电子通信与软件工程 系2013-2014学年第2学期
《数字电路与逻辑设计实验》实验报告
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同组成员： 姓名： 学号：
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一、 实验名称：触发器工作原理与功能测试
二、
实验目的：
1、熟悉并掌握R —S 、D 、J —K 触发器的构成，工作原理和功能测试方法．
2、学会正确使用触发器集成芯片．
三、实验内容：
1．基本R —SFF 功能测试：
两个TTL 与非门首尾相接构成的基本R —SFF 的
电路如图7．1所示．
（1）试按下面的顺序在d S ，d R 端加信号： d S =0 d R =1 d S =1 d R =1
d S =1 d R =0 图 7.1 基本 R —S FF 电路
d S =1 d R =1
观来并记录FF 的Q 、Q 端的状态，将结果填入下表7。1中，并说明在上述各种输入状态下FF 执行的是什么功能？
（2）d S 端接低电平．d R 端加脉冲。 （3）d S 端接高电子．d R 端加脉冲。
（4）连接Rd 、Sd ，并加脉冲
记录并观察（2）、（3）、（4）三种情况下，Q ，Q 端的状态．从中你能否总结出基本R 一SFF 的Q 或Q 端的状态改变和输人端d S ，d R 的关系。
（5）当d S 、d R 都接低电平时，观察Q 、Q 端的状态。当d S 、d R 同时由低电平跳为高
电平时，注意观察Q 、Q 端的状态，重复 3～5次看 Q 、Q 端的状态是否相同，以正确理解“不定”状态的含义。 2．维持一阻塞型D 触发器功能测试
双 D 型正边沿维持一阻塞型触发器 74LS74的逻辑符号如 图7．2所示。
图中d S 、d R 端为异步置1端，置0端（或称异步置位，复位； 端）．CP 为时钟脉冲端。 试按下面步骤做实验：
（1）分别在d S 、d R 端加低电平，观察并记录 Q 、Q 端的状态。 （2）令d S 、d R 端为高电平，D 端分别接高，低电平，用点动脉冲
作为 CP ，观察并记录当 CP 为 O 、↑、1、↓时 Q 端状态的 变化。
（3）当d S =d R =1、CP ＝0（或CP=1）．改变D 端信号，观察Q 图 7.2 DFF 逻辑符号 端的状态是否变化？
整理上述实验数据，将结果填入下表7．2中．
（4）令d S =d R =1，将 D 和Q 端相连，CP 加连续脉冲，用双踪示波器观察并记录Q 相
对于CP 的波形．
实验结果：
1． 基本R —SFF 功能测试：
（1）中记录FF 的Q 、Q 端的状态，结果为表7.1所示。
（2）Q=1 Q ’=1 Q ’会闪耀 （3）Q=0 Q ’=1 （4）Q=1 Q ’=1
（5）时有Q 亮，Q ’灭。时有Q 灭，Q ’亮。
2. 维持一阻塞型D 触发器功能测试
（2）令d S 、d R 端为高电平，D 端分别接高，低电平，用点动脉冲作为 CP ，观察并记录当 CP 为 O 、↑、1、↓时 Q 端状态的变化，如表7.4。
（3）当d S =d R =1、CP ＝0（或CP=1）．改变D 端信号，观察Q 端的状态,如表7.2
表7．2
（4）令d S =d R =1，将 D 和Q 端相连，CP 加连续脉冲，用双踪示波器观察并记录Q 相
对于CP 的波形．
实验总结：
通过这次实验明白了，有时候出现问题时，自己应在一定的时间内想到问题的解决方案，如果解决不了问题应需要找同伴商讨合作才能使实验完成的效率更高，在实验的过程中重要的不仅仅是理论知识，要有学会听取他人意见不可一意孤行，还要有会和团体合作的意识，才能将任务更高效更好的完成。
实验五 触发器实验报告 [实验目的] 1. 理解Oracle 触发器的种类和用途 2. 掌握行级触发器的编写 [预备知识] 1. PL/SQL 程序设计 [实验原理] 1. 建立触发器 CREA TE [OR REPLACE] TRIGGER <触发器名> BEFORE|AFTER INSERT|DELETE|UPDA TE OF <列名> ON <表名> [FOR EACH ROW] WHEN (<条件>)
使用ＣＭＯＳ集成电路需注意的几个问题 集成电路按晶体管的性质分为ＴＴＬ和ＣＭＯＳ两大类，ＴＴＬ以速度见长，ＣＭＯＳ以功耗低而著称，其中ＣＭＯＳ电路以其优良的特性成为目前应用最广泛的集成电路。在电子制作中使用ＣＭＯＳ集成电路时，除了认真阅读产品说明或有关资料，了解其引脚分布及极限参数外，还应注意以下几个问题： １、电源问题 （１）ＣＭＯＳ集成电路的工作电压一般在３－１８Ｖ，但当应用电路中有门电路的模拟应用（如脉冲振荡、线性放大）时，最低电压则不应低于４．５Ｖ。由于ＣＭＯＳ集成电路工作电压宽，故使用不稳压的电源电路ＣＭＯＳ集成电路也可以正常工作，但是工作在不同电源电压的器件，其输出阻抗、工作速度和功耗是不相同的，在使用中一定要注意。 （２）ＣＭＯＳ集成电路的电源电压必须在规定围，不能超压，也不能反接。因为在制造过程中，自然形成许多寄生二极管，如图１所示为反相器电路，在正常电压下，这些二极管皆处于反偏，对逻辑功能无影响，但是由于这些寄生二极管的存在，一旦电源电压过高或电压极性接反，就会使电路产生损坏。 ２、驱动能力问题 ＣＭＯＳ电路的驱动能力的提高，除选用驱动能力较强的缓冲器来完成之外，还可将同一个芯片几个同类电路并联起来提高，这时驱动能力提高到Ｎ倍（Ｎ为并联门的数量）。如图２所示。 ３、输入端的问题 （１）多余输入端的处理。