效地解决了浅水测深的难题。 4、内置全新测量软件HIMAX HDMAX测深仪采用全新的测深测量软件,软件支持标准格式的GNSS产品输出NMEA‐0183格式,支持三维姿态仪、表面声速仪、GNSS罗经等多种传感器输入。其全自动功率增益控制、强大的电子海图功能、多种数据滤波算法、自定义成果导出功能都极大提高了作业效率!支持模拟回波图形和数据图形相互叠加,快速改正数据信号假回波信号。在后处理可以任意加点,容易解决特征点输出问题。 说明:VGA转换线,用于HDMAX分屏显示,不是套件标配产品

二.招标参数 ★表示属于相对有优势的 ★★表示基本是独家的 ★★招标是要注意:产品要取得工业生产许可证才是合法的产品 主机技术参数: ★CPU:双核1.6G ★内存容量:2GB ★★存储空间:16GB SSD ★系统:完整Window XP操作系统,非剪切操作系统 ★★显示屏幕尺寸:17寸 USB接口: 3 个USB2.0 ★显示分辨率:1280 x 1024 ★VGA:1个VGA分屏接口 串口:2个RS232串口(一分二串口) 材质:ASA工程塑料,耐腐蚀 ★★功能快捷键:具有数据输入键和快捷键,不用键盘就可以完成测量操作。 输入电压:10~30VDC or 220VAC 平均功耗:小于30W 最大功率: 500W 重量:9.5KG 工作温度:‐20℃~70℃ 测深参数: 频率: 200KHz ★★测深范围:0.2‐600米(可加入现场测试环节,其它仪器很难达到0.2米) 测深精度:±10mm+0.1%h。分辨率1cm ★采样率:最大30HZ 吃水改正范围:0.0‐15米 声速调整范围:1370‐1700m/s HiMAX测深仪软件 集成原中海达二合一海洋测量软件、海洋后处理软件、串口调试工具、海图导航功能、多种实用工具等于一身,中海达最新推出的测深仪软件。 软件功能: ★支持NMEA‐0183数据格式输入 ★支持三维姿态数据接入,并能够进行三维姿态解算 ★能够支持多种测深数据输入输出,支持中海达测深仪格式、DESO25、SDH-13等多种数据格式 ★支持传感器类型:三维姿态仪、声速仪、GPS罗经等。

XJ4810型半导体管特性图示仪测试使用说明

晶体管特性图示仪的使用 晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础,以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管(NPN型和PNP型)的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性;测试各种反向饱和电流和击穿电压,还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。 7.1 XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍 XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示: 1. 集电极电源极性按钮,极性可按面板指示选择。 2. 集电极峰值电压保险丝:1.5A。 3. 峰值电压%:峰值电压可在0~10V、0~50V、0~100V、0~500V之连续可调,面板上的标称值是近似值,参考用。 4. 功耗限制电阻:它是串联在被测管的集电极电路中,限制超过功耗,亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。 5. 峰值电压范围:分0~10V/5A、0~50V/1A、0~100V/0.5A、0~500V/0.1A四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时,须先将峰值电压调到零值,换挡后再按需要的电压逐渐增加,否则容易击穿被测晶体管。 AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描,以便能同时显示器件正反向的特

性曲线。 6. 电容平衡:由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容,都将形成电容性电流,因而在电流取样电阻上产生电压降,造成测量误差。为了尽量减小电容性电流,测试前应调节电容平衡,使容性电流减至最小。 7. 辅助电容平衡:是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称,而再次进行电容平衡调节。 8. 电源开关及辉度调节:旋钮拉出,接通仪器电源,旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。 9. 电源指示:接通电源时灯亮。 10. 聚焦旋钮:调节旋钮可使光迹最清晰。 11. 荧光屏幕:示波管屏幕,外有座标刻度片。 12. 辅助聚焦:与聚焦旋钮配合使用。 13. Y轴选择(电流/度)开关:具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。 14. 电流/度×0.1倍率指示灯:灯亮时,仪器进入电流/度×0.1倍工作状态。 15. 垂直移位及电流/度倍率开关:调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出,放大器增益扩大10倍,电流/度各挡IC标值×0.1,同时指示灯14亮. 16. Y轴增益:校正Y轴增益。 17. X轴增益:校正X轴增益。 18.显示开关:分转换、接地、校准三挡,其作用是: ⑴转换:使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换,便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。 ⑵接地:放大器输入接地,表示输入为零的基准点。 ⑶校准:按下校准键,光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度,以达到10度校正目的。 19. X轴移位:调节光迹在水平方向的移位。 20. X轴选择(电压/度)开关:可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换,共17挡。 21. “级/簇”调节:在0~10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。 22. 调零旋钮:测试前,应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后,按下测试台上选择按键“零电压”,观察光点停留在荧光屏上的位置,复位后调节零旋钮,使阶梯信号的起始级光点仍在该处,这样阶梯信号的零电位即被准确校正。

