本安用电子元件老化筛选工艺规程
1 范围
1.1 本工艺适应于防爆电器产品中本安用锗、硅半导体二极管、三极管、集成电路、电容器
元件的老化筛选。
1.2 本工艺适用于进厂检验合格的元件进行老化筛选。
2 引用标准
2.1 GB4032半导体分立器件
GB4936.1半导体分立器件总规范
GB4938 半导体分立器件接收和可靠性
3 设备、仪器、工具
3.1 晶体管老化台
3.2 晶体管特性图示仪
3.3 晶体二极管测试仪
3.4 万用电桥
3.5 电容测试仪
3.6 电热鼓风干燥箱
3.7 交流稳压器
3.8 万用表
4 高温储存
4.1目的
使具有潜在缺陷的器件（如污染、引线不良、氧化缺陷等）提前失效，加以清除。
4.2储存温度
a)锗二、三极管：85±2℃
b)硅二、三极管：85±3℃
c)集成电路：85±2℃
4.3 储存时间24h
4.4 试验方法
4.4.1初试
4.4.1.1标准测试条件
a)环境温度：25±5℃
b)相对湿度：45%～75%
c)大气压力：86～106kpa
4.4.1.2 技术要求
按器件电参数规范测试
a）二极管
V BR：击穿电压。
I K：反向电流。
b) 三极管
I CBO：集电极—基极反向击穿电流。
V（E R）CEO：集电极—发射极反向击穿电压。
V CE（sat）：集电极—反向饱和压降。
I C—V CE：共射极输出特性曲线。
H FE：共射极静态电流放大系数。
c) 稳压二极管
UZ：稳定电压
IZ：稳定电流
d)电阻器
选择筛选的电阻器测量阻值的误差范围不得超过±5%。
e)集成电路
选择能预示器件早期失效的参数，作为筛选参数。
注：集成电路种类、规格繁多，差异较大，根据实际应用情况选测主要参数。
f)电容器
电解电容量允许误差为±20%，无极电容电容量允许误差为±5%。
4.4.2 试验步骤
4.4.2.1 将初测合格的器件装入专用金属盒,放入烘箱,把温度调到规定值.
4.4.4.2 温度达到规定值时开始计算时间,48h后取出器件,并在室温下恢复应不少于1h.
4.4.2.3 重复4.4..1条的测试步骤.
5常温静态功率老化
5.1 目的
在较长时间内对器件连续施加一定的电压力,通过电—热应力的综合作用,来加速器件内部的物理\化学反映的过程.促使器件内部各种潜在的缺陷及早暴露,以剔除早期失效的器件.
5.2 试验要求
5.2.1 二极管
5.2.1.1 检波、开关、整流二极管的正向电功率的老化，应取额定正向电流的1.5倍，老化时
间为48h。
5.2.1.2 稳压二极管的反向电功率老化，应以其额定功率的2倍进行，老化时间为48h。5.2.2 三极管
5.2.2.1 当P CM≤500mw时，在0.6BV CEO电压下，按额定功率的1.2倍老化，老化时间48h.
5.2.2.2当1w≥P CM＞500mw时，在0.6BV CEO电压下，按额定功率的1.5倍老化，老化时间
48h.
5.2.2.3 当P CM＞1w时，在0.5I CM电流下，按额定功率老化时间，时间为12h。此时应按产
品技术条件规定加装散热片。
5.2.2.4 当使用晶体管热敏参数快速筛选设备对上述器件进行老化时，其老化时间及试验方
法，按设备的相应规定进行。
5.3 试验方法
5.3.1 初测
按4.4.1的步骤进行。
5.3.2 试验步骤
5.3.2.1 按晶体管老化台说明书要求，将该设备各开关，预置在规定位置。（包括：NPN、PNP
转换，电压极性、电压范围等）。
5.3.2.2 插好三极管（数量不够时允许有空位）.
5.3.2.3 上述准备工作完成以后，接通老化台电源。
5.3.2.4 按老化条件要求调好所施加的电压，并开始计算时间。
5.3.2.5 达到老化时间后切断老化实验台电源。
5.3.2.6 重复4.4.1的步骤。
6 注意事项
6.1 常温静态功率老化过程中，应随时监测电压、电流数值，以保证老化条件的稳定。
6.2 在初测及复测时，要防止因失效的半导体器件引起仪表过载。
6.3 试验时，如果热源温度失控，就可能破坏或损伤器件，因此，热源应装备重复的过热控
制来限制最高温度。
7 验收规则
7.1 由质检部接到检验通知单后进行。首先检查元件是否为本公司的合格供方，出厂产品是
否有合格证明等。
7.2 电解电容的出厂期不得超过一年。
7.3 所有元件抽样检查，抽样率5%，初测时被抽取的样品总数经检测合格率低于98%的，则
判定该批总体不合格。否则判定该批总体为合格品。经电热老化后的样品总数检验合格率低于98%的，则判定该批总体不合格，否则判定该批总体为合格品。
7.4 对检测不合格的电子元件，开出检验不合格单，及时反馈有关部门。
7.5 检验记录应认真填写，交质检部门备查。
电子元器件二次筛选中的质量管理 摘要：二次筛选是电子元器件装机使用前可靠性的重要保障过程，本文简要介绍了电子元器件二次筛选的基本概念，针对二次筛选过程中的质量管理和控制方面存在的问题，提出了使用5S现场管理法和流程管理予以改进，提高了元器件二次筛选的质量管理水平。 关键词：电子元器件；二次筛选；5S现场管理；流程管理 一、电子元器件的二次筛选 筛选试验是指为选择具有一定特性的产品或剔除早期失效的产品而进行的试验，它是针对产品进行全数检验的非破坏性试验，通过按照一定的程序施加环境应力，激发出产品潜在的设计和制造缺陷，以便剔除早期失效产品，降低失效率。元器件的筛选一般应由元器件生产方按照军用电子元器件规范或供需双方签订的合同进行。一般将元器件生产方进行的筛选称为“一次筛选”，如果当“一次筛选”的技术条件不能完全满足使用方对元器件的质量要求时，使用方或其委托单位可以进行再筛选以补充生产方筛选的不足。一般将使用方或委托单位进行的筛选称为“二次筛选”或者“补充筛选”，即二次筛选是指已采购的元器件在“一次筛选”试验没有满足使用方项目要求的技术条件时，由使用方进行的筛选。