ＣＭＯＳ电路的输入端不允许悬空，因为悬空会使电位不定，破坏正常的逻辑关系。另外，悬空时输入阻抗高，易受外界噪声干扰，使电路产生误动作，而且也极易造成栅极感应静电而击穿。所以“与”门，“与非”门的多余输入端要接高电平，“或”门和“或非”门的多余输入端要接低电平。若电路的工作速度不高，功耗也不需特别考虑时，则可以将多余输入端与使用端并联。 （２）输入端接长导线时的保护。在应用中有时输入端需要接长的导线，而长输入线必然有较大的分布电容和分布电感，易形成ＬＣ振荡，特别当输入端一旦发生负电压，极易破坏ＣＭＯＳ中的保护二极管。其保护办法为在输入端处接一个电阻，如图３所示，Ｒ＝ＶＤＤ／１ｍＡ。 （３）输入端的静电防护。虽然各种ＣＭＯＳ输入端有抗静电的保护措施，但仍需小心对待，在存储和运输中最好用金属容器或者导电材料包装，不要放在易产生静电高压的化工材料或化纤织物中。组装、调试时，工具、仪表、工作台等均应良好接地。要防止操作人员的静电干扰造成的损坏，如不宜穿尼龙、化纤衣服，手或工具在接触集成块前最好先接一下地。对器件引线矫直弯曲或人工焊接时，使用的设备必须良好接地。 （４）输入信号的上升和下降时间不易过长，否则一方面容易造成虚假触发而导致器件失去正常功能，另一方面还会造成大的损耗。对于７４ＨＣ系列限于０．５ｕｓ以。若不满足此要求，需用施密特触发器件进行输入整形，整形电路如图４所示。 （５）ＣＭＯＳ电路具有很高的输入阻抗，致使器件易受外界干扰、冲击和静电击穿，所以为了保护ＣＭＯＳ管的氧化层不被击穿，一般在其部输入端接有二极管保护电路，如图５所示。 其中Ｒ约为１．５－２．５ＫΩ。输入保护网络的引入使器件的输入阻抗有一定下降，但仍在１０８Ω以上。这样也给电路的应用带来了一些限制： （Ａ）输入电路的过流保护。ＣＭＯＳ电路输入端的保护二极管，其导通时电流容限一般为１ｍＡ在可能出现过大瞬态输入电流（超过１０ｍＡ）时，应串接输入保护电阻。例如，当输入端接的信号，其阻很小、或引线很长、或输入电容较大时，在接通和关断电源时，就容易产生较大的瞬态输入电流，这时必须接输入保护电阻，若ＶＤＤ＝１０Ｖ，则取限流电阻为１０ＫΩ即可。 （Ｂ）输入信号必须在ＶＤＤ到ＶＳＳ之间，以防二极管因正向偏置电流过大而烧坏。因此在
实验报告书 课程名称：软件测试 实验题目：黑盒测试报告 专业：教育技术学 班级：教技142 学生姓名：安卓 指导老师：郭小雪 所属学期：2017-2018学年第二学期
一、引言 1.1目的 测试报告为三角形问题和找零钱最佳组合问题项目的黑盒测试报告，目的在于总结测试阶段的测试以及分析测试结果。 实验环境 在Windows 2000(SP2) 或Windows XP 操作系统上，使用C++语言，工具作为开发环境(IDE) 实验要求 1.根据给出的程序分别使用等价类划分法、边界值分析法、判定表 方法、因果图法、正交试验法、功能图法、错误推测法来设计相应的测试用例。 2.输入数据进行测试，填写测试用例。 二、实验原理 黑盒测试原理：已知产品的功能设计规格，可以进行测试证明每个实现了的功能是否符合要求。软件的黑盒测试意味着测试要在软件的接口处进行。这种方法是把测试对象看作一个黑盒子，测试人员完全不考虑程序内部的逻辑结构和内部特性，只依据程序的需求规格说明书，检查程序的功能是否符合它的功能说明。因此黑盒测试又叫功能测试。 从理论上讲，黑盒测试只有采用穷举输入测试，把所有可能的输入都
作为测试情况考虑，才能查出程序中所有的错误。实际上测试情况有无穷多个，人们不仅要测试所有合法的输入，而且还要对那些不合法但可能的输入进行测试。这样看来，完全测试是不可能的，所以我们要进行有针对性的测试，通过制定测试案例指导测试的实施，保证软件测试有组织、按步骤，以及有计划地进行。黑盒测试行为必须能够加以量化，才能真正保证软件质量，而测试用例就是将测试行为具体量化的方法之一。具体的黑盒测试用例设计方法包括等价类划分法、边界值分析法、错误推测法、因果图法、判定表驱动法、正交试验设计法、功能图法等。 等价类划分的办法是把程序的输入域划分成若干部分（子集），然后从每个部分中选取少数代表性数据作为测试用例。每一类的代表性数据在测试中的作用等价于这一类中的其他值。该方法是一种重要的,常用的黑盒测试用例设计方法。 1 划分等价类 划分等价类：等价类是指某个输入域的子集合。在该子集合中，各个输入数据对于揭露程序中的错误都是等效的，并合理地假定：测试某等价类的代表值就等于对这一类其它值的测试。因此,可以把全部输入数据合理划分为若干等价类,在每一个等价类中取一个数据作为测试的输入条件,就可以用少量代表性的测试数据。取得较好的测试结果。等价类划分可有两种不同的情况：有效等价类和无效等价类。 有效等价类：是指对于程序的规格说明来说是合理的,有意义的输入数据构成的集合。利用有效等价类可检验程序是否实现了规格说明中
一、实验目的 1）理解触发器的用途、类型和工作原理 2）掌握利用T-SQL语句创建和维护触发器的方法 3）掌握利用企业管理器创建、维护触发器的方法 二、实验内容 说明：在所有触发器取名时，请各位同学在所给定的名称后加上下划线及学号后四位数字构成自己的实验触发器名。如：deltr_20051101.各触发器中的所用到的参数变量名自取。 1、利用企业管理器创建与维护触发器 （1）创建简单触发器 创建一个触发器stu_modify在修改student表后，显示一个提示信息，告诉用户有多少行数据被修改了。 创建步骤： create trigger stu_modify on student after insert,delete,update as print'（所影响的行数为:'+cast(@@rowcount as varchar(10))+'行'; 触发器的触发执行测试语句（T-SQL）： update Student_20083386 set sex='男' where sno='20050001' 执行结果：
