OTDR测试仪器简介和常规曲线分析
一、OTDR
英文：Optical Time Domain Reflectomenten
中文：1、光时域反射测试仪 (照英文译)
2、背向散射测试仪（按其原理命名）
二、全球主要厂家
美国PK(PhotonKinetics)、日本安立（ANRITSU）、美国激光精密(GN Nettest)、爱立信(Ericsson)、EXFO等
三、衡量OTDR的性能指标
a、衡量OTDR的性能指标--动态范围
b、动态范围：在满足给定误码的条件下，光端机输入连接器，能接收最大的光功率与最小光功率电平值（接收灵敏度）之差。
c、动态范围越大，所能测试距离越长
四、OTDR的功能
a、测试光纤的长度；
b、测试光纤的衰减系数（波长850nm、1310nm、1550nm、1625nm）；
c、测试光纤的接头损耗；
d、测试光纤的衰减均匀性；
e、测试光纤可能有的异常情况（如有台阶，曲线异常等）；
f、测试光纤的回波损耗(ORL)；
g、测试光纤的背向散射(BKSCTR COEFF)；
五、OTDR 的基本原理-瑞利散射、菲涅尔反射
a 、瑞利散射：光波在光纤中传输，沿途受到直径比光波长还小的散射粒子的散射；瑞利散射具有与短波长的1/λ4
成反比的性质，即：a r =A/λ4
，式中比例系数A 与玻璃结构、玻璃组成有关
b 、菲涅尔反射：光波在两种折射率不同的煤质界面会形成反射，其反射能量约占总能量4%；
六、基本原理图
注：LD-半导体激光器，LED-面发光二极管
七、 典型的后向散射信号曲线
a 、 输入端的Fresnel 反射区（即盲区）
b 、 恒定斜率区、
c 、 由局部缺陷、接续或耦合引起的不连续性、
d 、 光纤缺陷、二次反射余波等引起的反射、
DB/DIV
M/DIV
e 、 输出端的Fresnel 反射、
八、 曲线说明：
1、
盲区：决定OTDR 所能测到最短距离和最接近距离，是由于活接头的反射引起OTDR 接收机饱和所至，盲区通常发生在OTDR 面板前的活接头反射，但也可以在光纤的其它地方发生；一般OTDR 盲区为100m 。
盲区分为衰减盲区和事件盲区： a 、 衰减盲区：从反射点开始至接收机恢复到后向散射电平约0.5dB 范围内的这段距离,这段距离就是OTDR 能再次测试衰减和损耗的点.
式中：D 的长度就为衰减盲区的长度。
b 、 事件盲区:从OTDR 接收到反射点到开始到OTDR 恢复到最高反射点1.5DB 以下这
段距离,在这以后才能发现是否还有第二个反射点,但还不能测试衰减.
式中：D 1的长度就为事件盲区的长度。 2)影响盲区的因素：
DB/DIV
M/DIV
DB/DIV
M/DIV
a、入射光的脉冲宽度、
b、反射光的脉冲宽度、
c、入射光的脉冲后端形状、
d、所用脉冲越小，盲区越大。
3）消除盲区的方法：加尾纤（过渡纤），最好2KM以上
2、b、c、e、f各点在后面曲线分析中说明。
九、光纤损耗计算公式：
a：P（T）=1/2S a R P(0)V g Te-2a(V g t/2)
式中：S-散射光的散射系数;
a R-散射损耗系数;
P(0)-注入光功率;
V g-群速
T-脉冲宽度
十、介绍OTDR的主要参数设臵
a.OTDR的光纤的折射率（IOR）
设臵OTDR上光纤的双窗口的折射率因根据各厂家提供的数据，每种光纤其折射率是不同的，OTDR所测光纤长度跟设臵的折射率有关；对同一光纤，所设臵的折射率越大所测光纤长度越短，反之…
b.OTDR测试量程（DISTANCE）
OTDR所设量程必须是所要测试光纤长度2倍以上，对于长光纤量程不到2倍以上也可以测试，但极易出现测试误差。
c.OTDR的测试脉宽（PUISH WIDTH）
原则：长距离用长脉宽，短距离用小脉宽。一定光纤长度必须选用相对应，长脉宽平均化时间短，但OTDR分辨率低，光纤存在的细小的异常情况（如小台阶等）不易发现，小脉宽平均化时间长，但OTDR分辨高，易发现细小的异常情况；两者必须有机结合，合理配臵。
d.OTDR的测试模式（MODE）
OTDR的测试光纤衰减模式分为2PT（两点法）、LSA（最小两乘法），测试接头模式5 SPLICE（五点法）分为自动、手动，选用合理的模式可以减少测试误差；
2PT：当所测光纤曲线上有台阶、曲线不良等情况时，必须两点法测试光纤衰减； LSA：当所测光纤曲线斜率均匀时，用LSA测试光纤衰减；
5 SPLICE：测试接头损耗原则上采用自动模式，可以减少人为误差。
（接头损耗是指光纤连接器、耦合器、熔接点等）
十一、OTDR测试介绍：
1、受试光纤的注入条件：
对于衰减测量，为了减少在光纤输入端的反射峰，应采用折射率匹配材料（匹配液、匹配膏）等；如用毛细管进行耦合时应用匹配膏，目的是将接续损耗减至最小，匹配液、匹配膏的折射率要等同于包层的折射率。
2、长度测量，
一般采用两点法，，将受测光纤与尾纤一端相接，尾纤一端连到OTDR上，调整出显示尾纤和受测光纤的后向散射峰。其曲线见图
将光标A臵于第一个菲涅尔反射峰前沿，将光标B臵于第二个菲涅尔反射峰前沿，光标A与光标B之间的相对距离差就为被测光纤长度。
3、光纤衰减的测试
如图所示：
将光标A 臵于第一个菲涅尔反射峰后沿，曲线平滑的起点，将光标B 臵于第二个菲涅尔反射峰前沿，光标A 与光标B 间显示衰减系数就是光纤A 、B 间衰减系数，但非整根光纤的衰减系数。 4、接头损耗的测量 如图所示：
将光标定于曲线的转折处如图位臵，然后选择测接头损耗功能键，便可测得接头 损耗。
5、曲线异常情况的测量
OTDR 可监控整个光纤长度上的衰减变化。曲线异常情况应该是指曲线上的台阶、梯形升跃等曲线不良。为了确认异常情况是否对产品质量产生影响，最简单的方法可采用两种不同宽度的脉冲对持有怀疑的区域进行观察，如果损耗或可视增益形状随脉宽不同而变化，则属故障点应去分析找原因。如不发生上述变化，应确定是局部的衰
M/DIV
DB/DIV
减不均匀，这种并非制造工艺造成的少许指标超标，并不影响工程应用；若为光纤局部的衰减不均匀有必要在同一波长作双向测量，对取得衰减值进行平均，计算损耗（消除明显可视增益），以消除不均匀性两侧光纤段后向散射性能差异的影响。
4、曲线分析、
后向散射曲线可归纳为三种情况。
1、 典型反射曲线：这条曲线包括各种常见现象(见下图), 以下对图中各个区域作一
简单描述：
a) 区域（a ）即在A 点至B 点区域内，曲线斜率恒定：表明光纤在该区域的散射均匀
一致。因此可获得相应的常数。在这种情况下，测量仅从一端即可满足要求。
b) 区域（b ）表示局部的损耗变化，这种变化可能，主要由外部原因（如光纤接头）
和内部原因光纤本身引起的，在此情况下，进行两端测量，取平均值表示该接头损耗。
c) 区域（c ）所示的不规则性由后向散射的剧烈增强所致，这种变化可能由外部测试