元器件的“一次筛选”和“二次筛选”的目的与试验方法基本相同，但“二次筛选”是在“一次筛选”的基础上剪裁而成的。 具有高可靠性的电子元器件是通过设计并生产出来的，但是再好的生产控制程序和生产工艺也无法避免质量问题的存在。电子元器件的二次筛选已经被证明是有效保障电子元器件可靠性的重要手段。 二次筛选的质量直接影响着型号产品的质量，近年来科研生产任务越来越重，送筛的元器件种类和数量也越来越多，因此如何严格把关保证筛选质量，同时在时间进度上按节点准时交付（即提高工作效率）是电子元器件二次筛选质量管理工作的重点。在二次筛选工作中，只有通过规范、有效的管理，才能保证元器件按照正确的试验条件和方法进行筛选，才能充分发挥二次筛选的把关作用，最终实现军用产品高可靠性的目标。 二、电子元器件二次筛选试验现场5S管理 （一）实行现场5S管理的原因 电子元器件二次筛选工作涉及的环节比较多，随着筛选任务量的加重以及筛选人员队伍的不断壮大，存在以下几方面的问题： 人员：每个人的工作习惯不同，可能导致测试、试验结果有差异，如果不对员工的测试、试验行为做统一规范的要求，极易忙中出错。 样品：筛选样品种类多、数量多，通常是多批次样品同时投筛；不同种类及
庭威老化房技术要求 庭威生产用老化系统主要由以下几个部分组成：老化房及温度控制部分，交流配电部分，老化测试用电源系统，老化车部分、老化测试配线部分以及测试监控部分。 总系统中只有老化房及温度控制部分需专业厂家提供，此部分的主要描述如下： (1)房体结构：老化房房体结构采用保温板（EPS彩钢板或岩棉板）在现场拼装而成，房间尺寸均根据附件中图纸要求设计。根据图纸要求配置本体系统、主电系统、控制系统、加热系统、温度控制系统、进排风系统、时间控制系统。另根据需要设置观察窗，方便在室外观察到室内产品测试情况，房体顶部设置有供老化车使用的线缆走线架。 (2)风道系统：加热风机及风道系统安装于老化房顶部，不占用其它空间，风道系统由循环风系统及过热排风系统组成，室内循环风经加热器加热后由送风机经保温风管送回室内，反复循环，使房间温度维持在设定范围。当房间温度超过报警设定值时，排风机启动，抽走室内过热气体，同时室外冷空气进入房内与热空气混合，使房间温度回复正常。 (3)控制系统：老化房的控制系统中采用了PID调节加热量，实现对房间温度的精确控制，同时温度控制器可以对房内任意取样点温度进行滚动实时显示,方便准确掌握房内温度情况。控制系统还设定了各种保护功能，有超温报警保护、风机故障报警保护、无风报警保护、室内烟气感应报警保护等，完善的保护功能确保了老化房能长期稳定无故障运行。 1．主要技术参数： 1.1 温度范围：常温 -- +60℃ 1.2 温度波动：±1℃； 1.3 温度偏差：±5℃ 1.4 房内尺寸：按图纸要求； 1.5 运行方式：温度可调，恒定运行或程序运行； 1.6 升温时间：1-3℃/min； 1.7 降温时间：<30min 1.8 噪音：<60dB(A)(老化房距离2米的范围内) 1.9 安装电源：380V/50 Hz，三相四线+安全地线； 2.控制系统及安全保护措施：
岗位规范标准格式（可复制使用） 电子元器件筛选岗位规范 1 范围 本规范规定了电子元器件筛选岗位职责和岗位标准。。 本规范适用于电子元器件筛选岗位的初级、中级、高级职务人员。 2 引用标准 Q/AG L07 1.1－2003职工政治思想和职业道德通用标准 3岗位职责（概括和列举该岗位的工作职责） 3.1在检测中心正、付主任领导下，由组长组织、实施，完成电子元器件的筛选工作； 3.2贯彻执行我所质量管理体系程序文件，严格执行各项检测、筛选规范； 3.3 负责按元器件筛选大纲完成各类电子元器件筛选工作； 3.4 负责外协筛选工作的业务联系、验收和经费结算工作； 3.5 负责试验、检测设备的使用、保养工作； 3.6 负责检测报告的出示； 3.7 负责不合格品处理单的传递工作； 3.8 负责不合格品的保管和参加处理工作； 3.9 负责温度试验部分元器件的交接工作； 3.10 负责筛选合格件的入库交接工作； 3.11 负责资料保管工作。 4 岗位标准 4.1 政治思想与职业道德 执行Q/AG L07 1.1－2003职工政治思想与职业道德通用规范
岗位规范标准格式（可复制使用） 4.2 文化程度 4.2.1 大专及以上学历。 4.3 专业理论知识 4.3.1 初级职务 4.3.1.1 了解电工、机械、热工、等方面的一般知识； 4.3.1.2 基本掌握电子学、高等数学基础知识； 4.3.1.3 基本掌握电子测试、数据处理、统计学一般知识； 4.3.1.4 计算机应用知识； 4.3.1.5 了解掌握我所质量管量程序、规范； 4.3.1.6 能查阅本专业一般外文资料。 4.3.2 中级职务 4.3.2.1 系统掌握电子学、高等数学、电子测量技术等专业知识； 4.3.2.2 较熟练掌握误差分析理论； 4.3.2.3 较熟练掌握计算机应用知识； 4.3.2.4 基本掌握我所质量管理程序、规范； 4.3.2.5 能查阅本专业的外文资料。 4.3.3 高级职务 4.3.3.1全面掌握电子学、电子测量技术等专业知识； 4.3.3.2 熟练掌握数据处理、误差分析理论及统计学理论； 4.3.3.3 全面系统掌握现代科学管理和我所质量管理程序； 4.3.3.4 熟练掌握检测设备的结构和原理； 4.3.3.5 熟练掌握计算机程序设计理论。 4.4 实际工作能力 4.4.1 初级职务 4.4.1.1 能按筛选大纲完成元器件筛选的基本试验；