（2）修改触发器 修改stu_modify触发器，使其为一个加密触发器。（提示：加with encpytion关键子句）修改步骤： USE[XSGL_20083386] GO /****** Object: Trigger [dbo].[stu_modify] Script Date: 05/17/2010 19:59:55 ******/ SET ANSI_NULLS ON GO SET QUOTED_IDENTIFIER ON GO ALTER trigger[dbo].[stu_modify] on[dbo].[Student_20083386] with Encryption after insert,delete,update as print'（所影响的行数为:'+cast(@@rowcount as varchar(10))+'行)' （3）删除触发器 删除stu_modify触发器。 删除步骤：
实验六触发器实验报告 触发器实验报告 [实验目的]1、理解Oracle触发器的种类和用途2、掌握行级触发器的编写 [预备知识]1、 PL/SQL程序设计 [实验原理]1、建立触发器 CREATE [OR REPLACE] TRIGGER <触发器名> BEFORE|AFTER INSERT|DELETE|UPDATE OF <列名> ON <表名> [FOR EACH ROW] WHEN (<条件>)
义，所有字段都是NULL引用示例：:new、 customer_name, :old、customer_name3、行级触发器中的谓词在一个多条件触发的触发器中，使用谓词可以区分当前触发的操作的类型：inserting,updating,deleting。 示例： IF Inserting THEN 语句 ; END IF; IF Updating THEN 语句 ; END IF; IF Deleting THEN 语句 ; END IF;4、触发器的限制 SELECT 语句必须是 SELECT INTO 语句或内部游标声明。 行级触发器不可以对触发表进行查询，包括其调用的子过程中。 不允许 DDL 声明和事务控制语句。 如果由触发器调用存储子过程，则存储子程序不能包括事务控制语句。 :old 和 :new 值的类型不能是 LONG 和 LONG RAW。 [实验内容]1、给Customer表增加一列Savings,类型为int，来存放每个顾客的存款总额。A LTER TABLE customer ADD (saving varchar2(30));select * from customer;2、更新Customer表，使得Savings字段的值正确。 3、在Account表上增加一个行级触发器，当对account的balance进行update和insert一个记录时同步修改Customer的Savings字段，保证数据的一致性。
实验3 触发器及其应用 一、实验目的 1、掌握基本RS、JK、D和T触发器的逻辑功能 2、掌握集成触发器的逻辑功能及使用方法 3、熟悉触发器之间相互转换的方法 二、实验原理 触发器具有两个稳定状态，用以表示逻辑状态“1”和“0”，在一定的外界信号作用下，可以从一个稳定状态翻转到另一个稳定状态，它是一个具有记忆功能的二进制信息存贮器件，是构成各种时序电路的最基本逻辑单元。 1、基本RS触发器 图5－8－1为由两个与非门交叉耦合构成的基本RS触发器，它是无时钟控制低电平直接触发的触发器。基本RS触发器具有置“0”、置“1”和“保持”三种功能。通常称S为置“1”端，因为S＝0（R＝1）时触发器被置“1”；R为置“0”端，因为R＝0（S＝1）时触发器被置“0”，当S＝R＝1时状态保持；S＝R＝0时，触发器状态不定，应避免此 种情况发生，表5－8－1为基本RS触发器的功能表。 基本RS触发器。也可以用两个“或非门”组成，此时为高电平触发有效。 表5－8－1 图5—8—1 基本RS触发器 2、JK触发器 在输入信号为双端的情况下，JK触发器是功能完善、使用灵活和通用性较强的一种触发器。本实验采用74LS112双JK触发器，是下降边沿触发的边沿触发器。引脚功能及逻辑符号如图5－8－2所示。 JK触发器的状态方程为 Q n+1＝J Q n＋K Q n J和K是数据输入端，是触发器状态更新的依据，若J、K有两个或两个以上输入端时，组
成“与”的关系。Q与Q为两个互补输出端。通常把Q＝0、Q＝1的状态定为触发器“0”状态；而把Q＝1，Q＝0定为“1”状态。 图5－8－2 74LS112双JK触发器引脚排列及逻辑符号 下降沿触发JK触发器的功能如表5－8－2 表 注：×—任意态↓—高到低电平跳变↑—低到高电平跳变 Q n（Q n）—现态Q n+1（Q n+1 ）—次态φ—不定态 JK触发器常被用作缓冲存储器，移位寄存器和计数器。 3、D触发器 在输入信号为单端的情况下，D触发器用起来最为方便，其状态方程为 Q n+1＝D n，其输出状态的更新发生在CP脉冲的上升沿，故又称为上升沿触发的边沿触发器， 触发器的状态只取决于时钟到来前D端的状态，D触发器的应用很广，可用作数字信号的寄存，移位寄存，分频和波形发生等。有很多种型号可供各种用途的需要而选用。如双 D 74LS74、四D 74LS175、六D 74LS174等。 图5－8－3 为双D 74LS74的引脚排列及逻辑符号。功能如表5－8－3。