原因二次反射余波（鬼影）产生能量叠加和内部原因光纤本身缺陷（小裂纹）造成的，先必须确认是何种原因，再采用两端测量来测定这种不规则对衰减的影响。
d) 区域（d ）即后向散射曲线有时出现弓形弯曲。有内部因素，一般是吸收损耗变化
导致衰减变化。对于外部因素，可能与光纤受力增加有关。如何确定是何种因素，可对光纤或兴缆施加外力或改变其温度，如特性不变，是内部因素，反之为外部因素
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e) 区域（e ）光纤的端点或任何的不连续点会产生菲涅尔反射或后向散射功率损耗
（无菲涅尔反射）由此可测定这些端点或不连续点的位臵。机械式接头界面往往产生这种反射。
2、外部因素引起的可能曲线变化、
这里的外部因素指施加于光缆并传递至光纤的张力及侧向受力，还有温度的变化。这些都会造成曲线弓形弯曲。外部因素引起的弓形弯曲在 外力作用下使曲线斜率改变。如图所示，
外力作用前曲线斜率恒定，在外力作用下可出现如下情况之一：
a) 曲线斜率不变，衰减不变，
b) 斜率变化，衰减线性增加，
外力作用前
外力作用后
c)整个长度呈弓形弯曲，各处斜率不同：衰减连续增加，
d)沿长度斜率增加，有限区域衰减线性增加。
e)出现台阶，光纤局部压力上升：衰减局部增加，
3、波纹曲线图
指曲线有与脉冲频率相似的纹状态曲线。其产生原因有可能是受测光纤工作频率与带宽频率刚好相同,此情况下, 改变测试脉宽，同时应从受测光纤的两端进行测量.
2、实际在测试中最常见的异常曲线、原理和对策
a、如图
现象：光纤未端无菲涅尔反射峰，曲线斜率、衰减正常，无法确认光纤长度
原因：光纤未端面上比较脏或光纤端面质量差；
对策：清洗光纤未端面或重新做端面；
b、如图
现象：曲线成明显弓形，衰减严重偏大或偏小，无菲涅尔反射峰；
原因：量程设臵错误（不足被测光纤长度2倍以上）；
对策：增大量程；
c、如图
现象：在曲线斜率恒定的曲线中间有一个“小山峰”（背向散射剧烈增强所致）
原因：1）光纤本身质量原因（小裂纹）；
2）二次反射余波在前端面产生反射；
对策：在这种情况下改变光纤测试量程、脉宽、重新做端面，再测试如“小山峰”消失则为原因2），如不消失则为原因1）；
d、如图
现象：在光纤纤连接器、耦合器、熔接点处产生一个明显的增益；
原因：模场直径不匹配造成的；
对策：测试衰减和接头损耗必须双向测试，取平均值；
e、如图
现象：曲线斜率正常，光纤均匀性合格，但两端光纤衰减系数相差很大
原因：模场不均匀造成，一般为光纤拉丝引头和结尾部分；
对策：测试衰减必须双向测试，取平均值；
f、如图
现象：在整根光纤衰减合格，曲线大部分斜率均匀，但在菲涅尔反射峰前沿有一小凹陷
原因：未端几米或几十米光纤受侧压；
对策：复绕观察有无变化，无变化则剪掉；
g 、如图
现象：
1310nm
光纤曲线平滑，光纤衰减斜率基本不变，衰减指标略微偏高；但1550nm 光纤衰减斜率增加，衰减指标偏高； 原因：束管内余长过短，光纤受拉伸；
对策：确认束管内的余长，增加束管内的余长；
h 、如图
现象：1310nm 光纤曲线平滑，光纤衰减斜率基本正常，衰减指标正常；但1550nm 光纤衰减斜率严重不良，衰减指标严重偏高；
原因：束管内余长过长，光纤弯曲半径过小； 对策：确认束管内的余长，减少束管内的余长； i 、如图
1310nm 1550nm
1310nm 1550nm
现象：尾纤与过渡纤有部分曲线出现有规则的曲线不良，但被测光纤后半部分曲线正常，整根被测光纤衰减指标基本正常；
原因：一般是由设备本身和测试方法综合造成的；
对策：关机，重新起动，对各个光纤接触部分进行清洁；
光缆测试方案 1.作业准备 1.1内业技术准备 在开工前组织技术人员认真学习实施性施工组织设计，阅读、审核施工图纸，澄清有关技术问题，熟悉规范和技术标准。制定施工安全保证措施，提出应急预案。对施工人员进行技术交底，对参加施工人员进行上岗前技术培训。 1.2外业技术准备 确认中继段光缆接续完成并全部符合接续测试指标。 2.技术要求 2.1光缆中继段光纤线路的测试值应小于光缆中继段光纤线路衰减计算值。其计 算值为 αl=α0L+αn+αc m(dB) 式中α ——光纤衰减标称值(dB/km) α——光缆中继段每根光纤接头平均损耗（dB） 单模光纤α≤0.08dB(1310mm、1550mm) 多模光纤α≤0.2dB αc——光纤活动连接器平均损耗（dB） 单模光纤α多模光纤αc c ≤0.7dB ≤ 1.0dB L——光中继段长度（km） n——光缆中继段内每根光纤接头数 m——光缆中继段内每根光纤活动连接器数 2.2在一个光缆中继段内，每一根光纤接续损耗平均值应符合下列指标：单模光纤α≤0.08dB(1310mm、1550mm) 多模光纤α≤0.2dB
2.3对传输STM-4、STM-16的1310nm、1550nm波长光纤和传输STM-1的1550nm 波长光纤，应进行最大离散反射系数和S点最小回波损耗的测试，测试值应满足下列要求： 2.3.1光缆中继段S、R点间的最大离散反射系数： STM-11550nm，不大于-25dB STM-41310nm，不大于-25dB STM-41550nm，不大于-27dB STM-161310nm、1550nm，不大于-27dB 2.3.2光缆中继段在S点的最小回波损耗（包括连接器）： STM-11550nm，不小于20dB STM-41310nm，不小于20dB STM-41550nm，不小于24dB STM-161310nm、1550nm，不小于24dB 2.4对用于高速率密集波分复用（DWDM）系统的光纤需要进行偏振模色散（PMD）的测量： 偏振膜色散（PMD）的值应小于0.2ps/km。 2.5同一中继段光缆必须采用同一厂家光缆，且光缆的电气指数必须一致 2.6电性能测试 1.电性能测试应包括下列内容： 1)直埋光缆线路对地绝缘电阻； 2)防护接地装置地线电阻。 2.为保证光缆金属外护层免遭腐蚀，埋设接续后的单盘直埋光缆，其金属外护层对地绝缘电阻竣工验收指标应不低于10MΩ·km。目前暂允许10%的单盘光缆不低于 2MΩ·km。直埋光缆线路对地绝缘的测试方法应符合原邮电部《光缆线路对地绝缘指标及测试方法》的要求。 3.防护接地装置地线的接地电阻应小于2欧姆。 3.指标测试 1.光缆具体测试比例与要求如下：
光缆测试报告两篇 篇一：光缆测试报告 工程名称： 生产厂家测试日期20XX年01月20日测试地点S36风机温度 0 ℃ 光缆盘号001 光纤芯数24 测试波长 ≤1310 nm 测试项目□开盘测试 标称长度4200 m 外层损伤无光纤封头完好 实测长度4200 m 线盘质量完好无损坏 □接头衰减测 试 接头桩号A3 接头塔号A3 □纤芯衰减测 试 测试线路长度0. 844km 方向升压站至S36风机 纤芯序号纤芯色别纤芯衰减（db/km） 纤芯序号纤芯色别 纤芯衰减（db/km）允许值实测值允许值实测值 1 B ≤0.35 0.3 2 18 W ≤0.35 0.31 2 OR ≤0.35 0.32 19 R ≤0.35 0.30 3 G ≤0.35 0.31 20 N ≤0.35 0.31 4 BR ≤0.3 5 0.30 21 Y ≤0.35 0.32