浅谈电子元器件的二次筛选 【摘要】元器件二次筛选指的是当元器件生产厂商进行的筛选不能满足用户应用要求时，由使用方或其委托单位在元器件生产厂商筛选基础上进行的筛选，是对元器件生产厂商筛选工作的补充和验证。二次筛选是针对不同的失效模式，进行一些试验以剔除早期失效产品，能够有效地提高系统的整体可靠性，因而使用十分广泛。本论文首先介绍二次筛选的原因及其适用范围，进而提出质量控制的概念、四种常用的元器件的二次筛选方法以及其发展方向。 【关键词】二次筛选；质量 1.电子元器件的二次筛选 1.1 进行二次筛选的原因 元器件二次筛选指的是当元器件生产厂商进行的筛选不能满足用户应用要求时，由使用方或其委托单位在元器件生产厂商筛选基础上进行的筛选，是对元器件生产厂商筛选工作的补充和验证。 进行二次筛选的原因，是在元器件的生产过程中由于人为的因素或原材料、工艺条件、设备条件的波动，最终生产出的产品不可能全部达到预期的固有可靠性水平，在一批成品中总有一部分产品存在各种潜在缺陷，其寿命远远低于产品的平均寿命，这种提前失效的产品称为早期失效产品。二次筛选就是针对不同的失效模式，进行一些试验以剔除早期失效产品，能够有效地提高系统的整体可靠性，因而使用十分广泛[1]。 1.2 二次筛选的适用范围 二次筛选主要适用于下列四种情况的元器件： （1）元器件生产厂商并没有对元器件实施初步筛选，或者是筛选的步骤并不规范； （2）已经实施“一次筛选”步骤的生产元器件厂商，由于工艺或者水平的限制，不符合使用者的高质量需求； （3）元器件生产厂商的筛选条件无法满足使用者对器件特殊要求的筛选项目； （4）使用者可能对元器件生产厂商的筛选及其有效性提出质疑，期望对元器件的质量进行验证。 1.3 二次筛选应注意的问题
电路板老化标准 为了达到满意的合格率，几乎所有产品在出厂前都要先藉由老化。制造商如何才能够在不缩减老化时间的条 件下提高其效率？本文介绍在老化过程中进行功能测试的新方案，以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问题。 在半导体业界，器件的老化问题一直存在各种争论。像其它产品一样，半导体随时可能因为各种原因而出现故障，老化就是藉由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。如果不藉由老化，很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。 在开始使用后的几小时到几天之内出现的缺陷(取决于制造制程的成熟程度和器件总体结构)称为早期故障，老化之后的器件基本上要求100%消除由这段时间造成的故障。准确确定老化时间的唯一方法是参照以前收集到的老化故障及故障分析统计数据，而大多数生产厂商则希望减少或者取消老化。 老化制程必须要确保工厂的产品 满足用户对可靠性的要求，除此之外， 它还必须能提供工程数据以便用来改 进器件的性能。 一般来讲，老化制程藉由工作环 境和电气性能两方面对半导体器件进 行苛刻的试验使故障尽早出现，典型 的半导体寿命曲线如右图。由图可见， 主要故障都出现在器件寿命周期开始 和最后的十分之一阶段。老化就是加 快器件在其寿命前10%部份的运行过 程，迫使早期故障在更短的时间内出 现，通常是几小时而不用几月或几年。 不是所有的半导体生 产厂商对所有器 件都需要进行老化。普通器件制造由 于对生产制程比较了解，因此可以预先掌握藉由统计得出的失效预计值。如果实际故障率高于预期值，就需要再作老化，提高实际可靠性以满足用户的要求。 本文介绍的老化方法与 10 年前几乎一样，不同之处仅仅在于如何更好地利用老化时间。提高温度、增加动态信号输入以及把工作电压提高到正常值以上等等，这些都是加快故障出现的通常做法；但如果在老化过程中进行测试，则老化成本可以分摊一部份到功能测试上，而且藉由对故障点的监测还能收集到一些有用信息，从总体
电子元器件筛选技术
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仪表与电气系统的可靠性设计 电子元器件筛选技术 摘要：电子元器件是电子设备的基础，是保证电子设备高可靠性的基本资源，其可靠性直接影响设备的工作效能的充分发挥。电子元器件是电子设备、系统的基础。随着电子技术的发展，电子元器件在设备中应用数量逐渐增多，对电子元器件的可靠性也提出了越来越高的要求。本文介绍电子元器件的筛选技术。 关键词：电子元器件；可靠性；筛选 1、电子元器件筛选的目的和作用 电子元器件筛选是设法在一批元器件中通过检验和试验剔除那些由于原材料、设备、工艺等（包括人的因素）方面潜在的不良因素所造成的有缺陷的元器件——早期失效元器件，而把具有一定特性的合格器件挑出来。检验包括在规定环境下的目视检查、功能测量等，某些功能测试是在强应力下进行的。 电子元器件失效机理在元器件制造出来之后就已经固定。所以，可靠性筛选不能改变其失效机理，不能改变单个元器件的固有可靠性水平。但是，通过筛选，课剔除早期失效元器件，从而提高成批元器件总体的可靠性水平。或者说，筛选不能提高元器件的固有可靠性，只能提高使用可靠性。 可靠性筛选对性能良好的元器件应该是一种非破坏性试验，即试验应力对好元器件的损伤要尽可能小。反映在整批元器件特性上，就是不应影响其失效机理、失效模式和正常工作。在此前提下，可考虑加大应力进行筛选，以提高筛选效果和缩短筛选时间。筛选的目的是有效地剔除早期失效产品，使失效率降低到可接受的水平。 元器件筛选是提高电子元器件使用可靠性的有效手段。元器件经过筛选可以发现并剔除在制造、工艺、材料方面的缺陷和隐患。元器件筛选对空空导弹这样在飞行任务期间没有可能维修、可靠性指标要求又很高的产品尤为重要。 2、电子元器件筛选分类 电子元器件按照筛选性质分类可以分为四大类： ①检查筛选：显微镜检查筛选；红外线非破坏性检查筛选；X射线非破坏性检查筛选。 ②密封性筛选：液浸检漏筛选；氦质谱检漏筛选；放射性示踪检漏筛选；湿度实验筛选。 ③环境应力筛选：振动、冲击、离心加速度筛选；温度冲击筛选。 ④寿命筛选：高温储存筛选；功率老化筛选。 按照生产过程分类可以分为生产工艺筛选；成品筛选；装调筛选（即用模拟整机使用状态的筛选装置进行动态筛选）。 按照筛选的复杂程度可以分为五类: ①分布截尾筛选：对元器件参数性能的分类； ②应力强度筛选：对元器件施加一定强度的应力后进行测量分选； ③老炼筛选：在规定的时间内对元器件施加各种应力后进行测试筛选； ④线性鉴别筛选：类似于老炼筛选，但要运用数理统计技术进行判别； ⑤精密筛选：在接近元器件使用条件下进行长期老炼并多次精确地测量参数