正反相施密特触发器电路的工作原理详解 什么叫触发器 施密特触发电路（简称）是一种波形整形电路，当任何波形的信号进入电路时，输出在正、负饱和之间跳动，产生方波或脉波输出。不同于比较器，施密特触发电路有两个临界电压且形成一个滞后区，可以防止在滞后范围内之噪声干扰电路的正常工作。如遥控接收线路，传感器输入电路都会用到它整形。 施密特触发器 一般比较器只有一个作比较的临界电压，若输入端有噪声来回多次穿越临界电压时，输出端即受到干扰，其正负状态产生不正常转换，如图1所示。 图1 (a)反相比较器 (b)输入输出波形 施密特触发器如图2 所示，其输出电压经由R1、R2分压后送回到运算放大器的非反相输入端形成正反馈。因为正反馈会产生滞后（Hysteresis）现象，所以只要噪声的大小在两个临界电压（上临界电压及下临界电压）形成的滞后电压范围内，即可避免噪声误触发电路，如表1 所示 图2 (a)反相斯密特触发器 (b)输入输出波形
表1 反相施密特触发器 电路如图2 所示，运算放大器的输出电压在正、负饱和之间转换: νO= ±Vsat。输出电压经由R1 、R2分压后反馈到非反相输入端：ν+= βνO， 其中反馈因数= 当νO为正饱和状态（+Vsat）时，由正反馈得上临界电压 当νO为负饱和状态（- Vsat）时，由正反馈得下临界电压 V TH与V TL之间的电压差为滞后电压：2R1 图3 (a)输入、输出波形 (b)转换特性曲线 输入、输出波形及转换特性曲线如图3(b)所示。
当输入信号上升到大于上临界电压V TH时，输出信号由正状态转变为 负状态即：νI ＞V TH→νo = - Vsat 当输入信号下降到小于下临界电压V TL时，输出信号由负状态转变为 正状态即：νI ＜V TL→νo = + Vsat 输出信号在正、负两状态之间转变，输出波形为方波。 非反相施密特电路 图4 非反相史密特触发器 非反相施密特电路的输入信号与反馈信号均接至非反相输入端，如图4所示。 由重迭定理可得非反相端电压 反相输入端接地：ν-= 0，当ν+ = ν- = 0时的输入电压即为临界电压。将ν+ = 0代入上式得 整理后得临界电压 当νo为负饱和状态时，可得上临界电压 当νo为正饱和状态时，可得下临界电压， V TH与V TL之间的电压差为滞后电压：
软件测试与质量课程实验报告实验2：黑盒测试法实验
缺席：扣10分实验报告雷同：扣10分实验结果填写不完整：扣1 – 10分其他情况：扣分<=5分总扣分不能大于10分 参考代码如下： （1）程序参考答案： #include
淮海工学院计算机工程学院实验报告书 课程名：《数据库原理及应用》 题目：存储过程和触发器 班级：软件132 学号： 2013122907 姓名：孙莹莹 评语： 成绩：指导教师： 批阅时间：年月日
一．目的与要求 1.掌握存储过程的创建方法； 2.掌握存储过程的执行、修改和删除等操作； 3.掌握触发器的创建方法； 4.掌握触发器的使用、修改和删除等相关内容 二．实验内容 基于前面建立的factory数据库，使用T-SQL语句完成如下各小题的功能： 1.创建一个为worker表添加职工记录的存储过程Addworker； 2.创建一个存储过程Delworker删除worker表中指定职工号的记录。 3.显示存储过程Delworker； 4.删除存储过程Addworker和Delworker. 三．实验步骤 1 . (1)建立存储过程 USE factory GO CREATE PROCEDURE Addworker @no int=NULL, @name char(10)=NULL, @sex char(2)=NULL, @birthday datetime=NULL, @na char(2)=NULL, @wtime datetime=NULL, @depno int=NULL AS IF @no IS NULL OR @name IS NULL OR @sex IS NULL OR @birthday IS NULL OR @depno IS NULL BEGIN PRINT '请重新输入该职工信息！' PRINT '你必须提供职工号、姓名、性别、出生日期、部门号' RETURN END BEGIN TRANSACTION INSERT INTO worker VALUES(@no,@name,@sex,@birthday,@na,@wtime,@depno) IF @@error<>0 BEGIN ROLLBACK TRAN RETURN END
施密特触发器简单介绍 本文来自: https://www.doczj.com/doc/7810620497.html, 原文网址：https://www.doczj.com/doc/7810620497.html,/sch/test/0083158.html 我们知道，门电路有一个阈值电压，当输入电压从低电平上升到阈值电压或从高电平下降到阈值电压时电路的状态将发生变化。施密特触发器是一种特殊的门电路，与普通的门电路不同，施密特触发器有两个阈值电压，分别称为正向阈值电压和负向阈值电压。在输入信号从低电平上 升到高电平的过程中使电路状态发生变化的输入电压称为正向阈值电压（），在输入信号从 高电平下降到低电平的过程中使电路状态发生变化的输入电压称为负向阈值电压（）。正向 阈值电压与负向阈值电压之差称为回差电压（）。普通门电路的电压传输特性曲线是单调的，施密特触发器的电压传输特性曲线则是滞回的[图6.2.2(a)(b)]。 图6.2.1 用CMOS反相器构成的施密特触发器 （a）电路（b）图形符号