5 GR ≤0.35 0.31 22 V ≤0.35 0.31 6 W ≤0.35 0.32 23 P ≤0.35 0.30 7 R ≤0.35 0.31 24 AQ ≤0.35 0.31 8 N ≤0.35 0.31 25 9 Y ≤0.35 0.30 26 10 V ≤0.35 0.31 27 11 P ≤0.35 0.32 28 12 AQ ≤0.35 0.31 29 13 B ≤0.35 0.30 30 14 OR ≤0.35 0.31 31 15 G ≤0.35 0.32 32 16 BR ≤0.35 0.31 33 17 GR ≤0.35 0.30 34 测试仪器：采用XX牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。 测试结论：经测试光缆熔接损耗值符合图纸设计及规范要求，可以投入运行。 试验单位（盖章）：审核人： 年月日 光缆测试报告 工程名称：
分析介绍光纤基本参数和测量方法 本文来源于：工控商务网 光纤是光导纤维的简写，是一种利用光在玻璃或塑料制成的纤维中的全反射原理而达成的光传导工具。 1.单模光纤模场直径的测量 从理论上讲单模光纤中只有基模(LP0l)传输，基模场强在光纤横截面的存在与光纤的结构有关，而模场直径就是衡量光纤模截面上一定场强范围的物理量。对于均匀单模光纤，基模场强在光纤横截面上近似为高斯分布，通常将纤芯中场强分布曲线最大值1／e处所对应的宽度定义为模场直径。简单说来它是描述光纤中光功率沿光纤半径的分布状态，或者说是描述光纤所传输的光能的集中程度的参量。因此测量单模光纤模场直径的核心就是要测出这种分布。 测量单模光纤模场直径的方法有：横向位移法和传输功率法。下面介绍传输功率法。测量系统的原理方框示意如图1所示。 取一段2米长的被测光纤，将端面处理后放入测量系统中，测量系统主要由光源和角度可以转动的光电检测器构成。光纤的输入端应与光源对准。另外为了保证只测主模(LP01)而没有高次模，在系统中加了一只滤模器，最简单的办法是将光纤打一个直径60mm的小圆圈。当光源所发的光通过被测光纤，在光纤末端得到远场辐射图，用检测器沿极坐标作测量，即可测得输出光功率与扫描角度间的关系，P—θ线如图2所示。然后，按模场直径的定义公式输入P和θ值，由计算机按计算程序算出模场直径。
2.光纤损耗的测量 光纤损耗是光纤的一个重要传输参数。由于光纤有衰减，光纤中光功率随距离是按指数的规律减小的。但是，对于单模光纤或近似稳态的模式分布的多模光纤衰减系数a是一个与位置无关的常数。若设P(Z1)为Z＝Z1处的光功率，即输入光功率。若设P(Z2)为Z2处的光功率，即这段光纤的输出功率。因此，光纤的衰减系数a定义为 因此，只要知道了光纤长度Z2-Z1和Z2、Z1处的光功率P(Z1)、P(Z2)，就可算出这段光纤的衰减系数a。测量光纤的损耗有很多种办法，下面只介绍其中的两种办法。 1)截断法 截断法是一种测量精度最好的办法，但是其缺点是要截断光纤。这种测量方法的测量方框如图3所示。 取一条被测的长光纤接入测量系统中，并在图中的“2”点位置用光功率计测出该点的光功率P(Z2)。然后，保持光源的输入状态不变，在被测量光纤靠近输入端处“1”点将光纤截断，测量“l”点处的光功率P(Z1)。这个测量过程等于测了1～2两点间这段光纤的输入光功率P(Z1)和输出光功率P(Z2)，又知道“1”、“2”点间的距离Z2-2l，因此，将这些值代入 即可算出这段光纤的平均衰减系数。 在测量方框图中斩波器(又称截光器)是一种能周期断续光束的器件。例如是一个有径向开缝的转盘。它将直流光信号变为交变光信号，作为参考光信号送到锁相放大器中，与通过了被测光纤的光信号锁定，以克服直流漂移和暗电流等影响，以确保测量精度。
光纤测试方案 一.布线系统测试概述 为确保综合布线系统性能，确认布线系统的元器件性能及安装质量，工程完工后需按综合布线系统测试说明进行有关的测试。 综合布线系统测试包括： ·>水平铜缆链路测试； ·>垂直干线铜缆链测试； >垂直干线光缆链测试； >·端对端信道联合测试 系统测试完毕后，即组织有关技术及管理人员对整个系统进行验收。 千兆比水平铜缆的测试说明： 千兆比水平铜缆系统采用专用测试仪器进行测试，测试指标包括： 1．极性、连续性、短路、断路测试及长度 2．信号全程衰减测试 3．信号近、远串音衰耗测试 4．结构回转衰耗SRL 5．特性阻抗 6．传输延时 本方案中，采用下列布线测试仪表进行测试： Microtest QmniScanner FLUKE 国际标准组织（ISO）及Lucent推荐下列布线测试仪表： 1、fluke （Fluke Corporation） 2、PenaScanner (Microtest Inc) 本方案中，我公司建意采用以下铜缆测试仪器：
Microtest Lucent KS23763L1 (连接性测试) 3、FLUKE （特性指标测试） STPl 六类100-150双绞线，250 MHz FTP；阻燃特性NFC32070 2.1标准 4、用网络测试仪，测试线路是否安装完好，将测线报告整理，归档。 二.系统测试所用工具 测试所用工具主要是： FLUCK DSP FLUCK 网络测试仪操作规程： 根据测量的种类是通道还是链路，选择相对的适配器； 测量前将仪器校准； 测量时，将主机和智能远端的旋钮打开； 输入测量时间、地点、测试姓名； 在AUTOTEST项开始测试，储存结果； 将测试结果转换成电子文档； 将主机和智能远端关机； 将仪器收好，检查是否有遗漏配件。 注意事项：插接时一定要将插头和插口对齐，将线路接通；注意轻拔轻 插，一定要将头弹起按下再拔出；注意仪器和线路远离电力线和强电场。 其他工具如下表： 仪器名称数量产地说明 接地摇表 1 进口 万用表 2 国产 水平尺 6 国产 FULKE 1 美国
电信光缆验收报告记录