老年人消化系统的生理性老化 一、概述 由于人口不断老化，医务工作者正面临日益增多的、患有难以解释的胃肠疾病或营养不良的老年人。这些老年患者常被误认为是正常老化所致而得不到有效的诊断和治疗，医务工作者必须对老年人消化系统生理特点胃肠功能和营养变化有一全面了解，才能做出正确判断。以下就消化系统各器官老化过程中的特点和变化进行分别阐述。 二、口腔的老化 随着年龄的增长，味觉和嗅觉的敏感性下降。据推测这种敏感性下降使食物变得乏味，老年人更偏爱味重的食物。老年人非刺激性唾液分泌可能减少，但刺激性唾液分泌滑改变，故大约40%的健康老年人有口干。随着肌肉的萎缩，咀嚼也少有力量，尤其在无牙者更明显。 老年人牙齿、牙釉质和牙本质长期磨损，使牙本质内的神经末梢外露，引起对冷、热、酸等食物的过敏而酸痛，牙
本质随增龄而不断向髓腔内增厚，髓腔缩小，牙髓常钙化成髓石，加之牙龈退化萎缩，牙齿逐渐脱落；同时牙周膜变薄，牙龈退缩，牙根暴露，故老年人易患牙周病。 三、食管的老化 在65岁以上无症状老年人中，25%的人有咽部低张力和环咽肌开放不完全。经测压研究证实，食管上端括约肌静息压下降，吞咽时咽收缩压升高，松弛延缓。在80岁以上老年人中，40%有食管运动异常，2/3的人口有吞咽困难。 四、胃肠功能的老化 （一）胃 在消化道各器官中，随着年龄增长，胃的改变最为明显，其特征性变化为与萎缩性胃炎相关的低酸和无酸。60岁以上的无症状者中，大多数人有萎缩性胃炎。在201例无症状的65~90岁老年人中发现仅有50例组织学正常，但胃萎缩的程度与年龄不相关，在20世纪90年代初期，胃的低酸、无酸主要归因于器官老化所致。实际上，大多数健康老年人仍保持胃酸分泌。最近研究也表明，血清胃泌素浓度仅在幽门螺
电子元器件的可靠性筛选 本文简述了电子元器件筛选的必要性，分析了电子元器件的筛选项目和应力条件的选择原则，介绍了几种常用的筛选项目和半导体的典型筛选方案设计。 随着工业、军事和民用等部门对电子产品的质量要求日益提高，电子设备的可靠性问题 受到了越来越广泛的重视。对电子元器件进行筛选是提高电子设备可靠性的最有效措施之一。可靠性筛选的目的是从一批元器件中选出高可靠的元器件，淘汰掉有潜在缺陷的产品。从广义上来讲，在元器件生产过程中各种工艺质量检验以及半成品、成品的电参数测试都是筛选，而我们这里所讲的是专门设计用于剔除早期失效元器件的可靠性筛选。理想的筛选希望剔除所有的劣品而不损伤优品，但实际的筛选是不能完美无缺的，因为受筛选项目和条件的限制，有些劣品很可能漏过，而有些项目有一定的破坏性，有可能损伤优品。但是，可以采用各种方法尽可能地达到理想状态。 1 元器件筛选的必要性 电子元器件的固有可靠性取决于产品的可靠性设计，在产品的制造过程中，由于人为因素或原材料、工艺条件、设备条件的波动，最终的成品不可能全部达到预期的固有可靠性。在每一批成品中，总有一部分产品存在一些潜在的缺陷和弱点，这些潜在的缺陷和弱点，在一定的应力条件下表现为早期失效。具有早期失效的元器件的平均寿命比正常产品要短得多。电子设备能否可靠地工作基础是电子元器件能否可靠地工作。如果将早期失效的元器件装上整机、设备，就会使得整机、设备的早期失效故障率大幅度增加，其可靠性不能满足要求，而且还要付出极大的代价来维修。因此，应该在电子元器件装上整机、设备之前，就要设法把具有早期失效的元器件尽可能地加以排除，为此就要对元器件进行筛选。根据国内外的筛选工作经验，通过有效的筛选可以使元器件的总使用失效率下降1 - v 2个数量级，因此不管是军用产品还是民用产品，筛选都是保证可靠性的重要手段。 2 筛选方案的设计原则
电子元器件可靠性试验、失效分析、故障复现及筛选技术培训 讲讲师师介介绍绍:: 费老师 男，原信息产业部电子五所高级工程师,理学硕士,“电子产品可靠性与环境试验”杂志编委，长期从事电子元器件的失效机理、失效分析技术和可靠性技术研究。分别于1989年、1992－1993年、2001年由联合国、原国家教委和中国国家留学基金管理委员会资助赴联邦德国、加拿大和美国作访问学者。曾在国内外刊物和学术会议上发表论文三十余篇。他领导的“VLSI 失效分析技术”课题组荣获2003年度“国防科技二等奖”。他领导的“VLSI 失效分析与可靠性评价技术”课题组荣获2006年度“国防科技二等奖”。2001年起多次应邀外出讲学,获得广大学员的一致好评。 【培训对象】系统总质量师、产品质量师、设计师、工艺师、研究员，质量可靠性管理和从事电子元器件（包括集成电路）失效分析工程师 【主办单位】中 国 电 子 标 准 协 会 培 训 中 心 【协办单位】深 圳 市 威 硕 企 业 管 理 咨 询 有 限 公 司 为了满足广大元器件生产企业对产品质量及可靠性方面的要求，我司决定在全国组织召开“电子元器件可靠性试验、失效分析、故障复现及筛选技术”高级研修班。研修班将由具有工程实践和教学丰富经验的教师主讲，通过讲解大量实例,帮助学员了解各种主要电子元器件的可靠性试验方法和试验结果的分析方法．
课程提纲： 第一部分电子元器件的可靠性试验 1 可靠性试验的基本概念 1．1 概率论基础 1．2 可靠性特征量 1．3 寿命分布函数 1．4 可靠性试验的目的和分类 1．5 可靠性试验设计的关键问题 2 寿命试验技术 2．1 加速寿命试验 2．2 定性寿命保证试验 2．3 截尾寿命试验 2．4 抽样寿命试验 3 试验结果的分析方法：威布尔分布的图估法 4 可靠性测定试验 4．1 点估计法 4．2 置信区间 5 可靠性验证试验 5．1 失效率等级和置信度 5．2 试验程序和抽样表 5．3 标准和应用 6 电子元器件可靠性培训试验案例