中海达测深仪与天宝R8联机操作说明

中海达数字测深仪与天宝GNSS R8 联机操作说明 上海勘测设计研究院 二○○九年五月

中海达测深仪与天宝R8联机操作说明 在水上开始作业时,启动“中海达海洋测深测量软件28.0”时,软件出现“未检测到GPS信号”…… 因为中海达测深仪最大可选波特率为9600,而天宝GPS波特率为38400,所以只能修改天宝的传输波特率为9600,才能联机成功。 方法: 采用天宝“Configuration Toolbox”程序进行。 首先保证用天宝天线头的端口1(Serial-Port1,小圆形端口)与测深仪的串口2(COM2)相联,目的是用Serial-Port1来修改天宝天线头Serial-Port2(9针串口)的属性。 以下为处理步骤: Seriall-Port2Serial-Port1 1天宝R8底座 2 启动“Configuration Toolbox”后菜单

3选取“Comfiguration”4选取“Get File” 5“Get File”列表6选取“CURRENT” 7提示,单击“确定”

8 需选择“□Applied immediately”项复选框(表示要立即生效) 9准备检查修改“Serial-Port1”

10需选择“□Configure channels separately”复选框修改传输(Transmit)的波特率(Baud rate): 11单击Baud rate的下拉框▼,显示Baud rate下拉列表

12选中9600,与测深仪最大波特率9600同步 13单击“Transmit” 14单击“是(Y)”(测深仪上可能会显示其它文件名)

图示仪使用说明书

目录 使用须知............................................2 安全注意事项........................................3 概述................................................4 主要技术指标........................................4 使用说明............................................5 使用范例...........................................10 维修指南...........................................15 装箱单.............................................16

使用须知 WQ4832型晶体管特性图示仪,是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线,并可测量其静态参数的测试仪器。本仪器采用晶体管与集成电路混合线路,具有功耗低、电流容量大、重量轻等特点,是半导体研究及应用领域必不可少的测试工具。 用户在使用本仪器之前应熟悉以下注意事项,以保证仪器的正常使用。 1.“功耗限制电阻”作用大,除了测量饱和电压(如U CER)及最大电流(如I CM)外,一般应将“功耗限制电阻”置于较大值(≥1kΩ),这样既保护了被测管不至电流过载,又可防止由于被测管击穿后导致仪器损坏,在测量击穿电压时更应注意。 2.按“峰值电压范围”需特别注意,一般情况下应与“电压/度”开关相配合: 如需要低于上述量程,应首先将“峰值电压”调至0,再徐徐加大。 在测试中,当输出峰值电压较大时,请勿触摸C极与管子外壳,以免遭电击。严禁将各输出端任意长时间短路。 3.测量被测管首先要了解是PNP或NPN,然后将仪器置于相应极性。在未知被测管极性的情况下,可将输出电压调至较小值进行判别。必须在充分熟悉本仪器后才能用异极性测试功能。 4.基极注入阶梯电流(电压)也应注意: (1)注入电流(电压)应与被测管的功率、最大集电极电流相适应,一般情况注入电流由小逐档增加(同时应估算上述二指标,不致电流、功率击穿)。 (2)“电流/度”应与阶梯电流(电压)相适应,一般情况应从大量程再逐档调至需要档级。“电流/度”量程不应小于阶梯电流量程。 5.当用双簇测试功能时,需调节零电平使显示时第一级曲线与单簇测试时的第一级曲线在Y方向上的位置一致,才能使各项读数一致。异极性测试时阶梯起始电平一般应调至零。 6.仪器出厂经精密调准,请勿随意打开箱板并调节各种机件,当需要进一步调准时,应按照使用说明书的要求与步骤进行。 7.在进行I CM等极限参数测试时,一般采用单次阶梯为宜,以免被测器件损坏。8.本机额定重复输出功率为60W,不同电压档级有不同的允许最大电流,实际测试中不应超过此值。 2