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电信光纤施工验收报告 工作概况 对集团原有光纤结构进行整改。 1、废除原有主干双模光纤，改换单模光纤线。 2、改变原有光纤结构走向，重新布局光纤网络结构。 示意图 改造前改造后 3、更换光纤终端设备（改用高速单模光纤猫）验收报告 施工单位：电信施工工程队 工程于2013年5月15日完成，预计施工期2天，实际施工期为4天。共铺设光纤线缆1.2公里、高速光纤猫6对、熔光纤接头16蕊.并应行政部要求对原有光纤线缆以及电话线缆规整。施工过程由集团行政部网管全程监督。验收单位：集团行政部 施工单位： 验收单位:篇二：电信光缆线路工程验收 电信光缆线路工程验收 1、随工检验 （1）按国家机关规定，光缆线路工程均应实行监理制。由监理人员采取巡视、旁站等方式进行随工检验。对隐蔽工程项目，应由监理和施工双方签署《隐蔽工程检验签证》。 （2）光缆线路工程的随工检验，应按下表的项目及内容进行 光缆线路工程随工检验项目内容 2、光缆线路工程初步验收 （1）干线光缆线路工程初步验收（简称工程初验），应在施工完毕并经工程监理单位预检合格后进行。业主（省级）在收到监理单位“关于工程初验申请报告”后一周内组织工程初步验收。初验工作，一般可分档案、安装工艺、传输特性测试和财务、物资等四个组，分别对工程质量进行全面检查和评议。初验组认为有必要时可对隐蔽工程质量进行复查。 （2）光缆线路的安装工艺、传输特性应按下表的项目内容进行检查和抽测。安装工艺和测试数据应符合设计和规范的相关标准，测试数据还应与施工单位提供的竣工测试记录相符或吻合。 光缆线路工程初步验收项目内容 （3）初步验收会议应在全面检查和抽测后对施工质量进行评议，工程质量达到设计和规范标准的为合格。 （4）初步验收会议还应对施工图设计能否指导施工进行评议。施工图设计应达到的深度要求按相关规范或规定。 3、光缆线路工程竣工验收 （1）干线光缆线路工程的竣工验收，应由业主的主管单位（集团公司）组织进行。 （2）光缆线路工程竣工验收，应在初步验收合格并经3～6个月的试运行后进行。 （3）光缆线路工程竣工验收的准备，应由各业主（省级）组织竣工验收检查测试组，对工程进行全面检查。检查内容包括： ①初步验收会议上提出的工程遗留问题应整改处理合格。 ②中继段的光纤特性、光缆线路对地绝缘等指标，应进行近期维护普测的基础上进行重点抽测，各项指标应符合标准。 ③检查、抽测项目，可参照初步验收的项目内容。 （4）工程竣工验收应对工程质量及档案、投资决算等进行综合评价。并对工程设计、施工、监理及有关管理部门的工作进行总结。竣工验收通过后颁发验收证书，正式投产。篇三：光缆验收规范 目次 前言 iii 3
光纤测试报告简易说明手册 ④ ② ③ ① ⑤ ⑥ ⑦ ①：所测试光缆名称及编号。 ②：光缆编号、光纤编号、起始位置、结束位置、光纤类型及操作者说明。本图中的所测试光缆是东区2#教学楼的第01芯光纤，本光缆系从实验楼（起始位置）敷设至2#教学楼（结束位置），光纤类型系单模光纤，操作测试人员为徐虎。
③：光纤测试所需的参数。本图中采用统计平均的方法，设置OTDR获取数 据取样的最大范围为2.5公里，测试波长为1310nm，发射100ns的光脉冲，以折射率为1.6459的投射光对总长度为0.2991千米的光纤进行测试，得出3个事件个数（事件个数详见⑥）。 ④：起始位置A端到结束位置B端的曲线图，所测试的光缆从A端到B端 总长度为298.59m（约299.1m）的取样曲线图。A-B之间的曲线图最能反映所测试光缆的通断情况以及衰减情况。正常情况是在仪器和光纤的连接点，通常会产生一个反射信号，同时光功率会因此降低，表现在OTDR曲线图上就是突然出现一个反射峰，图中的B端出现反射峰已表示光纤测试通过。若光纤尾端被压、损坏或光纤没连接上，B端就不会出现反射峰，或是与A端的曲线持平、或是低于A端的曲线。 ⑤：杂波（看图时请忽略）。因测试时设定的数据取样最大测量范围是 2.5km，实际测试光缆的长度为298.59m，因此图⑤中的曲线不是实际需要关心的数据。 ⑥：光纤测试的结果事件表。编号1和2显示所测量光纤的总长度及衰减情况，编号3是反射回来的杂波。 ⑦：衰减值。由编号1、2看出，光纤衰减值是0.057dB/km，表明光纤的衰减较少。 注：（1）单模光纤在1310nm波长的衰减常数一般为0.3~0.4dB/km（长度不同的光纤测试结果不一样） （2）看图时，④、⑥、⑦是工程中需要的直观结果，用户只需要了解这三个地方的数据。一般来说看图④时，B端有反射峰则可说明光纤熔接好并且无损坏，再看图⑥⑦，就知道所测量光纤的衰减值，工程上使用中，单模光纤衰减值低于3dB属于正常范围。 （3）因不同颜色的纤芯的衰减都不一样，请见下表： 同一条光缆不同的纤芯，由于施工、熔接工艺、所使用的测试跳线接口的洁净度等各方面原因，每一条芯所测试出来的衰减值是不一样的。 广州京豪网络科技有限公司 2015年7月30
光纤损耗测试方法及其注意事项1 引言 由于应用和用户对带宽需求的进一步增加和光纤链路对满足高带宽方面的巨大优势，光纤的使用越来越多。无论是布线施工人员，还是网络维护人员，都有必要掌握光纤链路测试的技能。 2004年2月颁布的TIA/ TSB-140测试标准，旨在说明正确的光纤测试步骤。该标准建议了两级测试，分别为： Tier 1（一级），使用光缆损耗测试设备（OLTS）来测试光缆的损耗和长度，并依靠OLTS或者可视故障定位仪（VFL）验证极性； Tier 2（二级），包括一级的测试参数，还包括对已安装的光缆链路的OTDR追踪。? 根据TSB-140标准，对于一条光纤链路来说，一级测试主要包括两个参数：长度和损耗。事实上，早在标准ANSI/TIA/EIA-526-14A 和ANSI/TIA/EIA-526-7中，已经分别对多模和单模光纤链路的损耗测试，定义了三种测试方法（长度的测量，取决于仪表是否支持，如果仪表支持，在测试损耗的同时，长度同时也会测量）。为了方便，我们分别称为：方法A、方法B和方法C。TSB－140就是在这基础上发展而来，与此兼容。 那么这三种方法各有什么特点，怎么操作，应该在什么场合下使用呢？这正是本文要阐述的问题。另外，光纤链路的测试，不同于双绞线链路的测试，又有什么地方需要注意或者有什么原则可以遵循呢？这也是本文想与读者分享的内容。 2 如何测试光纤链路损耗 光纤链路损耗的测试，包含两大步骤：一是设置参考值（此时不接被测链路），二是实际测试（此时接被测链路）。 下面我们具体介绍一下标准中定义的三种测试损耗的方法（以双向测试为例）。 2.1 测试方法A
北京瑞斯康达科技发展有限公司RC系列光纤收发器设备 测试方案建议书 日期:2005年 4 月 26日 北京瑞斯康达科技发展有限公司