一、外观质量检查 拿到一个电子元器件之后，应看其外观有无明显损坏。比如变压器，要看其所有引线有否折断，外表有无锈蚀，线包、骨架有无破损等。又如三极管，要看其外表有无破损，引脚有无折断或锈蚀，还要检查一下器件上的型号是否清晰可辨。对于电位器、可变电容器之类的可调元件，还要检查在调节范围内，其活动是否平滑、灵活，松紧是否合适，无机械噪声，手感好，并保证各触点接触良好。 各种不同的电子元器件都有自身的特点和要求，爱好者平时应多了解一些有关各元件的性能和参数、特点，积累经验。 二、电气性能的筛选 要保证试制的电子装置能够长期稳定地通电工作，并且经得起应用环境和其他可能因素的考验，这是对电子元器件的筛选必不可少的一道工序。所谓筛选，就是对电子元器件施加一种应力或多种应力试验，暴露元器件的固有缺陷而不破坏它的完整性。筛选的理论是：如果试验及应力等级选择适当，劣质品会失效，而优良品则会通过。人们在长期的生产实践中发现新制造出来的电子元器件，在刚投入使用的时候，一般失效率较高，叫做早期失效，经过早期失效后，电子元器件便进入了正常的使用期阶段，一般来说，在这一阶段中，电子元器件的失效率会大大降低。过了正常使用阶段，电子元器件便进入了耗损老化期阶段，那将意味着寿终正寝。这个规律，恰似一条浴盆曲线，人们称它为电子元器件的效能曲线。 电子元器件失效，是由于在设计和生产时所选用的原材料或工艺措施不当而引起的。元器件的早期失效十分有害，但又不可避免。因此，人们只能人为地创造早期工作条件，从而在制成产品前就将劣质品剔除，让用于产品制作的元器件一开始就进入正常使用阶段，减少失效，增加其可靠性。 在正规的电子工厂里，采用的老化筛选项目一般有：高温存储老化；高低温循环老化；高低温冲击老化和高温功率老化等。其中高温功率老化是给试验的电子元器件通电，模拟实际工作条件，再加上＋80℃～＋180℃的高温经历几个小时，它是一种对元器件多种潜在故障都有检验作用的有效措施，也是目前采用得最多的一种方法。对于业余爱好者来说，在单件电子制作过程中，是不太可能采取这些方法进行老化检测的，在大多数情况下，采用了自然老化的方式。例如使用前将元器件存放一段时间，让电子元器件自然地经历夏季高温和冬季低温的考验，然后再来检测它们的电性能，看是否符合使用要求，优存劣汰。对于一些急用的电子元器件，也可采用简易电老化方式，用一台输出电压可调的脉动直流电源，使加在电子元器件两端的电压略高于元件额定值的工作电压，调整流过元器件的电流强度，使其功
电子元器件的固有可靠性取决于产品的可靠性设计，因此，应该在电子元器件装上整机、设备之前，就要设法把具有早期失效的元器件尽可能地加以排除，为此就要对元器件进行筛选。那么元器件筛选都有哪些方案？原则是什么？常见的筛选项目有哪些？ 安排测试筛选先后次序时的两种方案： a）方案1：将不产生连环引发效果的失效模式筛选放在前面，将可以与其他失效模式产生连环引发效果的失效模式筛选放在后面。 b）方案2：将可以与其他失效模式产生连环引发效果的失效模式筛选放在前面，将不产生连环引发效果的失效模式筛选放在后面。 如果选择方案1，会发现将可以与其他失效模式产生连环引发效果的失效模式筛选放在后面时，出现本身失效模式没有被触发、其他关联的相关失效模式被触发的情况时，这种带有缺陷的元器件不能被准确地定位、剔除，因为该类失效模式的检测已经在前面做过了。而选择方案2就可以非常有效地避免上述问题的发生，使筛选过程优质、经济和高效。 筛选方案的设计原则 定义如下： 筛选效率W＝剔除次品数/实际次品数 筛选损耗率L＝好品损坏数/实际好品数 筛选淘汰率Ｑ＝剔降次品数/进行筛选的产品总数 理想的可靠性筛选应使W=1，L=０，这样才能达到可靠性筛选的目的。Q值大小反映了这些产品在生产过程中存在问题的大小。Q值越大，表示这批产品筛选前的可靠性越差，亦即生产过程中所存在的问题越大，产品的成品率低。 筛选项目选择越多，应力条件越严格，劣品淘汰得越彻底，其筛选效率就越高，筛
选出的元器件可靠性水平也越接近于产品的固有可靠性水平。但是要付出较高的费用、较长的周期，同时还会使不存在缺陷、性能良好的产品的可靠性降低。 故筛选条件过高就会造成不必要的浪费，条件选择过低则劣品淘汰不彻底，产品的使用可靠性得不到保证。由此可见，筛选强度不够或筛选条件过严都对整批产品的可靠性不利。 为了有效而正确地进行可靠性筛选，必须合理地确定筛选项目和筛选应力，为此，必须了解产品的失效机理。产品的类型不同，生产单位不同以及原材料及工艺流程不同时，其失效机理就不一定相同，因而可靠性筛选的条件也应有所不同。 因此，必须针对各种具体产品进行大量的可靠性试验和筛选摸底试验，从而掌握产品失效机理与筛选项目间的关系。 元器件筛选方案的制订要掌握以下原则： 筛选要能有效地剔除早期失效的产品，但不应使正常产品提高失效率； 为提高筛选效率，可进行强应力筛选，但不应使产品产生新的失效模式； 合理选择能暴露失效的最佳应力顺序； 对被筛选对象可能的失效模式应有所掌握； 为制订合理有效的筛选方案，必须了解各有关元器件的特性、材料、封装及制造技术。 此外，在遵循以上五条原则的同时，应结合生产周期，合理制定筛选时间。 几种常用的筛选项目 高温贮存 电子元器件的失效大多数是由于体内和表面的各种物理化学变化所引起，它们与温度有密切的关系。温度升高以后，化学反应速度大大加快，失效过程也得到加速。使得