中海达测深仪hd-27说明书

第三章 HD-27/HD-28测深仪§3.1 性能指标及特点 图3-1 HD-27/28测深仪外形 图3-2 双频换能器

图3-3 单频换能器 HD-27/28测深仪性能指标: 高频发射频率:200KHz 低频发射频率:20KHz 最大发射功率:300W 测深范围:高频0.3m~600m,低频1.0m~3000m 测深精度:高频精度±2cm+0.1%,低频精度±5cm+0.1% 吃水调整范围:0.0m~9.0m 声速调整范围:1300~1700m/s CPU主频667MHz,256M RAM内存 锲入式工业控制WINDOWS Xp操作平台 亮度12寸液晶显示屏,分辨率800×600 串口数据输出,仿真多种数据格式,波特率2400-115200可调 电阻式触摸屏 外接端口:鼠标、键盘、打印口、两个RS-232串口、两个USB口、外接分显示器接口内置1000M大容量电子盘存贮器 供电电源:直流12V或交流220 V,功耗30W 环境:工作温度-20℃~70℃,防水 尺寸:34×30×14cm 重量:10.2 kg 特点: 高速A/D转换,采样速率153600次/秒,瀑布式显示 数字化图像处理技术,瀑布式图像显示及记录,并可回放及打印 自动增益控制及时间增益控制(TVG) 水底门跟踪技术和脉宽选择技术的完美结合 内锲测深和测量一体化软件,可省去购买一台电脑和一套海洋测量软件 电阻式触摸屏,用手指即可操作

§3.2 配置 名称型号数量说明主机HD-27/28 1 高频换能器(HD-27)DS-200 1 200KHz 双频换能器(HD-28)DS-300 1 200KHz,20KHz 换能器安装杆TD-27 1 两段分节 直流电源线PW-5 1 直流电源线 交流电源线PW-6 1 交流电源线 手动打标线MK-2 1 用于手动按钮打标 鼠标键盘中转线MKY-2 1 外接键盘不定 1 外接鼠标不定 1 数据电缆RS-9 2 外接串口连接线 U盘不定 1 存取数据用 铝合金箱LH-17 1 主机携带箱 §3.3 安装连接图 图3-4 换能器安装图

半导体管特性图示仪的使用和晶体管参数测量

半导体管特性图示仪的使用和晶体管参数测量 一、实验目的 1、了解半导体特性图示仪的基本原理 2、学习使用半导体特性图示仪测量晶体管的特性曲线和参数。 二、预习要求 1、阅读本实验的实验原理,了解半导体图示仪的工作原理以及XJ4810 型半导体管图示仪的各旋钮作用。 2、复习晶体二极管、三极管主要参数的定义。 三、实验原理 (一)半导体特性图示仪的基本工作原理 任何一个半导体器件,使用前均应了解其性能,对于晶体三极管,只要知道其输入、输出特性曲线,就不难由曲线求出它的一系列参数,如输入、输出电阻、电流放大倍、漏电流、饱和电压、反向击穿电压等。但如何得到这两组曲线呢?最早是利用图4-1 的伏安法对晶体管进行逐点测试,而后描出曲线,逐点测试法不仅既费时又费力,而而且所得数据不能全面反映被测管的特性,在实际中,广泛采用半导体特性图示仪测量的晶体管输入、输出特性曲线。 图4-1 逐点法测试共射特性曲线的原理线路用半导体特性图示仪测量晶体管的特性曲线和各种直流参量的基本原理是用图4-2(a)中幅度随时间周期性连续变化的扫描电压UCS代替逐点法中的可调电压EC,用图4-2(b)所示的和扫描电压UCS的周期想对应的阶梯电流iB来代替逐点法中可以逐点改变基极电流的可变电压EB,将晶体管的特性曲线直接显示在示波管的荧光屏上,这样一来,荧光屏上光点位置的坐标便代替了逐点法中电压表和电流表的读数。

1、共射输出特性曲线的显示原理 当显示如图4-3 所示的NPN 型晶体管共发射极输出特性曲线时,图示仪内部和被测晶体管之间的连接方式如图4-4 所示. T是被测晶体管,基极接的是阶梯波信号源,由它产生基极阶梯电流ib 集电极扫描电压UCS直接加到示波器(图示仪中相当于示波器的部分,以下同)的X轴输入端,,经X轴放大器放大到示波管水平偏转板上集电极电流ic经取样电阻R得到与ic成正比的电压,UR=ic,R加到示波器的Y轴输入端,经Y轴放大器放大加到垂直偏转板上.子束的偏转角与偏转板上所加电压的大小成正比,所以荧光屏光点水平方向移动距离代表ic的大小,也就是说,荧光屏平面被模拟成了uce-ic 平面. 图4-4 输出特性曲线显示电路输出特性曲线的显示过程如图4-5 所示 当t=0 时, iB =0 ic=0 UCE =0 两对偏转板上的电压均为零,设此时荧光屏上光点的位置为坐标原点。在0-t1,这段时间内,集电极扫描电压UCS 处于第一个正弦半波周期。