RC系列光纤收发器测试报告 此测试报告是关于10/100M自适应收发器的性能、功能测试以及对网管软件平台的功能。其中RC513/514-FE-XX具有N*32kbps带宽可控，支持远端网管功能单纤收发器。测试分四部分。 一、常规性能测试 二、收发器与交换机、路由器配合实现交换机、路由器链路备份功能 三、带宽限制与FTP测试 四、结合网管功能的测试 一、常规性能测试 1、测试内容及目的 本测试方案的主要目的是测试10/100M自适应以太网光纤收发器的稳定性、灵活性及恶劣环境下的传输能力。 ◆稳定性测试：在标准传输环境及恶劣传输环境下系统运行的稳定性。实现 方式是在系统测试时，100Base-T 的RJ-45接口使用60米~100米长的标准五类双绞线，100Base-FX的光接口在光路上模拟15dB~20dB的衰减，在此环境下测试系统运行效果。 ◆灵活性测试：测试系统对各种不同应用环境及不同网络设备联接的互联能 力。实现方式是测试时将网络设备的端口模拟成100Mbps全双工、自适应等各种模式，在此环境下测试系统的运行效果。 ◆传输能力：测试系统的有效传输能力。实现方式是在光纤收发器两端设备上模拟80％ 的双向数据流量，在此负载下测试系统的丢包率。 2、测试环境
测试设备连接图： 3、测试过程 固定流程： ?PC机A：向B最大限度发出数量流量。使用Sinffer/Netxray中的Packets generate 工具，数据流间隔0ms，数据包大小1500Byte，连续发送。从仪表盘上统计每秒 钟综合数据流量。 ?PC机B：向A最大限度发出数量流量。使用Sinffer/Netxray中的Packets generate 工具，数据流间隔0ms，数据包大小1500Byte，连续发送。从仪表盘上统计每秒 钟综合数据流量。 ?PC机A：进入DOS环境，ping B的IP地址，64K字节，500次，统计丢包率。 ?PC机B：进入DOS环境，ping A的IP地址，64K字节，500次，统计丢包率。 ?填写测试记录表，如表1 1）、将PC机A的网卡配置为100Mbps，全双工；将PC机B的网卡配置为100Mbps，
光纤实验心得体会 【篇一：光纤通信实验报告】 信息和通信工程学院 光纤通信实验报告 题目： 姓名：董敏华班级：2010211112 学号： 10210368 班内序号： 27 日期：2013/5/27 一、实验原理及框图 多模光纤基带响应测试方法既可用频域的方法，也可用时域的方法。时域法利用的是脉冲调制。按照对脉冲信号采集及数学处理方法的 不同，又分为脉冲展宽法、快速傅立叶变换法和频谱分析法。本实 验采用的是较为简单的脉冲展宽法。多模光纤脉冲展宽测试仪原理图： 如上图所示为多模光纤时域法带宽测试原理框图。从光发模块输出 窄脉冲信号，首先使用跳线（短光纤）连接激光器和光检测器，可 以测出注入窄脉冲的宽度??1；然后将待测光纤替换跳线接入，可以 测出经待测光纤后的脉冲宽度??2。经过理论推导可以得到求解带宽 公式： b? ghz) 多模光纤脉冲展宽测试仪前面板接口分上下两层，上层用于850nm 测试，下层为1310nm。每隔波长分别由窄脉冲发生器输出极窄光脉冲经被侧光纤回到测试仪内进行o/e变换后送出电信号，通过高速示波器即可显示。 多模光纤脉冲展宽测试仪实物图如下所示：
实验采用的数字示波器实物图如下所示： 二、实验步骤 （一）850nm窗口下光纤的带宽测试 1. 打开测试仪电源开关（位于背面），前面板上的电源指示灯亮； 2. 将示波器输入端和本仪器850nm的“rf out”输出端用信号线接好； 3. 用一根光纤跳线将850nm的“optical in”和“optical out”连接起来； 4. 仪器连接好后如下图所示： 进行示波器操作： a) 按auto－scale键调出波形； b) 点击time base键，并通过右下方旋钮调整脉冲至适当宽度(一般设置为10.0ns/div)； c) 点击?t、?v键，显示屏右方会出现?v markers(off/on)、?v markers(off/on)选框，先通过右侧对应按键将?v markers设为on，分别调节v marker1和v marker2测出脉 冲高度并找出脉冲半高值；再将?v markers设为on，分别调节t marker1和t marker2 使其和脉冲半高值相交。则有t marker2-t marker1即为脉冲半高全宽?1。 5. 换下该光纤跳线，接入待测光纤用同样方法测出?2；其测试步骤 和4相同，如下图所示： 21）1/2 (ns) （二）1310nm窗口下待测光纤的带宽测试： 和850nm窗口下测试不同的是：应该选择1310nm区域内的“optical in”和“optical out”，“rf out”口进行正确连接，除此之外，其他都和850nm下待测光纤的带宽测试步骤相同。 三、实验注意事项
OTDR：光纤测试方案（短光纤测试）及OM4光纤介绍 首先来看一下当前数据中心的情况，10G已经不是什么新鲜事物了，而介质这块，铜缆双绞线也开始6A化，光纤也逐步升级，而数据中心里的大部分光纤链路都小于200米，这使得基于VCSEL的850nm光收发器可以被大量使用，配合OM3光纤，光纤方案的成本更为降低，也使OM3成为万兆速率数据中心的首选。 如表格1表格2所示，OM3光纤（MM50 um MBW=2000），在同样插入损耗的情况下，与OM2 和OM1光纤相比，OM3光纤的传输距离可以更远。而通道最大距离与模式带宽和通道最大插入损耗相关。例如，对于一个使用850nm OM3光纤的300米10GBase-SR链路而言，所能被允许的最大插入损耗是2.6分贝，而在1000BASE-SX网络中则为3.56分贝，可以预见随着速率不断提升，损耗这块的要求也越来越高了。而即使是在这2.6分贝的最大允许损耗中，也被分为光纤本身所固有的损耗，以及光纤连接和连接器损耗。 伴随数据中心TIA-942推行的结构化光布线系统的发展，在带来灵活易用的同时，也对光纤测试带来了新的内容，引入的结构化布线，增加了连接器件，对接头连接器的插入损耗有了更高的要求。 那么下面先来谈一下数据中心短光纤的测试面临的新的问题： 从目前光纤链路的测试来看，主要分成两个等级，第一等级为OLTS测试，第二等级为OTDR测试；从实际验收来看更多的采用的是OLTS测试，即光源和光表的测试方式，其原因除了测试设备相对价格低廉有关外，也和其使用简易程度有关，相对来说，使用第二级别的OTDR测试仪需要更专业的知识，需要读懂OTDR的曲线图，并且判定故障原因，这绝非简单培训就可以上手的工作。 另外，不论部署结构化光布线网络，还是模块化高密度MPO方案时，多模光纤都被大量运用，此时用光纤元件标准测试通过，而用应用标准测试则不一定过，两类标准门限值有所不同，测试时选标准不当，也会给后续网络运行埋下故障隐患。 不仅如此，在选用OTDR（Optical Time Domain Reflectometer,简称OTDR）测试仪时，死区的问题也是不能忽略的一大问题，OTDR的死区分为事件死区和衰减死区，事件死区代表OTDR所能检测到的光缆的最短长度。死区越短，可检测到的光缆长度就越短。如果事件死区比被测的光缆长度要短，那么就可以使用OTDR来测试这条链路。而衰减死区一般要大于事件死区，它的定义是可以测得的连续两个事件插入损耗数值的最小距离。 数据中心内网络的光缆链路通常都非常短，同时通道里还会有多个连接器和短的跳线。在进行光缆测试时，应该使用具有短事件死区和衰减死区的OTDR测试仪。