图6.2.2 图6.2.1电路的电压传输特性 （a）同相输出（b）反相输出 用普通的门电路可以构成施密特触发器[图6.2.1]。因为CMOS门的输入电阻很高，所以 的输入端可以近似的看成开路。把叠加原理应用到和构成的串联电路上，我们可以推导出 这个电路的正向阈值电压和负向阈值电压。当时，。当从0逐渐上升到时， 从0上升到，电路的状态将发生变化。我们考虑电路状态即将发生变化那一时刻的情况。 因为此时电路状态尚未发生变化，所以仍然为0，， 于是，。与此类似，当时，。当从逐渐下降到 时，从下降到，电路的状态将发生变化。我们考虑电路状态即将发生变化那一时刻 的情况。因为此时电路状态尚未发生变化，所以仍然为， ，于是， 。通过调节或，可以调节正向阈值电压和反向阈值电压。不过，这个 电路有一个约束条件，就是。如果，那么，我们有及
软件质量保证与测试 实验指导 计算机工程学院
测试环境配置 1.setting Junit (1) start Eclipse Select windows-preferences-java-build path –class path variables (2) click new, the figure of new variable entry is shown. (3) name JUNIT_LIB
select file-选择JUnit 插件所对应的JAR文件所在地，在Eclipse的安装目录的plugins目录中 2.JUNIT的组成框架 其中，junit.framework 和junit.runner是两个核心包。 junit.framework 负责整个测试对象的框架 junit.runner 负责测试驱动 Junit的框架又可分为： A、被测试的对象。 B、对测试目标进行测试的方法与过程集合，可称为测试用例(TestCase)。
C、测试用例的集合，可容纳多个测试用例(TestCase)，将其称作测试包(TestSuite)。 D、测试结果的描述与记录。(TestResult) 。 E、每一个测试方法所发生的与预期不一致状况的描述，称其测试失败元素(TestFailure) F、JUnit Framework中的出错异常（AssertionFailedError）。 JUnit框架是一个典型的Composite模式：TestSuite可以容纳任何派生自Test 的对象；当调用TestSuite对象的run()方法是，会遍历自己容纳的对象，逐个调用它们的run()方法。 3.JUnit中常用的接口和类 Test接口——运行测试和收集测试结果 Test接口使用了Composite设计模式，是单独测试用例（TestCase），聚合测试模式（TestSuite）及测试扩展（TestDecorator）的共同接口。 它的public int countTestCases（）方法，它来统计这次测试有多少个TestCase，另外一个方法就是public void run（TestResult ），TestResult是实例接受测试结果，run方法执行本次测试。 TestCase抽象类——定义测试中固定方法 TestCase是Test接口的抽象实现，（不能被实例化，只能被继承）其构造函数TestCase(string name)根据输入的测试名称name创建一个测试实例。由于每一个TestCase在创建时都要有一个名称，若某测试失败了，便可识别出是哪个测试失败。 TestCase类中包含的setUp()、tearDown()方法。setUp()方法集中初始化测试所需的所有变量和实例，并且在依次调用测试类中的每个测试方法之前再次执行setUp()方法。tearDown()方法则是在每个测试方法之后，释放测试程序方法中引用的变量和实例。 开发人员编写测试用例时，只需继承TestCase，来完成run方法即可，然后JUnit获得测试用例，执行它的run方法，把测试结果记录在TestResult之中。 Assert静态类——一系列断言方法的集合 Assert包含了一组静态的测试方法，用于期望值和实际值比对是否正确，即测试失败，Assert类就会抛出一个AssertionFailedError异常，JUnit测试框架将
实验6 存储过程与触发器 一、实验目的 1、加深与巩固对存储过程与触发器概念的理解。 2、掌握触发器的简单应用。 3、掌握存储过程的简单应用。 二、实验内容 一)存储过程: 1、创建一存储过程,求l+2+3+…+n,并打印结果。 CREATE PROCEDURE addresult AS DECLARE @n int=10,/*最后一个数*/ @i int=0, @result int=0 /*结果*/ BEGIN WHILE(@i<=@n) BEGIN SET @result=@result+@i SET @i=@i+1 END PRINT'1+2+3+、、、+n的结果就是:' PRINT @result RETURN(@result) END GO 2.调用上面的addresult存储过程,打印l十2+3+…+10的结果。EXEC addresult