测深仪说明书

华测测深仪产品系列 D330测深仪 操作手册 第一版 上海华测导航技术有限公司 二○一○年九月

目录 第一章测深仪的工作原理 (1) §1.1测深仪简介 (1) §1.2测深仪的技术原理 (1) §1.2.1回声测深的原理 (2) §1.2.2测深仪相关参数 (2) §1.3测深仪的相关名词 (4) §1.3.1水深数据分类 (4) §1.3.2数据格式 (4) §1.3.3测量周期设置 (5) §1.3.4声速设置 (6) §1.3.5吃水深度设置 (7) 第二章D330测深仪 (8) §2.1性能指标及特点 (8) §2.2标准配置单 (10) §2.3安装连接图 (11) §2.4测深软件主界面 (12) § 2.4.1主菜单 (12) § 2.4.2快捷工具栏 (13) § 2.4.3状态栏 (14) § 2.4.4测量参数设置 (14) § 2.4.5调用屏幕键盘 (15) §2.5操作步骤 (16) § 2.5.1水深数据采集 (16)

§ 2.5.2水深数据回放 (16) § 2.5.3水深数据复制和备份 (17) 第三章与GPS联机测量 (18) §3.1连接GPS (18) § 3.1.1与GPS设备的连接安装 (18) § 3.1.2连接安装的注意事项 (18) §3.2水上测量软件的设置 (19) §3.3升级和注册 (22) § 3.3.1固件升级 (22) § 3.3.2注册测深仪 (22) 第四章其他相关操作 (28) §4.1触摸屏的校准 (28) §4.2整机的维护注意事项 (30) § 4.2.1主机的维护 (30) § 4.2.2换能器的维护 (30) § 4.2.3换能器连接杆的维护 (31) § 4.2.4安全注意事项 (33) 附录联系方式 (34)

BJ4814晶体管图示仪技术说明书

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目录 1 概述 (3) 2 工作特性 (3) 3 工作原理 (5) 4使用说明 (5) 5 检查与计量 (13)

1.概述 BJ4814型半导体管特性图示仪是测量半导体器件直流及低频参数的专用仪器,它通过示波管屏幕及标尺刻度,准确的反映器件的特性曲线,其信息量之大是其它类型直流测试设备所达不到的,亦显示出图示仪的独特优势,因此它是半导体器件生产厂家及整机研制部门进行半导体器件的研制,性能改善,电路设计,器件的合理应用等工作必不可少的理想测试设备。 本仪器功能齐全,测试范围宽, 绝大部分电路实现了集成化,其中集电极扫描电路实现了电子扫描,大电流测试状态进行了占空比压缩,减小了成本,减小了重量。阶梯部分的大电流测试状态采用了脉冲阶梯输出,减小了被测管的发热。集电极电流测试新增了电子保护电路提高了反映速度,增加了仪器自身及对外保护能力,部分功能参考美国Tex-577产品特点,还有部分功能是为方便测试而增设的,因此使本仪器的应用范围得到拓宽, 随着用户对本仪器的不断了解,根据自身需要也可开发新的应用领域,欢迎广大用户对本仪器的各个方面提出宝贵意见和建议,以促进我们的改进。 2.工作特性 2.1 额定使用条件及规格 A.环境温度: 0 ~ + 40°C B.相对湿度: + 40°C 20 ~90 % RH C.大气压力: Pb - 106 KPa D.供电要求: 220V ±10% 50Hz ±5% E.整机功率: <50V A (非测试状态) <60V A (测试状态) F.外形尺寸: (E×B×H)mm 480×220×320 (主机) 80×110×40(测试盒件) G.预热时间: 15分钟 H.整机重量: 15Kg I.工作时间: 连续工作8小时 J.工作位置: 水平放置或正面仰角小于20°放置 K.外电磁场干扰: 应避免 L.阳光照射: 应避免直射 2.2 技术性能及指标 2.2.1 X轴系统 A.工作方式: 分集电极电压(Vc),基极电压(Vb),二极管电压(Vd)和阶梯信号四类. B.位移范围: 大于10度 C.集电极电压偏转因数: 20mV/度 ~ 20V/度. 1-2-5序共10挡 误差≤±3% D.基极电压偏转因数: 20mV/度 ~ 1V/度. 1-2-5序共6挡 误差≤±3% E.二极管电压偏转因数: 100V/度 ~ 500V/度. 1-2-5序共3挡 误差≤±3% F.阶梯信号偏转因数: 1阶/度 误差≤±5% 2.2.2 Y轴系统 A.工作方式: 分集电极流(Ic),和阶梯信号两类. B.位移范围: 大于10度 C.集电极电流偏转因数: 1uA/度~ 2A/度. 1-2-5序共20挡 误差≤±3% D.阶梯信号偏转因数: 1阶/度 误差≤±5%