老化测试老化试验 老化检测是可靠性检测的一部分，是模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程。 主要通过使用各种环境试验设备模拟气候环境中的高温、低温、高温高湿以及温度变化等情况，加速激发产品在使用环境中可能发生的失效，来验证其是否达到在研发、设计、制造中的预期的质量目标，从而对产品整体进行评估，以确定产品可靠性寿命。老化检测正是可靠性测试的重要部分。 一、主要的测试范围包括： 材料寿命推算 冷热冲击 盐雾测试 快速温变 老化检测气候老化（自然气候暴晒试验，人工气候老化） 紫外老化检测 臭氧老化检测 老化试验湿热老化检测 氙灯老化检测 碳弧灯老化检测 二、重点检测项目 1、紫外老化检测 采用荧光紫外灯为光源（有UVA,UVB不同型号灯源），通过模拟自然阳光中的紫外辐射和冷凝，对材料进行加速耐气候性试验，以获得材料耐候性的结果。 紫外老化测试，可以再现阳光、雨水和露水所产生的破坏。设备通过将待测材料曝晒放在经过控制的阳光和湿气的交互循环中，同时提高温度的方式来进行试验。试验设备采用紫外线荧光灯模拟阳光，同时还可以通过冷凝或
喷淋的方式模拟湿气影响。用来评估材料在颜色变化、光泽、裂纹、起泡、催化、氧化等方面的变化。 紫外老化试验机并不模拟全光谱太阳光，但是却模拟太阳光的破坏作用。通过把荧光灯管的主要辐射控制在太阳光谱的紫外波段来实现。这种方式是有效的，因为短波紫外线是造成户外材料老化的最主要因素。 2、盐雾老化检测 盐雾试验是一种主要利用盐雾试验设备所创造的人工模拟盐雾环境条件来考核产品或金属材料耐腐蚀性能的环境试验。 盐雾试验分为：天然环境暴露试验；人工加速模拟盐雾环境试验。 人工模拟盐雾试验： 包括中性盐雾试验、醋酸盐雾试验、铜盐加速醋酸盐雾试验、交变盐雾试验。 3、臭氧老化检测 臭氧老化就是将试样暴露于密闭无光照的含有恒定臭氧浓度的空气和恒温的试验箱中，按预定时间对试样进行检测，从试样表面发生的龟裂或其它性能的变化程度，以评定试样的耐臭氧老化性能。 臭氧老化分为静态拉伸测试和动态拉伸测试，在这个测试中臭氧浓度、温度、试样定伸比是非常重要的三个参数。 4、湿热老化检测 湿热老化检测适用于可能在温暖潮湿的环境中使用的产品，湿度试验、恒定湿热、交变湿热，是可靠性测试的一种。 试验的目的：检验产品对温暖潮湿的环境的适应能力。对塑性材料、PCB、PCBA多孔性材料或成品等而言,各种不同材料对温度与湿气有不同形态之物理反应，温度所产生效应多为塑性变形或产品过温或低温启动不良等等,多孔性材料在湿度环境下会应毛细孔效应而出现表面湿气吸附,渗入、凝结等情形，在低湿环境中会因静电荷累积效应诱发产品出现失效。 常见湿度效应：物理强度的丧失、化学性能的改变、绝缘材料性能的退化、电性短路、金属材料氧化腐蚀、塑性的丧失、加速化学反应、电子组件的退化等现象。
电子元器件的检测与筛选方法 在电子元器件的筛选中，要注意质量控制，统筹兼顾，科学选择，简化设计，合理运用元器件的性能参数，发挥电子元器件的功能作用。要控制元器件的质量。选择元器件做到统筹兼顾，按照不利条件进行台理选择，简化电路设计提高可靠性，降额使用以提高可靠性。 一、检查外观质量 这是简单可行的检验方法，能发现一些电子元器件的早期缺陷和采购过程中的损坏和隐患。因此我们在对电子元器件识别与检测进行时应按照如下操作进行： 1)要检查元器件的型号、规格、厂商、产地必须与设计要求相符合，外包装完好。 2)检查元器件的外观必须完好，表面没有无凹陷、划伤、裂纹等缺陷，外部如有涂层的元器件必须无脱落和擦伤。 3)元器件的电极引线要无压折和弯曲，镀层要完好光洁，无氧化锈蚀。 4)元器件上的型号、规格标记要清晰、完整，色标位置、颜色要满足标准，应认真检查集成电路上的字符。 5)机械结构的元器件尺寸要合格、螺纹灵活、转动手感合适。 6)开关类元件操作灵活，手感良好;接插件松紧要适宜，接触良好。各种电子产品中的元器件均有自身特点，检查时要按各元器件的具体要求确定检查内容。 二、电气性能筛选 为保证电子产品稳定可靠，对上机的元器件进行筛选是一个重要环节。筛选时要按元器件使用要求，对电子元器件施加一种或多种应力使其缺陷暴露，排除
早期失效。筛选试验及施加应力要在合适范围，使有缺陷元器件失效，质量好的元器件要通过试验。 1、元器件效能曲线 电子元器件的效能曲线，即浴盆曲线，反映了元器件在使用中的失效规律。一般在元器件刚投入使用时，因元器件制造过程中原材料、设备、工艺等缺陷而导致失效率较高。元器件经一定时间的使用后，元器件的失效率较低，即偶然失效期。过了正常使用期后，元器件进入老化失效期，即损耗失效期，该元器件时间工作寿命结束在老化失效期，元器件的失效率增高。 2、电子元器件的筛选和老化 元器件的老化的筛选，应人为制造元器件早期工作条件，使元器件处在模拟的工作伏态下，把早期失效的产品在使用前剔除，提高产品的可靠性。 在生产过程中，筛选老化包括高温存储老化，高低温循环老化，高低温冲击老化和高温功率老化等。随着元器件生产水平的提高，要按不同产品要求，国家和企业标佳选择不同的老化筛选要求和工艺。对于可靠性要求极高的电子产品或设备中使用的典型元器件，需100%进行筛选，对要求不高的民品中使用的元器件，要采用抽样检测方式;对一般的电子产品研制和制造中使用的元器件，应采用自然老化和简易电老化方式。 3、参数性能检测 经外观检查及老化的电子元器件，要进行性能指标的测试，淘汰已失效的元器件。要通过性能指标的检测进行挑选。检测前，应对电子元器件检测中常见问题及解决方案有一个全面的了解。要求有多种通用或专门测试仪器，一般性的电子设计或电子设备中使用的元器件，应运用万用表等普通仪表检测。在使用万用表进行检测时，要注意万用表的使用要求，正确地使用。 1)一般的万用表有模拟指针式和数字式两种。前者可靠耐用、直观，而读数不精确，分辨力低;后者读数精确直观，输入阻杭高，使用维护的要求也较高。 2)两种万用表使用时要求选择功能和插孔：指针式一般测大电流高电压时有专门插孔;数字式在测200mA以上电流时用专用插孔，一些型号的万用表的电流挡均用专用插孔。 3)选择量程时要注意指针式万用表指示在约为满刻度的30%~35%和 65%~70%处.误差较小。若被测量不好确定范围，要从最大量程逐步转换。 4)在使用万用表时，人体不可接触表笔的金属部分，确保测量准确和人身安全。