3、修改上述存储过程为addresult1,使得@n为输入参数,其具体值由用户调用此存储过程时指定。 CREATE PROCEDURE addresult1 @n int=10 /*最后一个数*/ AS DECLARE @i int=0, @result int=0 /*结果*/ BEGIN WHILE(@i<=@n) BEGIN SET @result=@result+@i SET @i=@i+1 END PRINT'1+2+3+、、、+n的结果就是:' PRINT @result RETURN(@result) END GO 4、调用上面修改后的addresult1存储过程,打印l+2+3+…+100的结果。 EXEC addresult1 100 5.修改上述存储过程为addresult2,将@n参数设定默认值为10,并改设@sum为输出参数,让主程序能够接收计算结果。
. . . . .. . 实验报告 课程名称：数字电子技术基础实验 指导老师： 周箭 成绩：__________________ 实验名称：集成触发器应用 实验类型： 同组学生姓名：__邓江毅_____ 一、实验目的和要求（必填） 二、实验内容和原理（必填） 三、主要仪器设备（必填） 四、操作方法和实验步骤 五、实验数据记录和处理 六、实验结果与分析（必填） 七、讨论、心得 实验内容和原理 1、D →J-K 的转换实验 设计过程：J-K 触发器和D 触发器的次态方程如下： J-K 触发器：n n 1 +n Q Q J =Q K +， D 触发器：Qn+1=D 若将D 触发器转换为J-K 触发器，则有：n n Q Q J =D K +。 实验结果： J K Qn-1 Qn 功能 0 0 0 0 保持 1 1 0 1 0 0 置0 1 0 1 1 0 1 翻转 1 0 1 0 1 置1 1 1 （上：Qn ，下：CP ，J 为高电平时） 2、D 触发器转换为T ’触发器实验 设计过程：D 触发器和T ’触发器的次态方程如下： D 触发器：Q n+1= D ， T ’触发器：Q n+1=!Q n 若将D 触发器转换为T ’触发器，则二者的次态方程须相等，因此有：D=!Qn 。 实验截图： 专业：电卓1501 姓名：卢倚平 学号：3150101215 日期：2017.6.01 地点：东三404
实验名称：集成触发器应用实验 姓名： 卢倚平 学号： 2 (上：Qn ，下：!Qn ）CP 为1024Hz 的脉冲。 3、J-K →D 的转换实验。 ①设计过程： J-K 触发器：n n 1 +n Q Q J =Q K +， D 触发器：Qn+1=D 若将J-K 触发器转换为D 触发器，则二者的次态方程须相等，因此有：J=D ，K=!D 。 实验截图： (上：Qn ，下：CP ） （上：Qn ，下：D ） 4、J-K →T ′的转换实验。 设计过程： J-K 触发器：n n 1 +n Q Q J =Q K +， T ’触发器：Qn+1=!Qn 若将J-K 触发器转换为T ’触发器，则二者的次态方程须相等，因此有：J=K=1 实验截图：
广东*融学院实验报告 课程名称：软件测试 」、实验目的及要求 1、理解测试用例的重要性。 2、熟练掌握等价类划分、边界值方法、决策表和因果图法设计测试用例。 二、实验环境及相关情况（包含使用软件、实验设备、主要仪器及材料等） 1. 使用软件：装有QTP功能测试软件 2 .实验设备：装有Windows的联网的个人计算机 三、实验内容及步骤（包含简要的实验步骤流程） 1、实验题目：登陆框测试 在各种输入条件下，测试程序的登录对话框功能。 用户名和密码的规格说明书如下：（密码规则同用户名规则。） 用户名长度为6至10位（含6位和10 位）; 用户名由字符（a-z、A-Z）和数字（0-9）组成； 不能为空、空格和特殊字符。 要求：按照规格说明书，分别用等价类划分和边界值方法设计测试用例。 步骤：（1）分析规格说明书，确定输入条件、输出条件的有效等价类、无效等价类以及各个边界条件；（2）第二步：填表格并编号；（3）第三步：设计测试用例；（4）第四步：执行测试用例。 2、员工薪制冋题。 （1）年薪制员工：严重过失，扣年终风险金的4%，过失，扣年终风险金的2%。 （2）非年薪制员工：严重过失，扣月薪资的8%，过失，扣月薪资的4%。 步骤：（1）分析程序的规格说明，列出原因和结果；（2）找出原因与结果的因果关系、原因与原因之间的约束关系，画出因果图；（3）将因果图转化成决策表；（4）根据决策表，设计测试用例的输入数据和预期输出。
四、实验结果（包括程序或图表、结论陈述、数据记录及分析等，可附页） 等价类划分方法： 五、实验总结（包括心得体会、问题回答及实验改进意见，可附页） 通过本次实验，我理解了测试用例的重要性。熟练掌握了等价类划分、边界值方法、决策表和因果图法设计测试用例。 六、教师评语 1、完成所有规定的实验内容，实验步骤正确，结果正确； 2、完成绝大部分规定的实验内容，实验步骤正确，结果正确； 3、完成大部分规定的实验内容，实验步骤正确，结果正确； 4、基本完成规定的实验内容，实验步骤基本正确，所完成的结果基本正确； 5、未能很好地完成规定的实验内容或实验步骤不正确或结果不正确。 评定等级： 签名:
实验六存储过程与触发器 一、目的与要求 1.掌握编写数据库存储过程的方法。 2.掌握建立数据库触发器的方法,通过实验观察触发器的作用与触发条件设置 等相关操作。 二、实验准备 1.了解编写存储过程与调用的T-SQL语法; 2.了解触发器的作用; 3.了解编写触发器的T-SQL语法。 三、实验内容 (一)存储过程 在studentdb数据库中建立存储过程getPractice,查询指定院系(名称)(作为存储过程的输入参数)中参与“实践”课程学习的所有学生学号、姓名、所学课程编号与课程名称,若院系不存在,返回提示信息。 提示:D_Info表中存储了院系代码D_ID,而St_Info表中学号字段St_ID的前两位与之对应,则D_Info表与St_Info表之间的联系通过这两个字段的运算构成连接条件。 1.分别执行存储过程getPractice,查询“法学院”与“材料科学与工程学院” 的学生中参与“实践”课程的所有学生学号、姓名、所学课程编号与课程名称。 create procedure getPractice @D_Name varchar(30) output as begin if not exists (select * from D_Info where D_Name= @D_Name ) print '对不起,该院系不存在' else select st_info、St_ID,C_Info、C_No,C_Name from s_c_info inner join st_info on st_info、St_ID=s_c_info、st_id inner join C_Info on s_c_info、c_no=C_Info、C_No where st_info、St_ID in ( select St_ID from st_info join D_Info on D_Info、D_ID =left(st_info、St_ID,2) where C_Info、C_Type='实践' and D_Info、D_Name= @D_Name ) end go
实验四触发器实验报告 徐旭东 11180243 物理112班 一、实验目的 1. 熟悉并掌握R-S、D、J－K触发器的特性和功能测试方法。 2. 学会正确使用触发器集成芯片。 3. 了解不同逻辑功能FF相互转换的方法。 二、实验仪器及材料 1. 实验仪器设备：双踪示波器、数字万用表、数字电路实验箱 2. 器件 74LS00 二输入端四与非门 1片 74LS74 双D触发器 1片 74LS76 双J-K触发器 1片 三、实验内容步骤及记录 1. 基本RS触发器功能测试： 两个TTL与非门首尾相接构成的基本RS触发器的电路。如图5.1所示。
（1）试按下面的顺序在S R 端加信号： d S =0 d R =1 d S =1 d R =1 d S =1 d R =0 d S =1 d R =1 观察并记录触发器的Q 、Q _ 端的状态，将结果填入 下表4.1中，并说明在上述各种输入状态下，RS 执行的是什么逻辑功能？ 表4.1 d S d R Q 逻辑功能 0 1 1 1 1 1 0 1 1 1 0 0 0 0 1 1 置1 保持 置0 保持 （2）当d S 、d R 都接低电平时，观察Q 、Q _ 端的状态，当d S 、d R 同时由低电平跳为高电平时，注意观察Q 、Q _ 端的状态，重复3～5次看Q 、Q _ 端的状态是否相同，以正确理解“不定” 状态的含义。 结论： 当d S 、d R 都接低电平时，Q 和Q _ 端的状态不定。 2. 维持- 阻塞型D 触发器功能测试 双D 型正边沿维持－阻塞型触发器74LS74的逻辑符号如图4.2所示。 图中d S 、d R 端为异步置1端，置0端（或称异步置位，复位端），CP 为时钟脉冲端。试按下面步骤做实验： （1）分别在d S 、d R 端加低电平，观察并记录Q 、Q _ 端的状态。 （2）令d S 、d R 端为高电平，D 端分别接高，低电平，用点动脉 冲作为CP ，观察并记录当CP 为0、 、1、 时Q 端状态的变化。 图4.1 基本RS 触发器电 图4.2D 逻辑符号
序号： 云南大学软件学院实验报告 课程：数据库原理与实用技术实验学期：2015-2016学年第二学期任课教师： 专业：学号：姓名：成绩： 实验6 存储过程和触发器 存储过程 1、使用不带参数的存储过程 （1）创建一个存储过程my_proc，查询“学生表”中所有计算机系女生的学号、姓名、性别、年龄和所在院系 （2）执行存储过程 2、带输入参数的存储过程 （1）创建一个存储过程my_procsex，使其能够查询“学生表”中男学生或女学生（输入参数从这考虑）的学号、姓名、性别、年龄和所在院系 （2）执行存储过程 3、带输入/输出参数的存储过程 （1）创建一个存储过程my_procage，使其能够根据学生姓名（输入），查询学生年龄（输出）。（考虑当学生不存在时给出提示信息） （2）执行存储过程 4、返回状态值的存储过程 （1）创建一个存储过程my_procstatus，使其能够根据学生姓名，查询学生的选课信息。（如果没有输入学生姓名，返回状态码55；如果输入的学生姓名不存在，则返回状态码-155） （2）执行存储过程：接收存储过程返回的状态码，如果返回的状态码为55则输出提示信息“没有输入名字！！”；如果返回的状态码为-155，则输出“没找到！！”。 （3）删除存储过程
触发器 1、使用触发器 （1）创建一个触发器trig_update，返回对“学生表”进行更新操作后，被更新的记录条数（2）执行触发器 （3）修改触发器trig_update，除返回被更新的记录条数外，再返回学生的所有基本信息 2、使用触发器的两个特殊表：插入表（inserted）和删除表（deleted）。 （1）在“学生表”上创建触发器ins_del_sample，在对学生表进行插入、删除或更新操作后，分别从inserted表和deleted表中查询学生学号、姓名、性别、年龄和所在院系。 （请同学们在做删除操作时，注意备份） （2）执行插入、删除和更新操作后返回的表有什么区别？ 3、使用系统存储过程查看触发器 （1）显示触发器trig_update的一般信息 （2）显示触发器trig_update的源代码 （3）显示“学生表”上所有的依赖关系 （4）显示触发器trig_update所引用的对象 4、难题（注意inserted表和deleted表的使用，并请自己修改数据表） （1）为“成绩表”创建一个触发器，当向表中插入数据时，如果成绩大于等于60分，该学生就能得到相应的学分，否则，该学生不能得到学分。 （2）为“学生表”创建一个触发器，当删除表中的一个学生资料时，将“成绩表”中的相应记录也删除掉 （3）为“成绩表”创建一个触发器，如果成绩由原来的小于60分更改为大于等于60分时，该学生就得到相应的学分，如果成绩由原来的大于等于60分更改为小于60分，则该学生的相应学分更改为0。