半导体器件--用晶体管特性图示仪测量晶体管的特性参数

用晶体管特性图示仪测量晶体管的特性参数 一、 引言 晶体管在半导体器件中占有重要的地位,也是组成集成电路的基本元件。晶体管的各种特性参数可以通过专用仪器--晶体管特性图示仪进行直接测量。了解和测量实际的晶体管的各种性能参数不仅有助于掌握晶体管的工作机理,而且还可以分析造成各种器件失败的原因,晶体管特性图示仪是半导体工艺生产线上最常用的一种工艺质量检测工具。 本实验的目的是:了解晶体管特性图示仪的工作原理;学会正确使用晶体管特性图示仪;测量共发射极晶体管的输入特性、输出特性、反向击穿特性和饱和压降等直流特性。 二、晶体管特性图示仪的工作原理和基本结构 晶体管的输出特性曲线如图1所示,这是一组曲线族,对于其中任一条曲线,相当于I b =常数(即基极电流I b 不变)。曲线显示出集电极与发射极之间的电压V cc 增加时,集电极电流I c 的变化。因此,为了显示一条特性曲线,可以采用如图2所示的方法,既固定基极电流I b 为: b be b b E V I R -= (1) 图1共射晶体管输出特性曲线 图2共射晶体管接法 在集电极到发射极的回路中,接入一个锯齿波电压发生器E c 和一个小的电阻R c ,晶体管发射极接地。由于电阻R 很小,锯齿波电压实际上可以看成是加

在晶体管的集电极和发射极之间。晶体管的集电极电流从电阻R c上流过,电阻R c上的电压降就正比于I c。如果把晶体管的c、e两点接到示波管的x偏转板上,把电阻R c两端接到示波管的y偏转板上,示波器便显示出晶体管的I c随V cc变化的曲线。(为了保证测量的准确性,电阻R c应该很小)。用这种方法只能显示出一条特性曲线,因为此时晶体管的基极电流I b是固定不变的。 如果要测量整个特性曲线族,则要求基极电流I b改变。基极电流I b的改变采用阶梯变化,每一个阶梯维持的时间正好等于作用在集电极的锯齿波电压的周期,如图3所示。阶梯电压每跳一级,电流I b便增加一级。(每一级阶梯的增幅可根据不同的晶体管的做相应的调整)。 晶体管特性图示仪便是按照上述原理设计的,它包括阶梯电压发生器(供基极或发射极阶梯波)、锯齿波电压发生器(供集电极扫描电压)、x轴放大器、y 轴放大器、示波管系统等组成,其单元作用如图4所示。作用在垂直偏转板上的除I c(实际上是I c R c)外,还可以是基极电压、基极电流、外接或校正电压。由于x轴和y轴作用选择的不同,在示波器荧光屏上显示出的特性就完全不同。例如:若x轴作用为集电极电压,y轴作用选择集电极电流,得到晶体管的输出特性曲线;若x轴作用为基极电流,y轴作用选择集电极电流,得到晶体管的电流增益特性(即β特性);若y轴作用为基极电流,x轴作用是基极电流,得到晶体管的输入特性曲线。 图3 阶梯波和锯齿波信号图4 图示仪的原理方框图 三、晶体管特性图示仪的使用方法 为了不使被测晶体管和仪器损坏,在测试前必须充分了解仪器的使用方法和晶体管的规格,测试中,在调整仪器的各个选择开关和转换量时,必须注意使加于被测晶体管的电压、电流(并配合功耗电阻)从低量程漫漫提高,直到满足测量要求。