橡胶制品老化的原因以及如何防止橡胶制品的老化方法有哪些？ 在1885年人们就发现受到拉伸的橡胶在老化过程中发生龟裂，当时人们曾认为是由于阳光的照射所致，但后来发现未经阳光照射的橡胶制品上，同样也有龟裂产生。后来经过分析发现，不受阳光的照射的橡胶拉伸所产生的龟裂，是由于大气中存在的臭氧所致。 在距离地面20-30km的高空，氧气分子在阳光照射下会产生牛气分子形成一层臭氧层。尽管地表的臭氧浓度较低，但引起的橡胶才华现象也不容忽视，越来越受众的重视。 橡胶的臭氧老化与其他因素所产生的老化有所不同，主要有如下表现。 (1)橡胶的臭氧老化是一种表面反应，未受应力的橡胶表面反应尝试为10-40个分子厚，或(10~50)*10-6次方mm厚。 (2)未受拉伸的橡胶暴露在O3环境中时，橡胶与O3反应直到表面上的双键完全反应完后终止，在表面上形成一层类似喷霜状的灰色硬脆膜，使其失去光泽。受拉伸的橡胶在产生臭氧老化时，表面要产生臭氧龟裂，但通过研究认为，橡胶的臭氧龟裂有一临界应力存在，当橡胶的伸长或所受的应力低于临界值时，在发生臭氧老化时是不会产生龟裂的，这是橡胶的固有特性。 (3)橡胶在产生臭氧龟裂时，裂纹的方向与受力的方向垂直，这是臭氧龟裂与光氧老化致龟裂的不同之处，介应当注意，在多方向受到应力的橡胶产生臭氧老化时，所产生的臭氧龟裂很有难看出方向性，与光氧老化所产生的龟裂相似。 老化是橡胶等高分子材料中存在的一种较为普遍的现象，它会使橡胶的性能劣化，影响橡胶制品的使用价值及使用寿命，橡胶防护体系是延缓橡胶的老化，延长制品的使用寿命。橡胶防护体系主要是防老剂，防老剂型按作用原理可分为化学防老剂和物理防老剂；按防护的目标分为抗氧剂、护臭氧剂、光屏蔽剂、金属钝化剂等，也可按化学结构进行分类。(1)橡胶老化的现象：生胶或橡胶制品在加工、贮存或使用过程中，会受到热、氧、光等一干二净因素的影响而逐渐发生物理及化学变化，使其性能下降，并丧失用途，这种现象称为橡胶的老化。橡胶老化过程中常常会伴随一些显著的现象，如在外观上可以发现长期贮存的天然橡胶变软、发黏、出现斑点；橡胶制品有变形、变脆、变硬、龟裂、发霉、失光及颜色改变等。在物理性能上橡胶有溶胀、流变性能等的改变。在力学性能上会发生拉伸强度、断裂伸长率、冲击强度、弯曲强度、压缩率、弹性等指标下降。 (2)橡胶老化的原因：橡胶发生老化现象源于其长期受热、氧、光、机械力、辐射、化学介质、空气中的臭氧等外部因素的作用，使其大分子链发生化学变化，破坏了橡胶原有化学结构，从而导致橡胶性能变坏。导致橡胶发生老化现象的外部因素主要有物理因素、化学因素及生物因素。物理因素包括热、光、电、应力等；化学因素包括氧、臭氧、酸、碱、盐及金属离子等；生物因素包括微生物(霉菌、细菌)、昆虫(白蚁等)。这些外界因素在橡胶老化过程中，往往不是单独起作用，而是相互影响，加速橡胶老化进程。如轮胎胎侧在使用过程中就会受到热、光、交变应力和应变、氧、臭氧等多种形式因素的影响。 不同的制品在不同的使用条件下，各种因素的作用程度不同，其老化情况也不一样。即使同一制品，因使用的季节和地区不同，老化情况也有区别。因此，橡胶的老化是由多种因素引起的综合的化学反应。在这些因素中，最常见且最重要的化学因素是氧和臭氧；物理因素是热、光和机械应力。一般橡胶制品的老化均是由它们中的一种或几种因素共同作用的结果，最常见的热氧老化，其次有臭氧老化、疲劳老化和光氧老化。 (3)橡胶老化的防护方法：随着橡胶的老化进程，橡胶性能逐渐下降，其使用价值也逐步丧失。因此，研究的老化及防护方法有着极为重要的实用和经济意义。由于橡胶的老化是一种复杂的综合化学反应过程，而且要绝对防止橡胶老化的发生是不可能的。因此，只有认真的研究导致橡胶发生老化的各种原因，并根据这些原因对症下药，采取适当的措施，延缓橡胶
皮肤老化的原因： 可以分为两个方面的解释：(1)为内在基因遗传(2)外在环境影响(包括自然老化和光老化)自然老化：随着年龄的增长角质慢慢堆积，皮肤弹性组织逐渐松弛，从而导致老化。光老化：皮肤背阳光过度暴晒，加速了角质的堆积，对皮肤带来弹性的伤害，提早造成皱纹的形成。 2.老化的因素： （1）皮肤老化的特征：皮肤干燥，表皮变薄，弹性松弛，出现细纹，形成皱纹，皮脂分泌减少，角质代谢迟缓。 （2）老化的成因 内因：年龄老化，生理老化，皮肤中胶原蛋白和弹性蛋白合成能力下降；细胞质和细胞间质的流动性降低。具体表现：皮肤干燥，皮肤萎缩，弹性组织退化，皮肤变薄，皮脂腺分泌减少。人类从受精卵开始细胞分裂，到了8个月就有类似皮肤的形态生成了。1）足月的胎儿，皮肤很薄，色素颗粒很少，有很好的透明度，可以透视到较内部的皮肤。2）幼儿期：色素就开始渐渐增多，真皮中的纤维成长迅速，显现强韧的弹性。3)青春期，幼儿期皮肤优良的弹性持续到青春期前，性荷尔蒙旺盛才停止，所以青春期的高峰在20岁左右。4)20-27岁将保持最佳的皮肤外观,，过了30岁之后，就开始有皮肤缓慢弹性缺乏的现象，此乃荷尔蒙分泌减少，表皮细胞分裂能力降低，棘状层细胞因而减少，使得皮肤看来粗糙没有光泽，这种现象到了更年期就
会更加明显。5)功能性的明显改变包括：细胞增殖能力和修复能力均变得缓慢，易受癌细胞侵蚀真皮层对化学物质的清除能力减退。 外因(光老化)：紫外线；胶原蛋白和弹性蛋白变性；皮脂分泌失调；氧化自由基增多，伤害正常的细胞。具体表现：干燥缺水，色素沉淀，出现皱纹，个别会形成皮肤病。 ３．老化的因素除了荷尔蒙的分泌减少，年龄的自然老化之外，尚有众多的因素造成，分讲述如下： (1)作息时间以及饮食的不正常:睡眠时间不定，身心过渡劳累，压力，喜欢食辛辣食物，嗜烟酒等习惯，对皮肤的老化有着负面的影响。(2)化妆品使用及保养不当：化妆品以及保养的使用，很多时候忽略了个人肤质的要求，使用了不适宜的保养品增加了皮肤的负荷，造成皮肤的新陈代谢不佳，或者引起皮肤的疾病，这种情况如果长期下去不加以改善，将使皮肤提早老化；另外，未能适时并且适当的清洁皮肤，如卸妆不彻底，情节不彻底造成皮肤污垢堆积，阻碍皮肤的新陈代谢管道，造成皮肤提早老化。(3)光老化：光老化指的是由于紫外线的过度照射所引起的皮肤老化，高能量的紫外线，可以长驱直入的进入皮肤的较深层，破坏正常细胞的抗氧化能力，同时造成脂质氧化，产生过多的自由基，直接后者间接的影响皮肤的正常的功能，促使皮肤的提早老化。(4)皮肤表层的改变：当皮肤开始老化时，皮肤的张力丧失，代谢能力衰退，如果表皮不能及时保持适当的温度，将使得表皮过于干燥而生成表皮性皱纹。而当老化现象涉及到真皮层