M L C项目通信传输系统 光缆测试报告 北京建谊建筑工程有限公司 2010年7月21日 一、光缆测试说明 1、通信系统说明 MLC项目配套工程包括通信传输系统，由MLC在TCC通信机房、小营/西直门MLC机房分别新设一套传输设备，三套传输设备通过光缆组成4芯复用段保护环网，通过TCC既有配线架与各线OCC在TCC设置的传输设备业务层互联。MLC新设的传输设备通过TCC 既有ODF与MLC机房新设ODF通过光缆连接，实现各线LC业务接入MLC。 2、光纤使用说明 1）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心），占用南环4芯光纤； 2）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，占用北环4芯光纤； 3）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC 通信设备，新敷设1根24芯光纤； 4）西直门8层MLC机房（灾备中心）至西直门7层通信机房（南环、北环均在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤； 5）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼B1层通信配线间（南环在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤； 6）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼7层配线间，新敷设2根4芯多模光缆。（此处的2根4芯多模光缆不属于通信传输系统，是连接服务器与工作站交换机之间的多模光缆）； 此次测试针对以上6部分进行。 3、测试仪器
采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。 4、相关图纸 《MLC项目通信系统光纤传输路由图》
二、光缆测试内容 光缆测试包括以下内容： 光缆熔接损耗（MLC项目中的光缆熔接点）； 3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减； 具体说明如下： 光缆熔接损耗：西直门本项目敷设的1根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根4芯多模光缆； 3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减：西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减；西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减； 三、测试目的 序号测试内容测试目的合格标准备注 1 光缆熔接损耗检查光纤熔接质量每个熔接点损耗 ＜ 光纤熔接规范 2 西直门8层MLC通信设备与京 投大厦西辅楼一层MLC通信 设备之间的链路衰减 检查光纤链路质量＜25dB 通信设备对光衰 减的要求 3 西直门8层MLC通信设备与京 投大厦东辅楼三层TCC机房 MLC通信设备之间的链路衰减 检查光纤链路质量＜25dB 通信设备对光衰 减的要求 4 京投大厦西辅楼一层MLC通 信设备与京投大厦东辅楼三 层TCC机房MLC通信设备之间 的链路衰减 检查光纤链路质量＜15dB 通信设备对光衰 减的要求
光纤熔接步骤及OTDR测试曲线分析方法 随着网络的飞速发展，传统的10M，100M速度已经越来越满足不了人们日常学习工作的需要了。用户迫切希望提高网络速度，1000M是目标，但对于双绞线来说虽然可以使用六类线满足1G的传输需要，但六类线制作起来非常麻烦，而且对两端连接设备要求也很高，各项衰减参数也不能降低要求。因此目前最有效的突破1G传输速度的介质仍然是光纤。本文将为读者介绍如何使用工具将断纤尾纤进行熔接，满足实际需求。 1，熔接工作何时进行 大家都应该知道光纤是非常长的，但任何线缆都会遇到长度不合适的问题，光纤也是如此，这时候就需要对光纤进行裁剪了。并且光纤在户外传输时都是一股的，而连接到局端就需要将里头的线芯分开连接，这时也需要对光纤进行熔接。因此可以说熔接工作用到的地方还是不少的，使用了光纤就必定会有熔接问题。 2，如何进行光纤的熔接 光纤熔接在以前是一个技术含量很高的工作，以前熔接一个纤芯的工作能拿到500元的报酬，而如今恐怕只有1/10了。下面我们将一步步的为大家介绍如何将分离的光纤熔接到一起。不过看完后理论的东西了解很多，真正掌握还需要大家亲自去动手。 第一步：准备工作 光纤熔接工作不仅需要专业的熔接工具还需要很多普通的工具辅助完成这项任务，如剪刀，竖刀等。（如下图）IT 辅助工具第二步：安装工作 一般我们都是通过光纤收容箱（如下图）来固定光纤的，将户外接来的用黑色保护外皮包裹的光纤从收容箱的后方接口放入光纤收容箱中。在光纤收容箱中将光纤环绕并固定好防止日常使用松动。
光纤收容箱 第三步：去皮工作 首先将黑色光纤外表去皮，（如下图）大概去掉1米长左右。 去黑皮接着使用美工刀将光纤内的保护层去掉。（如下图）要特别注意的是由于光纤线芯是用玻璃丝制作的，很容易被弄断，一旦弄断就不能正常传输数据了。
光纤验收测试方法简介 前言 在光纤工程项目中必须执行一系列的测试以便确保其完整性，一根光缆从出厂到工程安装完毕，需要进行机械测试、几何测试、光测以及传输测试。前3个测试一般都是在工厂进行，传输测试则是光缆布线系统工程验收的必要步骤。 国家标准《GB 50312-2007综合布线工程验收规范（含条文说明）》中明确要求对综合布线工程进行验收测试：“综合布线工程电气测试包括电缆系统电气性能测试及光纤系统性能测试。电缆系统电气性能测试项目应根据布线信道或链路的设计等级和布线系统的类别要求制定。各项测试结果应有详细记录，作为竣工资料的一部分。” 布线系统测试可以从多个万面考虑，设备的连通性是最基本的要求；跳线系统是否有效可以很方便地测试出来；通信线路的指标数据测试相对比较困难，一般都借助专业工具进行。 但国标中对光纤链路测试方法的描述非常简单，未给出详细的测试方法，对于目前在工程中常用的光时域反射损耗测试（OTDR），国标中并未阐述。本文从光纤测试标准、测试参数、测试设备、测试方法等几个方面进行简单的介绍，希望能对工程验收提供帮助。 一、参照标准 在国际标准IEC 61746、TIA/EIA TSB-107等标准中对光纤测试如光功率，OTDR等做了明确的规定，布线系统测试可以参照这些标准进行： 《GB 50312-2007综合布线工程验收规范（含条文说明）》 《IEC 61350 功率计校准》 《IEC 61746 OTDR校准》 《G.650.1 单模光纤与光缆的线性、确定性属性的定义与测试方法》 《G.650.2 单模光纤与光缆的统计与非线性属性的定义与测试方法》 《IEC 60793》 《TIA/EIA TSB-107》 《TIA/EIA FOTP-169》 … 二、测试参数 光缆测试一般应执行以下几个重要参数： 端到端光纤链路损耗 每单位长度的衰减速率 熔接点、连接器与耦合器各个事件 光缆长度或者事件的距离 每单位长度光纤损耗的线性（衰减不连续性） 反射或者光回损（ORL） 色散（CD） 极化模式色散（PMD）
