手机温升测试操作指导书
一．测试目的和意义
检查手机是否存在有过度发热、爆炸等问题，以便做出相应地改进，严防因手机过烫引起的用户灼伤事故发生。
二．测试范围
温升试验方法适用于无包装之整机。
三．试验仪器
IR Camera：Fluke Ti125、温度测试仪：CEM DT-625、待测样机温升试验容器四．试验方法及步骤
首先，在做测试之前，实验室环境温度保证在所需的环温（一般我们把待测样机和温度计放入试验室温升测试容器中，样机与温度计之间的距离保持10cm，待测样机60度斜放，保证待测样机周围温度和风速相对稳定，从而减小了环境干扰因素对试验的影响）
视频播放（如果是充电状态测试，
五．测试时注意事项
1. 保持IR Camera距手机测试点20cm左右，并保证与测试点要垂直
2. 测试时旁边放置温度仪，每次测试都需要记录环境温度
4. 测试样机竖着放置，不能堵住Speaker出音孔和LCD
6. 被测样机周围环境要保持稳定，不能放置在风扇或者空调出风口处
7. 测试游戏时手要真实模拟用户抓着被测样机来测试，但保证尽量减小环境对测试的影响10. 测试前先检查温度枪的镜头是否干净
13. 温度测试重点注意主板键盘区域,喇叭(振动喇叭需特别注意)及电池盖处的温度
14. 使用用于测量的仪器测定物体发射率。
15. 将被测目标适当遮挡，避免其对环境高温热源的反射。
16. 测量温度较高的物体应选用响应波长较短的测温仪。
六．测试后检查及判断依据
七．测试经验分享
最近ASUS项目上，使用红外热成像仪与点温计温升结果对比，发现热成像仪测试结果比点温计要低1~3℃。
大家需要注意：热成像仪在测试手机壳体温度时，需要设置发射率参数，目前仪器默认发射率为1，手机测试时，由于壳体材质一般为塑壳，需要将发射率改为0.95，仪器会自动补上0.05的热衰减，这样测试结果才比较接近与真实值，请大家后续测试时务必注意。
发射率：是对一种物体吸收、发射红外能量能力的量度。它的值从0到1.0。例如镜子的发射率为0.1，而所谓“黑体”发射率能达到1.0 。如果目标温度高于环境温度，而设定的发射率高于真实值，那么输出的读数偏低。例如，如果发射率设定为0.95，而实际发射率是0.9，读数会比真实的温度低。
八．不同物质的发射率
IR Camera：Fluke Ti125波长在8~14μm内。
典型发射率 (金属)
典型发射率 (金属)
典型发射率 (非金属)
欲获得最佳表面温度测量结果，遵守下列原则：
1. 使用用于测量的仪器测定物体发射率。
2. 将被测目标适当遮挡，避免其对环境高温热源的反射。
3. 测量温度较高的物体应选用响应波长较短的测温仪。