电子元器件的筛选与电子元器件质量控制 摘要：随着我国经济建设和电子技术的持续发展，电子行业也得到了相应的促 进和快速的发展，电子元器件在业内也受到了广泛地运用，其质量控制问题和筛 选技术受到了越来越多的重视，相关的分析研究和试验应用不断地在开展。 关键词：元器件；选择；质量 引言 电子元器件进行科学筛选的同时对电子元器件的质量也进行有效的控制来使 其性能得到充分的发挥。也就是说，电子元器件在厂家进行筛选之后其质量仍不 能满足使用者的要求，或者一些生产厂家根本就没有对电子元器件进行筛选等。 所以在对电子元器件进行筛选和质量控制就必须要重视，使其筛选的力度能进一 步得到提升，同时也能促进质量控制工作的完善。 1电子元器件的筛选概述 对电子元器件进行筛选的原因是厂家在进行筛选之后，没有满足用户对其质 量上的要求，因此就要对电子元器件在厂家筛选的基础上再一次进行筛选，同时 这也是对厂家筛选工作的补充和验证。电子元器件在成产时会受很多因素的影响，比如：人为因素、原材料、设备条件的限制、工艺条件等，这些因素都会使产品 无法全部满足用户要求的水平，同时这些因素也会导致部分电子元器件存在缺陷，而这些存在缺陷的产品，其使用寿命就会大大缩减，使之成为早期失效产品。因 此在对电子元器件进行筛选时就要选用不同的模式，使其通过有关的试验，进一 步来提高电子元器件在使用时的可靠性。电子元器件进行筛选的范围为厂家生产 的电子元器件没有规范使用筛选技术和相关流程，还有用户对电子元器件有特殊 的要求，但生产厂家自身的筛选条件和技术无法使用户得到满足，因此用户对厂 家电子元器件筛选的有效性和筛选技术有了质疑，要求对其使用科学的筛选方式 进行质量上的验证，从而实现对电子元器件质量上的控制。 2筛选概述 2.1原因 在元器件生产厂商进行相关元器件的筛选后，其质量仍不能达到用户的实际 应用要求时，会在其筛选的基础上让其他相关单位或使用方对元器件进行进一步 的筛选，这是对元器件生产厂商所做的筛选工作的进一步验证和补充。由于在元 器件的生产过程中存在许多的影响因素，如：原材料、工艺条件、人为因素、设 备条件的波动等，这造成了最终的元器件成品无法全部达到固定的用户预期的要 求水平，其中仍会有一部分存在缺陷或是不可靠因素的产品，而且其使用寿命也 会低于实际应用要求的使用寿命，成为早期失效产品。所以应对不同的失效模式 进行筛选并通过相关的试验进行剔除，从而对元器件的使用可靠性予以提高。 2.2适用范围 进行元器件筛选适用于元器件厂商对相关的元器件已经进行了一次筛选的情 况下仍不符合使用者的要求。对生产厂商提供的元器件根本没有进行筛选。生产 厂商所提供的元器件相关的筛选技术和流程不规范。使用者对元器件有着特殊的 需要，元器件厂商的筛选技术和条件无法得到满足。使用者对生产厂商的筛选技 术及筛选的有效性持有一定的质疑并需要进一步进行质量验证。所以需要通过科 学地方式选择筛选方式对电子元器件进行筛选，对其质量实现有效地控制。 3筛选方法 3.1功率老化
老化房管理办法 1.目的：进一步规范车间员工的各种行为,严肃工作秩序和纪律,促进车间高效生 产。 2.范围：适用于老化房所管辖区域和老化房所有员工。 3.母座管理 3.1：每一种产品母座要整齐地摆放在有标识的盒子里，要明确其数量。 3.2：每一种不同产品母座要有准确的数量记录，并每周清点一次。 3.3：其他部门向老化房借用母座，必须登记后方能取走，并且在一周内归还， 如超过一周需归还老化房，然后重新登记借取。 3.4：如有新产品没有母座要急时向上级汇报，需要更新的母座要及时加工。 4. 老化作业要求规范： 4.1 操作步骤要求： 4.1.1 打开“启动/停止”启动按钮，在开电源控制箱内的电源开关，电 流调节旋钮逆时针方向调至最小，将产品一一放上。 4.1.2 对每层的负载电流进行调节。 4.1.3 按产品规定时间进行老化，每老化三十分钟进行抽检一次产品的输 出参数，按动绿色按钮即可看到直流表所示的输出电压与电流，然 后与对应的规格核对是否一致。 4.1.4 产品老化时间到点后，先将电源控制箱内电源开关关闭，将“启动 /停止”开关关闭，再取下产品。（注意：关老化架时需一层一层将 电源控制箱内电源开关关闭，严禁按“启动/停止”直接将整个老 化产品断电。） 4.1.5 产品老化时，中途不得断电需连续进行老化，如中途断电需重新开 始计时。（中途断电须重开老化架时，重新按操作步骤 4.1.1-4.1.2 进行调节。） 4.2 注意事项 4.2.1 拿放产品时每次只能拿两个（避免产品外壳与外壳间摩擦刮花）， 装老化架时产品LED必须朝一个方向，线材放于老化架皮垫内。 （避免关老化架玻璃门时夹伤线材。） 4.2.2 老化车只能老化此老化车规定老化的产品，老化期间外玻璃门必须 关上。 4.2.3 非老化人员、非专业人员不得使用老化车老化产品，也不能调整任 何参数。 4.2.4 在使用中如有异味、异响、灯亮不正常等异常情况，老化员应及时 上报拉长或者生技技术员。 4.2.5 每次老化产品时应严格按照操作流程执行，产品上下老化架应注意 保护外观，应轻拿轻放。 4.2.6 老化车要定期进行保养，每次上机前对老化架摆放产品处进行检 查，如有赃物或粉尘，先清理干净后再装产品。 4.2.7 严格按产品老化对照表要求进行老化，目的是要保证产品性能的稳 定性。