5.3.4熔纤 5.3.4.1端面的制备 光纤端面的制备包括剥覆、清洁和切割这几个环节。合格的光纤端面是熔接的必要条件，端面质量直接影响到熔接质量. 光纤涂面层的剥除 纤涂面层的剥除,要掌握平、稳、快三字剥纤法。“平”，即持纤要平。左手拇指和食指捏紧光纤，使之成水平状，所露长度以5cm为准，余纤在无名指、小拇指之间自然打弯，以增加力度，防止打滑。“稳”，即剥纤钳要握得稳。“快”即剥纤要快，剥纤钳应与光纤垂直，上方向内倾斜一定角度，然后用钳口轻轻卡住光纤右手，随之用力，顺光纤轴向平推出去，整个过程要自然流畅，一气呵成。 裸纤的清洁 观察光纤剥除部分的涂覆层是否全部剥除，若有残留，应重新剥除。如有极少量不易剥除的涂覆层，可用绵球沾适量酒精，一边浸渍，一边逐步擦除。 将棉花撕成层面平整的扇形小块，沾少许酒精（以两指相捏无溢出为宜），折成“V” 形，夹住以剥覆的光纤，顺光纤轴向擦拭，力争一次成功，一块棉花使用2～3次后要及时更换，每次要使用棉花的不同部位和层面，这样即可提高棉花利用率，又防止了探纤的两次污染。 裸纤的切割 裸纤的切割是光纤端面制备中最为关键的部分，精密、优良的切刀是基础，而严格、科学的操作规范是保证。 切刀的选择 切刀有手动（如日本CT—07切刀）和电动（如爱立信FSU—925）两种。前者操作简单，性能可靠，随着操作者水平的提高，切割效率和质量可大幅度提高，且要求裸纤较短，但该切刀对环境温差要求较高。后者切割质量较高，适宜在野外寒冷条件下作业，但操作较复杂，工作速度恒定，要求裸纤较长。熟练的操作者在常温下进行快速光缆接续或抢险，采用手动切刀为宜；反之初学者或在野外较寒冷条件下作业时，采用电动切刀。 操作规范 操作人员应经过专门训练掌握动作要领和操作规范。首先要清洁切刀和调整切刀位置，切刀的摆放要平稳，切割时，动作要自然、平稳、勿重、勿急，避免断纤、斜角、毛刺及裂痕等不良端面的产生。另外学会“弹钢琴”，合理分配和使用自己的右手手指，使之与切口的具体部件相对应、协调，提高切割速度和质量。 谨防端面污染 热缩套管应在剥覆前穿入，严禁在端面制备后穿入。裸纤的清洁、切割和熔接的时间应紧密衔接，不可间隔过长，特别是以制备的端面，切勿放在空气中。移动时要轻拿轻放，防止与其他物件擦碰。在接续中应根据环境，对切刀“V”形槽、压板、刀刃进行清洁，谨防端面污染。 5.3.4.2光纤熔接 光纤熔接是接续工作的中心环节，因此高性能熔接机和熔接过程中科学操作是十分必要的。 熔接机的选择 应根据光缆工程要求，配备蓄电池容量和精密度合适的熔接设备。按照经验，日本FSM—30S 电弧熔接机性能优良、运行稳定、熔接质量高，且配有防尘防风罩、大容量电池，适宜于各
1引言 由于应用和用户对带宽需求的进一步增加和光纤链路对满足高带宽方面的巨大优势，光纤的使用越来越多。无论是布线施工人员，还是网络维护人员，都有必要掌握光纤链路测试的技能。 2004年2月颁布的TIA/TSB-140测试标准，旨在说明正确的光纤测试步骤。该标准建议了两级测试，分别为： Tier1（一级），使用光缆损耗测试设备（OLTS）来测试光缆的损耗和长度，并依靠OLTS或者可视故障定位仪（VFL）验证极性； Tier2（二级），包括一级的测试参数，还包括对已安装的光缆链路的OTDR追踪。? 根据TSB-140标准，对于一条光纤链路来说，一级测试主要包括两个参数：长度和损耗。事实上，早在标准ANSI/TIA/EIA-526-14A和ANSI/TIA/EIA-526-7中，已经分别对多模和单模光纤链路的损耗测试，定义了三种测试方法（长度的测量，取决于仪表是否支持，如果仪表支持，在测试损耗的同时，长度同时也会测量）。为了方便，我们分别称为：方法A、方法B和方法C。TSB－140就是在这基础上发展而来，与此兼容。 那么这三种方法各有什么特点，怎么操作，应该在什么场合下使用呢？这正是本文要阐述的问题。另外，光纤链路的测试，不同于双绞线链路的测试，又有什么地方需要注意或者有什么原则可以遵循呢？这也是本文想与读者分享的内容。 2如何测试光纤链路损耗 光纤链路损耗的测试，包含两大步骤：一是设置参考值（此时不接被测链路），二是实际测试（此时接被测链路）。 下面我们具体介绍一下标准中定义的三种测试损耗的方法（以双向测试为例）。 2.1测试方法A 方法A设置参考值时，采用两条光纤跳线和一个连接器（考虑一个方向，如下图上半部分）。设置参考值后，将被测链路接进来（如下图下半部分），进行测试。
光纤配线架验收测试报告 Prepared on 24 November 2020
光纤配线架测试报告 检验记录 检验清单 主检人： 校核人： 批准人： 日期：
光纤配线架测试 一、认可项目、检验类别及检验依据、流程图 1．认可项目及检验标准 产品名称：光纤配线架 检验标准：YD/T 778-2006 光纤配线架 2．检验类别 （1）产品认证型式检验 （2）产品认证复评型式检验 （3）产品认证监督检验 （4）产品认证监督检验+产品认证变更检验 （5）委托检验 上述（1）-（4）类别的检验依据除了对应产品的检验标准以外，还应依据泰尔发布的最新配线设备认证实施规则来执行。 3．检验流程图
二、检验项目及检验方法 1、外观与结构检查 用卡尺或卷尺检测机架外形尺寸。 用手实际操作转动、插拔、锁定部位应感觉适度，用万能角尺，检测机架门开启角；用塞规检测其间隙的上、中、下三处。 用装配工具手工检查紧固件，用裸手触摸外露和操作部位。 用R 量规检测光缆尾纤的弯曲半径。 其它用目视方法检查。 2、功能检查 测试步骤：采用视察法和操作法检查各功能装置安装的完整齐备性及其达到的功能性。 3、光电性能测试 插入损耗 测试连接框图 测试步骤 按测试连接图连接测试光纤测试，光回波损耗测试仪RM3750的光源输出口作为稳定光源，此时，图中S 2点先不接入被测尾纤，而是通过标准尾纤2按虚线连接(S 2R 1)，至光回波损耗测试仪RM3750的光功率输入口，将光源和光功率计光波长设置为指定波长，开启光源开关，预热15分钟后，记录光功率计示值P 1。然后将被测尾纤和标准尾纤2按图中实线连接，测记录光功率计示值P 2。P=P 1-P 2即为S 2R 2插入损耗。同理，将被测尾纤调换方向，则可测出另一 端对应的插入损耗值。 回波损耗 测试连接框图 标准尾纤1 S 1稳定光 光功率 光纤配线架 标准尾纤 图 插入损耗测试连接框图 光回损仪 光纤配线 被测适配器