QT2晶体管图示仪使用操作方法

QT2晶体管图示仪使用操作方法 [说明书] QT2型晶体管图示仪作业指导书本文来自: 中国计量论坛作者: yilihe 查看3098 次QT2型晶体管图示仪作业指导书特别提示:由于本仪器输出扦孔可输出高压或本身带有高压,本仪器在使用前必须良好接地以及将电压级按至最小档,峰值电压逆时针旋至零。一、使用前的注意事项:1、严格按照BOM上的直流参数进行,本机可输出5KV的高压档位设定;特别要了解被测晶体管的集电极最大允许耗散功率PCM,集电极对其它极的最大反向击穿电压如BVCEO、BVCBO、BVCER,集电极最大允许电流ICM等主要指标;2、在测试前首先要将极性与被测管所需的极性相同即可选择PNP或NPN的开关置于规定位置;3、将集电极电压输出按至其输出电压不应超过被测管允许的集电极电压,同时将峰值电压旋至零,输出电压按至合适的档级并将功耗限制电阻置于一定的阻值,同时将X、Y偏转开关置于合适的档级,此档级以不超过上述几个主要直流参数为原则;4、对被测管进行必要的结算,以选择合格的X阶梯电流或电压,此结逄的原则以不超过被测管的集电极最大允许耗损功率;5、在进行ICM的测试时一般采用单次阶梯为宜,以免被测管的电流击穿;6、在进行IC或ICM测试中应根据集电极电压的实际情况,不应超过本仪器规定的最大电流,具体数据列表如下;电压档次10V 50V 100V 500V 5KV 允许最大电流50A 10A 5A 0.5A 5MA 在进行50A(10A)档级时当实际测试电流超过20A时以脉冲阶梯为宜。二、测试前的开机与调节:1、开启电源:将电源开关向右方向按动,此时白色指示灯亮,待预热十分钟后立即进行正常测试;2、调节光度聚焦、辅助聚焦及标尺亮度:将示波管会聚成一清晰的小光点,标尺亮度以能清晰满足测量要求为原则;3、Y、X移位:对Y、X档位旋钮置于中心位置,此时光点应根据PNP、NPN开关的选择处于左下方(NPN)或右上方(PNP)。再调节移位旋钮使其在左下方或右止方实线部份的零点;4、对Y、X校准:将Y、X灵敏度分别进行10度校准,其方法将Y(或X)方式开关自“I”至“校准”,此时光点或基线应有10度偏转,如超过或不到时应进行增益调节(调节W );5、阶梯调零:阶梯调零的依据即将阶梯先在示波管上显示,然后根据方放大器输入端接地所显示的位置,再调节调零电位器使其与放大器接时时重合即完成调零;调节方式前先将Y偏转放大器置于基级电流或基极源电压(即“”)档级,X偏转放大器置于UC的位置任意标级,将测试选择置于“NPN”,置于“常态”,阶梯幅度/级置于电压/级的任何档级,集电极电压置于任意档级使示波管显示电压值,此时即能调零使第一根基线与Y偏转放大器“”的重合即完成了调零步骤;6、电容性电流平衡:在要求较高电流灵敏度档级进行测量时,可对电容性电流进行平衡,平衡方式将Y偏转放大器置于较高灵敏度档级使示波管显示一电容性电流,调节电容平衡旋钮使其达到最小值即可;7、集电极电压检查:在进行测量前应检查集电极电压的输出范围,检查时将VC置于相对应档次,当发现将峰值电压顺时针方向最大时,其输出在规定值与大于10%之间即正常(用普通电压表测量结果比规定值少10%左右)。三、测试:1 ⑴、若发射极VCE-IC特性(基极信号为变量)。①根据集电极基级的极性将测试选择开关置于NPN(此时集电极电压,基极电压均为正)或(PNP(此时集电极电压,基极电压均为负)并将“”开关置于常态,如基极需要反担时可置于“侄置”;②被测管的;③将Y电流/度置于IC合适档级,X电压/度置于UC合适档级;④测试A与测试B搬向被测管连接的一边;⑤集电极电压按照要求值进行调节并使在左下方(NPN)或右上方(PNP)的零点与零刻度线重合; ⑥选择合适的阶梯幅度/级开关旋至电流/级较小档级,再逐渐加大至要求值;⑦选择合适的功耗限制电阻,电阻值的确定可接负载的要求或保护被测管的要求进行选择;⑧观察显示的曲线(波形),并进行读数记录;(2)、其发射极IB-IC特性:①根据集电极基极的极性将测试选择开关置于NPN或PNP档级,并将“”开关置于常态,如基极需要反向可置于侄置;②被测管的CBE按规定进行连接;③将Y电流/度置于IC合适档级,W电压/度置于“”的档级;④测试A与测试B搬向被测管连接的一边;⑤集电极电压按要求值与功耗限制电阻进行调节(必要时将X电压/度置于UC档级进行较精确的调节);⑥将Y。Y方式开关““调节零点位置;⑦选择合格的阶梯幅度/级开关一般置于较小档级再逐渐加大至要求值;⑧对所显示的IB-IC曲线(波形)进行观察记录,读取数据,并计算NFE 值:NFE=IC/IB IC=示波管刻度×档次读数IB=幅度/级×级数⑵、①反压特性测试及二极管特性测试:本②仪器可进行下列各种反向击穿电压测试,测试定义见有关半导体测试标准,测试接线请参见下表:VCBO集电极基极间电压(发射极开路)VEBO发射极与基极间电压(集电极开路)VCEO集电极与发射间电压(基极开路)VCER集电极与发射极间电压(基极与发射极间电阻连接)VCES集电极与发射间电压(基极与发射极短)①根据被测管的极性选择PNP、NPN的位置,是显示“PNP”位置时,集电极电压为(-)极性,当置于“NPN”位置时,集电极电压为(=)极性;②被测管的CBE接上表的连接方法进行连接;③Y偏转放大器的电流/度开关置于较灵敏档级(一般100/UA 度档级);④Q偏转放大器的电压/度置于UC合适的档级(视被测管的特性及集电极的电压输出值而定);⑤将功