实验II、触发器及其应用 一、实验目的 1、掌握基本RS、JK、D和T触发器的逻辑功能 2、掌握集成触发器的逻辑功能及使用方法 3、熟悉触发器之间相互转换的方法 二、实验原理 触发器具有两个稳定状态，用以表示逻辑状态“1”和“0”，在一定的外界信号作用下，可以从一个稳定状态翻转到另一个稳定状态，它是一个具有记忆功能的二进制信息存储器件，是构成各种时序电路的最基本逻辑单元。 1、基本RS触发器 如图1为两个与非门交叉耦合构成的基本RS触发器，它是无时钟控制低电平直接触发的触发器。基本RS触发器具有置“0”、置“1”和“保持”三种功能。通常称为置“1” 段，因为=0（=1）时触发器被置为“1”；为置“0”端，因为=0（=1）时触发器被置“0”，当==1时状态保持；==0时，触发器状态不定，应避免此种情况发生，表1为基本RS 触发器的状态表。 图1、基本RS触发器 表1、基本RS触发器功能表 输入输出 0 1 1 0 1 0 0 1 1 1 0 0 不定不定 基本RS 2、JK触发器
在输入信号为双端的情况下，JK触发器的功能完善、使用灵活和通用性较强的一种触发器。本实验采用74LS112双JK触发器，是下降沿出发的边沿触发器。引脚功能及逻辑符号如图2所示。 图2、74LS112双JK触发器引脚排列及逻辑符号 JK触发器的状态方程为：=J+ J和K是数据输入端，是触发器状态更新的依据，若J、K有两个或者两个以上输入端时，组成“与”的关系。和为两个互补输出端。通常把=0，=1的状态定为触发器“0” 状态；而把=1，=0定为“1”状态。下降沿触发JK触发器功能表如表2所示。 表2、JK触发器功能表 JK触发器常被用作缓冲存储器，移位寄存器和计数器。 3、D触发器 在输入信号为单端的情况下，D触发器用起来最为方便，其状态方程为=D，其输出状态的更新发生在CP脉冲的上升沿，故又称为上升沿触发的边沿触发器，触发器的状态只取决于时钟到来前D端的状态，D触发器的应用很广，可用作数字信号的寄存，移位寄存，分频和波形发生等。有很多种型号可供各种用途的需要而选用。如双D 74LS74、四D 74LS175、六D 74LS174等。 下图为双D774LS74的引脚排列及逻辑符号。功能表如表3.
黑盒测试实验报告记录
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黑盒测试实验报告 一实验内容 1、系统地学习和理解黑盒测试的基本概念、原理，掌握黑盒测试的基本技术和方 法； 2、对一个已知的程序进行测试。 3、通过试验和应用，要逐步提高和运用黑盒测试技术解决实际测试问题的能力； 4、完成实验并认真书写实验报告（要求给出完整的测试信息，如测试程序、测试 用例，测试报告等） 二实验原理 黑盒测试原理：已知产品的功能设计规格，可以进行测试证明每个实现了的功能是否符合要求。软件的黑盒测试意味着测试要在软件的接口处进行。这种方法是把测试对象看作一个黑盒子，测试人员完全不考虑程序内部的逻辑结构和内部特性，只依据程序的需求规格说明书，检查程序的功能是否符合它的功能说明。因此黑盒测试又叫功能测试。 从理论上讲，黑盒测试只有采用穷举输入测试，把所有可能的输入都作为测试情况考虑，才能查出程序中所有的错误。实际上测试情况有无穷多个，人们不仅要测试所有合法的输入，而且还要对那些不合法但可能的输入进行测试。这样看来，完全测试是不可能的，所以我们要进行有针对性的测试，通过制定测试案例指导测试的实施，保证软件测试有组织、按步骤，以及有计划地进行。黑盒测试行为必须能够加以量化，才能真正保证软件质量，而测试用例就是将测试行为具体量化的方法之一。具体的黑盒测试用例设计方法包括等价类划分法、边界值分析法、错误推测法、因果图法、判定表驱动法、正交试验设计法、功能图法等。 等价类划分的办法是把程序的输入域划分成若干部分（子集），然后从每个部分中选取少数代表性数据作为测试用例。每一类的代表性数据在测试中的作用等价于这一类中的其他值。该方法是一种重要的,常用的黑盒测试用例设计方法。 1 划分等价类 划分等价类：等价类是指某个输入域的子集合。在该子集合中，各个输入数据对于揭露程序中的错误都是等效的，并合理地假定：测试某等价类的代表值就等于对这一类其它值的测试。因此,可以把全部输入数据合理划分为若干等价类,在每一个等价类中取一个数据作为测试的输入条件,就可以用少量代表性的测试数据。取得较好的测试结果。等价类划分可有两种不同的情况：有效等价类和无效等价类。 有效等价类：是指对于程序的规格说明来说是合理的,有意义的输入数据构成的集合。利用有效等价类可检验程序是否实现了规格说明中所规定的功能和性能。 无效等价类：与有效等价类的定义恰巧相反。 设计测试用例时,要同时考虑这两种等价类。因为,软件不仅要能接收合理的数据,也要能经受意外的考验。这样的测试才能确保软件具有更高的可靠性。 2 边界值分析 边界值分析是通过选择等价类边界的测试用例。边界值分析法不仅重视输入条件边界，而且也必须考虑输出域边界。它是对等价类划分方法的补充。 （1）边界值分析方法的考虑：