承压设备无损检测
第2部分：射线检测
1 范围
JB/T4730的本部分规定了承压设备金属材料板和管的熔化
焊对接接头的X射线和γ射线检测技术和质量分级要求。
本部分适用于承压设备的制造、安装、在用检测中对接焊
接接头的射线检测。用于制作焊接接头的金属材料包括碳
素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛
及钛合金、镍及镍合金。
本部分规定的射线检测技术分为三级：A级——低灵敏度技
术；AB级——中灵敏度技术； B级——高灵敏度技术。
承压设备的有关支承件和结构件的对接焊接接头的射线检
测，也可参照使用。
1、理解：（1）适用对象包括承压设备的制造、安装、在用（2）检测的金属材料包括；碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金（3）A级AB级B级系指检测技术分级，不是底片质量分级。
2 、应用：（1）对不同的金属材料透照的厚度不同例如碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、镍及镍合金透照厚度2－400mm
（5.1.1）铝及铝合金透照厚度2－80mm（5.2.1）钛合金2－50mm （5.3.1）（2）不适用范围；锻件、管材、棒材。T型焊缝、角焊缝、堆焊层一般也不宜采纳。（使用原则4.2.2）
3 、注意：如承压设备的支承件或结构件也采纳该标准时应在检测报告中注明《参照》同时应有托付方的确认。
2 规范性引用文件
下列文件中的条款，通过JB/T 4730的本部分的引用而成
为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的
修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分。
然而，鼓舞依照本部分达成协议的各方研究是否可使用这
些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版
本适用于本部分。
GB 11533—1989 标准对数视力表
GB 16357—1996 工业Ｘ射线探伤放射卫生防护标准
GB 18465—2001 工业γ射线探伤放射卫生防护要求
GB 18871—2002 电离辐射防护及辐射源安全差不多标准
GB/T 19348.1—2003 无损检测工业射线照相胶片第1部分：工业射线胶片系统的分类
GB/T 19348.2—2003 无损检测工业射线照相胶片第2部分：
用参考值方法操纵胶片处理
HB 7684—2000 射线照相用线型像质计
JB 4730.1—2005 承压设备无损检测第1部分：通用要求
JB/T 7902—1999 线型像质计
JB/T 7903—1999 工业射线照相底片观片灯
（共计10个)
1、理解：（1）JB/T4730直接引用了文件中的某些条款（2）在工作中要执行这些标准中的有关规定。例如3.3.1观片灯的要紧性能应符合JB/T 7903—1999的有关规定。
2、应用：（1）除JB/T4730外，以上10个标准也是我们编制检测通用工艺和治理规定的要紧依据。（2）假如这些文件有新的版本鼓舞采纳，但双方要达成一致意见。
3、注意：（1）凡从事射线检测的单位或部门应有这10个标准的原件（2）当某些条款与JB/T4730不相符时，以JB/T4730规定的内容为准。（GB标准除外）例如附录F专用像质计的标识。
4、中国工业标准汇编（第二版）金属无损检测与探伤卷
3一般要求
射线检测的一般要求除应符合JB/T4730.1的有关规定外，
还应符合下列规定。
3.1 射线检测人员
3.1.1 从事射线检测人员上岗前应进行辐射安全知识的培训，并取得放射工作人员证。
3.1.2 射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于 5.0（小数记录值为 1.0）, 测试方法应符合GB 11533的规定。从事评片的人员应每年检查一次视力。
1、理解：取《放射工作人员证》的对象
2、应用：（1）对已取得国家质检总局或要取得国家质检总局所颁发的无损检测资质单位的射线检测人员均应有《放射工作人员证》（2）对其他单位（制造、安装和检验）现场操作人员应有《放射工作人员证》
3、注意：从事评片人员每年的视力检查情况应存档。
3.2 射线胶片
3.2.1 胶片系统按照GB/T 1938
4.1分为四类，即T1、T2、T3和T4类。T1为最高类不，T4为最低类不。胶片系统的特性指标见附录A（资料性附录）。胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类不和参数。胶片处理方法、设备和化学药剂可按照GB/T 19384.2的规定，用胶片制造商提供的预先曝光胶