XJ4810图示仪使用说明

3.7 XJ4810半导体管特性图示仪 概述: XJ4810型半导体管特性图示仪,是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线,并可测量其静态参数的测试仪器。 本仪器主要由下列几个部分组成:Y轴放大器及X轴放大器;阶梯信号发生器;集电极扫描发生器;主电源及高压电源部分。 本仪器是继JT-l型晶体管特性图示仪后的开发产品。它继承JT-l的优点,并有了较大的改进与提高,与其它半导体管特性图示仪相比,具有以下特点: 1.本仪器采用全晶体管化电路、体积小、重量轻、携带方便。 2.增设集电极双向扫描电路及装置,能同时观察二级管的正反向输出特性曲线、简化测试手续。 3.配有双簇曲线显示电路,对于中小功率晶体管各种参数的配对,尤为方便。 4.本仪器专为工作于小电流超β晶体管测试提供测试条件,最小阶梯电流可达 0.2μA/级。 5.本仪器还专为测试二级管的反向漏电流采取了适当的措施,使测试的反向电流I R 达20nA/div 。 6.本仪器配上扩展装置—XJ27100“场效应管配对测试台”可对国内外各种场效应对管和单管进行比较测试。 7.本仪器配上扩展装置—XJ27101“数字集成电路电压传输特性测试台”,可测试COMS,TTL数字集成电路的电压传输特性。 XJ4810型半导体管特性图示仪,功能操作方便,它对于从事半导体管机理的研究及半导体在无线电领域的应用,是一个必不可少的测试工具。 一、主要技术指标 (l)Y轴编转因数: 集电极电流范围:10μA∕div~500毫安/div,分15档,误差≤±3%; 二极管反向漏电流:0.2μA∕div~5μA∕div分5档 2μA∕div~5μA∕div 误差不超过±3% 基极电流或基极源电压:0.05V/div,误差≤±3%; 外接输入:0.1V/div,误差≤±3%; 偏转倍率:×0.1 误差不超过±(10%±10nA) (2)X轴偏转因数: 集电极电压范围:0.05~50V∕div,分10档,误差≤±3%; 基极电压范围:0.05~1V∕div,分5档,误差≤±3%; 基极电流或基极源电压:0.05V∕div,误差≤±3%; 外接输入:0.05V∕div,误差≤±3%。 (3)基极阶梯信号: 阶梯电流范围:0.2μA~50mA∕级,分17档, 误差≤±7%.;

HD-27T 测深仪操作手册

中海达测深仪操作手册 中海达测绘仪器有限公司二零零四年十一月

目录 第一章HD-27/HD-28测深仪… §3.1 性能指标及特点…………….………………………………….....….....…...................…...3-1 §3.2 配置……….……………………………………………….…..…..………….........….…...3-3 §3.3 安装连接图…….………………………………………….…..…..………….........….…...3-3 §3.4 测深主界面……….……………………………………….…..…..………….........….…...3-4 1、回声图像显示区……………………………………………..…..………….........….…...3-5 2、深度标尺………………………………………………...………………………………..3-5 3、回波波形显示…………………….…………………..…………………………………..3-6 4、水深显示窗口………………….………………………..………………………………..3-6 5、操作按钮区…………………….………………………..………………………………..3-7 6、信息显示区………………….…………..………………..……………………..………..3-7 §3.5 参数及环境设置……………………..…………….………...……..………….........….…...3-7 §3.6 开始测深(或记录).…………………………………………….………….........….…...3-12 §3.7 回放、查找和打印………………………………………………..………….........….…...3-12 §3.8 水深输出格式…………………………………………...…….…..………….........….…...3-13 §3.9 定标控制……………………………………………………....…..………….........….…...3-14 §3.10 使用机内海洋测量软件………………………………………...…...………….........…..3-15 第二章水深测量资料后处理… §5.1 动态吃水和测深仪改正准备………………………………………...….....………................5-2 §5.2 原始采集水深取样……………………………………………………….….…..………….....5-2 §5.3 水位改正…………….….………………………………………….….………….........….…...5-3 §5.4 数据格式转换………….…………………………………………….....….………..................5-3

D130手持测深仪使用手册

D130 D130手持式超声波测深仪用户使用手册

目录 一、产品简介。。。。。。。。。。。。。。。。。。2 二、界面说明。。。。。。。。。。。。。。。。。。3 三、技术参数。。。。。。。。。。。。。。。。。。3 四、参数设置。。。。。。。。。。。。。。。。。。4 五、使用注意事项。。。。。。。。。。。。。。7 六、连接示意图。。。。。。。。。。。。。。。。8 七、疑难现象及处理方法。。。。。。。。9 八、产品保修记录卡。。。。。。。。。。。。11