1.Power灯不亮 电源故障 2.LOS灯亮必有以下故障： （a）从机房到用户端的光缆已经断了； （b) SC尾纤与光纤收发器的插槽没有插好或者已经断开。 3.Link灯不亮可能有如下情况： （a）检查光纤线路是否断路 （b) 检查光纤线路是否损耗过大，超过设备接收范围 （c) 检查光纤接口是否连接正确，本地的TX 与远方的RX 连接，远方的TX 与本地的RX连接。 （d）检查光纤连接器是否完好插入设备接口，跳线类型是否与设备接口匹配，设备类型是否与光纤匹配，设备传输长度是否与距离匹配。 4.电路Link灯不亮故障可能有如下情况： （a）检查网线是否断路 （b) 检查连接类型是否匹配：网卡与路由器等设备使用交叉线，交换机，集线器等设备使用直通线。 （c) 检查设备传输速率是否匹配 5.网络丢包严重可能故障如下： （a）收发器的电端口与网络设备接口，或两端设备接口的双工模式不匹配。 （b）双绞线与RJ-45头有问题，进行检测 （c）光纤连接问题，跳线是否对准设备接口，尾纤与跳线及耦合器类型是否匹配等。 6. 光纤收发器连接后两端不能通信 （a）光纤接反了，TX和RX所接光纤对调 （b)RJ45接口与外接设备连接不正确（注意直通与绞接）光纤接口（陶瓷插芯）不匹配，此故障主要体现在100M带光电互控功能的收发器上，如APC插芯的尾纤接到PC插芯的收发器上将不能正常通信，但接非光电互控收发器没有影响。 7. 时通时断现象 （a）可能为光路衰减太大，此时可用光功率计测量接收端的光功率，如果在接收灵敏度范围附近，1-2dB范围之内可基本判断为光路故障 （b）可能为与收发器连接的交换机故障，此时把交换机换成PC，即两台收发器直接与PC连接，两端对PING，如未出现时通时断现象可基本判断为交换机故障
MLC项目通信传输系统 光缆测试报告 北京建谊建筑工程有限公司 2010年7月21日
一、光缆测试说明 1、通信系统说明 MLC项目配套工程包括通信传输系统，由MLC在TCC通信机房、小营/西直门MLC机房分别新设一套2.5G传输设备，三套传输设备通过光缆组成4芯复用段保护环网，通过TCC既有配线架与各线OCC在TCC设置的传输设备业务层互联。MLC新设的传输设备通过TCC既有ODF与MLC机房新设ODF通过光缆连接，实现各线LC业务接入MLC。 2、光纤使用说明 1）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心），占用南环4芯光纤； 2）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，占用北环4芯光纤； 3）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC 通信设备，新敷设1根24芯光纤； 4）西直门8层MLC机房（灾备中心）至西直门7层通信机房（南环、北环均在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤； 5）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼B1层通信配线间（南环在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤； 6）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼7层配线间，新敷设2根4芯多模光缆。（此处的2根4芯多模光缆不属于通信传输系统，是连接服务器与工作站交换机之间的多模光缆）； 此次测试针对以上6部分进行。 3、测试仪器 采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。 4、相关图纸 《MLC项目通信系统光纤传输路由图》
二、光缆测试内容 光缆测试包括以下内容： ?光缆熔接损耗（MLC项目中的光缆熔接点）； ?3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减； 具体说明如下： 光缆熔接损耗：西直门本项目敷设的1根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根4芯多模光缆； 3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减：西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减；西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减； 三、测试目的
前言 在光纤工程项目中必须执行一系列的测试以便确保其完整性，一根光缆从出厂到工程安装完毕，需要进行机械测试、几何测试、光测以及传输测试。前3个测试一般都是在工厂进行，传输测试则是光缆布线系统工程验收的必要步骤。 国家标准《GB 50312-2007综合布线工程验收规范（含条文说明）》中明确要求对综合布线工程进行验收测试：“综合布线工程电气测试包括电缆系统电气性能测试及光纤系统性能测试。电缆系统电气性能测试项目应根据布线信道或链路的设计等级和布线系统的类别要求制定。各项测试结果应有详细记录，作为竣工资料的一部分。” 布线系统测试可以从多个万面考虑，设备的连通性是最基本的要求；跳线系统是否有效可以很方便地测试出来；通信线路的指标数据测试相对比较困难，一般都借助专业工具进行。 但国标中对光纤链路测试方法的描述非常简单，未给出详细的测试方法，对于目前在工程中常用的光时域反射损耗测试（OTDR），国标中并未阐述。本文从光纤测试标准、测试参数、测试设备、测试方法等几个方面进行简单的介绍，希望能对工程验收提供帮助。 一、参照标准 在国际标准IEC 61746、TIA/EIA TSB-107等标准中对光纤测试如光功率，OTDR等做了明确的规定，布线系统测试可以参照这些标准进行： 《GB 50312-2007综合布线工程验收规范（含条文说明）》 《IEC 61350 功率计校准》 《IEC 61746 OTDR校准》 《G.650.1 单模光纤与光缆的线性、确定性属性的定义与测试方法》 《G.650.2 单模光纤与光缆的统计与非线性属性的定义与测试方法》 《IEC 60793》 《TIA/EIA TSB-107》 《TIA/EIA FOTP-169》 … 测试参数 参数 二、测试 光缆测试一般应执行以下几个重要参数： 端到端光纤链路损耗 每单位长度的衰减速率