片测试片进行测试和操纵。
3.2.2 A级和AB级射线检测技术应采纳T3类或更高类不的胶片，B级射线检测技术应采纳T2类或更高类不的胶片。胶片的本底灰雾度应不大于0.3。
3.2.3 采纳γ射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时,应采纳T2类或更高类不的胶片。
1、理解：（1）按胶片系统进行分类，不是按胶片的感光速度分类。胶片系统包括了胶片、增感屏和冲洗条件。（2）检测的技术级不与胶片的类不有关。
2、应用：选择的原则（1）A级和AB级检测技术不得低于T3类、B级检测技术不得低于T2类（2）采纳γ射线同意采纳T3类胶片，但灵敏度应满足要求。
3、注意：（1）当对公称厚度或透照厚度较薄的工件进行γ射线照相时应采纳高类不的胶片。
（2）对可焊性差的材料或R m≥540MPa高强钢，γ射线照相时应选择T2类或更高类不的胶片。
3.3 观片灯
3.3.1 观片灯的要紧性能应符合JB/T 7903的有关规定。
3.3.2 观片灯的最大亮度应能满足评片的要求。
1、理解：（1）观片灯的要紧性能指标除了亮度以外还包括:亮度的均匀性、外壳温度、噪声、绝缘程度等（2）观片灯亮度和照度的关系，即140000lx——45000cd/m2
2、应用：当底片评定范围内的黑度≤2.5时，观片灯的亮度不应低于9400 cd/m2、当底片评定范围内的黑度2.5＜D≤4时观片灯的亮度不应低于100000 cd/m2 (已知底片的黑度，应会计算观片灯的亮度）
3、注意：生产观片灯的厂家所提供的亮度指标应用cd/m2表示。
3.4 黑度计（光学密度计）
3.4.1 黑度计可测的最大黑度应不小于 4.5，测量值的误差应不超过±0.05。
3.4.2 黑度计至少每6个月校验一次。校验方法可参照附录B （资料性附录）的规定进行。
1、理解：在一定情况下底片的黑度同意大于4
（4.11.2）
2、应用：黑度计属于自校验仪器，不是强制校验设备，而标准黑度片是要强制检验的。黑度计的校验应有记录并有校验者和审
核者签字，保存到下一校验周期。
3、注意：校准黑度计用的标准黑度片必须在有效期内，并通过计量部门的鉴定(2年）新购置的标准黑度片只要在有效期内也同意。
3.5 增感屏
射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。增感屏的选用应符合表1的规定
1、理解：（1）X射线照相，能量在500KV以下增感屏的材料应是铅，铅屏的厚度不涉及技术级不只与射线能量有关（2）如采纳Se-75或Ir-192，增感屏的厚度与技术级不有关。（3）如采纳Co60或高能X射线（4MeV以下）选择增感屏所用的材料和厚度均与技术级不有关。
2、应用：（1）前屏和后屏的厚度能够相同也能够不同（2）如采纳Se-75和Ir-192射线照相，AB级或B级检测技术，前屏和后屏的厚度均不能小于0.1mm。
3、注意： AB级或B级检测技术使用前屏≤0.03mm真空包装胶片时，另有规定。（仅限于γ射线）
3.6 像质计
3.6.1 底片影像质量采纳线型像质计测定。线型像质计的型号
和规格应符合JB/T 7902的规定，JB/T 7902中未包含的丝径、线号等内容，应符合HB 7684的有关规定。
3.6.2 像质计的材料、材料代号和不同材料的像质计适用的工件材料范围应符合表2的规定。
1、理解：（1）取消了象质指数“Z”的概念，用线径或线号表示底片的灵敏度。（2）原JB4730标准选用的是R10等比系列像质計最细线的编后为16号，线径为0.100mm,这一线径已不能满足JB/T4730厚度的下线（2mm）AB级和B级的要求，因此JB/T4730标准引出HB 7684－2000增加了小于0.100mm的线，即17号，0.080mm、18号，0.063mm,19号，0.050mm.组成了4组像质计：1－7、6－1
2、10－16、13－19。
2、应用：（1）应依照检测技术级不、透照方式和像质计摆放的位置及公称厚度（T）透照厚度（W）确定像质计灵敏度（2）以低原子序数材料制作的像质计能够用于高原子序数材料制成的工件照相。即铁（Fe）像质计能够用于镍（Ni）、铜（Cu）材料的照相，但不能用于钛（Ti）、铝（AI）材料的照相。
3.7 表面要求和射线检测时机
3.7.1 在射线检测之前，对接焊接接头的表面应经外观检测并合格。表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影