一、产品简介 本品是我司积多年生产经验,吸取了多种同类产品优点,而开发的一款方便适用的手持式超声波测距仪表。具有测量精确、工作可靠、外观大方、携带方便等优点。采用大规模集成电路,元件贴片率99%。保证了产品的长期可靠性,同时将其功耗降到了极低。可选信号输出,弥补了传统手持产品无输出的产品不足。 二、界面说明 三、技术参数 量程:□10m, □30m , □50m, ■100m, □200m 盲区:□0.06m, □0.2m , □0.5m, ■0.8m 信号输出:□0-20mA;□4-20mA;□0-5V;□1-5V; □RS485;■RS232;□上下限开关;□无最大误差:■±0.3%, □±1mm 电流最大负载阻抗:>150Ω

传感器频率:200~2000KHz (可选) 工作温度:常温 工作压力:常压 显示:大屏LCD 最小显示分辨率:1mm 键盘:五位轻触键 传感器电缆:线径5~10mm ×1.5m (可选) 主机外形尺寸:200×100×35 工作电压:1.5V AA 电池×5只 外接电源:DC9V 正常功耗:<0.5W 待机功耗:<5mW 四、参数设置 1.按键说明 确认/翻页 移位 加数 暂停 开关机 数据输入方法,例如设置LCD 关背光时间为200,方 法如下:进入菜单按键显示当前设置, 再按键显示,此时显示不闪烁,按键可选择 正负,再按键第一位闪烁,再按键将闪烁位加为,再按键第二位闪烁,再按键将闪烁位加为,再按键第三位闪烁,再按键将闪烁位加为,按 键确认。设置完成长按 键 保存退出菜单,按键放弃退出。小数点的输入,前三位 按 键加数至9后再加数可输入小数点。正常工作时按键可查看传感器温度。恢复出厂设置:取下电池,按住键上电显示。 200 20 2 - 0 0 0 100 ba DA A

XJ4810图示仪使用说明

3.7 XJ4810 半导体管特性图示仪 概述: XJ4810 型半导体管特性图示仪,是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线,并可测量其静态参数的测试仪器。 本仪器主要由下列几个部分组成:Y 轴放大器及X 轴放大器;阶梯信号发生器;集电极扫描发生器;主电源及高压电源部分。 本仪器是继JT-l 型晶体管特性图示仪后的开发产品。它继承JT-l 的优点,并有了较大的改进与提高,与其它半导体管特性图示仪相比,具有以下特点: 1.本仪器采用全晶体管化电路、体积小、重量轻、携带方便。 2.增设集电极双向扫描电路及装置,能同时观察二级管的正反向输出特性曲线、简化测试手续。 3.配有双簇曲线显示电路,对于中小功率晶体管各种参数的配对,尤为方便。 4.本仪器专为工作于小电流超β 晶体管测试提供测试条件,最小阶梯电流可达 0.2μA/级。 5.本仪器还专为测试二级管的反向漏电流采取了适当的措施,使测试的反向电流I R 达20nA/div 。 6.本仪器配上扩展装置—XJ27100“场效应管配对测试台”可对国内外各种场效应对管和单管进行比较测试。 7.本仪器配上扩展装置—XJ27101“数字集成电路电压传输特性测试台”,可测试COMS,TTL 数字集成电路的电压传输特性。 XJ4810 型半导体管特性图示仪,功能操作方便,它对于从事半导体管机理的研究及半导体在无线电领域的应用,是一个必不可少的测试工具。 一、主要技术指标 (l)Y 轴编转因数: 集电极电流范围:10μA∕div~500 毫安/div,分15 档,误差≤±3%; 二极管反向漏电流:0.2μA∕div~5μA∕div 分 5 档 2μA∕div~5μA∕div 误差不超过±3% 基极电流或基极源电压:0.05V/div,误差≤±3%; 外接输入:0.1V/div,误差≤±3%; 偏转倍率:×0.1 误差不超过±(10%±10nA) (2)X 轴偏转因数: 集电极电压范围:0.05~50V∕div,分10 档,误差≤±3%; 基极电压范围:0.05~1V∕div,分 5 档,误差≤±3%; 基极电流或基极源电压:0.05V∕div,误差≤±3%; 外接输入:0.05V∕div,误差≤±3%。 (3)基极阶梯信号: 阶梯电流范围:0.2μA~50mA∕级,分17 档, 误差≤±7%.;

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